JP4781702B2 - 傾斜測定干渉計装置 - Google Patents

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Description

本発明は、被検体における複数の光学面の相対傾斜角度等を測定可能な傾斜測定干渉計装置に関し、特に、被検体が光学プリズム等の多層反射物体である場合に好適な傾斜測定干渉計装置に関する。
反射や屈折といった光の性質を利用するために用いられる光学部材の中には、複数の光学面の相対傾斜角度の誤差が光学性能を左右する重要な要因となるため、相対傾斜角度に対して高い精度が要求されるものが知られている。例えば、多角柱状のポリゴンミラー(多面鏡)には、回転テーブル上に設置される底面と、レーザ光を反射させる各反射面との間の面倒れ角度や、隣接する各反射面間の分割角度に対する要求精度が日本工業規格(JIS)等により定められている(下記非特許文献1参照)。
従来、ポリゴンミラーにおける面倒れ角度や分割角度を測定する方法としては、下記非特許文献1に記載されているようにオートコリメータを用いるものが知られているが、本願出願人は、光干渉計測によりポリゴンミラー等における複数の光学面の相対傾斜角度を簡易かつ高精度に測定することが可能な測定装置を提案し、特許庁に対し既に開示している(下記特許文献1参照)。
特願2004−279437号明細書 JISハンドブック 24 光学機器 2002年度版 528〜530頁 (JIS B 7432)
ところで、所定の形状に形成された光学プリズムや、2つの直角プリズムを組み合わせてなるビームスプリッタ等の光学素子においても複数の光学面の倒れ角度や分割角度の精度は重要となる。また、平行平板ガラスにおいても、表裏両面の平行性の精度が極めて重要となる場合もある。
このような光学プリズムや平行平板ガラスは、一般に、光測定で用いられるレーザ光等の測定光に対して透明性を有する材料で形成されているので、測定光を被検面に照射した際に、被検面から反射された被検光束だけではなく、被検面以外の面からの反射光が被検光束に重畳されて測定系に戻ってくる虞がある。このため、例えば光干渉計測により被検面の傾斜情報を担持した干渉縞を得ようとしても、他の面の傾斜情報がノイズ成分として干渉縞に重畳されてしまうために、被検面の傾斜角度の測定を高精度に行なえないという問題が生じる。なお、本明細書では、測定光を照射した際に、被検光束と重畳される、被検面以外の面からの反射光が生じるような物体を、多層反射物体と称する。
本発明はこのような事情に鑑みなされたものであり、光学プリズムのような多層反射物体を被検体とした場合でも、被検体が有する複数の光学面の相対傾斜角度を、高精度に測定することが可能な傾斜測定干渉計装置を提供することを目的とする。
上記目的を達成するため本発明の傾斜測定干渉計装置は、以下のように構成されている。
すなわち、本発明に係る傾斜測定干渉計装置は、被検体が有する複数の光学面の相対傾
斜角度を測定する傾斜測定干渉計装置であって、
低可干渉性の光束を出力する光源部と、
該光源部からの前記光束を、前記被検体に照射される第1の光束と、基準光とされる第
2の光束とに分岐する分岐手段と、
前記被検体を所定の軸線周りに回転可能に支持し、該回転により前記複数の光学面の各
々を前記第1の光束の照射位置に順次移動させ得る回転支持手段と、
該回転支持手段による回転角度を検出する回転角度検出手段と、
前記被検体から反射された前記第1の光束を、前記基準光とされた前記第2の光束と合
波する合波手段と、
前記第2の光束の光路上において該第2の光束の軸線と略直交するように配置され、第1反射面によって前記第2の光束を反射する両面反射ミラーと、該両面反射ミラーを前記第2の光束の前記軸線の方向に移動可能に支持する移動ステージとを有し、前記照射位置に対して前記複数の光学面の各々が移動される毎に、該照射位置に位置した被検面から反射された被検光束と前記基準光とされた前記第2の光束との干渉により前記被検面の傾斜情報を担持した第1の干渉縞が得られるように、前記第1および第2の光束の少なくとも一方の光路長を調整する光路長調整手段と、
前記光源部とは異なる第2の光源から出射する光を、基準面で反射する光束と前記第1反射面に対向する第2反射面で反射する光束に分岐し、干渉させることによって得られる第2の干渉縞に基づいて、前記両面反射ミラーが移動した際の該両面反射ミラーの傾きを検出するミラー傾斜検出手段と、
前記第2の干渉縞から得られた前記両面反射ミラーの傾きを調節し、または前記両面反射ミラーの傾きに応じて補正し、前記複数の光学面それぞれに対応した前記第1の干渉縞に基づき、前記照射位置における前記複数の光学面それぞれの傾きを求め、求められた該傾きと検出された前記回転角度とに基づき、前記相対傾斜角度を求める解析手段と、を備えていることを特徴とする。
前記第1の干渉縞を得る際に、前記ミラー傾斜検出手段によって検出された前記両面反射ミラーの傾きに基づいて、前記第2の干渉縞がヌル縞状態になるように、前記両面反射ミラーの傾きを調節する傾き調節手段を備えることが好ましい。
前記解析手段は、前記第1の干渉縞と前記ミラー傾斜検出手段によって検出された前記両面反射ミラーの傾きとに基づき、前記両面反射ミラーの傾きの分を補正して前記相対傾斜角度を求めることが好ましい。
本発明に係る傾斜測定干渉計装置は、第1の光束が照射された際、前記照射位置に位置する被検面からの被検光束に重畳される、被検面以外の面からの反射光を発生させる多層反射物体における複数の光学面の相対傾斜角度を測定する場合に好適である。
本発明に係る傾斜測定干渉計装置によれば、光源部から出力される低可干渉性の光束を測定光として用いており、かつ回転支持手段によって照射位置に対する複数の光学面の移動が行なわれる毎に、被検面の傾斜情報を担持した干渉縞が得られるように光路長調整手段による光路長の調整が行なわれるので、被検体が多層反射物体であるために、被検面以外の他の面からの反射光が被検光束と重畳されてしまうような場合でも、この他の面からの反射光が基準光としての第2の光束と干渉することを防止することができる。
したがって、被検面の傾斜情報を担持した干渉縞に他の面の傾斜情報がノイズ成分として重畳されることを防止し得るので、複数の光学面それぞれの傾きを高精度に求めることができ、これらの各傾きと検出された回転角度とに基づき、複数の光学面の相対傾斜角度を高精度に測定することが可能となる。
以下、本発明に係る実施形態について、図面を参照しながら詳細に説明する。図1は本発明の一実施形態に係る傾斜測定干渉計装置の概略構成図であり、図2は本実施形態における相対傾斜角度測定の手順を説明するための模式図である。
〈装置構成〉
図1に示す傾斜測定干渉計装置は、被検体1に関する干渉縞画像を得るためのマイケルソン型の干渉計2と、被検体1を回転可能に支持する回転支持手段3と、ミラー傾斜検出手段としてのフィゾー型の干渉計4と、得られた縞画像の解析等を行なう解析部5とを備えてなる。なお、本実施形態において被検体1は、図2に示すように、三角柱状の2つのプリズムが互いに接合されてなる立方体状のビームスプリッタであり、4つの光学面11A〜11Dと、光束分岐面12とを有してなる。
図1に示すように上記干渉計2は、低可干渉性の光束を出力する光源部21と、該光源部21から出射された光束を収束させる収束レンズ22と、該収束レンズ22を通過した光束の収束点に配されるピンホール23aを備えたピンホール板23と、該ピンホール板23からの発散光束を平行光束とするコリメータレンズ24と、該コリメータレンズ24からの光束を、被検体1に照射される第1の光束と基準光とされる第2の光束とに分岐する平行平板状のビームスプリッタ25と、上記第2の光束が照射される平行平板状の両面反射ミラー61を有する光路長調整手段60とを備えている。
この干渉計2は、上記被検体1から反射された被検光束としての第1の光束と、上記両面反射ミラー61の第1反射面61aから反射された基準光としての第2の光束とを、合波手段としての上記ビームスプリッタ25において互いに干渉させることにより、上記光学面11A〜11Dそれぞれの傾斜情報を担持した各干渉縞を得るように構成されており、得られた干渉縞を結像させる結像レンズ26と、該干渉縞を撮像する撮像カメラ27とを、上記構成と共に備えている。なお、上記光源部21としては、白色光源やSLD(Super Luminescent Diode)、あるいは高調波が重畳されるように構成された半導体レーザ光源などを用いることができる。
上記光路長調整手段60は、上記第2の光束の光路上において該第2の光束の軸線Lと略直交するように配置された上記両面反射ミラー61の他に、該両面反射ミラー61を上記軸線Lの方向に移動可能に支持する移動支持手段62を備えてなり、該移動支持手段62は、両面反射ミラー61を保持するホルダ63と、該ホルダ63を、圧電素子64を介して支持するブラケット65と、該ブラケット65を上記軸線Lの方向に移動可能に保持する移動ステージ66とを備えてなる。上記圧電素子64は、いわゆる位相シフト法を用いたフリンジスキャン計測等を行なう際に駆動されるものであり、該駆動により上記両面反射ミラー61を、上記軸線Lの方向に微動させるように構成されている。また、上記移動ステージ66は、図示せぬ傾き調整機構により、互いに直交する2軸(図1に1点鎖線で示す)の周りに回動可能に構成されており、この回動により両面反射ミラー61の上記軸線Lに対する傾き調整が行なわれるようになっている。
一方、上記回転支持手段3は、被検体1が載置される回転テーブル31と、該回転テーブル31を図2に示す軸線Rの周りに回転可能に保持する回転保持機構(図示略)とを備えてなり、回転テーブル31上に載置された被検体1を軸線Rの周りに回転させることにより、上記4つの光学面11A〜11Dの各々を上記第1の光束の軸線Lと略直交する照射位置に順次移動させ得るように構成されている。また、この回転支持手段3は、回転角度検出手段としてのロータリエンコーダ(不図示)を備えており、回転テーブル31の軸線R周りの回転角度を検出可能に構成されている。
また、図1に示すように上記干渉計4は、高可干渉性の光束を出力する光源部41と、該光源部41から出射された発散光束を平行光束とするコリメータレンズ42と、該コリメータレンズ42からの平行光束の光路上に配された平行平板状のビームスプリッタ43(光束分岐面43a)および基準板44とを備えている。なお、この干渉計4において、上記コリメータレンズ42からの平行光束の軸線Lは、上記第2の光束の軸線Lと平行になるように設定されている。
この干渉計4は、上記両面反射ミラー61の第2反射面61bから反射された光束と、上記基準板44の基準面44aから反射された基準光との干渉により、上記両面反射ミラー61の傾斜情報を担持した干渉縞を得るように構成されており、得られた干渉縞を結像させる結像レンズ45と、該干渉縞を撮像する撮像カメラ46とを、上記構成と共に備えている。
また、図1に示すように上記解析部5は、解析手段としてのコンピュータ51と、キーボード等の入力装置52と、表示装置53とを備えてなる。この解析部5においては、上記撮像カメラ27において撮像された干渉縞や、上記ロータリエンコーダにより検出された回転角度等の各情報がコンピュータ51に入力され、これらの情報に基づきコンピュータ51において、上記照射位置における上記光学面11A〜11Dそれぞれの傾きが求められ、求められた各傾きと上記回転角度とに基づき、4つの光学面11A〜11Dの相対傾斜角度が求められるようになっている。また、上記コンピュータ51においては、上記撮像カメラ46において撮像された干渉縞に基づき、上記両面反射ミラー61の傾きを求めることも可能となっている。
〈測定手順〉
以下、上述した傾斜測定干渉計装置による上記被検体1の測定手順について説明する。なお、図2に示した3次元の直角座標系は、上記第1の光束の軸線Lに対して設定されたものであり、3つの座標軸のうちのX軸が上記軸線Lと平行となっている。また、以下の説明では、上記回転テーブル31の回転の軸線Rと、上記第1の光束の軸線Lとは、互いに直交するように調整されているものとする。
(1)回転テーブル31上に被検体1をセットし、回転テーブル31を軸線Rの周りに回転させて、4つの光学面11A〜11Dのうちの光学面11Aが、上記第1の光束の軸線Lと略直交する照射位置に位置するようにする。また、このときロータリエンコーダにより検出される回転角度を0度に初期設定する。
(2)光路長調整手段60により、上記光学面11Aの傾斜情報を担持した干渉縞が得られるように、上記第2の光束の光路長を調整する。すなわち、ビームスプリッタ25の光束分岐面25aから光学面11Aに至り、さらに光学面11Aで反射されて光束分岐面25aに戻るまでの上記第1の光束の光路長と、光束分岐面25aから両面反射ミラー61の第1反射面61aに至り、さらに第1反射面61aで反射されて光束分岐面25aに戻るまでの上記第2の光束の光路長とが互いに等しくなるように、移動ステージ66を用いて両面反射ミラー61の位置を調整する。
(3)上記干渉計4により、上記両面反射ミラー61の傾きを検出する。すなわち、干渉計4において、両面反射ミラー61の第2反射面61bから反射された光束と、上記基準板44の基準面44aから反射された基準光との干渉により、上記両面反射ミラー61の傾斜情報を担持した干渉縞を得る。この干渉縞を観察することにより、両面反射ミラー61が傾いているか否かを判断する。すなわち、両面反射ミラー61が傾いていない場合、上記第2反射面61bと上記基準面44aとは互いに平行となるので、得られる干渉縞は、いわゆるヌル縞となる。一方、両面反射ミラー61が傾いている場合には、その傾きに応じた縞模様が観察されることになる。
(4)観察される干渉縞がヌル縞状態となるように、移動ステージ66の傾斜調整機構を用いて両面反射ミラー61の傾きを調整する。
(5)光学面11Aを被検面として、その傾斜情報を担持した干渉縞を得る。すなわち、図1に示す干渉計2において、光源部21から図中左方に出射された低可干渉性の光束が、収束レンズ22、ピンホール板23およびコリメータレンズをこの順で通過した後、平行光束としてビームスプリッタ25に入射し、該ビームスプリッタ25の光束分岐面25aにおいて、図中上方に直角に反射される第1の光束と、図中左方に出射される第2の光束とに分岐される。分岐された第1および第2の光束は、被検体1の光学面11Aおよび両面反射ミラー61の第1反射面61aにおいて、それぞれ入射光路を逆進するように反射され、第1の光束は被検光束として、第2の光束は基準光として、ビームスプリッタ25において互いに合波される。この合波により、光学面11Aの傾斜情報を担持した干渉縞が得られ、得られた干渉縞の画像が撮像カメラ27により撮像される。
なお、第1の光束が光学面11Aに照射された際、被検体1からは、光学面11Aを通過して光束分岐面12に至り、該光束分岐面12で直角に反射されて光学面11Dに入射し、さらに該光学面11Dから反射され光束分岐面12を経て上記軸線Lを逆向きに戻る光束や、同様に光束分岐面12、光学面11C、および光束分岐面12を経て上記軸線Lを逆向きに戻る反射光が発生し、これらの反射光は第2の光束と合波される。しかし、これらは低可干渉性の光束であり、かつこれらの反射光の光路長が第2の光束の光路長と大きく異なるため、これらの反射光と第2の光束とは互いに干渉することがなく、これにより、光学面11Aの傾き測定に悪影響を及ぼすことが防止される。
(6)撮像された干渉縞に基づき、光学面11Aの上記照射位置における傾きを求める。すなわち、撮像された干渉縞により、図2に示す第1の光束の軸線Lに対する光学面11Aの傾き(図2に示す、Y軸回りの傾斜角度αおよびZ軸回りの傾斜角度α)が、コンピュータ51において解析される。なお、干渉縞に基づく面の傾きの解析手法としては、本願出願人により提案された、フーリエ変換を用いて被測定面の傾き成分を検出する方法(特開2002−257529号公報参照)や、位相シフト法を用いて傾きを測定する従来公知の手法を用いることができる。
(7)回転テーブル31を軸線Rの周りに時計回りに略90度回転させて、光学面11Bが上記第1の光束の軸線Lと略直交するようにする。また、このときロータリエンコーダにより回転角度を検出する。
(8)上記(2)〜(6)の手順を同様に行ない、光学面11Bの上記照射位置における傾きを求める。
(9)上記(7),(8)の手順を繰り返し行ない、光学面11C,11Dの上記照射位置における各傾きをそれぞれ求める。
(10)求められた上記4つの光学面11A〜11Dそれぞれの上記照射位置における傾きと、回転テーブル31が回転する毎にロータリエンコーダにより検出された各回転角度とに基づき、4つの光学面11A〜11Dの相対傾斜角度、例えば、面倒れ角度や分割角度を、コンピュータ51において求める。なお、その算定方法については、前掲の特許文献1に詳しく記載されている。
上記手順では、被検体1の4つの光学面11A,11B,11C,11Dをこの順に測定するようにしているが、測定の順序は適宜変更することができる。
以上説明したように、本実施形態の傾斜測定干渉計装置によれば、光源部21から出力される低可干渉性の光束を測定光として用いており、かつ回転支持手段3によって照射位置に対する光学面11A〜11Dの移動が行なわれる毎に、被検面の位相情報を担持した干渉縞が得られるように光路長調整手段60による光路長の調整が行なわれるので、被検体1がビームスプリッタのような多層反射物体であっても、被検面以外の他の面からの反射光が第2の光束と干渉することを防止することができる。
したがって、被検面の傾斜情報を担持した干渉縞に他の面の傾斜情報がノイズ成分として重畳されることを防止し得るので、4つの光学面11A〜11Dそれぞれの傾きを高精度に求めることができ、これらの各傾きと、検出された回転テーブル31の回転角度とに基づき、4つの光学面11A〜11Dの面倒れ角度や分割角度を高精度に測定することが可能である。
〈態様の変更〉
以上、本発明の一実施形態について説明したが、本発明は上記実施形態に限られるものではなく、種々に態様を変更することが可能である。
例えば、上記実施形態においては、両面反射ミラー61が移動される毎に、干渉計4により得られる干渉縞に基づき、両面反射ミラー61の傾き調整が行なわれるようになっているが、傾き調整をその都度行なわずに、得られた干渉縞に基づきコンピュータ51において両面反射ミラー61の傾きを求めておき、4つの光学面11A〜11Dの傾きを求める際に、両面反射ミラー61の傾きの分を補正するようにしてもよい。
また、上記実施形態においては、両面反射ミラー61の傾きを干渉計4により検出しているが、オートコリメータ等の他の手段により傾きを検出するようにしてもよい。
また、上記実施形態の干渉計2はマイケルソン型をベースとして構成されているが、測定光としての第1の光束の光路長と、基準光としての第2の光束との光路長とを、互いに等しく調整し得るものであれば、マッハツェンダ型やフィゾー型をベースとした他のタイプの干渉計を用いることも可能である。
また、上記実施形態では、被検体1が多層反射物体のビームスプリッタとされているが、本発明の傾斜測定干渉計装置は、光学プリズムや平行平板ガラス等の他の多層反射物体や、多層反射物体以外の、例えば、ポリゴンミラーなど複数の光学面を有する種々の物体を被検体として測定することが可能である。
本発明の一実施形態に係る傾斜測定干渉計装置の概略構成図 測定手順を説明するための模式図
符号の説明
1 被検体
2 干渉計
3 回転支持手段
4 干渉計(ミラー傾斜検出手段)
5 解析部
11A〜D 光学面
12,25a,43a 光束分岐面
21 (低可干渉性の光束を出力する)光源部
22 収束レンズ
23 ピンホール板
23a ピンホール
24,42 コリメータレンズ
25,43 ビームスプリッタ
26,45 結像レンズ
27,46 撮像カメラ
31 回転テーブル
41 (高可干渉性の光束を出力する)光源部
44 基準板
44a 基準面
51 コンピュータ(解析手段)
52 入力装置
53 表示装置
60 光路長調整手段
61 両面反射ミラー
61a 第1反射面
61b 第2反射面
62 移動支持手段
63 ホルダ
64 圧電素子
65 ブラケット
66 移動ステージ
,L,L (光束の)軸線
R (回転テーブルの)軸線
X,Y,Z 座標軸
α,α 傾斜角度

Claims (3)

  1. 被検体が有する複数の光学面の相対傾斜角度を測定する傾斜測定干渉計装置であって、
    低可干渉性の光束を出力する光源部と、
    該光源部からの前記光束を、前記被検体に照射される第1の光束と、基準光とされる第2の光束とに分岐する分岐手段と、
    前記被検体を所定の軸線周りに回転可能に支持し、該回転により前記複数の光学面の各々を前記第1の光束の照射位置に順次移動させ得る回転支持手段と、
    該回転支持手段による回転角度を検出する回転角度検出手段と、
    前記被検体から反射された前記第1の光束を、前記基準光とされた前記第2の光束と合波する合波手段と、
    前記第2の光束の光路上において該第2の光束の軸線と略直交するように配置され、第1反射面によって前記第2の光束を反射する両面反射ミラーと、該両面反射ミラーを前記第2の光束の前記軸線の方向に移動可能に支持する移動ステージとを有し、前記照射位置に対して前記複数の光学面の各々が移動される毎に、該照射位置に位置した被検面から反射された被検光束と前記基準光とされた前記第2の光束との干渉により前記被検面の傾斜情報を担持した第1の干渉縞が得られるように、前記第1および第2の光束の少なくとも一方の光路長を調整する光路長調整手段と、
    前記光源部とは異なる第2の光源から出射する光を、基準面で反射する光束と前記第1反射面に対向する第2反射面で反射する光束に分岐し、干渉させることによって得られる第2の干渉縞に基づいて、前記両面反射ミラーが移動した際の該両面反射ミラーの傾きを検出するミラー傾斜検出手段と、
    前記第2の干渉縞から得られた前記両面反射ミラーの傾きを調節し、または前記両面反射ミラーの傾きに応じて補正し、前記複数の光学面それぞれに対応した前記第1の干渉縞に基づき、前記照射位置における前記複数の光学面それぞれの傾きを求め、求められた該傾きと検出された前記回転角度とに基づき、前記相対傾斜角度を求める解析手段と、
    を備えていることを特徴とする傾斜測定干渉計装置。
  2. 前記第1の干渉縞を得る際に、前記ミラー傾斜検出手段によって検出された前記両面反射ミラーの傾きに基づいて、前記第2の干渉縞がヌル縞状態になるように、前記両面反射ミラーの傾きを調節する傾き調節手段を備えることを特徴とする請求項1記載の傾斜測定干渉計装置。
  3. 前記解析手段は、前記第1の干渉縞と前記ミラー傾斜検出手段によって検出された前記両面反射ミラーの傾きとに基づき、前記両面反射ミラーの傾きの分を補正し、前記相対傾斜角度を求めることを特徴とする請求項1記載の傾斜測定干渉計装置。
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