JP4769788B2 - レーザ放射線のコヒーレンスを低減させるためのシステム - Google Patents
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Description
本発明は、照明の均一性を向上させることが可能なシステムを提供することを目的としている。
これは、3つの角を有する共振体と比較した場合、レーザ光の一般的に用いられる波長、具体的にはVUV領域(真空紫外スペクトル領域)以下の波長において、プリズムには極めて大きな偏角が生じ、その結果、どの場合も全反射が生じずに、対応する光損失を伴った部分出射が生じることが立証されているからである。少なくとも5つの角を有するプリズムを用いる場合、少なくとも4つの反射が生じ、通常37度の最小角度の条件を満たすことができるため、全反射が常に生じる。この場合、本発明による共振体の材料として、具体的にはフッ化カルシウムが知られている。しかし、例えばフッ化マグネシウムあるいは石英のような他の材料をこの目的に使用できることは、言うまでもない。
本発明の1つの展開に従って、位相プレートが変化する厚さを有している場合、それに対応して空間的にオフセットした波面が生じる。この場合、十分に変調されるべきレーザ光の空間的コヒーレンス距離の大きさに応じた距離に、光線の方向に対して横方向に種々の厚さの変化が生じる。
本発明による波面の変調は、例えば少なくとも5つの角を有するプリズム等の共振体を非対称に形成することによっても実現できる。これは、例えばプリズムの少なくとも1面が非対称すなわち非鏡面対称である実施例によって達成することができる。
図1に示すように、投影露光装置1は、レーザとして構成された光源2と、構造体が作りつけられた支持マスク4aが配置された平面4内のフィールドを照明するための照明装置3と、平面4内の構造体が作りつけられた支持マスク4aを感光基板6上に撮像する投影オブジェクティブ5とを備えている。投影オブジェクティブ5は、そのハウジング8内に複数の光学素子7を備えている。投影露光装置1は、例えばコンピュータチップのような半導体部品を製造するのに役立つ。
図2は、共振体9としてのペンタプリズムを示している。
幅差sおよび厚み差aの分布は、波面上に相対的に無作為な位相分布を得るために、できる限り無作為であったほうがよい。このように、光路長が局所的に異なり、共振体9の下流において部分光10aおよび10bが再結合される場合、それに対応して時間的に異なる部分光が得られ、その部分光が更に波面に関して変調される。このように、個々のパルスは時間および位相分布に関して非常に短くすることができるため、もはや干渉性能は備えていない。
五角形のプリズムを用いると反射角度が37度より大きくなり、それによって内部で全反射が生じる。例示されている典型的な実施例は、全反射の角度が全て同一であり、約55度になるように構成されている。
同様に可能なのは、前記のブロックをMgF2(157nmおよび193nmにおいて透明、複屈折性が高い)から製造することである。入射点に非偏光の光線がある場合、プリズム面に対する結晶方位は、同様に任意に選択することができる。
使用される位相プレート12は、ゼロ次回折に最適化されていて衝突光が回折することなく通過する回折光学素子であってもよい。
図4は、オフセットを有している、すなわちプリズム体が非対称に形成されている、五角形のプリズムを示している。図に示すように、一側面すなわち部分光10bの当たる第一側面15が、距離dだけ下方にずれている。従って鏡面対称が崩れており、次の側面16についても同じことが言える。従って、同様に、反射部分光10aおよびプリズム9‘内を循環する部分光10b、ひいては全ての部分光が、互いに時間的および空間的にオフセットして進む。距離dは、約0.1mmの大きさであってもよい。
分割層は、例えば1/3:2/3の分割率を有する誘電層であってもよい。分割層は、第一に、プリズム9への部分光10bの入射角に影響を与える役割を有する。これは、分割層の形状および材料によって、所望の通り選択することができる。
Claims (33)
- 波面出射レーザ放射のコヒーレンスを低減させるためのシステムであり、特に、共振体の表面に当たるレーザ光の第一の部分光が部分反射され、該レーザ光の第二の部分光が前記共振体内に入射し、複数の全反射をした後に少なくともほぼ入射位置の領域において再び該共振体から出射し、前記第一の部分光と一緒に照明面まで送られ、
部分光(10a、10b)への分割に加えて前記第二の部分光(10b)の波面が1レーザパルス中に変調され、前記共振体(9、9’)が局所位相分布の変化する位相プレート(12)を備えるように前記共振体(9、9’)が形成されている、半導体リソグラフィにおける投影対物系用のシステムであって、
前記位相プレート(12)が、前記レーザ光の前記第二の部分光(10b)の経路に対して、前記光線の方向に対して横方向に様々な厚さを有し、前記位相プレート(9)の様々な厚さが、前記横方向において幅sで変化し、前記幅sでの前記変化は、入射表面(11)における前記レーザ放射の空間的コヒーレンス距離の大きさとほぼ同じであることを特徴とするシステム。 - 前記厚さの差が200nmから500nmの間であることを特徴とする、請求項1に記載のシステム。
- 前記幅sについて0.05<s<1mmが成り立つことを特徴とする、請求項2に記載のシステム。
- 前記位相プレート(12)が、ゼロ次回折に最適化された回折光学素子(DOE)として形成されていることを特徴とする、請求項1に記載のシステム。
- 前記位相プレート(12)として、拡散スクリーンが備えられていることを特徴とする、請求項1に記載のシステム。
- 前記共振体(9、9’)が、少なくとも5つの角を有するプリズムとして形成されていることを特徴とする、請求項1に記載のシステム。
- 前記共振体(9、9’)における反射角が少なくとも37度であることを特徴とする、請求項1に記載のシステム。
- 前記共振体(9、9’)における前記第二の部分光(10b)の光路長が、前記可干渉距離の倍数であることを特徴とする、請求項1に記載のシステム。
- 前記共振体(9、9’)に当たる光が、前記第一の反射部分光(10a)と前記共振体(9、9’)内を循環する前記第二の部分光(10a、10b)に関して1/3対2/3の割合で分割されることを特徴とする、請求項1に記載のシステム。
- 157nm以下の前記レーザ光(10)の波長において、フッ化カルシウムが前記共振体(9、9’)として用いられることを特徴とする、請求項1に記載のシステム。
- フッ化カルシウムの結晶方位は、第一の(100)結晶面が前記レーザ光の当たる表面の平面に対して45度の角度を形成し、かつ側面と垂直であり、第二の(100)結晶面が該側面と平行であるように選択されることを特徴とする、請求項10に記載のシステム。
- 偏光状態を設定するために、前記共振体(9、9’)に当たる前記レーザ光の偏光方向を入射面に対して回転させ得ることを特徴とする、請求項1に記載のシステム。
- 偏光度が非偏光と直線偏光との間で調整可能であることを特徴とする、請求項12に記載のシステム。
- 前記偏光度を設定するために、λ/2プレート(18)が用いられることを特徴とする、請求項13に記載のシステム。
- プリズム(9’)が非対称に形成されていることを特徴とする、請求項6に記載のシステム。
- プリズム(9’)が少なくとも1つの非対称な面を備えていることを特徴とする、請求項15に記載のシステム。
- 前記共振体(9、9’)に当たる前記レーザ光(10)の中心光の位置が偏心していることを特徴とする、請求項1に記載のシステム。
- 前記共振体(9’)が非対称に形成されており、前記レーザ光(10)の中心光が該共振体(9’)に偏心的に当たることを特徴とする、請求項1に記載のシステム。
- 前記レーザ光(10)の当たる前記共振体(9、9’)の表面(11)が分割層(17)を備え、該分割層が該共振体(9、9’)に入射する前記部分光(10b)の入射角に影響を与えるようになっていることを特徴とする、請求項1に記載のシステム。
- 前記分割層(17)の厚さが変化することを特徴とする、請求項19に記載のシステム。
- 前記分割層(17)が非均一的に形成されていることを特徴とする、請求項19に記載のシステム。
- 前記分割層(17)が誘電層を有することを特徴とする、請求項19、20あるいは21のいずれか1項に記載のシステム。
- 光源としてのレーザと、照明装置と、マスクを備えた照明面と、投影オブジェクティブとを備えた半導体リソグラフィ用の投影露光装置であり、
波面出射レーザ放射線のコヒーレンスを低減させるために、共振体の表面に当たるレーザ光が第一の部分光を含んで部分反射され、該レーザ光の第二の部分光が前記共振体内に入射して、複数の全反射をした後に、少なくともほぼ入射位置の領域において再び該共振体から出射し、前記第一の部分光と一緒に照明面まで送られ、部分光(10a、10b)への分割に加えて、前記第二の部分光(10b)の波面が1レーザパルス中に変調されるように、前記共振体(9、9’)が形成されている、投影露光装置であって、
該共振体(9、9’)が局所位相分布の変化する位相プレート(12)を備え、前記位相プレート(12)が、前記レーザ光の前記第二の部分光(10b)の経路に対して、前記光線の方向に対して横方向に様々な厚さを有し、前記位相プレート(9)の様々な厚さが、前記横方向において幅sで変化し、前記幅sでの前記変化は、入射表面(11)における前記レーザー放射の空間的コヒーレンス距離の大きさとほぼ同じであることを特徴とする、投影露光装置。 - 前記位相プレート(12)が、ゼロ次回折に最適化された回折光学素子(DOE)として形成されていることを特徴とする、請求項23に記載の投影露光装置。
- 拡散スクリーンが前記位相プレート(12)として備えられていることを特徴とする、請求項23に記載の投影露光装置。
- 前記共振体(9、9’)が少なくとも5つの角を有するプリズムとして形成されていることを特徴とする、請求項23に記載の投影露光装置。
- 前記共振体(9、9’)内における前記第二の部分光(10b)の光路長が時間的コヒーレンス距離の倍数であることを特徴とする、請求項23に記載の投影露光装置。
- 157nm以下の前記レーザ光(10)の波長において、フッ化カルシウムが前記共振体(9、9’)として用いられることを特徴とする、請求項23に記載の投影露光装置。
- 前記プリズム(9’)が非対称に形成されていることを特徴とする、請求項23に記載の投影露光装置。
- 前記共振体(9、9’)に当たる前記レーザ光(10)の中心光の位置が偏心的であることを特徴とする、請求項23に記載の投影露光装置。
- 前記レーザ光(10)の当たる前記共振体(9、9’)の表面(11)が分割層(17)を備え、該分割層が該共振体(9、9’)に入射する部分光(10b)の入射角に影響を与えるようになっていることを特徴とする、請求項23に記載の投影露光装置。
- 前記分割層が変化する厚さを有し、及び/又は非均一的に形成されていることを特徴とする、請求項31に記載の投影露光装置。
- 前記分割層が誘電層を有することを特徴とする、請求項31あるいは32に記載の投影露光装置。
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Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH01198759A (ja) * | 1988-02-03 | 1989-08-10 | Nikon Corp | 照明装置 |
JPH0311614A (ja) * | 1989-06-08 | 1991-01-18 | Canon Inc | 照明装置,投影露光装置及び素子製造方法 |
JPH03215930A (ja) * | 1990-01-20 | 1991-09-20 | Canon Inc | 照明装置及びそれを用いた回路の製造方法 |
WO2003028073A1 (fr) * | 2001-09-26 | 2003-04-03 | Nikon Corporation | Dispositif et procede de mesure d'aberration, procede de regulation de systeme optique, et systeme d'exposition muni d'un systeme optique regule par ce procede de regulation |
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---|---|---|---|---|
US5153773A (en) * | 1989-06-08 | 1992-10-06 | Canon Kabushiki Kaisha | Illumination device including amplitude-division and beam movements |
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US6238063B1 (en) * | 1998-04-27 | 2001-05-29 | Nikon Corporation | Illumination optical apparatus and projection exposure apparatus |
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Patent Citations (4)
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JPH01198759A (ja) * | 1988-02-03 | 1989-08-10 | Nikon Corp | 照明装置 |
JPH0311614A (ja) * | 1989-06-08 | 1991-01-18 | Canon Inc | 照明装置,投影露光装置及び素子製造方法 |
JPH03215930A (ja) * | 1990-01-20 | 1991-09-20 | Canon Inc | 照明装置及びそれを用いた回路の製造方法 |
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