JP4765607B2 - Impact resistant clean container, sample transfer system - Google Patents

Impact resistant clean container, sample transfer system Download PDF

Info

Publication number
JP4765607B2
JP4765607B2 JP2005364276A JP2005364276A JP4765607B2 JP 4765607 B2 JP4765607 B2 JP 4765607B2 JP 2005364276 A JP2005364276 A JP 2005364276A JP 2005364276 A JP2005364276 A JP 2005364276A JP 4765607 B2 JP4765607 B2 JP 4765607B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
container
door
impact
sample
clean container
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP2005364276A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JP2007173265A (en
Inventor
浩 藤田
尚武 佐野
祐樹 有塚
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Dai Nippon Printing Co Ltd
Original Assignee
Dai Nippon Printing Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Dai Nippon Printing Co Ltd filed Critical Dai Nippon Printing Co Ltd
Priority to JP2005364276A priority Critical patent/JP4765607B2/en
Publication of JP2007173265A publication Critical patent/JP2007173265A/en
Application granted granted Critical
Publication of JP4765607B2 publication Critical patent/JP4765607B2/en
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Landscapes

  • Buffer Packaging (AREA)
  • Packaging Frangible Articles (AREA)
  • Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)

Description

本発明は、耐衝撃性クリーン容器に関するものである。   The present invention relates to an impact resistant clean container.

半導体製造において回路パターンの転写に用いられるリソグラフィ用マスクまたはその加工途中品、並びに微小電気機械システム(MEMS)の加工途中品は外部からの衝撃に弱い構造を有し、また、外形がウェハ形状であるものが主である。   Lithographic masks used for transfer of circuit patterns in semiconductor manufacturing or processed products thereof, and processed products of micro electro mechanical systems (MEMS) have a structure that is vulnerable to external impacts, and the outer shape is a wafer shape. Some are the main.

具体的には、X線リソグラフィ用マスクと荷電粒子線リソグラフィ用マスクである。後者はさらに、電子線投影リソグラフィ(EPL)用マスク、低加速電子線近接投影リソグラフィ(LEEPL)用マスクおよびイオン線投影リソグラフィ(IPL)用マスクに分けられ、いずれも回路パターンが薄い自己支持膜(以下、メンブレンと呼ぶ)上の吸収体パターンや散乱体パターンまたはメンブレンの貫通孔パターン(以下ステンシルパターンと呼ぶ)として形成されており、そのために外部からの衝撃に弱い構造を有している。また、微小電気機械システムの加工途中品では、ダイヤフラム構造や片持ち梁構造のような、外部からの衝撃に弱い構造を有する場合がある。   Specifically, an X-ray lithography mask and a charged particle beam lithography mask. The latter is further divided into a mask for electron beam projection lithography (EPL), a mask for low-acceleration electron beam proximity projection lithography (LEEPL), and a mask for ion beam projection lithography (IPL), all of which are self-supporting films with thin circuit patterns ( It is formed as an absorber pattern or scatterer pattern on the membrane (hereinafter referred to as a membrane) or a through-hole pattern (hereinafter referred to as a stencil pattern) on the membrane, and therefore has a structure that is vulnerable to external impacts. In addition, in-process products of a microelectromechanical system may have a structure that is vulnerable to external impact, such as a diaphragm structure or a cantilever structure.

EPLの方式とマスクに関しては、非特許文献1に記載がある。特に、外形が200mmのEPL用マスクの構造は非特許文献1の778頁のFig. 5及びFig. 6に示されている(非特許文献1)。   Non-patent document 1 describes the EPL method and mask. In particular, the structure of an EPL mask having an outer shape of 200 mm is shown in FIGS. 5 and 6 on page 778 of Non-Patent Document 1 (Non-Patent Document 1).

図15はEPLマスクの構造を示す図である。
図15に示すように、マスク201は外形が200mmウェハ形状であり、表面には、長さ204が1.13mmの正方形で、厚さが2umのシリコンからなるメンブレン203が形成され、メンブレン203に回路パターンに対応するステンシルパターンが形成された構造のものである。
FIG. 15 shows the structure of the EPL mask.
As shown in FIG. 15, the mask 201 has an outer shape of a 200 mm wafer, and a membrane 203 made of silicon having a length 204 of 1.13 mm and a thickness of 2 μm is formed on the surface. In this structure, a stencil pattern corresponding to the circuit pattern is formed.

なお、メンブレン203は、x方向にピッチ211が1.3mmで40個、y方向にピッチ211が1.3mmで100個、更にその外周をサイズの少し異なるメンブレンが1周、配置されていて、幅207が54.43mm、長さ209が132.57mmの長方形を占め、それを1組として、間隔205が10mmとなるように左右に1組づつ配置する。   The membrane 203 has 40 pieces with a pitch 211 of 1.3 mm in the x direction, 100 pieces with a pitch 211 of 1.3 mm in the y direction, and a membrane of slightly different size on the outer circumference. A rectangle having a width 207 of 54.43 mm and a length 209 of 132.57 mm occupies one set, and one set is arranged on the left and right so that the interval 205 is 10 mm.

また、LEEPLの方式に関しては、非特許文献2に記載がある。LEEPL用マスクの1例は、200mm基板の中央部に1辺が25mmの正方形で厚さ1umのシリコンからなるメンブレンを形成し、そのメンブレンに回路パターンに対応するステンシルパターンを形成した構造のものである(非特許文献2)。   Non-Patent Document 2 describes the LEEPL method. One example of a LEEPL mask is a structure in which a membrane made of silicon having a thickness of 1 um and a square with a side of 25 mm is formed in the center of a 200 mm substrate, and a stencil pattern corresponding to a circuit pattern is formed on the membrane. Yes (Non-Patent Document 2).

ところで、これらの試料の加工途中品または完成品は、通常の大気中に浮遊する有機物粒子や無機物粒子の付着によって、その性能が損なわれるので、その付着を避ける方法が必要である。その方法として、局所クリーン化技術が採用されている。   By the way, since the performance of these processed samples or finished products of these samples is impaired by the adhesion of organic particles or inorganic particles floating in the normal atmosphere, a method for avoiding the adhesion is necessary. As a method for this, a local cleaning technique is employed.

局所クリーン化技術とは、特殊容器とオープナ(Opener)の組合せによる手法であり、より詳しくは、所与のクリーン度の雰囲気に維持された容器(以下、クリーン容器という)内に試料を収容し、クリーン容器に試料を収納したまま、試料の搬送を行い、かつ加工装置または転写装置(以下、加工装置と転写装置を総称して、処理装置と呼ぶ)へ試料の搬入及び搬出をオープナの助けにより、行う手法である。   The local cleaning technology is a technique using a combination of a special container and an opener. More specifically, a sample is stored in a container maintained in an atmosphere of a given cleanliness (hereinafter referred to as a clean container). The sample is transported while the sample is stored in a clean container, and the opener assists the opener in loading and unloading the sample to the processing device or transfer device (hereinafter, the processing device and transfer device are collectively referred to as the processing device). This is a technique to be performed.

ここでオープナとは、試料を外部環境に曝すことなく、試料の接する雰囲気のクリーン度を保ったまま、試料をクリーン容器に搬入または搬出すること、試料をクリーン容器から搬出して処理装置に搬入すること、並びに、試料を処理装置から搬出してクリーン容器に搬入することが可能な装置である。   Here, the opener means that the sample is carried in or out of the clean container while keeping the cleanness of the atmosphere in contact with the sample without exposing the sample to the external environment, and the sample is carried out of the clean container and carried into the processing apparatus. In addition, the apparatus can carry out the sample from the processing apparatus and carry it into the clean container.

さらに、クリーン容器とオープナに関し、それらの標準化による利益を享受するために、SEMI (登録商標)(Semiconductor
Equipment and Materials International)(所在地3081 Zanker Road, San Jose, CA 95134, USA)による規格(以下、SEMI規格と呼ぶ。)が定められている。
In addition, in order to enjoy the benefits of standardization of clean containers and openers, SEMI (Semiconductor)
Equipment and Materials International) (location 3081 Zanker Road, San Jose, CA 95134, USA) (hereinafter referred to as SEMI standards).

SEMI規格には、試料のクリーン容器(以下、ポッドと呼ぶ)への搬入または搬出の際の機械的インターフェースの違いによって、「標準化された機械的インターフェース(Standard Mechanical Interface)」(以下、SMIFと呼ぶ。)規格と「前面開閉インターフェース機械的規格(Front-Opening Interface Mechanical Standard)」(以下、FIMSと呼ぶ。)とがある。   The SEMI standard includes a “standard mechanical interface” (hereinafter referred to as SMIF) depending on the difference in mechanical interface when a sample is carried into and out of a clean container (hereinafter referred to as a pod). .) Standard and “Front-Opening Interface Mechanical Standard” (hereinafter referred to as FIMS).

SMIFでは、ポッド(以下、SMIFポッドとも呼ぶ)はその底に扉を有し、この扉の開閉により試料はポッドの底からポッドに搬入または搬出される。他方、FIMSインターフェースでは、ポッド(以下、Front-Opening Unified Pod (FOUP)とも呼ぶ。)はその側面に扉を有し、この扉の開閉により試料はFOUPの側面からFOUPに搬入または搬出される。従って、オープナもそれぞれのインターフェースに準拠している。   In SMIF, a pod (hereinafter also referred to as SMIF pod) has a door at the bottom thereof, and a sample is carried into or out of the pod from the bottom of the pod by opening and closing the door. On the other hand, in the FIMS interface, a pod (hereinafter also referred to as “Front-Opening Unified Pod (FOUP))” has a door on its side surface, and the sample is carried into or out of the FOUP from the side surface of the FOUP by opening and closing this door. Therefore, the opener also conforms to each interface.

ポッドへの試料の収納枚数は、ウェハでは通常25枚または13枚である。外径200mmのウェハの25枚入りSMIFポッドの規格としては、SEMI E19.4-0998Eがある(非特許文献3)。   The number of samples stored in the pod is usually 25 or 13 for a wafer. There is SEMI E19.4-0998E as a standard for SMIF pods containing 25 wafers having an outer diameter of 200 mm (Non-patent Document 3).

しかし、ウェハに対しても、1枚収納のポッドが作製されており、ポッドとオープナのインターフェースは、25枚入りポッドとそのオープナのインターフェースとほぼ同じである。   However, a single pod is prepared for the wafer, and the interface between the pod and the opener is almost the same as the interface between the 25-pod pod and the opener.

試料が300mmウェハの場合、25枚または13枚入りのFOUPに関しFIMSが存在するが、そのシステムで1枚入りFOUPを運用する際の規格がSEMI E103-0704で定まっている(非特許文献4)。1枚入りFOUPの例としては、Incam SOLUTIONS社(仏)製の商品FOUP for
One(登録商標)がある。
When the sample is a 300 mm wafer, FIMS exists for 25 or 13 FOUPs, but the standard for operating a single FOUP in that system is determined by SEMI E103-0704 (Non-Patent Document 4) . As an example of a FOUP containing 1 sheet, the product FOUP for Incam SOLUTIONS (France)
There is One (registered trademark).

試料が外径200mmのEPL用マスク(以下では、200mm EPL用マスクと呼ぶ。)である場合には、専用の1枚入りSMIFポッドが実用に供されている。そのポッドを上側から写した写真と底側から写した写真が、非特許文献1の224頁のFIGURE 10.28 (a)、(b)として、それぞれ、掲載されている。   When the sample is an EPL mask having an outer diameter of 200 mm (hereinafter referred to as a 200 mm EPL mask), a dedicated one-piece SMIF pod is practically used. A photograph of the pod taken from the top and a photograph taken from the bottom are listed as FIGURE 10.28 (a) and (b) on page 224 of Non-Patent Document 1, respectively.

さらに、非特許文献2の933頁のFig.9は、1枚入りSMIFポッドの扉部分とその上に載置されたEPL用マスクの写真である。なお、ポッド内の雰囲気の圧力は大気圧(外部環境と同じ圧力)に保たれる。   Further, Fig. 9 on page 933 of Non-Patent Document 2 is a photograph of the door portion of a one-sheet SMIF pod and an EPL mask placed thereon. Note that the pressure of the atmosphere in the pod is maintained at atmospheric pressure (the same pressure as the external environment).

さらに、試料がLEEPL用マスクである場合には、真空型1枚入りSMIFポッドと真空型オープナが実用に供されている。このポッドは、特許文献1に記載のように、大気中で試料を内部に挿入した後、オープナの助けにより、内部を真空に引き、その状態を保つことができる構造を有している(特許文献1)。   Furthermore, when the sample is a mask for LEEPL, a single vacuum type SMIF pod and a vacuum type opener are practically used. As described in Patent Document 1, this pod has a structure in which, after a sample is inserted in the air, the inside can be evacuated with the help of an opener and the state can be maintained (patent) Reference 1).

さらに、試料の接する雰囲気の圧力を大気圧にすることなく、試料をポッドごと搬送すること、試料をポッドから搬出して、処理装置に搬入すること、並びに、試料を処理装置から搬出してポッドに搬入することが可能である。以下では、大気圧で使用するポッドやオープナをこの方式によるポッドやオープナと区別する時のみ、大気型と呼ぶ。なお、この方式での真空度は低真空領域(100〜1000Pa)である。   Furthermore, the sample is transported together with the pod without bringing the pressure of the atmosphere in contact with the sample to atmospheric pressure, the sample is unloaded from the pod and loaded into the processing device, and the sample is unloaded from the processing device and the pod. It is possible to carry in. Hereinafter, the pod or opener used at atmospheric pressure is referred to as the atmospheric type only when it is distinguished from the pod or opener by this method. In addition, the degree of vacuum in this method is a low vacuum region (100 to 1000 Pa).

真空型1枚入りSMIFポッドにはいくつかの種類がある。そのうちの1種類のポッドに関し、ポッドの上面の写真、底の写真及びオープナの写真が非特許文献4の609頁のFigure 15 (b)、(c)、(a)として、それぞれ、掲載されている。   There are several types of SMIF pods with one vacuum type. Regarding one of these pods, the top photo, bottom photo, and opener photo of the pod are shown as Figure 15 (b), (c), and (a) on page 609 of Non-Patent Document 4, respectively. Yes.

また、別の種類のポッドに関し、その上面の写真と底面の写真が非特許文献1の224頁のFIGURE 10.28 (c)、(d)として、それぞれ、掲載されている。なお、EPL用マスクとLEEPL用マスクは、いずれも大気型または真空型の1枚入りSMIFポッドを利用することができる。   Further, regarding another type of pod, a photograph of the top surface and a photograph of the bottom surface thereof are shown as FIGURE 10.28 (c) and (d) on page 224 of Non-Patent Document 1, respectively. Note that both the EPL mask and the LEEPL mask can use an atmospheric type or vacuum type one-piece SMIF pod.

なお、試料がEPL用マスクまたはLEEPL用マスクである場合、専用の1枚入りFOUPはまだ実用に供されていない。しかし、そのような物を製造することは可能である。   When the sample is an EPL mask or a LEEPL mask, a dedicated one-sheet FOUP has not yet been put to practical use. However, it is possible to produce such a product.

ここでEPL用マスク専用の1枚入りSMIFポッドの構造とオープナによる試料の搬入、搬出動作を説明する。
図16はSMIFポッド131の構造を示す斜視図であって、図17はポッドのA1−A1断面図である。また、図18は、図16のB1方向矢視図である。
Here, the structure of the one-piece SMIF pod dedicated to the EPL mask and the sample loading and unloading operations by the opener will be described.
FIG. 16 is a perspective view showing the structure of the SMIF pod 131, and FIG. 17 is a cross-sectional view of the pod taken along line A1-A1. FIG. 18 is a view as viewed in the direction B1 in FIG.

図16および図17に示すように、SMIFポッド131の外観は直方体の下の一部が帯状に張り出した形をしており、容器133を有している。
図16〜図18に示すように、容器133は、上部135、側部137a、137b、137c、137d、および張り出し部分であるかぎ部139a、139b、139c、139dからなる。
As shown in FIGS. 16 and 17, the appearance of the SMIF pod 131 has a shape in which a part below the rectangular parallelepiped protrudes in a band shape and has a container 133.
As shown in FIGS. 16 to 18, the container 133 includes an upper portion 135, side portions 137 a, 137 b, 137 c, and 137 d, and hook portions 139 a, 139 b, 139 c, and 139 d that are overhanging portions.

なお、後述するが、かぎ部139a、139b、139c、139dは、SMIFポッド131内の試料151をオープナ171内に導入する際に、オープナ171とSMIFポッド131を固定するために設けられている。   As will be described later, the hooks 139a, 139b, 139c, and 139d are provided to fix the opener 171 and the SMIF pod 131 when the sample 151 in the SMIF pod 131 is introduced into the opener 171.

かぎ部139a、139b、139c、139dにはガスケット145を介して扉141が設けられており、扉141は固定用ピン143a、143bによってかぎ部139a、139cに固定されている。
ガスケット145は扉141が閉じた状態において容器133と扉141の間を大気が通過するのを防ぐ。
なお、ガスケット145は、扉141側に固定されていても、容器133側に固定されていてもよい。
A door 141 is provided on the key portions 139a, 139b, 139c, and 139d via a gasket 145, and the door 141 is fixed to the key portions 139a and 139c by fixing pins 143a and 143b.
The gasket 145 prevents the atmosphere from passing between the container 133 and the door 141 when the door 141 is closed.
The gasket 145 may be fixed to the door 141 side or may be fixed to the container 133 side.

扉141上には下部保持部157a、157bが設けられており、上部135の内壁には上部保持部153a、153bが設けられている。
容器133の内部には試料として試料151が設けられ、扉が閉じた状態では、試料151は、上部保持部153aと下部保持部157aに挟み込まれ、また、上部保持部153bと下部保持部157bに挟み込まれており、上部保持部153a、153bの有する弾性力で、SMIFポッド131内で移動しないように固定される。
Lower holding portions 157 a and 157 b are provided on the door 141, and upper holding portions 153 a and 153 b are provided on the inner wall of the upper portion 135.
A sample 151 is provided as a sample inside the container 133. When the door is closed, the sample 151 is sandwiched between the upper holding portion 153a and the lower holding portion 157a, and is also inserted into the upper holding portion 153b and the lower holding portion 157b. It is sandwiched and fixed so as not to move in the SMIF pod 131 by the elastic force of the upper holding portions 153a and 153b.

なお、図示はしていないが、上部保持部と下部保持部はもう1対あり、3対の上部保持部と下部保持部は試料151の外周にわたり略120度間隔で設けられている。
なお、このような場合、図16のA1−A1断面上には、3対のうちの1対しか存在しえないが、保持の仕方の説明の都合で、2対を図中に描いてある。本明細書中の他の断面図も同様である。
Although not shown, there is another pair of the upper holding part and the lower holding part, and the three pairs of the upper holding part and the lower holding part are provided over the outer periphery of the sample 151 at intervals of approximately 120 degrees.
In such a case, only one of the three pairs can exist on the A1-A1 cross section of FIG. 16, but two pairs are drawn in the figure for convenience of explanation of the holding method. . The same applies to the other cross-sectional views in this specification.

さらに、試料151の位置が水平方向で大きくずれないように、扉141には、試料位置決めのための図示しないピンが数本設けられている。   Furthermore, several pins (not shown) for sample positioning are provided on the door 141 so that the position of the sample 151 is not greatly shifted in the horizontal direction.

試料151を長期間保持しても試料151に化学的影響を与えないように、試料151の周りの空間に接する構造材(即ち、容器133、扉141、ガスケット145、上部保持部153a、153b、および下部保持部157a、157b)にはガス放出量の少ない材料を用いる必要がある。
大気型の容器133には、この必要を満たし、かつ軽量で透明な材料としてバイヨン(登録商標)やバレックス(登録商標)が用いられる。
A structural material (that is, a container 133, a door 141, a gasket 145, an upper holding portion 153a, 153b, or the like) that is in contact with the space around the sample 151 so that the sample 151 is not chemically affected even if the sample 151 is held for a long period of time. The lower holding portions 157a and 157b) need to use a material with a small amount of gas emission.
For the atmospheric container 133, Bayon (registered trademark) or Valex (registered trademark) is used as a lightweight and transparent material that satisfies this need.

同様に、大気型の扉141には、この必要を満たし、かつ軽量で強度のある材料として、アクリルニトリル・ブタジエン・スチレン樹脂(ABS樹脂)が用いられる。
真空型の容器133や扉141は、大気圧に耐えられる強度を有する必要から、金属やガラスが用いられる。上部保持部153a、153bおよび下部保持部157a、157bにはポリエーテルエーテルケトン(PEEK)が用いられる。
金属で容器筐体の大部分を作製した場合には、試料151を外部から視認できるように、上部135にはガラス製ののぞき窓135aを設けることが望ましいい。なお、上部135自体が透明な材料で構成される場合には、のぞき窓135aは特に設けられない。
Similarly, an acrylonitrile / butadiene / styrene resin (ABS resin) is used for the atmospheric door 141 as a lightweight and strong material that satisfies this need.
The vacuum type container 133 and the door 141 are made of metal or glass because they need to have strength to withstand atmospheric pressure. Polyether ether ketone (PEEK) is used for the upper holding portions 153a and 153b and the lower holding portions 157a and 157b.
When most of the container housing is made of metal, it is desirable to provide a glass viewing window 135a on the upper portion 135 so that the sample 151 can be seen from the outside. When the upper part 135 itself is made of a transparent material, the observation window 135a is not particularly provided.

次に扉141の構造について説明する。
図19は扉141の詳細図である。
図19に示すように、扉141の内部には円盤状の回転板147が軸159に軸支されており、回転板147は軸159を中心にC1およびC2方向に回転可能である。
Next, the structure of the door 141 will be described.
FIG. 19 is a detailed view of the door 141.
As shown in FIG. 19, a disk-shaped rotating plate 147 is supported on a shaft 159 inside the door 141, and the rotating plate 147 can rotate about the shaft 159 in the C1 and C2 directions.

扉141には固定用ピン143a、143bが設けられており、回転板147を図19のC1方向に回転させると、固定用ピン143a、143bはそれぞれD1、E1方向に移動し、回転板147に引き込まれる。   Fixing pins 143a and 143b are provided on the door 141. When the rotating plate 147 is rotated in the direction C1 in FIG. Be drawn.

反対に、回転板147を図19のC2方向に回転させると、固定用ピン143a、143bはそれぞれD2、E2方向に移動し、扉141から先端が露出する。   On the other hand, when the rotating plate 147 is rotated in the C2 direction in FIG.

扉141には長穴165a、165bが設けられており、回転板147の一部は長穴165a、165bから露出している。   The door 141 is provided with elongated holes 165a and 165b, and a part of the rotating plate 147 is exposed from the elongated holes 165a and 165b.

回転板147の、長穴165a、165bから露出している部分には駆動ピン用孔(pod
latch hole)167a、167bが設けられている。
A portion of the rotating plate 147 exposed from the long holes 165a and 165b is provided with a driving pin hole (pod).
latch holes) 167a and 167b are provided.

即ち、駆動ピン用孔167a、167bに治具等を挿入し、回転することによって、固定用ピン143a、143bを移動させ、扉141のロックを解除し、開閉を行うことができる。   That is, by inserting a jig or the like into the drive pin holes 167a and 167b and rotating, the fixing pins 143a and 143b can be moved, the door 141 can be unlocked, and the door can be opened and closed.

駆動ピン用孔167a、167bの大きさ、配置、回転可能範囲は、非特許文献3のFig. 2、Fig. 4、及びTable 1に規定されている。   The size, arrangement, and rotatable range of the drive pin holes 167a and 167b are defined in FIGS. 2, 4 and 1 of Non-Patent Document 3.

なお、SEMI規格に固定用ピンに関する規定はないので、固定用ピン143a、143bの個数、寸法、及び配置は任意であるが、図19では2本の固定用ピンが設けられている。なお、4本の固定ピンの例もある。   Since the SEMI standard does not define the fixing pins, the number, size, and arrangement of the fixing pins 143a and 143b are arbitrary, but in FIG. 19, two fixing pins are provided. There are also examples of four fixing pins.

なお、図19に示すように、扉141には、フィルタ163a、163bを嵌め込んだ通気口161a、161bが設けられており、容器133内部と外気の圧力が同じになるようになっている。   As shown in FIG. 19, the door 141 is provided with vent holes 161 a and 161 b into which filters 163 a and 163 b are fitted, so that the pressure of the outside air is the same as that in the container 133.

真空型SMIFポッドでは、大気型SMIFポッドに比べて、ポッド内部を低真空にするため、構造上工夫がされている。例えば、扉と容器筐体の間は、ガスケット等を挟んで高い気密性を保つようにする必要がある。従って通気口は設けられない。   The vacuum type SMIF pod is devised in terms of structure in order to make the inside of the pod have a lower vacuum than the atmospheric type SMIF pod. For example, it is necessary to maintain a high airtightness between the door and the container housing with a gasket or the like interposed therebetween. Therefore, no vent is provided.

次にオープナ171による扉141の開動作と試料151の従来のSMIFポッド131からの搬出を説明する。
図20〜図22はオープナ171による扉141の開動作と、試料151の従来のSMIFポッド131からの搬出手順を示す図である。
Next, the opening operation of the door 141 by the opener 171 and the unloading of the sample 151 from the conventional SMIF pod 131 will be described.
20 to 22 are diagrams showing the opening operation of the door 141 by the opener 171 and the procedure for carrying out the sample 151 from the conventional SMIF pod 131. FIG.

図20に示すように、オープナ171は箱型の形状を有し、上部175にはポートドア173が設けられている。   As shown in FIG. 20, the opener 171 has a box shape, and a port door 173 is provided on the upper portion 175.

上部175のポートドア173との境界近傍には枠状のガスケット176が設けられており、ポートドア173の上部175との境界近傍には枠状のガスケット181が設けられている。   A frame-shaped gasket 176 is provided in the vicinity of the boundary between the upper portion 175 and the port door 173, and a frame-shaped gasket 181 is provided in the vicinity of the boundary between the upper portion 175 of the port door 173.

オープナ171には、掛け金183a、183bが設けられており、この掛け金183a、183bを操作して、SMIFポッド131を固定することが可能である。また、オープナ171は試料移送系を介して処理装置に連結されている。   The opener 171 is provided with latches 183a and 183b, and the SMIF pod 131 can be fixed by operating these latches 183a and 183b. The opener 171 is connected to the processing apparatus through a sample transfer system.

さらに、ポートドア173には2本の駆動ピン179a、179bを有する回転部175aが設けられており、回転部175aは軸177に軸支されている。ポートドア173はK1、K2方向に昇降可能である。
詳しくは後述するが、回転部175a、駆動ピン179a、179bは、SMIFポッド131の扉141を開閉する際に用いられる。
なお、オープナ171内部も低真空対応になっている。
Further, the port door 173 is provided with a rotating portion 175a having two drive pins 179a and 179b, and the rotating portion 175a is supported by a shaft 177. The port door 173 can be moved up and down in the K1 and K2 directions.
As will be described in detail later, the rotating portion 175a and the drive pins 179a and 179b are used when opening and closing the door 141 of the SMIF pod 131.
Note that the inside of the opener 171 is also compatible with low vacuum.

次に、オープナ171による扉141の開動作と試料151の従来のSMIFポッド131からの搬出手順について説明する。   Next, the opening operation of the door 141 by the opener 171 and the procedure for carrying out the sample 151 from the conventional SMIF pod 131 will be described.

まず、図20に示すように、SMIFポッド131を図示しないロボットアーム等によって、図20のH1方向に移動させ、SMIFポッド131のかぎ部139a、139cを、オープナ171のガスケット176と密着させる。
また、扉141をポートドア173のガスケット181と密着させる。
First, as shown in FIG. 20, the SMIF pod 131 is moved in the H1 direction of FIG. 20 by a robot arm or the like (not shown), and the hook portions 139a and 139c of the SMIF pod 131 are brought into close contact with the gasket 176 of the opener 171.
Further, the door 141 is brought into close contact with the gasket 181 of the port door 173.

かぎ部139a、139cが、オープナ171のガスケット176と密着することにより、外部の空気がオープナ171および容器133の内部に侵入することを防ぐことができる。   Since the key portions 139 a and 139 c are in close contact with the gasket 176 of the opener 171, it is possible to prevent outside air from entering the inside of the opener 171 and the container 133.

また、このとき、駆動ピン179a、179bは図19に示す駆動ピン用孔167a、167b内に挿入される。   At this time, the drive pins 179a and 179b are inserted into the drive pin holes 167a and 167b shown in FIG.

次に、図21に示すように、掛け金183a、183bをかぎ部139a、139cに掛けて、SMIFポッド131をオープナ171に固定する。   Next, as shown in FIG. 21, the latches 183a and 183b are hung on the hook portions 139a and 139c, and the SMIF pod 131 is fixed to the opener 171.

次に、図21に示すように、回転部175aがJ1方向に回転し、それに伴い扉141の回転板147が回転し、固定用ピン143a、143bが扉141内に引き込まれ、ロックが解除される。   Next, as shown in FIG. 21, the rotating portion 175a rotates in the J1 direction, and accordingly, the rotating plate 147 of the door 141 rotates, and the fixing pins 143a and 143b are drawn into the door 141, and the lock is released. The

次に図22に示すように、ポートドア173は図示しないアクチュエータ等によってK1方向に移動し、試料151を扉141ごとオープナ171内に搬入する。   Next, as shown in FIG. 22, the port door 173 is moved in the K1 direction by an actuator or the like (not shown), and the sample 151 is carried into the opener 171 together with the door 141.

その後、試料151のみを試料移送系に設けられた移送アームで持ち上げ、移送し、処理装置に受け渡す。   Thereafter, only the sample 151 is lifted and transferred by a transfer arm provided in the sample transfer system, and transferred to the processing apparatus.

なお、処理装置から試料151を受け取り、容器133に収納する際には、上記と逆の手順をとる。   In addition, when receiving the sample 151 from the processing apparatus and storing it in the container 133, the procedure reverse to the above is taken.

特許第2525284号公報Japanese Patent No. 2525284 K. Suzuki, “EPLtechnology development” (Proc. SPIE, 4754, 2002年,p775-789K. Suzuki, “EPLtechnology development” (Proc. SPIE, 4754, 2002, p775-789 A. Yoshida, H.Kasahara, A. Higuchi, H. Nozue, A. Ando, and N. Shimazu, “Performance of thebeta-tool for low energy electron-beam proximity-projection lithography(LEEPL), Proc. SPIE, 5037, 2003年,p599-610A. Yoshida, H. Kasahara, A. Higuchi, H. Nozue, A. Ando, and N. Shimazu, “Performance of thebeta-tool for low energy electron-beam proximity-projection lithography (LEEPL), Proc. SPIE, 5037 , 2003, p599-610 SEMIE19.4-0998E (Reapproved 0703) “200 mm Standard Mechanical Interface (SMIF)”SEMIE19.4-0998E (Reapproved 0703) “200 mm Standard Mechanical Interface (SMIF)” SMI E103-0704“Mechanical Specification for a 300 mm Single-Wafer Box System That Emulates aFOUP”SMI E103-0704 “Mechanical Specification for a 300 mm Single-Wafer Box System That Emulates aFOUP” “Handbook ofPhotomask Manufacturing Technology” ed. Syed Rizvi, CRC Press, New York, 2005年“Handbook of Photomask Manufacturing Technology” ed. Syed Rizvi, CRC Press, New York, 2005 H. Sugimura, H.Eguchi, T. Yoshii, and A. Tamura, “200-mm EPL stencil mask fabrication by usingSOI substrate”,Proc. SPIE, 5130,2003年,p925-933H. Sugimura, H. Eguchi, T. Yoshii, and A. Tamura, “200-mm EPL stencil mask fabrication by usingSOI substrate”, Proc. SPIE, 5130, 2003, p925-933

しかしながら、従来のSMIFポッド131やFOUPのようなクリーン容器では、試料151が上部保持部153a、153bと下部保持部157a、157bを含む数対の保持部で保持されているが、上部保持部153a、153bと下部保持部157a、157bを含む数対の保持部ともに外部からの衝撃を十分に吸収するようには設計、作製されていないため、容器133の耐衝撃性が不足し、試料搬送中に衝撃が加わった際には、内部の試料151が破損される場合があった。   However, in a conventional clean container such as the SMIF pod 131 or the FOUP, the sample 151 is held by several pairs of holding parts including the upper holding parts 153a and 153b and the lower holding parts 157a and 157b, but the upper holding part 153a. 153b and several pairs of holding parts including the lower holding parts 157a and 157b are not designed and manufactured so as to sufficiently absorb the external impact, so that the impact resistance of the container 133 is insufficient and the sample is being transported. When an impact was applied to the internal sample 151, the internal sample 151 might be damaged.

本発明は、このような問題に鑑みてなされたもので、その目的は、従来の局所クリーン化技術の成果を取り入れながら、耐衝撃性に優れたクリーン容器を提供すること、さらにオープナとの組み合わせにより、耐衝撃性に優れた試料移載システムを提供することにある。   The present invention has been made in view of such problems, and its purpose is to provide a clean container excellent in impact resistance while incorporating the results of the conventional local cleaning technology, and also in combination with an opener. Therefore, it is providing the sample transfer system excellent in impact resistance.

第1の発明は、上部と、側部と、底部に設けられるかぎ部とを有し、底面の前記かぎ部の間を開口部とした外容器と、前記外容器の内部に設けられ、試料を保持する保持部を有する内容器と、前記内容器に設けられ、外部から開閉可能な第1の扉と、前記外容器の前記上部、前記側部、および前記かぎ部と前記内容器の間に設けられ、前記外容器に与えられた振動を吸収する緩衝材と、を有し、前記外容器のかぎ部と前記内容器の間の、前記開口部に最も近い緩衝材より開口部側に、前記外容器と前記内容器の間を塞ぐ枠状の隔壁が設けられていることを特徴とする耐衝撃性クリーン容器である。
前記第1の扉は、前記第1の扉を施錠する施錠手段と、前記施錠を解除する解除手段と、を有する。
前記隔壁には、粒子を吸着する吸着膜が設けられていてもよい。
前記第1の扉は、前記開口部の空間を排除するように設けられ、底面が前記外容器の底面と同一平面にあってもよい。
前記外容器は、外部から開閉可能な第2の扉を更に有してもよい。
前記第1の扉と前記第2の扉の間には、前記第2の扉の開閉に連動して前記第1の扉が開閉する開閉手段が設けられていてもよい。
前記の第2の扉は、前記の第2の扉を施錠する施錠手段と、前記施錠を解除する解除手段と、を有する。
1st invention has a top part, a side part, and a key part provided in a bottom part, an outer container which made the opening between the key parts of a bottom face , provided inside the outer container, a sample, An inner container having a holding part for holding the first container, a first door provided in the inner container and openable / closable from the outside , the upper part of the outer container , the side part, and the key part between the inner container and the inner container And a shock absorbing material that absorbs vibration applied to the outer container , and is closer to the opening than the shock absorbing material closest to the opening between the key part of the outer container and the inner container. An impact-resistant clean container characterized in that a frame-shaped partition wall is provided to block between the outer container and the inner container .
The first door includes locking means for locking the first door and release means for releasing the locking.
The partition wall may be provided with an adsorption film that adsorbs particles.
The first door may be provided so as to exclude the space of the opening , and the bottom surface may be flush with the bottom surface of the outer container .
The outer container may further include a second door that can be opened and closed from the outside.
An opening / closing means for opening and closing the first door in conjunction with opening and closing of the second door may be provided between the first door and the second door.
The second door includes locking means for locking the second door and release means for releasing the locking.

さらに、第の発明は、容器と、オープナと、からなる試料移載システムであって、前記オープナは、ポート扉と、前記耐衝撃性クリーン容器の外部から開閉可能な扉の開閉を行う開閉機構と、前記耐衝撃性クリーン容器を前記ポート扉に載置して、前記耐衝撃性クリーン容器に収納された試料を前記オープナ内部に搬送する手段と、を有し、前記容器として、第1の発明記載の耐衝撃性クリーン容器を用いることを特徴とする試料移載システムである。 Further, the second invention is a sample transfer system comprising a container and an opener, wherein the opener opens and closes a port door and a door that can be opened and closed from the outside of the impact-resistant clean container. A mechanism and means for placing the impact-resistant clean container on the port door and transporting the sample stored in the impact-resistant clean container to the inside of the opener. a sample transfer system, which comprises using the impact resistance clean container according to the invention.

本発明では、耐衝撃性クリーン容器が、内容器と外容器を有する2重構造を備えており、内容器と外容器の間に設けられた緩衝材が衝撃を吸収する。   In the present invention, the impact-resistant clean container has a double structure having an inner container and an outer container, and a shock absorber provided between the inner container and the outer container absorbs the impact.

本発明によれば、耐衝撃性に優れたクリーン容器を提供でき、搬送中の試料の破損を防ぐことができる。さらに、局所クリーン化技術に依拠することができる。   ADVANTAGE OF THE INVENTION According to this invention, the clean container excellent in impact resistance can be provided, and the damage of the sample in conveyance can be prevented. In addition, local cleaning techniques can be relied upon.

以下、図面に基づいて本発明に好適な実施形態を詳細に説明する。図1は、第1の実施形態に係る耐衝撃性クリーン容器1を示す斜視図であって、図2は図1のA2−A2断面図である。   DESCRIPTION OF EMBODIMENTS Hereinafter, preferred embodiments of the present invention will be described in detail based on the drawings. FIG. 1 is a perspective view showing an impact-resistant clean container 1 according to the first embodiment, and FIG. 2 is a cross-sectional view taken along line A2-A2 of FIG.

図1に示すように、耐衝撃性クリーン容器1は箱型の外観を有している。   As shown in FIG. 1, the impact-resistant clean container 1 has a box-shaped appearance.

図1および図2に示すように、耐衝撃性クリーン容器1は容器3を有し、容器3は上部5、側部7a、7b、7c、7d、かぎ部9a、9b、9c、9dからなっている。なお、側部7a、7dおよびかぎ部9a、9dは図示されていない。   As shown in FIGS. 1 and 2, the impact-resistant clean container 1 has a container 3, and the container 3 is composed of an upper part 5, side parts 7a, 7b, 7c, 7d, and hook parts 9a, 9b, 9c, 9d. ing. The side portions 7a and 7d and the hook portions 9a and 9d are not shown.

かぎ部9a、9b、9c、9dにはガスケット18を介して扉17が設けられており、扉17は固定用ピン19a、19bによってかぎ部9a、9cに固定されている。
容器3と扉17はガスケット18によって密着しており、内部はクリーンルーム内と同様の清浄度に保たれている。
なお、内部は真空にしてもよい。
A door 17 is provided on the key portions 9a, 9b, 9c and 9d via a gasket 18, and the door 17 is fixed to the key portions 9a and 9c by fixing pins 19a and 19b.
The container 3 and the door 17 are in close contact with each other by a gasket 18, and the inside is kept at the same cleanliness as in the clean room.
The inside may be evacuated.

扉17上には緩衝材21c、21dが設けられており、上部5の内壁には緩衝材21a、21bが設けられている。
また、緩衝材21c、21dの上面には下部保持部24a、24bが設けられており、緩衝材21a、21bの下面には上部保持部23a、23bが設けられている。
なお、図示はしていないが、上部保持部と下部保持部はもう1対あり、3対の上部保持部と下部保持部は試料151の外周にわたり略120度間隔で設けられており、各対に対して緩衝材が設けられている。
Buffer materials 21c and 21d are provided on the door 17, and buffer materials 21a and 21b are provided on the inner wall of the upper portion 5.
Lower holding parts 24a and 24b are provided on the upper surfaces of the cushioning materials 21c and 21d, and upper holding parts 23a and 23b are provided on the lower surfaces of the cushioning materials 21a and 21b.
Although not shown in the drawing, there is another pair of the upper holding portion and the lower holding portion, and the three pairs of the upper holding portion and the lower holding portion are provided at an interval of approximately 120 degrees over the outer periphery of the sample 151. In contrast, a cushioning material is provided.

扉17が閉じた状態では、試料25は、上部保持部23aと下部保持部24aに挟み込まれ、また、上部保持部23bと下部保持部24bに挟み込まれており、上部保持部23a、23bの有する弾性力で、耐衝撃性クリーン容器1内で移動しないように固定される。   When the door 17 is closed, the sample 25 is sandwiched between the upper holding portion 23a and the lower holding portion 24a, and is also sandwiched between the upper holding portion 23b and the lower holding portion 24b, and the upper holding portions 23a and 23b have. It is fixed so as not to move in the impact resistant clean container 1 by an elastic force.

扉17の内部には回転板27が軸29に軸支されており、回転板27が回転することによって固定用ピン19a、19bが移動するようになっている。なお、扉17の構造は扉141と同様であるため、説明を省略する。   A rotary plate 27 is pivotally supported on a shaft 29 inside the door 17, and the fixing pins 19 a and 19 b move as the rotary plate 27 rotates. In addition, since the structure of the door 17 is the same as that of the door 141, description is abbreviate | omitted.

また、容器3の材質もSMIFポッド131と同様である。   The material of the container 3 is the same as that of the SMIF pod 131.

また、上部5にはガラス製ののぞき窓5aが設けられており、試料25を外部から視認できるようになっている。   The upper portion 5 is provided with a glass viewing window 5a so that the sample 25 can be viewed from the outside.

ここで、上部保持部23a、23bと容器3の間には緩衝材21a、21bが設けられ、下部保持部24a、24bと扉17の間には緩衝材21c、21dが設けられているため、容器3および扉17に衝撃が加わった場合は、緩衝材21a、21b、21c、21dが衝撃を吸収し、試料25に衝撃が伝わるのを防ぐ。   Here, buffer materials 21a, 21b are provided between the upper holding portions 23a, 23b and the container 3, and buffer materials 21c, 21d are provided between the lower holding portions 24a, 24b and the door 17, When an impact is applied to the container 3 and the door 17, the shock absorbing materials 21a, 21b, 21c, and 21d absorb the impact and prevent the impact from being transmitted to the sample 25.

なお、緩衝材21a、21b、21c、21dの材質は例えばエラストマーやプラスチックである。
ここでエラストマーとは、ゴムと熱可塑性エラストマーから成る総称であり、熱可塑性エラストマーの例としては、ウレタン熱可塑性エラストマーを挙げることができる。
The material of the buffer materials 21a, 21b, 21c, and 21d is, for example, an elastomer or plastic.
Here, the elastomer is a generic name consisting of rubber and a thermoplastic elastomer, and examples of the thermoplastic elastomer include a urethane thermoplastic elastomer.

このように、第1の実施形態によれば、耐衝撃性クリーン容器1は、容器3および扉17と試料25を保持する上部保持部23a、23bおよび下部保持部24a、24b間に衝撃を吸収する緩衝材21a、21b、21c、21dが設けられている。
従って、搬送中の試料25の破損を防ぐことができる。
Thus, according to the first embodiment, the impact-resistant clean container 1 absorbs shock between the container 3, the door 17, and the upper holders 23 a and 23 b and the lower holders 24 a and 24 b that hold the sample 25. Buffer materials 21a, 21b, 21c, and 21d are provided.
Accordingly, it is possible to prevent the sample 25 from being damaged.

また、第1の実施形態では、従来のクリーン容器からの変更はわずかである。従って、オープナは従来のオープナを改造なしで、わずかな操作変更のみで使用できる。
さらに、従来の容器に比べて、作製費の大幅な追加は不要であるため、生産性に優れる。
Moreover, in 1st Embodiment, the change from the conventional clean container is slight. Therefore, the opener can be used with only slight operational changes without remodeling the conventional opener.
Furthermore, compared with the conventional container, since it is not necessary to add a large manufacturing cost, it is excellent in productivity.

次に、第2の実施形態について説明する。図3は第2の実施形態に係る耐衝撃性クリーン容器30を示す断面図であって、図4は図3のB2方向矢視図である。   Next, a second embodiment will be described. FIG. 3 is a sectional view showing an impact-resistant clean container 30 according to the second embodiment, and FIG. 4 is a view taken in the direction of arrow B2 in FIG.

第2の実施形態に係る耐衝撃性クリーン容器30は容器を2重にし、容器と容器の間に緩衝材を設けたものである。
なお、第1の実施形態に係る耐衝撃性クリーン容器1と同様の機能を果たす要素には同一の番号を付し、説明を省略する。
The impact-resistant clean container 30 according to the second embodiment has a double container and a buffer material provided between the containers.
In addition, the same number is attached | subjected to the element which performs the function similar to the impact-resistant clean container 1 which concerns on 1st Embodiment, and description is abbreviate | omitted.

図3および図4に示すように、耐衝撃性クリーン容器30は外容器3aを有し、外容器3aは上部31、側部33a、33b、33c、33d、かぎ部35a、35b、35c、35dからなっている。
なお、かぎ部35a、35b、35c、35dは矩形の開口部45を有している。
As shown in FIGS. 3 and 4, the impact-resistant clean container 30 has an outer container 3a. The outer container 3a has an upper portion 31, side portions 33a, 33b, 33c, and 33d, and key portions 35a, 35b, 35c, and 35d. It is made up of.
The key portions 35a, 35b, 35c, and 35d have a rectangular opening 45.

外容器3aの内部には内容器としての容器3が設けられている。
なお、容器3の構造はSMIFポッド131と同様である。
A container 3 as an inner container is provided inside the outer container 3a.
The structure of the container 3 is the same as that of the SMIF pod 131.

外容器3aの上部31と、容器3の上部5との間には緩衝材43a、43bが設けられており、側部33a、33b、33c、33dとかぎ部9a、9b、9c、9dの間には緩衝材39a、39b、39c、39dが設けられている。   Cushioning materials 43a and 43b are provided between the upper part 31 of the outer container 3a and the upper part 5 of the container 3, and between the side parts 33a, 33b, 33c and 33d and the hook parts 9a, 9b, 9c and 9d. Are provided with cushioning materials 39a, 39b, 39c, 39d.

かぎ部35a、35b、35c、35dとかぎ部9a、9b、9c、9dの間には緩衝材41a、41b、41c、41dが設けられている。   Buffer members 41a, 41b, 41c, and 41d are provided between the key portions 35a, 35b, 35c, and 35d and the key portions 9a, 9b, 9c, and 9d.

即ち、外容器3aに衝撃が加わった場合は、緩衝材39a、39b、39c、39d、41a、41b、41c、41d、43a、43bが衝撃を吸収し、試料25に衝撃が伝わるのを防ぐ。   That is, when an impact is applied to the outer container 3a, the shock absorbing materials 39a, 39b, 39c, 39d, 41a, 41b, 41c, 41d, 43a, 43b absorb the impact and prevent the impact from being transmitted to the sample 25.

なお、緩衝材39a、39b、39c、39d、41a、41b、41c、41d、43a、43bの材質は第1の実施形態の緩衝材21a、21b、21c、21dと同様である。   The materials of the buffer materials 39a, 39b, 39c, 39d, 41a, 41b, 41c, 41d, 43a, 43b are the same as those of the buffer materials 21a, 21b, 21c, 21d of the first embodiment.

次に、試料25をオープナ51を用いて耐衝撃性クリーン容器30から取り出す際の手順について説明する。
図5〜8は試料25をオープナ51を用いて耐衝撃性クリーン容器30から取り出す際の手順を示す図である。
Next, the procedure for taking out the sample 25 from the impact resistant clean container 30 using the opener 51 will be described.
5 to 8 are diagrams showing a procedure when the sample 25 is taken out from the impact resistant clean container 30 using the opener 51. FIG.

まず、オープナ51の構造について説明する。
図5に示すように、オープナ51は箱型の形状を有し、上部55にはポートドア57が設けられている。
ポートドア57は図示しないアクチュエータ等によって、上下に移動可能である。
First, the structure of the opener 51 will be described.
As shown in FIG. 5, the opener 51 has a box shape, and an upper door 55 is provided with a port door 57.
The port door 57 can be moved up and down by an actuator (not shown).

上部55のポートドア57との境界近傍には枠状のガスケット59が設けられており、ポートドア57の上部55との境界近傍には枠状のガスケット61が設けられている。
なお、オープナ51の内部はクリーンルーム内と同様の清浄度に保たれている。
A frame-shaped gasket 59 is provided in the vicinity of the boundary of the upper portion 55 with the port door 57, and a frame-shaped gasket 61 is provided in the vicinity of the boundary of the port door 57 with the upper portion 55.
In addition, the inside of the opener 51 is maintained at the same cleanliness as in the clean room.

また、ポートドア57には回転部63が設けられており、回転部63は軸64を中心に回転可能である。
回転部63には駆動ピン65a、65bが設けられている。
Further, the port door 57 is provided with a rotating portion 63, and the rotating portion 63 can rotate around a shaft 64.
The rotating part 63 is provided with drive pins 65a and 65b.

次に、試料25を耐衝撃性クリーン容器30から取り出す際の手順について説明する。
まず、図5に示すように、耐衝撃性クリーン容器30は図示しないロボットアーム等によって、図のH2方向に移動される。
Next, a procedure for taking out the sample 25 from the impact resistant clean container 30 will be described.
First, as shown in FIG. 5, the impact-resistant clean container 30 is moved in the direction H2 in the drawing by a robot arm or the like (not shown).

次に、図6に示すように、耐衝撃性クリーン容器30のかぎ部35a、35cが、オープナ51のガスケット59と密着する。
かぎ部35a、35cが、オープナ51のガスケット59と密着することにより、外部の空気がオープナ51および容器3の内部に侵入することを防ぐことができる。
Next, as shown in FIG. 6, the hooks 35 a and 35 c of the impact-resistant clean container 30 are in close contact with the gasket 59 of the opener 51.
Since the key portions 35 a and 35 c are in close contact with the gasket 59 of the opener 51, it is possible to prevent outside air from entering the inside of the opener 51 and the container 3.

次に、図6に示すように、ポートドア57はI2方向に上昇し、図7に示すようにガスケット61と扉17は密着する。
このとき、駆動ピン65a、65bは図19に示す駆動ピン用穴に挿入される。
Next, as shown in FIG. 6, the port door 57 rises in the I2 direction, and the gasket 61 and the door 17 are in close contact with each other as shown in FIG.
At this time, the drive pins 65a and 65b are inserted into the drive pin holes shown in FIG.

次に図7に示すように、回転部63がJ2方向に回転し、それに伴い扉17の回転板27が回転し、固定用ピン19a、19bが扉17内に引き込まれ、ロックが解除される。   Next, as shown in FIG. 7, the rotating portion 63 rotates in the J2 direction, and accordingly, the rotating plate 27 of the door 17 rotates, and the fixing pins 19a and 19b are drawn into the door 17 to release the lock. .

次に図8に示すように、ポートドア57は図示しないアクチュエータ等によってI1方向に移動し、試料25を扉17ごとオープナ51内に搬入する。
このようにして、試料25を外気に触れさせることなく、耐衝撃性クリーン容器30から取り出すことができる。
Next, as shown in FIG. 8, the port door 57 is moved in the I1 direction by an actuator (not shown) and the like, and the sample 25 is carried into the opener 51 together with the door 17.
In this way, the sample 25 can be taken out from the impact resistant clean container 30 without touching the outside air.

このように、第2の実施形態によれば、耐衝撃性クリーン容器30が容器3と外容器3aを有する2重構造となっており、容器3と外容器3aの間には衝撃を吸収する緩衝材39a、39b、39c、39d、41a、41b、41c、41d、43a、43bが設けられている。
従って、第1の実施形態と同様の効果を奏する。
さらに2重構造にすることによって、外容器、内容器と緩衝材のそれぞれに対して、その用途に適した材質を選択できることができる。
例えば、緩衝材として、緩衝性に富み、かつガス放出量の少ない材料は限定されるが、ガス放出量の少ないという制約を外すと、より多くの材料を選択することができる。
Thus, according to the second embodiment, the impact-resistant clean container 30 has a double structure including the container 3 and the outer container 3a, and absorbs an impact between the container 3 and the outer container 3a. Buffer materials 39a, 39b, 39c, 39d, 41a, 41b, 41c, 41d, 43a, 43b are provided.
Accordingly, the same effects as those of the first embodiment are obtained.
Furthermore, by using a double structure, it is possible to select a material suitable for the application for each of the outer container, the inner container, and the cushioning material.
For example, a material having a high buffering property and a small amount of gas release is limited as the buffer material, but more materials can be selected if the restriction of a small amount of gas release is removed.

次に、第3の実施形態について説明する。
図9は第3の実施形態に係る耐衝撃性クリーン容器30aを示す断面図であって、図10は図9の隔壁63付近を示す詳細図である。なお、第2の実施形態に係る耐衝撃性クリーン容器30と同様の機能を果たす要素には同一の番号を付し、説明を省略する。
第3の実施形態における耐衝撃性クリーン容器30aは、第2の実施形態に係る耐衝撃性クリーン容器30において、外容器3aのかぎ部35a、35cと容器3のかぎ部9a、9cの間に隔壁63を設けたものである。
Next, a third embodiment will be described.
FIG. 9 is a sectional view showing an impact-resistant clean container 30a according to the third embodiment, and FIG. 10 is a detailed view showing the vicinity of the partition wall 63 in FIG. In addition, the same number is attached | subjected to the element which fulfill | performs the function similar to the impact-resistant clean container 30 which concerns on 2nd Embodiment, and description is abbreviate | omitted.
The impact-resistant clean container 30a according to the third embodiment is the same as the impact-resistant clean container 30 according to the second embodiment between the key portions 35a and 35c of the outer container 3a and the key portions 9a and 9c of the container 3. A partition wall 63 is provided.

図9及び図10に示すように、かぎ部9a、9cとかぎ部35a、35cの間には枠状の隔壁63が設けられている。
隔壁63を設けることにより、緩衝材41a、41cから発生する粒子等の異物が、試料25を取り出す際に、容器3およびオープナ51内に進入することを防ぐことができる。
As shown in FIGS. 9 and 10, a frame-shaped partition wall 63 is provided between the key portions 9a and 9c and the key portions 35a and 35c.
By providing the partition wall 63, foreign substances such as particles generated from the buffer materials 41a and 41c can be prevented from entering the container 3 and the opener 51 when the sample 25 is taken out.

また、図10に示すように、隔壁63の内壁には吸着膜65が設けられており、隔壁63に接触した粒子67等の異物は吸着膜65に吸着される。
吸着膜65を設けることにより、搬送中に開口部45から侵入し、隔壁63の内壁に付着した粒子67等の異物が、試料25を取り出す際に、容器3およびオープナ51内に進入することを防ぐことができる。
As shown in FIG. 10, an adsorption film 65 is provided on the inner wall of the partition wall 63, and foreign substances such as particles 67 that are in contact with the partition wall 63 are adsorbed by the adsorption film 65.
By providing the adsorption film 65, foreign matter such as particles 67 entering the opening 45 during transportation and adhering to the inner wall of the partition wall 63 enters the container 3 and the opener 51 when the sample 25 is taken out. Can be prevented.

このように第3の実施形態によれば、耐衝撃性クリーン容器30aは容器3と外容器3aを有する2重構造となっており、容器3と外容器3aの間には衝撃を吸収する緩衝材39a、39b、39c、39d、41a、41b、41c、41d、43a、43bが設けられている。
従って、第2の実施形態と同様の効果を奏する。
As described above, according to the third embodiment, the impact-resistant clean container 30a has a double structure including the container 3 and the outer container 3a, and a buffer that absorbs the shock is provided between the container 3 and the outer container 3a. Materials 39a, 39b, 39c, 39d, 41a, 41b, 41c, 41d, 43a, 43b are provided.
Accordingly, the same effects as those of the second embodiment are obtained.

また、第3の実施形態によれば、かぎ部9a、9cとかぎ部35a、35cの間には枠状の隔壁63が設けられているため、緩衝材41a、41cから発生する粒子等の異物が、試料25を取り出す際に、容器3およびオープナ51内に進入することを防ぐことができる。   Further, according to the third embodiment, since the frame-shaped partition wall 63 is provided between the key portions 9a and 9c and the key portions 35a and 35c, foreign matters such as particles generated from the buffer materials 41a and 41c. However, when taking out the sample 25, it can prevent entering into the container 3 and the opener 51. FIG.

次に、第4の実施形態について説明する。
図11は第4の実施形態に係る耐衝撃性クリーン容器30bを示す断面図である。なお、第2の実施形態に係る耐衝撃性クリーン容器30と同様の機能を果たす要素には同一の番号を付し、説明を省略する。
第4の実施形態における耐衝撃性クリーン容器30bは、第2の実施形態に係る耐衝撃性クリーン容器30において、扉17の幅を太くして、扉17の底面と外容器の底面であるかぎ部の間に段差が生じないようにしたものである。
Next, a fourth embodiment will be described.
FIG. 11 is a cross-sectional view showing an impact-resistant clean container 30b according to the fourth embodiment. In addition, the same number is attached | subjected to the element which fulfill | performs the function similar to the impact-resistant clean container 30 which concerns on 2nd Embodiment, and description is abbreviate | omitted.
The impact-resistant clean container 30b according to the fourth embodiment is the same as the impact-resistant clean container 30 according to the second embodiment except that the width of the door 17 is increased and the bottom surface of the door 17 and the bottom surface of the outer container are used. In this configuration, no step is generated between the portions.

図11に示すように、第4の実施形態に係る耐衝撃性クリーン容器30bの構造は耐衝撃性クリーン容器30とほぼ同様であるが、扉17aがかぎ部35a、35b、35c、35dとの間に段差ができないよう、幅が太くなっている。なお、かぎ部35b、35dは図示されていない。   As shown in FIG. 11, the structure of the impact resistant clean container 30b according to the fourth embodiment is substantially the same as that of the impact resistant clean container 30, but the door 17a is connected to the key portions 35a, 35b, 35c, 35d. The width is thick so that there is no step between them. The key portions 35b and 35d are not shown.

即ち、第4の実施形態に係る耐衝撃性クリーン容器30bは、第2の実施形態に係る耐衝撃性クリーン容器において、扉17の底面が外容器3aの底面であるかぎ部35a、35b、35c、35dに対し、同一平面かわずかに内側であるようにしたものである。そのようにして図3に示された開口部45の空間を排除したものである。なお、耐衝撃性クリーン容器30bを置いた際に、扉17aに耐衝撃性クリーン容器30bの全荷重がかからないようになっている。   That is, the impact-resistant clean container 30b according to the fourth embodiment is the impact-resistant clean container according to the second embodiment, and the key portions 35a, 35b, and 35c in which the bottom surface of the door 17 is the bottom surface of the outer container 3a. , 35d, the same plane or slightly inside. Thus, the space of the opening 45 shown in FIG. 3 is eliminated. When the impact resistant clean container 30b is placed, the door 17a is not subjected to the entire load of the impact resistant clean container 30b.

このように第4の実施形態によれば、耐衝撃性クリーン容器30bは容器3と外容器3aを有する2重構造となっており、容器3と外容器3aの間には衝撃を吸収する緩衝材39a、39b、39c、39d、41a、41b、41c、41d、43a、43bが設けられている。
従って、第2の実施形態と同様の効果を奏する。
As described above, according to the fourth embodiment, the impact-resistant clean container 30b has a double structure including the container 3 and the outer container 3a, and a buffer that absorbs shock is provided between the container 3 and the outer container 3a. Materials 39a, 39b, 39c, 39d, 41a, 41b, 41c, 41d, 43a, 43b are provided.
Accordingly, the same effects as those of the second embodiment are obtained.

また、第4の実施形態によれば、図3に示す開口部45の空間が排除されたために、外容器3aの、開口部45があったときに大気に接していた側面が触れる空間領域が小さくなり、その空間にゴミが入りこむ確率が小さくなる。   Further, according to the fourth embodiment, since the space of the opening 45 shown in FIG. 3 is excluded, there is a space area where the side surface of the outer container 3a that is in contact with the atmosphere when the opening 45 is present can be touched. It becomes smaller and the probability that dust will enter the space becomes smaller.

さらに、第4の実施形態によれば、オープナ171のポートドア173の上下運動が、従来のSMIFポッド131に対するのと同じく、オープナ171の上部175から上に出なくもよいので、この点に関して、従来のオープナ171をそのまま使うことができる。   Furthermore, according to the fourth embodiment, the vertical movement of the port door 173 of the opener 171 does not have to come out from the upper part 175 of the opener 171 as in the conventional SMIF pod 131. The conventional opener 171 can be used as it is.

次に、第5の実施形態について説明する。
図12は第5の実施形態に係る耐衝撃性クリーン容器30cを示す断面図である。
なお、第2の実施形態に係る耐衝撃性クリーン容器30と同様の機能を果たす要素には同一の番号を付し、説明を省略する。
Next, a fifth embodiment will be described.
FIG. 12 is a sectional view showing an impact-resistant clean container 30c according to the fifth embodiment.
In addition, the same number is attached | subjected to the element which fulfill | performs the function similar to the impact-resistant clean container 30 which concerns on 2nd Embodiment, and description is abbreviate | omitted.

第5の実施形態における耐衝撃性クリーン容器30cは、第2の実施形態に係る耐衝撃性クリーン容器30において、扉17の外側にさらに扉17bを設けて、開口部45の空間を排除したものである。   The impact-resistant clean container 30c according to the fifth embodiment is the impact-resistant clean container 30 according to the second embodiment except that the door 17b is further provided outside the door 17 to eliminate the space of the opening 45. It is.

図12に示すように、外容器3aには扉17bが設けられている。
扉17bは固定用ピン75a、75b、によって底部9に固定されている。
扉17bの構造は扉17と同様であり、扉17bの内部には回転板33bが軸35bに軸支されており、回転板33bが回転することによって固定用ピン75a、75bが移動するようになっている。
As shown in FIG. 12, the outer container 3a is provided with a door 17b.
The door 17b is fixed to the bottom portion 9 by fixing pins 75a and 75b.
The structure of the door 17b is the same as that of the door 17, and a rotating plate 33b is pivotally supported on the shaft 35b inside the door 17b, and the fixing pins 75a and 75b move as the rotating plate 33b rotates. It has become.

扉17と扉17bの間には緩衝材79a、79bが設けられており、扉17bに加わった衝撃が扉17に伝わるのを防いでいる。   Cushioning materials 79 a and 79 b are provided between the door 17 and the door 17 b to prevent the impact applied to the door 17 b from being transmitted to the door 17.

また、回転板33bと回転板27は連結具61a、61bにより連結されており、一方を回転させると他方も回転する。
即ち、扉17bの回転板33bを回転させることにより、固定用ピン75a、75bおよび固定用ピン19a、19bが移動するため、扉17と扉17bを同時に開閉することができる。
Further, the rotating plate 33b and the rotating plate 27 are connected by the connecting tools 61a and 61b, and when one is rotated, the other is also rotated.
That is, by rotating the rotating plate 33b of the door 17b, the fixing pins 75a and 75b and the fixing pins 19a and 19b move, so that the door 17 and the door 17b can be opened and closed simultaneously.

このように、第5の実施形態によれば、耐衝撃性クリーン容器30cは容器3と外容器3aを有する2重構造となっており、容器3と外容器3aの間には衝撃を吸収する緩衝材39a、39b、39c、39d、41a、41b、41c、41d、43a、43bが設けられている。
従って、第4の実施形態と同様の効果を奏する。
Thus, according to the fifth embodiment, the impact-resistant clean container 30c has a double structure including the container 3 and the outer container 3a, and absorbs an impact between the container 3 and the outer container 3a. Buffer materials 39a, 39b, 39c, 39d, 41a, 41b, 41c, 41d, 43a, 43b are provided.
Accordingly, the same effects as those of the fourth embodiment are obtained.

また、第5の実施形態によれば、図3に示す開口部45の空間が排除されたために、外容器3aの、開口部45があったときに大気に接していた側面が触れる空間領域が小さくなり、その空間にゴミが入りこむ確率が小さくなる。   Further, according to the fifth embodiment, since the space of the opening 45 shown in FIG. 3 is excluded, there is a space area where the side surface of the outer container 3a that is in contact with the atmosphere when the opening 45 is present can be touched. It becomes smaller and the probability that dust will enter the space becomes smaller.

さらに、第5の実施形態によれば、オープナ171のポートドア173の上下運動が、従来のSMIFポッド131に対するのと同じく、オープナ171の上部175から上に出なくもよいので、この点に関して、従来のオープナ171をそのまま使うことができる。   Furthermore, according to the fifth embodiment, the vertical movement of the port door 173 of the opener 171 does not have to come out from the upper part 175 of the opener 171 as in the conventional SMIF pod 131. The conventional opener 171 can be used as it is.

また、第5の実施形態によれば扉17および扉17bの間に緩衝材79a、79bが設けられているため、第4の実施形態と比較して、外部からの衝撃が試料25に伝わりにくい。   Further, according to the fifth embodiment, the shock absorbers 79a and 79b are provided between the door 17 and the door 17b, so that the impact from the outside is not easily transmitted to the sample 25 as compared with the fourth embodiment. .

次に、第6の実施形態について説明する。図13は第6の実施形態に係る耐衝撃性クリーン容器87を示す断面図であって、図14は図13のN方向矢視図である。   Next, a sixth embodiment will be described. FIG. 13 is a cross-sectional view showing an impact-resistant clean container 87 according to the sixth embodiment, and FIG. 14 is a view in the direction of arrow N in FIG.

第6の実施形態に係る耐衝撃性クリーン容器87は第1の実施形態に係る耐衝撃性クリーン容器1と異なり、扉107が容器99の側部103aに設けられている。   Unlike the impact-resistant clean container 1 according to the first embodiment, the impact-resistant clean container 87 according to the sixth embodiment is provided with a door 107 on the side portion 103 a of the container 99.

図13および図14に示すように、耐衝撃性クリーン容器87は外容器93を有し、外容器93は上部95、側部91a、91b、91c、91d、底部97からなっている。
なお、側部91aは開口部である。
As shown in FIGS. 13 and 14, the impact-resistant clean container 87 includes an outer container 93, and the outer container 93 includes an upper portion 95, side portions 91 a, 91 b, 91 c, 91 d, and a bottom portion 97.
Note that the side portion 91a is an opening.

外容器93の内部には内容器としての容器99が設けられており、容器99は上部101、側部103a、103b、103c、103d、底部105からなる。
なお、側部103aは開口部である。
側部103aには扉107が開閉可能に設けられている。
A container 99 as an inner container is provided inside the outer container 93, and the container 99 includes an upper part 101, side parts 103 a, 103 b, 103 c, 103 d, and a bottom part 105.
The side portion 103a is an opening.
A door 107 is provided on the side portion 103a so as to be openable and closable.

また、容器99の内部には内枠107aが設けられており、内枠107aの表面にはガスケット119aが設けられている。
扉107が閉じた状態では、扉107はガスケット119aによって容器99に密着している。
An inner frame 107a is provided inside the container 99, and a gasket 119a is provided on the surface of the inner frame 107a.
When the door 107 is closed, the door 107 is in close contact with the container 99 by the gasket 119a.

外容器93、容器99、扉107の材質は第1の実施形態と同様であるため、説明を省略する。   Since the materials of the outer container 93, the container 99, and the door 107 are the same as those in the first embodiment, description thereof is omitted.

上部95と上部101の間には緩衝材109a、109bが設けられており、側部91b、91c、91dと側部103b、103c、103dの間には緩衝材111b、111c、111dが設けられている。
底部97と底部105の間には緩衝材113a、113bが設けられている。
Buffer materials 109a and 109b are provided between the upper portion 95 and the upper portion 101, and buffer materials 111b, 111c and 111d are provided between the side portions 91b, 91c and 91d and the side portions 103b, 103c and 103d. Yes.
Between the bottom portion 97 and the bottom portion 105, cushioning materials 113a and 113b are provided.

底部105上には支持部115a、115bが設けられており、上部101の内壁には支持部117a、117bが設けられている。
容器99の内部には試料25が設けられ、試料25は、支持部115aと支持部117aに挟み込まれ、支持部115bと支持部117bに挟み込まれて固定されている。
Support portions 115 a and 115 b are provided on the bottom portion 105, and support portions 117 a and 117 b are provided on the inner wall of the upper portion 101.
A sample 25 is provided inside the container 99, and the sample 25 is sandwiched between the support portion 115a and the support portion 117a, and is sandwiched and fixed between the support portion 115b and the support portion 117b.

即ち、外容器93に衝撃が加わった場合は、緩衝材109a、109b、111b、111c、111d、113a、113bが衝撃を吸収し、試料25に衝撃が伝わるのを防ぐ。   That is, when an impact is applied to the outer container 93, the buffer materials 109a, 109b, 111b, 111c, 111d, 113a, and 113b absorb the impact and prevent the impact from being transmitted to the sample 25.

緩衝材109a、109b、111b、111c、111d、113a、113bの材質は第1の実施形態に係る緩衝材21a、21b、21c、21dと同様であるため、説明を省略する。   The materials of the cushioning materials 109a, 109b, 111b, 111c, 111d, 113a, and 113b are the same as those of the cushioning materials 21a, 21b, 21c, and 21d according to the first embodiment, and thus the description thereof is omitted.

また、上部95と上部101、側部91bと側部103b、側部91dと側部103dおよび底部97と底部105の間には枠状の隔壁119が設けられている。
隔壁119の構造および効果は第3の実施形態の隔壁63と同様であるため、説明を省略する。
Further, a frame-shaped partition wall 119 is provided between the upper part 95 and the upper part 101, the side part 91 b and the side part 103 b, the side part 91 d and the side part 103 d, and the bottom part 97 and the bottom part 105.
Since the structure and effect of the partition wall 119 are the same as those of the partition wall 63 of the third embodiment, description thereof is omitted.

このように第6の実施形態によれば、耐衝撃性クリーン容器87が容器99と外容器93を有する2重構造となっており、容器99と外容器93の間には衝撃を吸収する緩衝材109a、109b、111b、111c、111d、113a、113bが設けられている。
従って第1の実施形態と同様の効果を奏する。
As described above, according to the sixth embodiment, the impact-resistant clean container 87 has a double structure including the container 99 and the outer container 93, and a shock absorbing buffer is provided between the container 99 and the outer container 93. Materials 109a, 109b, 111b, 111c, 111d, 113a, and 113b are provided.
Therefore, the same effects as those of the first embodiment are obtained.

次に、耐衝撃性クリーン容器1および比較例を用いて実際に落下衝撃試験を行った際の実験結果について説明する。   Next, the experimental results when actually performing a drop impact test using the impact resistant clean container 1 and the comparative example will be described.

サンプルは6枚準備し、それぞれサンプル1からサンプル6と番号付け、本試験には3枚を1組として用いた。
なお、試験は破壊試験なので、試験で破損があったサンプルを試験に再度用いることはできないため、試験に用いた組の中でのサンプルの組み合わせは同じではない。
落下試験は、容器もしくはサンプルの一端を床面に接触させたまま、他の一端を10〜20mm持ち上げてから自由落下させる片側接触試験と、床面に対してサンプルが平行である状態を維持したまま持ち上げて10〜50mmの高さから自由落下させる水平保持試験の2種類の試験を行った。まず耐衝撃性クリーン容器1にサンプルを収容し、落下試験を行った。そのの結果を図23に示す。
なお、試験結果の評価は、サンプルの破損がない場合は「○」、メンブレンのみが一部でも破損した場合は「△」、フレームが一部でも破損した場合は「×」という3段階の評価である。
Six samples were prepared, each numbered as Sample 1 to Sample 6, and three were used as a set for this test.
Since the test is a destructive test, a sample damaged in the test cannot be used again for the test, so the combination of samples in the set used for the test is not the same.
In the drop test, one end of the container or the sample was kept in contact with the floor surface, and the other end was lifted by 10 to 20 mm and then dropped freely, and the sample was maintained parallel to the floor surface. Two types of tests were carried out: a horizontal holding test in which the sample was lifted and dropped freely from a height of 10 to 50 mm. First, a sample was placed in the impact resistant clean container 1 and a drop test was performed. The result is shown in FIG.
The test results are evaluated in three stages: “◯” if the sample is not damaged, “△” if only part of the membrane is damaged, and “X” if part of the frame is damaged. It is.

図23より、いずれのサンプルも片側接触試験、水平保持試験による破損はなく、耐衝撃性クリーン容器1が、落下による衝撃を吸収していることがわかる。   FIG. 23 shows that none of the samples is damaged by the one-side contact test or the horizontal holding test, and the impact-resistant clean container 1 absorbs the impact caused by dropping.

次に第1の比較例として、緩衝材を設けていない従来のクリーン容器(一枚入り大気SMIFポッド)にサンプルを収納し、落下試験を行った。結果を図24に示す。
図24より、片側接触試験、水平保持試験いずれも一部サンプルに破損が見られ、耐衝撃性クリーン容器1と比べて耐衝撃性が劣っていることがわかる。
Next, as a first comparative example, a sample was housed in a conventional clean container (single atmospheric SMIF pod) not provided with a buffer material, and a drop test was performed. The results are shown in FIG.
From FIG. 24, it can be seen that in both the one-side contact test and the horizontal holding test, some samples were damaged, and the impact resistance was inferior to that of the impact-resistant clean container 1.

次に第2の比較例として、サンプルを容器に収納せず、むき出しの状態で、同様の条件の試験を行った。結果を図25に示す。
図25より、片側接触試験、水平保持試験いずれも全ての条件でサンプルに破損が見られ、サンプルはむき出しの状態で落下させると容易に破損してしまうことがわかる。
Next, as a second comparative example, a test was performed under the same conditions in a bare state without storing the sample in a container. The results are shown in FIG.
From FIG. 25, it can be seen that in both the one-side contact test and the horizontal holding test, the sample was damaged under all conditions, and the sample was easily damaged when dropped in an exposed state.

以上、添付図面を参照しながら、本発明の実施形態を説明したが、本発明の技術的範囲は、前述した実施の形態に左右されない。当業者であれば、特許請求の範囲に記載された技術的思想の範疇内において各種の変更例または修正例に想到し得ることは明らかであり、それらについても当然に本発明の技術的範囲に属するものと了解される。   As mentioned above, although embodiment of this invention was described referring an accompanying drawing, the technical scope of this invention is not influenced by embodiment mentioned above. It is obvious for those skilled in the art that various modifications or modifications can be conceived within the scope of the technical idea described in the claims, and these are naturally within the technical scope of the present invention. It is understood that it belongs.

耐衝撃性クリーン容器1を示す斜視図The perspective view which shows the impact-resistant clean container 1 図1のA2−A2断面図A2-A2 sectional view of FIG. 耐衝撃性クリーン容器30を示す断面図Sectional view showing impact resistant clean container 30 図3のB2方向矢視図B2 direction arrow view of FIG. 試料25をオープナ51を用いて耐衝撃性クリーン容器1から取り出す際の手順を示す図The figure which shows the procedure at the time of taking out the sample 25 from the impact-resistant clean container 1 using the opener 51. 試料25をオープナ51を用いて耐衝撃性クリーン容器1から取り出す際の手順を示す図The figure which shows the procedure at the time of taking out the sample 25 from the impact-resistant clean container 1 using the opener 51. 試料25をオープナ51を用いて耐衝撃性クリーン容器1から取り出す際の手順を示す図The figure which shows the procedure at the time of taking out the sample 25 from the impact-resistant clean container 1 using the opener 51. 試料25をオープナ51を用いて耐衝撃性クリーン容器1から取り出す際の手順を示す図The figure which shows the procedure at the time of taking out the sample 25 from the impact-resistant clean container 1 using the opener 51. 耐衝撃性クリーン容器30aを示す断面図Sectional view showing impact resistant clean container 30a 図9の隔壁63付近を示す詳細図Detailed view showing the vicinity of the partition wall 63 in FIG. 耐衝撃性クリーン容器30bを示す断面図Sectional view showing impact resistant clean container 30b 耐衝撃性クリーン容器30cを示す断面図Sectional view showing impact resistant clean container 30c 耐衝撃性クリーン容器87を示す断面図Sectional view showing impact resistant clean container 87 図12のN方向矢視図N direction arrow view of FIG. EPLマスクの構造を示す図The figure which shows the structure of an EPL mask SMIFポッド131の構造を示す斜視図A perspective view showing the structure of the SMIF pod 131 図16のA1−A1断面図A1-A1 sectional view of FIG. 図16のB1方向矢視図B1 direction arrow view of FIG. 扉141の詳細図Detailed view of door 141 オープナ171による扉141の開動作と、試料151の従来のSMIFポッド131からの搬出手順を示す図The figure which shows the opening procedure of the door 141 by the opener 171, and the carrying-out procedure of the sample 151 from the conventional SMIF pod 131 オープナ171による扉141の開動作と、試料151の従来のSMIFポッド131からの搬出手順を示す図The figure which shows the opening procedure of the door 141 by the opener 171, and the carrying-out procedure of the sample 151 from the conventional SMIF pod 131 オープナ171による扉141の開動作と、試料151の従来のSMIFポッド131からの搬出手順を示す図The figure which shows the opening procedure of the door 141 by the opener 171, and the carrying-out procedure of the sample 151 from the conventional SMIF pod 131 耐衝撃性クリーン容器1にサンプルを収容し、落下試験を行った結果を示す図The figure which shows the result of storing the sample in the impact resistant clean container 1 and performing the drop test 緩衝材を設けていない従来のクリーン容器(一枚入り大気SMIFポッド)にサンプルを収容し、落下試験を行った結果を示す図The figure which shows the result of having stored the sample in the conventional clean container (one piece of atmosphere SMIF pod) which does not provide the buffer material, and having done the drop test サンプルを容器に収納せず、むき出しの状態落下試験を行った結果を示す図The figure which shows the result of having carried out the bare state drop test, without storing a sample in a container

符号の説明Explanation of symbols

1…………耐衝撃性クリーン容器
3…………外容器
5a………のぞき窓
7a………側部
9a………かぎ部
17………扉
17a……扉
17b……扉
18………ガスケット
19a……固定用ピン
21a……緩衝材
23a……上部保持部
24a……下部保持部
25………試料
27………回転板
29………軸
30………耐衝撃性クリーン容器
30a……耐衝撃性クリーン容器
30b……耐衝撃性クリーン容器
30c……耐衝撃性クリーン容器
39a……緩衝材
40a……通気口
41a……緩衝材
51………オープナ
53a……掛け金
55………上部
59………ガスケット
61………ガスケット
63………隔壁
63a……回転部
65………吸着膜
65a……駆動ピン
67………粒子
87………耐衝撃性クリーン容器
1 ………… Impact-resistant clean container 3 ………… Outer container 5a ……… Peeping window 7a ……… Side 9a ……… Lock 17 ……… Door 17a …… Door 17b …… Door 18… …… Gasket 19a …… Fixing pin 21a …… Cushioning material 23a …… Upper holding part 24a …… Lower holding part 25 ……… Sample 27 ……… Rotating plate 29 ……… Shaft 30 ……… Shock resistant clean Container 30a..Impact-resistant clean container 30b..Impact-resistant clean container 30c..Impact-resistant clean container 39a..Buffer material 40a .... Vent 41a .... Buffer material 51 .... Opener 53a .... Latch 55 ......... Upper part 59 ......... Gasket 61 ......... Gasket 63 ......... Partition wall 63a ...... Rotating part 65 ......... Adsorption film 65a ... Drive pin 67 ......... Particle 87 ......... Shock resistant clean container

Claims (8)

上部と、側部と、底部に設けられるかぎ部とを有し、底面の前記かぎ部の間を開口部とした外容器と、
前記外容器の内部に設けられ、試料を保持する保持部を有する内容器と、
前記内容器に設けられ、外部から開閉可能な第1の扉と、
前記外容器の前記上部、前記側部、および前記かぎ部と前記内容器の間に設けられ、前記外容器に与えられた振動を吸収する緩衝材と、
を有し、前記外容器のかぎ部と前記内容器の間の、前記開口部に最も近い緩衝材より開口部側に、前記外容器と前記内容器の間を塞ぐ枠状の隔壁が設けられていることを特徴とする耐衝撃性クリーン容器。
An outer container having an upper part, a side part, and a key part provided on the bottom part, and having an opening between the key parts on the bottom surface ;
An inner container provided inside the outer container and having a holding part for holding a sample;
A first door provided in the inner container and openable / closable from the outside;
A cushioning material provided between the upper part, the side part, and the key part of the outer container and the inner container and absorbing the vibration applied to the outer container;
And a frame-shaped partition wall is provided between the key part of the outer container and the inner container , closer to the opening part than the cushioning material closest to the opening part , closing the space between the outer container and the inner container. An impact-resistant clean container.
前記第1の扉は、
前記第1の扉を施錠する施錠手段と、
前記施錠を解除する解除手段と、
を有することを特徴とする請求項1記載の耐衝撃性クリーン容器。
The first door is
Locking means for locking the first door;
Release means for releasing the locking;
The impact-resistant clean container according to claim 1, wherein
前記隔壁には、粒子を吸着する吸着膜が設けられていることを特徴とする請求項1記載の耐衝撃性クリーン容器。 2. The impact-resistant clean container according to claim 1, wherein the partition wall is provided with an adsorption film for adsorbing particles. 前記第1の扉は、前記開口部の空間を排除するように設けられ、底面が前記外容器の底面と同一平面にあることを特徴とする請求項1記載の耐衝撃性クリーン容器。 The first door is provided so as to eliminate the space of the opening, the impact resistance clean container according to claim 1, wherein the bottom surface and wherein the bottom surface flush with the near Rukoto of the outer container. 前記外容器は、外部から開閉可能な第2の扉を更に有することを特徴とする請求項1記載の耐衝撃性クリーン容器。 The impact-resistant clean container according to claim 1, wherein the outer container further includes a second door that can be opened and closed from the outside. 前記第1の扉と前記第2の扉の間には、前記第2の扉の開閉に連動して前記第1の扉が開閉する開閉手段が設けられていることを特徴とする請求項5記載の耐衝撃性クリーン容器。 6. An opening / closing means for opening and closing the first door in conjunction with opening and closing of the second door is provided between the first door and the second door. The listed impact-resistant clean container. 前記の第2の扉は、
前記の第2の扉を施錠する施錠手段と、
前記施錠を解除する解除手段と、
を有することを特徴とする請求項5または6記載の耐衝撃性クリーン容器。
The second door is
Locking means for locking the second door;
Release means for releasing the locking;
The impact-resistant clean container according to claim 5 or 6, characterized by comprising:
容器と、オープナと、からなる試料移載システムであって、
前記オープナは、
ポート扉と、
前記耐衝撃性クリーン容器の外部から開閉可能な扉の開閉を行う開閉機構と、
前記耐衝撃性クリーン容器を前記ポート扉に載置して、前記耐衝撃性クリーン容器に収納された試料を前記オープナ内部に搬送する手段と、
を有し、
前記容器として、請求項1から7のいずれかに記載の耐衝撃性クリーン容器を用いることを特徴とする試料移載システム。
A sample transfer system comprising a container and an opener,
The opener is
A port door,
An opening and closing mechanism for opening and closing a door that can be opened and closed from the outside of the impact resistant clean container;
Means for placing the impact-resistant clean container on the port door and transporting the sample stored in the impact-resistant clean container into the opener;
Have
A sample transfer system using the impact-resistant clean container according to any one of claims 1 to 7 as the container.
JP2005364276A 2005-12-19 2005-12-19 Impact resistant clean container, sample transfer system Expired - Fee Related JP4765607B2 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2005364276A JP4765607B2 (en) 2005-12-19 2005-12-19 Impact resistant clean container, sample transfer system

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2005364276A JP4765607B2 (en) 2005-12-19 2005-12-19 Impact resistant clean container, sample transfer system

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2007173265A JP2007173265A (en) 2007-07-05
JP4765607B2 true JP4765607B2 (en) 2011-09-07

Family

ID=38299473

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2005364276A Expired - Fee Related JP4765607B2 (en) 2005-12-19 2005-12-19 Impact resistant clean container, sample transfer system

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP4765607B2 (en)

Families Citing this family (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2009229808A (en) * 2008-03-24 2009-10-08 E-Sun Precision Industrial Co Ltd Locking structure of mask arrangement device
JP2011031978A (en) * 2009-08-05 2011-02-17 Shin Etsu Polymer Co Ltd Large-sized precision substrate storage container
JP5398595B2 (en) * 2010-03-04 2014-01-29 東京エレクトロン株式会社 Board storage device
KR101657595B1 (en) 2012-06-14 2016-09-19 무라다기카이가부시끼가이샤 Lid-opening/closing device
CN112582316B (en) * 2019-09-29 2023-01-31 长鑫存储技术有限公司 Processing device and method
TWI733470B (en) * 2020-05-26 2021-07-11 台灣電鏡儀器股份有限公司 Sealing transfer device

Family Cites Families (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS63208414A (en) * 1987-02-20 1988-08-29 Canon Inc Substrate carrying device
JPH0221741A (en) * 1988-07-11 1990-01-24 Minolta Camera Co Ltd Picture processor
JP2001298078A (en) * 2000-04-17 2001-10-26 Dainippon Printing Co Ltd Housing case
JP2003258079A (en) * 2002-02-27 2003-09-12 Seiko Epson Corp Wafer housing vessel
TWI286674B (en) * 2002-12-27 2007-09-11 Asml Netherlands Bv Container for a mask, method of transferring lithographic masks therein and method of scanning a mask in a container
JP2005289432A (en) * 2004-03-31 2005-10-20 Shin Etsu Chem Co Ltd Substrate storage case

Also Published As

Publication number Publication date
JP2007173265A (en) 2007-07-05

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP4765607B2 (en) Impact resistant clean container, sample transfer system
JP5268142B2 (en) Mask blank storage case, mask blank storage method, and mask blank storage body
US7607543B2 (en) Reticle pod with isolation system
JP4717096B2 (en) Apparatus and method for protecting and transporting a reticle
JP4343253B1 (en) Lid opening / closing device for closed container and gas replacement device using the opening / closing device
CN101395711B (en) Vertical substrate conveyance device and film deposition equipment
JP6757471B2 (en) Substrate container and door with latch mechanism with two cam profiles
US7674083B2 (en) Clean device with clean box-opening/closing device
KR20070114365A (en) Substrate container with pressure equalization
JP4587828B2 (en) Fixing jig for precision substrates
JP3938233B2 (en) Sealed container
JPH1187459A (en) Substrate conveyance apparatus, semiconductor manufacturing system and manufacture of device
TW202221419A (en) Euv reticle stocker and method of operating the same
TW202228226A (en) Transport carrier docking device
CN114743908A (en) Multi-transport-carrier butt joint device
CN101166682A (en) Substrate container with pressure equalization
JP5749002B2 (en) Load lock device and vacuum processing device
JP2009520352A (en) Method and apparatus for opening and closing a substrate carrier
JP6544128B2 (en) Storage container lid and storage container
JP2003229476A (en) Substrate housing container with door member free from causing friction
US12009242B2 (en) Wafer transport container
TWI310229B (en) Substrate carrier having door latching and substrate clamping mechanisms
JP2002246456A (en) Substrate transfer container, substrate transfer apparatus, and substrate transfer method
JP2004214562A (en) Exposure system and mask manufacturing system
US20130277268A1 (en) Front opening wafer container with door deflection minimization

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20080701

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20100325

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20100330

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20100528

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20101130

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20110128

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20110517

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20110530

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 4765607

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140624

Year of fee payment: 3

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees