JP4759220B2 - 電荷転送装置およびその製造方法 - Google Patents
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電荷転送装置は、半導体基板1と、半導体基板1に設けられたPウェル2と、Pウェル2に設けられた電荷転送路20およびフォトダイオード22と、Pウェル2の両端に設けられ、電荷転送路20およびフォトダイオード22を他の領域から分離するP+領域4および素子分離領域6と、電荷転送路20およびフォトダイオード22上に設けられられたゲート酸化膜8と、転送ゲート電極10と、層間絶縁酸化膜12と、第一の金属配線14と、配線層間絶縁膜16と、第二の金属配線18とを有する。
半導体基板と、
前記半導体基板に設けられた光電変換素子と、
前記半導体基板に設けられ、前記光電変換素子に並置された電荷転送路と、
前記半導体基板に設けられ、前記光電変換素子と前記電荷転送路とが配置された領域を他の領域から分離する分離領域と、
前記分離領域上に設けられ、前記光電変換素子と前記電荷転送路とが配置された領域には設けられていない、珪素化合物を堆積して形成された第一の堆積絶縁層と、
前記第一の堆積絶縁層の上面および側面を覆い、前記光電変換素子と前記電荷転送路とが配置された領域には設けられていない、珪素化合物を堆積して形成された第二の堆積絶縁層であって、前記第一の堆積絶縁層より膜厚の薄い第二の堆積絶縁層と、
前記半導体基板の前記光電変換素子および前記電荷転送路が配置された領域上に形成されたゲート絶縁膜と、
前記第二の堆積絶縁層上および前記ゲート絶縁膜上に形成された導電膜により構成された転送電極と、
前記分離領域上において、前記半導体基板の上面と前記第一の堆積絶縁層との間に設けられ、前記光電変換素子と前記電荷転送路とが配置された領域には設けられていない、第三の絶縁膜と、
を含み、
前記第二の堆積絶縁層は、さらに前記第三の絶縁膜の側面を覆っていることを特徴とする電荷転送装置が提供される。
第一の堆積絶縁層をガスを堆積して形成することにより、従来のLOCOSにより素子分離領域を形成したときのようなバーズビークやホワイトリボンの発生を防ぐことができる。そのため、光電変換素子や電荷転送路を分離領域および第一の堆積絶縁層のすぐ近くに配置する設計とすることができ、電荷転送装置のスペースを削減することができ、小型化することができる。また、第一の堆積絶縁層および第二の堆積絶縁層上に電荷転送電極を形成した場合に、バーズビーク等が発生した不安定な領域がないため、寄生容量の問題を低減することもでき、電荷転送効率を高めることができる。これにより、半導体基板上に形成する素子数を多くすることもできる。さらに、従来の熱酸化のように長時間の酸化処理が不要となるため、半導体基板へのダメージが生じることがなく、電荷転送装置を安定的に製造することができる。また、熱酸化時にマスクとして用いていた窒化膜を形成する必要がないため、電荷転送装置の製造工程を短縮することもできる。第一の堆積絶縁層は、化学気相成長法により形成することができる。光電変換素子は、たとえばフォトダイオードとすることができる。光電変換素子は、光の照射を受けてその光を電荷に変換し、電荷を発生する。なお、分離領域と第一の堆積絶縁層との間には、熱酸化により形成された絶縁膜が設けられた構成とすることができる。これにより、第一の堆積絶縁層と基板との界面の接合状態を良好にすることができる。
光電変換素子と、前記光電変換素子に並置された電荷転送路と、前記光電変換素子と前記電荷転送路とが配置された領域を他の領域から分離する分離領域と、が設けられた半導体基板全面に第一の絶縁膜を堆積させる工程と、
前記半導体基板の前記光電変換素子および前記電荷転送路が配置された領域上の前記第一の絶縁膜を選択的に除去して前記分離領域上に前記第一の絶縁膜により構成された第一の堆積絶縁層を形成する工程と、
前記第一の堆積絶縁層上ならびに前記半導体基板の前記光電変換素子および前記電荷転送路が配置された領域上を含む全面に第二の絶縁膜を堆積させる工程と、
前記半導体基板の前記光電変換素子および前記電荷転送路が配置された領域上の前記第二の絶縁膜を選択的に除去して、前記第一の堆積絶縁層の上面および側面を覆う第二の絶縁膜により構成された第二の堆積絶縁層を形成する工程と、
前記半導体基板の前記光電変換素子および前記電荷転送路が配置された領域上にゲート絶縁膜を形成する工程と、
前記第二の堆積絶縁層および前記ゲート絶縁膜上全面に導電膜を堆積してパターニングし、転送電極を形成する工程と、
を含むことを特徴とする電荷転送装置の製造方法が提供される。
このように、第一の絶縁膜を選択的に除去した後に第二の絶縁膜を第一の絶縁膜上に堆積させることにより、第一の堆積絶縁層のエッジ部分を丸めることができる。これにより、第一の堆積絶縁層および第二の堆積絶縁層上に転送電極を形成する際に、転送電極がエッジ部分で途切れることのないようにすることができる。ここで、第二の絶縁膜も、化学気相成長法や減圧化学気相成長法により形成することができる。また、第二の絶縁膜は、第一の絶縁膜よりも薄く形成することができる。なお、第二の絶縁膜を堆積させる工程の前に、第一の絶縁膜上に熱酸化膜を形成する工程を含むことができる。
本実施の形態において、電荷転送装置100は、2相駆動のCCD等のリニアイメージセンサである。
まず、半導体基板101上に熱酸化によりシリコン酸化膜124を形成する(図2(a))。
図7は、エッジ部分を丸める処理手順を示す断面図である。図2(d)に示した工程終了後、堆積絶縁層106上に熱酸化により薄い酸化膜(不図示)を形成し、その上に、再びCVD法または減圧CVD法により、第二のシリコン酸化膜126を形成する。本実施の形態において、第二のシリコン酸化膜126もHTO膜とすることができる。つづいて、P+領域104上を覆う所定形状のマスクを用い、BHF等の薬液を用いたウェットエッチングにより、能動素子領域上の第二のシリコン酸化膜126を選択的に除去し、電荷転送路120およびフォトダイオード122を再び露出させる。これにより、堆積絶縁層106のエッジ部分を鈍化させることができ、その上に形成される転送ゲート電極110が途切れることがないようにすることができる。
図3(a)は、電荷転送路120および転送ゲート電極110の構成を示す上面図である。ここでは図示していないが、電荷転送路120は、電荷蓄積領域および障壁領域を有し、その上部にそれぞれ第一の転送ゲート電極110aおよび第二の転送ゲート電極110bが設けられている。
101 半導体基板
102 Pウェル
104 P+領域
106 堆積絶縁層
106a シリコン酸化膜
108 ゲート酸化膜
110 転送ゲート電極
111 トランスファーゲート
112 層間絶縁酸化膜
114 第一の金属配線
116 配線層間絶縁膜
118 第二の金属配線
120 電荷転送路
122 フォトダイオード
124 シリコン酸化膜
126 第二のシリコン酸化膜
Claims (8)
- 半導体基板と、
前記半導体基板に設けられた光電変換素子と、
前記半導体基板に設けられ、前記光電変換素子に並置された電荷転送路と、
前記半導体基板に設けられ、前記光電変換素子と前記電荷転送路とが配置された領域を他の領域から分離する分離領域と、
前記分離領域上に設けられ、前記光電変換素子と前記電荷転送路とが配置された領域には設けられていない、珪素化合物を堆積して形成された第一の堆積絶縁層と、
前記第一の堆積絶縁層の上面および側面を覆い、前記光電変換素子と前記電荷転送路とが配置された領域には設けられていない、珪素化合物を堆積して形成された第二の堆積絶縁層であって、前記第一の堆積絶縁層より膜厚の薄い第二の堆積絶縁層と、
前記半導体基板の前記光電変換素子および前記電荷転送路が配置された領域上に形成されたゲート絶縁膜と、
前記第二の堆積絶縁層上および前記ゲート絶縁膜上に形成された導電膜により構成された転送電極と、
前記分離領域上において、前記半導体基板の上面と前記第一の堆積絶縁層との間に設けられ、前記光電変換素子と前記電荷転送路とが配置された領域には設けられていない、第三の絶縁膜と、
を含み、
前記第二の堆積絶縁層は、さらに前記第三の絶縁膜の側面を覆っていることを特徴とする電荷転送装置。 - 請求項1に記載の電荷転送装置において、
前記半導体基板の上面は、平坦に形成されたことを特徴とする電荷転送装置。 - 請求項1または2に記載の電荷転送装置において、
前記第一の堆積絶縁層および前記第二の堆積絶縁層は、HTO膜であることを特徴とする電荷転送装置。 - 光電変換素子と、前記光電変換素子に並置された電荷転送路と、前記光電変換素子と前記電荷転送路とが配置された領域を他の領域から分離する分離領域と、が設けられた半導体基板全面に第一の絶縁膜を堆積させる工程と、
前記半導体基板の前記光電変換素子および前記電荷転送路が配置された領域上の前記第一の絶縁膜を選択的に除去して前記分離領域上に前記第一の絶縁膜により構成された第一の堆積絶縁層を形成する工程と、
前記第一の堆積絶縁層上ならびに前記半導体基板の前記光電変換素子および前記電荷転送路が配置された領域上を含む全面に第二の絶縁膜を堆積させる工程と、
前記半導体基板の前記光電変換素子および前記電荷転送路が配置された領域上の前記第二の絶縁膜を選択的に除去して、前記第一の堆積絶縁層の上面および側面を覆う第二の絶縁膜により構成された第二の堆積絶縁層を形成する工程と、
前記半導体基板の前記光電変換素子および前記電荷転送路が配置された領域上にゲート絶縁膜を形成する工程と、
前記第二の堆積絶縁層および前記ゲート絶縁膜上全面に導電膜を堆積してパターニングし、転送電極を形成する工程と、
を含むことを特徴とする電荷転送装置の製造方法。 - 請求項4に記載の電荷転送装置の製造方法において、
前記第一の絶縁膜を堆積させる工程において、減圧化学気相成長法により、HTO膜を形成する工程を含むことを特徴とする電荷転送装置の製造方法。 - 請求項4または5に記載の電荷転送装置の製造方法において、
前記第二の絶縁膜を堆積させる工程は、減圧化学気相成長法により、HTO膜を形成する工程を含むことを特徴とする電荷転送装置の製造方法。 - 請求項4乃至6いずれかに記載の電荷転送装置の製造方法において、
前記第一の絶縁膜を堆積させる工程の前に、
前記全面に熱酸化により前記第一の絶縁膜よりも膜厚の薄い第三の絶縁膜を形成する工程をさらに含み、
前記第一の絶縁膜を堆積させる工程において、前記第三の絶縁膜上に前記第一の絶縁膜を堆積させることを特徴とする電荷転送装置の製造方法。 - 請求項7に記載の電荷転送装置の製造方法において、
前記第一の絶縁膜を選択的に除去した後、前記半導体基板の前記光電変換素子および前記電荷転送路が配置された領域上の前記第三の絶縁膜を選択的に除去する工程をさらに含み、
前記第二の堆積絶縁層は、さらに前記第三の絶縁膜の側面を覆っていることを特徴とする電荷転送装置の製造方法。
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