JP4756096B2 - 質量分析計 - Google Patents
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Description
DC=W/(Mh−Ml) (2)
ここで、Wはピーク半値幅、Mhはスキャンにおける最高質量電荷比、Mlはスキャンにおける最低質量電荷比である。
複数の電極またはロッドを備えるイオンガイドまたは質量フィルタデバイスを準備する工程と、
複数の電極またはロッドにACまたはRF電圧を印加する工程と、
複数の電極またはロッドに複数の信号を供給する工程を含み、
前記複数の信号を供給する工程が、少なくとも、
(i)、イオンガイドまたは質量フィルタデバイス内でまたはそこから不要なイオンを共振によりまたはパラメトリックに励起させるために、複数の周波数ノッチを含む第1の信号を複数の電極またはロッドに供給し、第1のデータセットを取得する工程と、次いで
(ii)イオンガイドまたは質量フィルタデバイス内でまたはそこから不要なイオンを共振によりまたはパラメトリックに励起させるために、複数の周波数ノッチを含む第2の異なる信号を複数の電極またはロッドを供給し、第2のデータセットを取得する工程と、
第1のデータセットおよび/または第2のデータセットをデコンボリューション、復号または復調し、複数の異なる質量電荷比を有するイオンの強度を決定する工程と
含む方法が提供される。
複数の信号を供給する工程は、イオンガイドまたは質量フィルタデバイス内でまたはそこから不要なイオンを共振によりまたはパラメトリックに励起させるために複数の電極またはロッドにn個のさらなる信号を順次供給し、n個のさらなるデータセットを取得する工程であって、n個のさらなる信号は、それぞれ、複数の周波数ノッチを含む工程をさらに含み、
デコンボリューション、復号または復調工程は、さらなるデータセットをデコンボリューション、復号または復調し、複数の異なる質量または質量電荷比を有するイオンの強度を決定する工程をさらに含み、
ここで、nは、(i)1、(ii)2、(iii)3、(iv)4、(v)5、(vi)6、(vii)7、(viii)8、(ix)9、(x)10、(xi)11、(xii)12、(xiii)13、(xiv)14、(xv)15、(xvi)16、(xvii)17、(xviii)18、(xix)19、(xx)20、(xxi)20−25、(xxii)25−30、(xxiii)30−35、(xxiv)35−40、(xxv)40−45、(xxvi)45−50、(xxvii)50−55、(xxviii)55−60、(xxix)60−65、(xxx)65−70、(xxxi)70−75、(xxxii)75−80、(xxxiii)80−85、(xxxiv)85−90、(xxxv)90−95、(xxxvi)95−100、および(xxxvii)>100からなる群から選択される。
(a)複数の電極またはロッドに二位相電圧を印加する工程であって、イオンをイオンガイドまたは質量フィルタデバイス内に半径方向に閉じ込めるために、ACまたはRF電圧の逆位相が隣り合う電極またはロッドに印加される工程、および/または
(b)(i)<50Vピークトゥピーク、(ii)50〜100Vピークトゥピーク、(iii)100〜150Vピークトゥピーク、(iv)150〜200Vピークトゥピーク、(v)200〜250Vピークトゥピーク、(vi)250〜300Vピークトゥピーク、(vii)300〜350Vピークトゥピーク、(viii)350〜400Vピークトゥピーク、(ix)400〜450Vピークトゥピーク、(x)450〜500Vピークトゥピーク、(xi)500〜1000Vピークトゥピーク、(xii)1〜2kVピークトゥピーク、(xiii)2〜3kVピークトゥピーク、(xiv)3〜4kVピークトゥピーク、(xv)4〜5kVピークトゥピーク、(xvi)5〜6kVピークトゥピーク、(xvii)6〜7kVピークトゥピーク、(xviii)7〜8kVピークトゥピーク、(xix)8〜9kVピークトゥピーク、(xx)9〜10kVピークトゥピーク、および(xxi)>10kVピークトゥピークからなる群から選択される振幅を有するACまたはRF電圧を印加する工程、および/または
(c)(i)<100kHz、(ii)100〜200kHz、(iii)200〜300kHz、(iv)300〜400kHz、(v)400〜500kHz、(vi)0.5〜1.0MHz、(vii)1.0〜1.5MHz、(viii)1.5〜2.0MHz、(ix)2.0〜2.5MHz、(x)2.5〜3.0MHz、(xi)3.0〜3.5MHz、(xii)3.5〜4.0MHz、(xiii)4.0〜4.5MHz、(xiv)4.5〜5.0MHz、(xv)5.0〜5.5MHz、(xvi)5.5〜6.0MHz、(xvii)6.0〜6.5MHz、(xviii)6.5〜7.0MHz、(xix)7.0〜7.5MHz、(xx)7.5〜8.0MHz、(xxi)8.0〜8.5MHz、(xxii)8.5〜9.0MHz、(xxiii)9.0〜9.5MHz、(xxiv)9.5〜10.0MHz、および(xxv)>10.0MHzからなる群から選択される周波数を有するACまたはRF電圧を印加する工程をさらに含む。
(a)複数の電極またはロッドに広帯域周波数信号を供給する工程、および/または
(b)複数の電極またはロッドに広帯域周波数信号を供給する工程であって、第1の信号および/または第2の信号および/またはさらなる信号は、(i)<1kHz、(ii)1〜2kHz、(iii)2〜3kHz、(iv)3〜4kHz、(v)4〜5kHz、(vi)5〜6kHz、(vii)6〜7kHz、(viii)7〜8kHz、(ix)8〜9kHz、(x)9〜10kHz、(xi)10〜11kHz、(xii)11〜12kHz、(xiii)12〜13kHz、(xiv)13〜14kHz、(xv)14〜15kHz、(xvi)15〜16kHz、(xvii)16〜17kHz、(xviii)17〜18kHz、(xix)18〜19kHz、(xx)19〜20kHz、(xxi)20〜21kHz、(xxii)21〜22kHz、(xxiii)22〜23kHz、(xxiv)23〜24kHz、(xxv)24〜25kHz、(xxvi)25〜26kHz、(xxvii)26〜27kHz、(xxviii)27〜28kHz、(xxix)28〜29kHz、(xxx)29〜30kHz、および(xxxi)>30kHzの範囲のうち1つ以上から選択される1つ以上の周波数成分を含む工程、および/または
(c)双極および/または四重極波形を有する信号を供給する工程、および/または
(d)イオンガイドまたは質量フィルタデバイスによって使用に際して受け取られた複数のイオンの永続、共振、第1または基本高調波振動数に対応する複数の周波数成分を有する信号を供給する工程を含むのが好ましい。
(a)イオンガイドまたは質量フィルタデバイスによって前方に移送されることが所望される複数の異なる質量電荷比を有するイオンの永続、共振、第1または基本高調波振動数、および/あるいは
(b)少なくとも2、3、4、5、6、7、8、9、10、11、12、13、14、15、16、17、18、19、20、20〜25、25〜30、30〜35、35〜40、40〜45、45〜50、50〜55、55〜60、60〜65、65〜70、70〜75、75〜80、80〜85、85〜90、90〜95、95〜100または>100個の異なる種の対象検体イオンの永続、共振、または第1、基本高調波振動数に対応するのが好ましい。
(a)イオンガイドまたは質量フィルタデバイス内のイオンが実質的に共振によりまたはパラメトリックに励起されないか、あるいは
(b)イオンガイドまたは質量フィルタデバイス内のイオンが共振によりまたはパラメトリックに励起されるが、イオンがイオンガイドまたは質量フィルタデバイスから半径方向に排出されるのに十分には共振によりまたはパラメトリックにより励起されない。
(i)M1およびM3の質量電荷比を有するイオンをイオンガイドまたは質量フィルタデバイスによって同時に前方へ移送させ、かつ/あるいは
(ii)M2の質量電荷比を有するイオンをイオンガイドまたは質量フィルタデバイスによって実質的に減衰させるか、あるいはイオンガイドまたは質量フィルタデバイスから共振によりまたはパラメトリックに排出させ(ここで、M1<M2<M3)、かつ/あるいは
(iii)M3およびM5の質量電荷比を有するイオンをイオンガイドまたは質量フィルタデバイスによって同時に前方へ移送させ、かつ/あるいは
(iv)M4の質量電荷比を有するイオンをイオンガイドまたは質量フィルタデバイスによって実質的に減衰させるか、あるいはイオンガイドまたは質量フィルタデバイスから共振によりまたはパラメトリックに排出させる(ここで、M3<M4<M5)ように構成及び適合されているのが好ましい。
(a)質量電荷比移送ウィンドウ内に質量電荷比を有するイオンがイオンガイドまたは質量フィルタデバイスによって前方へ移送され、かつ/あるいは
(b)質量電荷比移送ウィンドウ外に質量電荷比を有するイオンがイオンガイドまたは質量フィルタデバイスによって実質的に減衰されるか、かつ/あるいはイオンガイドまたは質量フィルタデバイスから共振によりまたはパラメトリックに排出されるように、
イオンガイドまたは質量フィルタデバイスが、複数のまたは少なくとも2、3、4、5、6、7、8、9、10、11、12、13、14、15、16、17、18、19、20、20〜25、25〜30、30〜35、35〜40、40〜45、45〜50、50〜55、55〜60、60〜65、65〜70、70〜75、75〜80、80〜85、85〜90、90〜95、95〜100または>100個の離散したかまたは分離した同時質量電荷比移送ウィンドウを有するのが好ましい。
(a)1つ以上の質量電荷比移送ウィンドウの中心および/または幅は、経時的に、または(i)0〜1ms、(ii)1〜2ms、(iii)2〜3ms、(iv)3〜4ms、(v)4〜5ms、(vi)5〜6ms、(vii)6〜7ms、(viii)7〜8ms、(ix)8〜9ms、(x)9〜10ms、(xi)10〜11ms、(xii)11〜12ms、(xiii)12〜13ms、(xiv)13〜14ms、(xv)14〜15ms、(xvi)15〜16ms、(xvii)16〜17ms、(xviii)17〜18ms、(xix)18〜19ms、(xx)19〜20ms、(xxi)20〜21ms、(xxii)21〜22ms、(xxiii)22〜23ms、(xxiv)23〜24ms、(xxv)24〜25ms、(xxvi)25〜26ms、(xxvii)26〜27ms、(xxviii)27〜28ms、(xxix)28〜29ms、(xxx)29〜30ms、(xxxi)30〜40ms、(xxxii)40〜50ms、(xxxiii)50〜60ms、(xxxiv)60〜70ms、(xxxv)70〜80ms、(xxxvi)80〜90ms、(xxxvii)90〜100ms、(xxxviii)100〜200ms、(xxxix)200〜300ms、(xl)300〜400ms、(xli)400〜500ms、(xlii)500〜600ms、(xliii)600〜700ms、(xliv)700〜800ms、(xlv)800〜900、(xlvi)900〜1000ms、および(xlvii)>1sからなる群から選択される期間にわたって実質的に一定のままであるか、あるいは
(b)1つ以上の質量電荷比移送ウィンドウの中心および/または幅は、経時的に、または(i)0〜1ms、(ii)1〜2ms、(iii)2〜3ms、(iv)3〜4ms、(v)4〜5ms、(vi)5〜6ms、(vii)6〜7ms、(viii)7〜8ms、(ix)8〜9ms、(x)9〜10ms、(xi)10〜11ms、(xii)11〜12ms、(xiii)12〜13ms、(xiv)13〜14ms、(xv)14〜15ms、(xvi)15〜16ms、(xvii)16〜17ms、(xviii)17〜18ms、(xix)18〜19ms、(xx)19〜20ms、(xxi)20〜21ms、(xxii)21〜22ms、(xxiii)22〜23ms、(xxiv)23〜24ms、(xxv)24〜25ms、(xxvi)25〜26ms、(xxvii)26〜27ms、(xxviii)27〜28ms、(xxix)28〜29ms、(xxx)29〜30ms、(xxxi)30〜40ms、(xxxii)40〜50ms、(xxxiii)50〜60ms、(xxxiv)60〜70ms、(xxxv)70〜80ms、(xxxvi)80〜90ms、(xxxvii)90〜100ms、(xxxviii)100〜200ms、(xxxix)200〜300ms、(xl)300〜400ms、(xli)400〜500ms、(xlii)500〜600ms、(xliii)600〜700ms、(xliv)700〜800ms、(xlv)800〜900、(xlvi)900〜1000ms、および(xlvii)>1sからなる群から選択される期間にわたって実質的に変動および/または増加および/または低減する。
(a)実質的にすべての電極またはロッドは、実質的に同じDC電位または電圧に維持されるか、
(b)イオンガイドまたは質量フィルタデバイスは、実質的に非分解またはイオンガイド動作モードで動作されるか、
(c)隣り合う電極またはロッド間で実質的に異なるDC電位または電圧差が維持されるか、
(d)隣り合う電極またはロッド間でDC電位または電圧差が維持されるか、
(e)対向する電極またはロッドは、実質的に同じDC電位または電圧に維持されるか、
(f)イオンガイドまたは質量フィルタデバイスは、分解または質量フィルタリング動作モードで動作されるか、あるいは
(g)DCおよび/またはACもしくはRF電圧の組み合わせが、イオンガイドまたは質量フィルタデバイスが低域通過、帯域通過または高域通過質量フィルタリングモードで動作するように構成されるように複数の電極またはロッドに印加される。
イオンガイドまたは質量フィルタデバイスであって、
複数の電極またはロッドと、
ACまたはRF電圧を複数の電極またはロッドに供給するACまたはRF電圧源と、
(i)イオンガイドまたは質量フィルタデバイス内でまたはそこから不要なイオンを共振によりまたはパラメトリックに励起させるために複数の電極またはロッドに複数の周波数ノッチを含む第1の信号を供給し、第1のデータセットが得られ、次いで、
(ii)イオンガイドまたは質量フィルタデバイス内でまたはそこから不要なイオンを共振によりまたはパラメトリックに励起させるために複数の電極またはロッドに複数の周波数ノッチを有する第2の異なる信号を供給し、第2のデータセットが得られるように構成および適合された信号手段と、
第1のデータセットおよび/または第2のデータセットをデコンボリューション、復号または復調し、複数の異なる質量電荷比を有するイオンの強度を決定するデバイスと
を備えるイオンガイドまたは質量フィルタデバイスが提供される。
デコンボリューション、復号または復調デバイスは、さらなるデータセットをデコンボリューション、復号または復調し、複数の異なる質量または質量電荷比を有するイオンの強度を決定するように構成および適合されているのが好ましく、
ここで、nは、(i)1、(ii)2、(iii)3、(iv)4、(v)5、(vi)6、(vii)7、(viii)8、(ix)9、(x)10、(xi)11、(xii)12、(xiii)13、(xiv)14、(xv)15、(xvi)16、(xvii)17、(xviii)18、(xix)19、(xx)20、(xxi)20〜25、(xxii)25〜30、(xxiii)30〜35、(xxiv)35〜40、(xxv)40〜45、(xxvi)45〜50、(xxvii)50〜55、(xxviii)55〜60、(xxix)60〜65、(xxx)65〜70、(xxxi)70〜75、(xxxii)75〜80、(xxxiii)80〜85、(xxxiv)85〜90、(xxxv)90〜95、(xxxvi)95〜100、および(xxxvii)>100からなる群から選択される。
(a)(i)エレクトロスプレーイオン化(「ESI」)イオン源、(ii)大気圧光イオン化(「APPI」)イオン源、(iii)大気圧化学イオン化(「APCI」)イオン源、(iv)マトリックス支援レーザ脱離イオン化(「MALDI」)イオン源、(v)レーザ脱離イオン化(「LDI」)イオン源、(vi)大気圧イオン化(「API」)イオン源、(vii)シリコンを用いた脱離イオン化(「DIOS」)イオン源、(viii)電子衝突(「EI」)イオン源、(ix)化学イオン化(「CI」)イオン源、(x)電界イオン化(「FI」)イオン源、(xi)電界脱離(「FD」)イオン源、(xii)誘導結合プラズマ(「ICP」)イオン源、(xiii)高速原子衝撃(「FAB」)イオン源、(xiv)液体二次イオン質量分析(「LSIMS」)イオン源、(xv)脱離エレクトロスプレーイオン化(「DESI」)イオン源、(xvi)ニッケル−63放射性イオン源、(xvii)大気圧マトリックス支援レーザ脱離イオン化イオン源、および(xviii)熱スプレーイオン源からなる群から選択されるイオン源、ならびに/あるいは
(b)イオンガイドまたは質量フィルタデバイスの上流および/または下流に配置されるイオン移動度分光計もしくはセパレータおよび/またはフィールド非対称イオン移動度分光計、ならびに/あるいは
(c)イオンガイドまたは質量フィルタデバイスの上流および/または下流に配置されるイオントラップまたはイオントラップ領域、ならびに/あるいは
(d)イオンガイドまたは質量フィルタデバイスの上流および/または下流に配置される衝突、フラグメンテーションまたは反応デバイスであって、(i)衝突誘起解離(「CID」)フラグメンテーションデバイス、(ii)表面誘起解離(「SID」)フラグメンテーションデバイス、(iii)電子移動解離フラグメンテーションデバイス、(iv)電子捕獲解離フラグメンテーションデバイス、(v)電子衝突または衝撃解離フラグメンテーションデバイス、(vi)光誘起解離(「PID」)フラグメンテーションデバイス、(vii)レーザ誘起解離フラグメンテーションデバイス、(viii)赤外放射誘起解離デバイス、(ix)紫外放射誘起解離デバイス、(x)ノズル−スキマ間インターフェースフラグメンテーションデバイス、(xi)インソースフラグメンテーションデバイス、(xii)イオン源衝突誘起解離フラグメンテーションデバイス、(xiii)熱または温度源フラグメンテーションデバイス、(xiv)電界誘起フラグメンテーションデバイス、(xv)磁場誘起フラグメンテーションデバイス、(xvi)酵素消化または酵素分解フラグメンテーションデバイス、(xvii)イオン−イオン反応フラグメンテーションデバイス、(xviii)イオン−分子反応フラグメンテーションデバイス、(xix)イオン−原子反応フラグメンテーションデバイス、(xx)イオン−準安定イオン反応フラグメンテーションデバイス、(xxi)イオン−準安定分子反応フラグメンテーションデバイス、(xxii)イオン−準安定原子反応フラグメンテーションデバイス、(xxiii)イオンを反応させて付加または生成イオンを形成するイオン−イオン反応デバイス、(xxiv)イオンを反応させて付加または生成イオンを形成するイオン−分子反応デバイス、(xxv)イオンを反応させて付加または生成イオンを形成するイオン−原子反応デバイス、(xxvi)イオンを反応させて付加または生成イオンを形成するイオン−準安定イオン反応デバイス、(xxvii)イオンを反応させて付加または生成イオンを形成するイオン−準安定分子反応デバイス、および(xxviii)イオンを反応させて付加または生成イオンを形成するイオン−準安定原子反応デバイスからなる群から選択されるフラグメンテーションまたは反応デバイス、ならびに/あるいは
(e)(i)四重極質量分析部、(ii)二次元または線形四重極質量分析部、(iii)ポールまたは三次元四重極質量分析部、(iv)ペニングトラップ質量分析部、(v)イオントラップ質量分析部、(vi)磁場型質量分析部、(vii)イオンサイクロトロン共鳴(「ICR」)質量分析部、(viii)フーリエ変換イオンサイクロトロン共鳴(「FTICR」)質量分析部、(ix)静電またはオービトラップ質量分析部、(x)フーリエ変換静電またはオービトラップ質量分析部、(xi)フーリエ変換質量分析部、(xii)飛行時間質量分析部、(xiii)直交加速式飛行時間質量分析部、および(xiv)直線加速式飛行時間質量分析部からなる群から選択される質量分析部をさらに備えるのが好ましい。
広帯域周波数信号を変調するか、変動させるか、あるいは合成する工程であって、それぞれが2つ以上の周波数ノッチを有する複数の信号がイオンガイドまたは質量フィルタデバイスに順次生成されかつ/または印加される工程と、
イオンガイドまたは質量フィルタによって移送されるイオンをイオン検出器を用いて検出する工程と、
複数の異なる質量電荷比を有するイオンの強度を決定するために、イオン検出器によって出力される信号を復調、デコンボリューション、復号または分解(deconstructing)する工程と
を含むイオンをガイドまたは質量フィルタリングする方法が提供される。
イオンガイドまたは質量フィルタデバイスと、
広帯域周波数信号を変調するか、変動させるか、あるいは合成するデバイスであって、それぞれが2つ以上の周波数ノッチを有する複数の信号がイオンガイドまたは質量フィルタデバイスに順次生成されかつ/または印加されるデバイスと、
イオンガイドまたは質量フィルタによって移送されるイオンを検出するイオン検出器と、
複数の異なる質量電荷比を有するイオンの強度を決定するために、イオン検出器によって出力される信号を復調、デコンボリューション、復号または分解(deconstructing)するデバイスとを備える装置が提供される。
第1のイオンガイドまたは質量フィルタデバイスと、
第1のイオンガイドまたは質量フィルタデバイスの下流に配置される衝突、フラグメンテーションまたは反応デバイスと、
衝突、フラグメンテーションまたは反応デバイスの下流に配置される第2のイオンガイドまたは質量フィルタデバイスとを備える装置であって、
第1のイオンガイドまたは質量フィルタデバイスは、
(a)第1の複数の電極またはロッドと、
(b)第1の複数の電極またはロッドに第1のACまたはRF電圧を供給する第1のACまたはRF電圧源と、
(c)(i)第1のイオンガイドまたは質量フィルタデバイス内でまたはそこから不要なイオンを共振によりまたはパラメトリックに励起させるために複数の周波数ノッチを含む第1の信号を複数の第1の電極またはロッドに供給し、次いで、(ii)第1のイオンガイドまたは質量フィルタデバイス内でまたはそこから不要なイオンを共振によりまたはパラメトリックに励起させるために複数の周波数ノッチを含む第2の異なる信号を複数の第1の電極またはロッドに供給するように構成および適合された信号手段とを含み、
第2のイオンガイドまたは質量フィルタデバイスは、
(a)第2の複数の電極またはロッドと、
(b)第2の複数の電極またはロッドに第2のACまたはRF電圧を供給する第2のACまたはRF電圧源と、
(c)(i)不要なイオンを第2のイオンガイドまたは質量フィルタデバイス内でまたはそこから共振によりまたはパラメトリックに励起させるために複数の第2の電極またはロッドに複数の周波数ノッチを含む第3の信号を供給し、第1のデータセットが得られ、次いで、(ii)第2のイオンガイドまたは質量フィルタデバイス内でまたはそこから不要なイオンを共振によりまたはパラメトリックに励起させるために複数の周波数ノッチを含む第4の異なる信号を複数の第2の電極またはロッドに供給し、第2のデータセットが得られるように構成および適合された信号手段と、
第1のデータセットおよび/または第2のデータセットをデコンボリューション、復号または復調し、複数の異なる質量電荷比を有するイオンの強度を決定するデバイスとを備える装置が提供される。
第1のイオンガイドまたは質量フィルタデバイスの下流に衝突、フラグメンテーションまたは反応デバイスを準備する工程と、
衝突、フラグメンテーションまたは反応デバイスの下流に、第2の複数の電極またはロッドを備える第2のイオンガイドまたは質量フィルタデバイスを準備する工程と、
第1の複数の電極またはロッドに第1のACまたはRF電圧源を供給する工程と、
不要なイオンを第1のイオンガイドまたは質量フィルタデバイス内でまたはそこから共振によりまたはパラメトリックに励起させるために複数の第1の電極またはロッドに複数の周波数ノッチを含む第1の信号を供給し、次いで、第1のイオンガイドまたは質量フィルタデバイス内でまたはそこから不要なイオンを共振によりまたはパラメトリックに励起させるために複数の周波数ノッチを含む第2の異なる信号を複数の第1の電極またはロッドに供給する工程と、
第2の複数の電極またはロッドに第2のACまたはRF電圧源を供給する工程と、
第2のイオンガイドまたは質量フィルタデバイス内でまたはそこから不要なイオンを共振によりまたはパラメトリックに励起させるために複数の周波数ノッチを含む第3の信号を複数の第2の電極またはロッドに供給し、第1のデータセットを得、次いで、不要なイオンを第2のイオンガイドまたは質量フィルタデバイス内でまたはそこから共振によりまたはパラメトリックに励起させるために複数の第2の電極またはロッドに複数の周波数ノッチを含む第4の異なる信号を供給し、第2のデータセットを得る工程と、
第1のデータセットおよび/または第2のデータセットをデコンボリューション、復号または復調し、複数の異なる質量電荷比を有するイオンの強度を決定する工程とを含む方法が提供される。
好ましくは実質的にコヒーレントな周波数のスペクトルを合成する工程と、
第1の時間t1において、第1の複数の周波数または周波数成分を、完全に除去するか、実質的に除去するかまたは減衰させるか、あるいは除外する工程と、
第2の後の時間t2において、第2の異なる複数の周波数または周波数成分を、完全に除去するか、実質的に除去するかまたは減衰させるか、あるいは除外する工程とを含み、
時間遅延t2−t1は、(i)0〜1ms、(ii)1〜2ms、(iii)2〜3ms、(iv)3〜4ms、(v)4〜5ms、(vi)5〜6ms、(vii)6〜7ms、(viii)7〜8ms、(ix)8〜9ms、(x)9〜10ms、(xi)10〜11ms、(xii)11〜12ms、(xiii)12〜13ms、(xiv)13〜14ms、(xv)14〜15ms、(xvi)15〜16ms、(xvii)16〜17ms、(xviii)17〜18ms、(xix)18〜19ms、(xx)19〜20ms、(xxi)20〜21ms、(xxii)21〜22ms、(xxiii)22〜23ms、(xxiv)23〜24ms、(xxv)24〜25ms、(xxvi)25〜26ms、(xxvii)26〜27ms、(xxviii)27〜28ms、(xxix)28〜29ms、(xxx)29〜30ms、(xxxi)30〜40ms、(xxxii)40〜50ms、(xxxiii)50〜60ms、(xxxiv)60〜70ms、(xxxv)70〜80ms、(xxxvi)80〜90ms、(xxxvii)90〜100ms、(xxxviii)100〜200ms、(xxxix)200〜300ms、(xl)300〜400ms、(xli)400〜500ms、(xlii)500〜600ms、(xliii)600〜700ms、(xliv)700〜800ms、(xlv)800〜900、(xlvi)900〜1000ms、および(xlvii)>1sからなる群から選択される方法が提供される。
好ましくは実質的にコヒーレントな周波数のスペクトルを合成する合成器と、
第1の時間t1において、第1の複数の周波数または周波数成分を、完全に除去するか、実質的に除去するかまたは減衰させるか、あるいは除外するように構成および適合されたデバイスと、
第2の後の時間t2において、第2の異なる複数の周波数または周波数成分を、完全に除去するか、実質的に除去するかまたは減衰させるか、あるいは除外する構成および適合されたデバイスとを含み、
時間遅延t2−t1は、(i)0〜1ms、(ii)1〜2ms、(iii)2〜3ms、(iv)3〜4ms、(v)4〜5ms、(vi)5〜6ms、(vii)6〜7ms、(viii)7〜8ms、(ix)8〜9ms、(x)9〜10ms、(xi)10〜11ms、(xii)11〜12ms、(xiii)12〜13ms、(xiv)13〜14ms、(xv)14〜15ms、(xvi)15〜16ms、(xvii)16〜17ms、(xviii)17〜18ms、(xix)18〜19ms、(xx)19〜20ms、(xxi)20〜21ms、(xxii)21〜22ms、(xxiii)22〜23ms、(xxiv)23〜24ms、(xxv)24〜25ms、(xxvi)25〜26ms、(xxvii)26〜27ms、(xxviii)27〜28ms、(xxix)28〜29ms、(xxx)29〜30ms、(xxxi)30〜40ms、(xxxii)40〜50ms、(xxxiii)50〜60ms、(xxxiv)60〜70ms、(xxxv)70〜80ms、(xxxvi)80〜90ms、(xxxvii)90〜100ms、(xxxviii)100〜200ms、(xxxix)200〜300ms、(xl)300〜400ms、(xli)400〜500ms、(xlii)500〜600ms、(xliii)600〜700ms、(xliv)700〜800ms、(xlv)800〜900、(xlvi)900〜1000ms、および(xlvii)>1sからなる群から選択される装置が提供される。
Claims (15)
- イオンをガイドまたは質量フィルタリングする方法であって、
複数の電極またはロッドを備えるイオンガイドまたは質量フィルタデバイスを準備する工程と、
前記複数の電極またはロッドにACまたはRF電圧を印加する工程と、
前記複数の電極またはロッドに複数の信号を供給する工程を含み、
前記複数の信号を供給する工程が、少なくとも、
(i)前記イオンガイドまたは質量フィルタデバイス内でまたはそこから不要なイオンを共振によりまたはパラメトリックに励起させるために、複数の周波数ノッチを含む第1の信号を前記複数の電極またはロッドに供給し、第1のデータセットを取得する工程と、次いで
(ii)前記イオンガイドまたは質量フィルタデバイス内でまたはそこから不要なイオンを共振によりまたはパラメトリックに励起させるために、複数の周波数ノッチを含む第2の異なる信号を前記複数の電極またはロッドを供給し、第2のデータセットを取得する工程と、
前記第1のデータセットおよび/または前記第2のデータセットをデコンボリューション、復号または復調し、複数の異なる質量電荷比を有するイオンの強度を決定する工程とを含む方法。 - 前記複数の信号を供給する工程は、前記イオンガイドまたは質量フィルタデバイス内でまたはそこから不要なイオンを共振によりまたはパラメトリックに励起させるために前記複数の電極またはロッドにn個のさらなる信号を順次供給し、n個のさらなるデータセットを取得する工程であって、前記n個のさらなる信号は、それぞれ、複数の周波数ノッチを含む工程をさらに含み、
前記デコンボリューション、復号または復調工程は、前記さらなるデータセットをデコンボリューション、復号または復調し、複数の異なる質量または質量電荷比を有するイオンの強度を決定する工程をさらに含み、
ここで、nは、(i)1、(ii)2、(iii)3、(iv)4、(v)5、(vi)6、(vii)7、(viii)8、(ix)9、(x)10、(xi)11、(xii)12、(xiii)13、(xiv)14、(xv)15、(xvi)16、(xvii)17、(xviii)18、(xix)19、(xx)20、(xxi)20〜25、(xxii)25〜30、(xxiii)30〜35、(xxiv)35〜40、(xxv)40〜45、(xxvi)45〜50、(xxvii)50〜55、(xxviii)55〜60、(xxix)60〜65、(xxx)65〜70、(xxxi)70〜75、(xxxii)75〜80、(xxxiii)80〜85、(xxxiv)85〜90、(xxxv)90〜95、(xxxvi)95〜100、および(xxxvii)>100からなる群から選択され、
前記第1のデータセットおよび/または前記第2のデータセットおよび/または前記さらなるデータセットは、飛行時間または質量スペクトルデータを含む、請求項1に記載の方法。 - 前記ACまたはRF電圧を印加する工程は、
(a)前記複数の電極またはロッドに二位相電圧を印加する工程であって、イオンを前記イオンガイドまたは質量フィルタデバイス内に半径方向に閉じ込めるために、前記ACまたはRF電圧の逆位相が隣り合う電極またはロッドに印加される工程、および/または
(b)(i)<50Vピークトゥピーク、(ii)50〜100Vピークトゥピーク、(iii)100〜150Vピークトゥピーク、(iv)150〜200Vピークトゥピーク、(v)200〜250Vピークトゥピーク、(vi)250〜300Vピークトゥピーク、(vii)300〜350Vピークトゥピーク、(viii)350〜400Vピークトゥピーク、(ix)400〜450Vピークトゥピーク、(x)450〜500Vピークトゥピーク、(xi)500〜1000Vピークトゥピーク、(xii)1〜2kVピークトゥピーク、(xiii)2〜3kVピークトゥピーク、(xiv)3〜4kVピークトゥピーク、(xv)4〜5kVピークトゥピーク、(xvi)5〜6kVピークトゥピーク、(xvii)6〜7kVピークトゥピーク、(xviii)7〜8kVピークトゥピーク、(xix)8〜9kVピークトゥピーク、(xx)9〜10kVピークトゥピーク、および(xxi)>10kVピークトゥピークからなる群から選択される振幅を有するACまたはRF電圧を印加する工程、および/または
(c)(i)<100kHz、(ii)100〜200kHz、(iii)200〜300kHz、(iv)300〜400kHz、(v)400〜500kHz、(vi)0.5〜1.0MHz、(vii)1.0〜1.5MHz、(viii)1.5〜2.0MHz、(ix)2.0〜2.5MHz、(x)2.5〜3.0MHz、(xi)3.0〜3.5MHz、(xii)3.5〜4.0MHz、(xiii)4.0〜4.5MHz、(xiv)4.5〜5.0MHz、(xv)5.0〜5.5MHz、(xvi)5.5〜6.0MHz、(xvii)6.0〜6.5MHz、(xviii)6.5〜7.0MHz、(xix)7.0〜7.5MHz、(xx)7.5〜8.0MHz、(xxi)8.0〜8.5MHz、(xxii)8.5〜9.0MHz、(xxiii)9.0〜9.5MHz、(xxiv)9.5〜10.0MHz、および(xxv)>10.0MHzからなる群から選択される周波数を有するACまたはRF電圧を印加する工程をさらに含む、請求項1または2に記載の方法。 - 前記第1の信号および/または前記第2の信号および/または前記さらなる信号を供給する工程により、少なくともいくつかの不要なイオンが前記イオンガイドまたは質量フィルタデバイスから半径方向に排出されるか、あるいは実質的に減衰され、
少なくともいくつかのイオンが、前記イオンガイドまたは質量フィルタデバイス内に半径方向に実質的に閉じ込められるかトラップされることなく前方に移送される、請求項1〜3のいずれか一項に記載の方法。 - 前記イオンガイドまたは質量フィルタデバイスを準備する工程は、四重極ロッドセットイオンガイドまたは質量フィルタデバイスを準備する工程を含む、請求項1〜4のいずれか一項に記載の方法。
- 前記第1の信号および/または前記第2の信号および/または前記さらなる信号を供給する工程は、
(a)前記複数の電極またはロッドに広帯域周波数信号を供給する工程、および/または
(b)前記複数の電極またはロッドに広帯域周波数信号を供給する工程であって、前記第1の信号および/または前記第2の信号および/または前記さらなる信号は、(i)<1kHz、(ii)1〜2kHz、(iii)2〜3kHz、(iv)3〜4kHz、(v)4〜5kHz、(vi)5〜6kHz、(vii)6〜7kHz、(viii)7〜8kHz、(ix)8〜9kHz、(x)9〜10kHz、(xi)10〜11kHz、(xii)11〜12kHz、(xiii)12〜13kHz、(xiv)13〜14kHz、(xv)14〜15kHz、(xvi)15〜16kHz、(xvii)16〜17kHz、(xviii)17〜18kHz、(xix)18〜19kHz、(xx)19〜20kHz、(xxi)20〜21kHz、(xxii)21〜22kHz、(xxiii)22〜23kHz、(xxiv)23〜24kHz、(xxv)24〜25kHz、(xxvi)25〜26kHz、(xxvii)26〜27kHz、(xxviii)27〜28kHz、(xxix)28〜29kHz、(xxx)29〜30kHz、および(xxxi)>30kHzの範囲のうち1つ以上から選択される1つ以上の周波数成分を含む工程、および/または
(c)双極および/または四重極波形を有する信号を供給する工程、および/または
(d)前記イオンガイドまたは質量フィルタデバイスによって使用に際して受け取られた複数のイオンの永続、共振、第1または基本高調波振動数に対応する複数の周波数成分を有する信号を供給する工程を含む、請求項1〜5のいずれか一項に記載の方法。 - 前記第1の信号および/または前記第2の信号および/または前記さらなる信号は、少なくともいくつかの対象検体イオンを前記イオンガイドまたは質量フィルタデバイスから共振によりまたはパラメトリックに励起させ、かつ/または半径方向に排出させることが実質的にない、請求項1〜6のいずれか一項に記載の方法。
- 前記複数の周波数ノッチに対応する周波数において、
(a)前記イオンガイドまたは質量フィルタデバイス内のイオンが実質的に共振によりまたはパラメトリックに励起されないか、あるいは
(b)前記イオンガイドまたは質量フィルタデバイス内のイオンが共振によりまたはパラメトリックに励起されるが、前記イオンが前記イオンガイドまたは質量フィルタデバイスから半径方向に排出されるのに十分には共振によりまたはパラメトリックにより励起されない、請求項1〜7のいずれか一項に記載の方法。 - 請求項1〜8のいずれか一項に記載の方法を含む質量分析の方法。
- イオンガイドまたは質量フィルタデバイスであって、
複数の電極またはロッドと、
ACまたはRF電圧を前記複数の電極またはロッドに供給するACまたはRF電圧源と、
(i)前記イオンガイドまたは質量フィルタデバイス内でまたはそこから不要なイオンを共振によりまたはパラメトリックに励起させるために前記複数の電極またはロッドに複数の周波数ノッチを含む第1の信号を供給し、第1のデータセットが得られ、次いで、
(ii)前記イオンガイドまたは質量フィルタデバイス内でまたはそこから不要なイオンを共振によりまたはパラメトリックに励起させるために前記複数の電極またはロッドに複数の周波数ノッチを有する第2の異なる信号を供給し、第2のデータセットが得られるように構成および適合された信号手段と、
前記第1のデータセットおよび/または前記第2のデータセットをデコンボリューション、復号または復調し、複数の異なる質量電荷比を有するイオンの強度を決定するデバイスと
を備えるイオンガイドまたは質量フィルタデバイス。 - 請求項10に記載のイオンガイドまたは質量フィルタデバイスを備える質量分析計。
- 広帯域周波数信号を変調するか、変動させるか、あるいは合成する工程であって、それぞれが2つ以上の周波数ノッチを有する複数の信号がイオンガイドまたは質量フィルタデバイスに順次生成されかつ/または印加される工程と、
前記イオンガイドまたは質量フィルタによって移送されるイオンをイオン検出器を用いて検出する工程と、
複数の異なる質量電荷比を有するイオンの強度を決定するために、前記イオン検出器によって出力される信号を復調、デコンボリューション、復号または分解(deconstructing)する工程と
を含むイオンをガイドまたは質量フィルタリングする方法。 - 前記復調、デコンボリューション、復号または分解工程は、位相同期増幅器および/またはニューラルネットワークおよび/または復号用ルーチンもしくはアルゴリズムおよび/またはウェーブレットに基づく変調技術を使用する工程を含む、請求項12に記載の方法。
- イオンガイドまたは質量フィルタデバイスと、
広帯域周波数信号を変調するか、変動させるか、あるいは合成するデバイスであって、それぞれが2つ以上の周波数ノッチを有する複数の信号が前記イオンガイドまたは質量フィルタデバイスに順次生成されかつ/または印加されるデバイスと、
前記イオンガイドまたは質量フィルタによって移送されるイオンを検出するイオン検出器と、
複数の異なる質量電荷比を有するイオンの強度を決定するために、前記イオン検出器によって出力される信号を復調、デコンボリューション、復号または分解(deconstructing)するデバイスと
を備える装置。 - 前記復調、デコンボリューション、復号または分解デバイスは、位相同期増幅器および/またはニューラルネットワークおよび/または復号用ルーチンもしくはアルゴリズムおよび/またはウェーブレットに基づく変調器を備える、請求項14に記載の装置。
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