JP4755840B2 - 電解コンデンサの劣化診断装置および劣化診断方法 - Google Patents
電解コンデンサの劣化診断装置および劣化診断方法 Download PDFInfo
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Description
図2は、透過画像取得部8において取得された電解コンデンサの透過画像の一例を示す。
図4は、電解コンデンサの劣化状態を判定する処理を示すフローチャートである。
電解コンデンサの電解液は、経年的に減少すると考えられる。そのため、同一構造の電解コンデンサにおいては、所定の速度で電解液が減少すると予想できる。
図6は、電解コンデンサの寿命を推定する処理を示すフローチャートである。
Claims (10)
- 0.1nm〜10nmの波長を有する軟X線を電解コンデンサに照射し、前記電解コンデンサの透過画像を取得する透過画像取得部と、
前記透過画像取得部において取得された前記透過画像の中から前記電磁波の不透過領域を抽出する画像処理部と、
前記画像処理部において抽出された前記不透過領域の面積に基づいて電解液の残存量を算出する演算部とを備える、電解コンデンサの劣化診断装置。 - 前記演算部は、算出した前記電解液の残存量を所定の基準値と比較して前記電解コンデンサの劣化状態を判定する判定手段を含む、請求項1に記載の電解コンデンサの劣化診断装置。
- 前記判定手段は、未使用の前記電解コンデンサにおける前記電解液の残存量を前記所定の基準値とする、請求項2に記載の電解コンデンサの劣化診断装置。
- 前記演算部は、前記電解コンデンサにおける前記電解液の残存量と使用期間とに基づいて、前記電解コンデンサの寿命を推定する寿命推定手段をさらに含む、請求項1〜3のいずれか1項に記載の電解コンデンサの劣化診断装置。
- 前記演算部は、同一の電解コンデンサから異なる時期に取得された複数の前記不透過領域を用いて前記電解液の残存量を算出する、請求項1〜4のいずれか1項に記載の電解コンデンサの劣化診断装置。
- 0.1nm〜10nmの波長を有する軟X線を電解コンデンサに照射し、前記電解コンデンサの透過画像を取得する透過画像取得ステップと、
前記透過画像取得ステップにおいて取得された前記透過画像の中から前記電磁波の不透過領域を抽出する画像処理ステップと、
前記画像処理ステップにおいて抽出された前記不透過領域の面積に基づいて電解液の残存量を算出する演算ステップとからなる、電解コンデンサの劣化診断方法。 - 前記演算ステップは、算出した前記電解液の残存量を所定の基準値と比較して前記電解コンデンサの劣化状態を判定する判定ステップを含む、請求項6に記載の電解コンデンサの劣化診断方法。
- 前記判定ステップは、未使用の前記電解コンデンサにおける前記電解液の残存量を前記所定の基準値とする、請求項7に記載の電解コンデンサの劣化診断方法。
- 前記演算ステップは、前記電解コンデンサにおける前記電解液の残存量と使用期間とに基づいて、前記電解コンデンサの寿命を推定する寿命推定ステップをさらに含む、請求項6〜8のいずれか1項に記載の電解コンデンサの劣化診断方法。
- 前記演算ステップは、同一の電解コンデンサから異なる時期に取得された複数の前記不透過領域を用いて前記電解液の残存量を算出するステップを含む、請求項6〜9のいずれか1項に記載の電解コンデンサの劣化診断方法。
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