JP4754791B2 - Vacuum processing equipment - Google Patents

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Description

本発明は、いわゆるインライン式の真空処理装置に係り、特に、生産性を向上し、省スペース化した、1m級以上の大型基板用の縦型方式の真空処理装置に関する。   The present invention relates to a so-called in-line type vacuum processing apparatus, and more particularly to a vertical type vacuum processing apparatus for a large substrate of 1 m class or higher, which has improved productivity and saved space.

例えば、プラズマディスプレイや液晶ディスプレイに用いられる大型ガラス基板を加工するには、真空下において、所望の温度まで昇温させる加熱工程や、スパッタリング、CVD、或いは、エッチング等の加工手段で複数層成膜する種々の成膜工程が必要である。   For example, to process large glass substrates used in plasma displays and liquid crystal displays, multiple layers are formed by a heating process that raises the temperature to a desired temperature under vacuum, or by processing means such as sputtering, CVD, or etching. Various film forming steps are required.

ここで、以下、これら真空下における複数層の成膜工程の他、この成膜工程に付随する加熱工程等の真空下における処理工程を総括的に真空処理と呼び、また、真空槽にスパッタリング装置、CVD装置やエッチング装置の他、加熱装置等の真空処理機構を具備し、基板を真空処理する一工程分の機能を有する真空室を真空処理室と総括的に呼ぶこととする。   Here, in addition to the multiple layer film forming step under vacuum, the processing step under vacuum such as a heating step accompanying the film forming step is generally referred to as vacuum processing. In addition to the CVD apparatus and the etching apparatus, a vacuum chamber having a vacuum processing mechanism such as a heating device and having a function for one step of vacuum processing the substrate is collectively referred to as a vacuum processing chamber.

特許文献1に示されるように、従来より、種々の真空処理装置が実用に供されている。
特許文献1のインライン型スパッタリング装置は、基板はローディング室の搬送手段に装着され、成膜室で成膜されて、アンローディング室で回収されるワンスルータイプである(特許文献図10参照)。
As shown in Patent Document 1, various vacuum processing apparatuses have been put to practical use conventionally.
The inline-type sputtering apparatus of Patent Document 1 is a one-through type in which a substrate is mounted on a transfer means in a loading chamber, formed in a film forming chamber, and collected in an unloading chamber (see FIG. 10 of Patent Document).

一方、従来の真空処理装置の例として、特許文献1とは異なる真空リターンタイプの縦型の真空処理装置を図8を用いて説明する。
図8は、従来の真空処理装置の主要構成を示す平面図である。
On the other hand, as an example of a conventional vacuum processing apparatus, a vacuum return type vertical vacuum processing apparatus different from Patent Document 1 will be described with reference to FIG.
FIG. 8 is a plan view showing a main configuration of a conventional vacuum processing apparatus.

図8に示すように、従来の真空処理装置100は、基板着脱室110、複数(図示のものでは3)の真空処理室130、132、134と、及び、基板を大気側と真空側間で搬入、搬出する予備室120とを備えている。   As shown in FIG. 8, the conventional vacuum processing apparatus 100 includes a substrate attaching / detaching chamber 110, a plurality (three in the illustrated example) of vacuum processing chambers 130, 132, 134, and a substrate between the atmosphere side and the vacuum side. And a spare chamber 120 for carrying in and out.

同図において、150は真空排気装置である。
また、説明の便宜上、基板キャリアの図示は省略している。
なお、基板を、大気側と真空側とに搬入、搬出する予備室120A、120Bについては、以下、単に「予備室」、「ロード/アンロード室」、簡単に「L/UL室」という場合がある。
In the figure, reference numeral 150 denotes a vacuum exhaust device.
For convenience of explanation, illustration of the substrate carrier is omitted.
In addition, the spare chambers 120A and 120B for loading and unloading the substrate to and from the atmosphere side and the vacuum side are hereinafter simply referred to as “spare chamber”, “load / unload chamber”, and simply “L / UL chamber”. There is.

また、各真空処理室130、132、134内には、基板キャリアが下流側に搬送される往路となる第1の搬送経路160と、上流側に搬送される復路となる第2の搬送経路162の2つの搬送経路が設けられている。
更に、従来の真空処理装置100は、最後部(図中右端)の第3の真空処理室164が、基板キャリアを往路160から復路162に、この2つの搬送経路160、162に対して横方向に移動させて移載する移載機構(図示せず)を備えている。
Further, in each of the vacuum processing chambers 130, 132, and 134, a first transport path 160 that is a forward path through which the substrate carrier is transported downstream, and a second transport path 162 that is a return path through which the substrate carrier is transported upstream. These two conveyance paths are provided.
Further, in the conventional vacuum processing apparatus 100, the third vacuum processing chamber 164 at the rearmost part (right end in the drawing) is arranged so that the substrate carrier is moved in the lateral direction from the forward path 160 to the backward path 162 with respect to the two transport paths 160 and 162. And a transfer mechanism (not shown) for transferring to and moving to.

従来の真空処理装置100の基本動作について、図8を用いて説明する。
基板着脱室110で、基板キャリアに基板を載置されると、この基板キャリアは、ロード/アンロード室(L/UL室)120に搬入され、このL/UL室120が真空排気され、高真空化された後に、第1の真空処理室130内に用意されている、往路となる第1の搬送経路160に搬出される。
基板キャリアは、往路160を搬送されながら、第1乃至第3の真空処理室130、132、134において、載置された基板が加熱や成膜等の真空処理が施される。
The basic operation of the conventional vacuum processing apparatus 100 will be described with reference to FIG.
When a substrate is placed on the substrate carrier in the substrate attaching / detaching chamber 110, the substrate carrier is carried into a load / unload chamber (L / UL chamber) 120, and the L / UL chamber 120 is evacuated to a high level. After being evacuated, it is carried out to the first transfer path 160 which is prepared in the first vacuum processing chamber 130 and becomes the forward path.
The substrate carrier is subjected to vacuum processing such as heating and film formation in the first to third vacuum processing chambers 130, 132, and 134 while being transported along the forward path 160.

第3の真空処理室134で基板が真空処理された後は、基板キャリアは復路となる第2の搬送経路162に、図示しない移載機構により移載され、第3乃至第1の真空処理室134、132、130においてそれぞれ成膜等の真空処理がなされて、基板キャリアは、真空処理された基板を載置した状態で、L/UL室120を経て、基板着脱室110で基板が取り外される。
即ち、この従来例は、真空中で基板がL/UL室に帰還してくる真空リターン方式である点に特徴を有している。
After the substrate is vacuum-processed in the third vacuum processing chamber 134, the substrate carrier is transferred to the second transport path 162 serving as a return path by a transfer mechanism (not shown), and the third to first vacuum processing chambers. In each of 134, 132, and 130, vacuum processing such as film formation is performed, and the substrate carrier is removed from the substrate carrier in the substrate attaching / detaching chamber 110 through the L / UL chamber 120 with the vacuum processed substrate placed thereon. .
That is, this conventional example is characterized in that it is a vacuum return system in which the substrate is returned to the L / UL chamber in a vacuum.

特開2000−129436JP 2000-129436 A

ところで、一般に、L/UL室では、基板キャリアの搬入搬出の他に、真空排気と大気圧開放が行われる。
図8に示す従来の真空処理装置100では、真空処理室の入り口が単数であり、また、L/UL室120が単数のため、基板を真空処理室130の真空側に搬送する際の大気圧から真空排気する際に掛かる時間が長いと、基板の出し入れに手間取り、各真空処理室で成膜等の真空処理が滞るブランクタイムが発生して、生産効率が低下する問題が発生する。
Incidentally, in general, in the L / UL chamber, in addition to loading and unloading of the substrate carrier, vacuum exhaust and atmospheric pressure release are performed.
In the conventional vacuum processing apparatus 100 shown in FIG. 8, since the number of entrances to the vacuum processing chamber is singular and the number of the L / UL chamber 120 is singular, the atmospheric pressure when the substrate is transferred to the vacuum side of the vacuum processing chamber 130. If the time required for evacuation from a long time is long, it takes time to put in and out of the substrate, and blank times occur in which vacuum processing such as film formation is delayed in each vacuum processing chamber, resulting in a problem of lowering production efficiency.

また、これとは異なる問題として、近年、基板の大型化が加速しており、例えば、2、3m級或いはそれ以上の特大の基板では、真空処理装置100の設置スペースが過大になるという難点がある。   Further, as a problem different from this, in recent years, an increase in the size of the substrate has been accelerated. For example, in the case of an extra large substrate of 2, 3 m class or more, the installation space of the vacuum processing apparatus 100 becomes excessive. is there.

本発明は、上記従来の課題を解決し、生産性を向上させるとともに、省スペース化した真空処理装置を提供することを目的とする。   An object of the present invention is to provide a vacuum processing apparatus that solves the above-described conventional problems, improves productivity, and saves space.

本発明の真空処理装置は、請求項1に記載のものでは、基板を真空処理する真空処理室と、前記基板を載置して搬送する基板キャリアと、前記基板を大気側と真空側とに搬入、搬出する予備室とを具備した真空処理装置において、前記予備室を複数とし、かつ、前記予備室と前記真空処理室間に、前記予備室又は前記真空処理室に前記基板キャリアを搬出入させる基板キャリアスライド室を設けるとともに、この基板キャリアスライド室は、前記基板キャリアを滞在させる複数の滞在軌道を有し、この各滞在軌道を前記各予備室又は前記真空処理室に基板キャリアを搬出入する位置に制御する位置制御機構を備え、上記基板キャリアスライド室の基板キャリアスライド方向に、上記複数の滞在軌道のうち1又は2以上の滞在軌道が待避できる逃げ代を設けた構成とした。 According to a vacuum processing apparatus of the present invention, a vacuum processing chamber for vacuum processing a substrate, a substrate carrier for mounting and transporting the substrate, and the substrate on the atmosphere side and the vacuum side are provided. In a vacuum processing apparatus having a spare chamber for carrying in and out, the plurality of spare chambers are provided, and the substrate carrier is carried into and out of the spare chamber or the vacuum processing chamber between the spare chamber and the vacuum processing chamber. A substrate carrier slide chamber is provided, and the substrate carrier slide chamber has a plurality of staying tracks for staying the substrate carrier, and the substrate carriers are carried into and out of the preliminary chambers or the vacuum processing chambers. comprising a position control mechanism for controlling the position, the substrate carrier sliding direction of the substrate carrier slide chamber, one or more stay track among the plurality of stay trajectories can be retracted Has a structure in which a lower cost.

請求項に記載の真空処理装置は、上記基板キャリアスライド室内の滞在軌道の数を2とすると共に、上記予備室の数を2とした構成とした。 The vacuum processing apparatus according to claim 2 has a configuration in which the number of staying tracks in the substrate carrier slide chamber is two and the number of spare chambers is two.

請求項に記載の真空処理装置は、上記基板キャリアスライド室内の2以上の滞在軌道は、それぞれ独立に位置制御が可能とされている構成とした。 The vacuum processing apparatus according to claim 3 is configured such that the position of two or more staying trajectories in the substrate carrier slide chamber can be independently controlled.

請求項に記載の真空処理装置は、上記位置制御機構は、ボールネジとこのボールネジの回転駆動モータと直動ガイドとを有し、上記滞在軌道は、前記直動ガイドに沿って、前記ボールネジの回転によって位置制御される構成とした。 The vacuum processing apparatus according to claim 4 , wherein the position control mechanism includes a ball screw, a rotation drive motor for the ball screw, and a linear motion guide, and the staying track extends along the linear motion guide along the linear motion guide. The position is controlled by rotation.

請求項に記載の真空処理装置は、上記基板キャリアスライド室内の基板キャリアの滞在軌道は、1対のレールで構成される。 According to a fifth aspect of the present invention, the staying trajectory of the substrate carrier in the substrate carrier slide chamber is constituted by a pair of rails.

請求項に記載の真空処理装置は、上記真空処理装置は、基板を略直立させた状態で真空処理を行う縦型方式である構成とした。 The vacuum processing apparatus according to claim 6 is configured such that the vacuum processing apparatus is of a vertical type that performs vacuum processing in a state where the substrate is substantially upright.

本発明の真空処理装置は、上述のように構成したために、以下のような優れた効果を有する。
(1)請求項1に記載したように構成すると、真空排気に長時間を有しても、真空処理室でブランクタイムが生じるという事態を回避でき、生産効率を向上することができる。
Since the vacuum processing apparatus of the present invention is configured as described above, it has the following excellent effects.
(1) With the configuration described in claim 1, even if the evacuation has a long time, a situation in which a blank time occurs in the vacuum processing chamber can be avoided, and the production efficiency can be improved.

(2)請求項に記載したように構成すると、基板キャリアスライド室内に2つの基板キャリアが滞在可能であるとともに、滞在軌道を2に限定することにより、基板キャリアスライド室内に設ける滞在軌道の逃げ代分を1軌道分のみとすることができるので、基板キャリアスライド室の大きさも小さくすることが可能になる。 (2) With the configuration as described in claim 2, with two substrate carrier to the substrate carrier slide chamber can be stayed by limiting the stay orbit 2, relief stay track provided on the substrate carrier slide chamber Since the cost can be limited to one track, the size of the substrate carrier slide chamber can be reduced.

(3)請求項に記載したように構成すると、タクトタイムを短くすることができ、基板の真空処理の生産効率を向上することができる。 (3) If it comprises as described in Claim 3 , a tact time can be shortened and the production efficiency of the vacuum processing of a board | substrate can be improved.

(4)請求項に記載したように構成すると、簡単な構成の基板キャリアの滞在軌道の位置制御装置とすることができる。 (4) When configured as described in claim 4 , a position control device for the staying trajectory of the substrate carrier having a simple configuration can be provided.

(5)請求項に記載したように構成すると、基板キャリアを安定して滞在させることができる。 (5) If comprised as described in Claim 5 , a board | substrate carrier can be made to stay stably.

(6)請求項に記載したように構成すると、大型基板に容易に対応可能となり、真空処理装置の設置スペースを削減することができる。 (6) If it comprises as described in Claim 6 , it will become possible to respond | correspond easily to a large sized substrate and the installation space of a vacuum processing apparatus can be reduced.

以下、本発明の真空処理装置の第1及び第2の各実施の形態を図1乃至図7を用いて、順次説明する。
第1の実施の形態:
先ず、本発明の真空処理装置の第1の実施の形態を図1及び図2を用いて説明する。
図1は、本実施の形態の真空処理装置の構成を示す平面図である。
図2は、本実施の形態の真空処理装置に用いる基板キャリアスライド室の構成を示す平面図である。
Hereinafter, first and second embodiments of the vacuum processing apparatus of the present invention will be sequentially described with reference to FIGS.
First embodiment:
First, a first embodiment of the vacuum processing apparatus of the present invention will be described with reference to FIGS.
FIG. 1 is a plan view showing the configuration of the vacuum processing apparatus of the present embodiment.
FIG. 2 is a plan view showing the configuration of the substrate carrier slide chamber used in the vacuum processing apparatus of the present embodiment.

図1に示すように、本実施の形態の真空処理装置10は、基板着脱室110、複数(図示のものでは3)の真空処理室130、132、134と、基板キャリアスライド室20、及び、基板を大気側と真空側間とで搬入、搬出する複数(図示のものは2)の予備室120A、120Bとを備えている。   As shown in FIG. 1, the vacuum processing apparatus 10 of the present embodiment includes a substrate attaching / detaching chamber 110, a plurality (three in the illustrated example) of vacuum processing chambers 130, 132, 134, a substrate carrier slide chamber 20, and A plurality of (2 in the drawing) spare chambers 120A and 120B for carrying in and out the substrate between the atmosphere side and the vacuum side are provided.

同図において、150は真空排気装置である。
また、説明の便宜上、基板キャリアの図示は省略している。
なお、基板を、大気側と真空側とに搬入、搬出する予備室120A、120Bについては、従来技術で説明した場合と同様に、以下、単に「予備室」、「ロード/アンロード室」、簡単に「L/UL室」という場合がある。
In the figure, reference numeral 150 denotes a vacuum exhaust device.
For convenience of explanation, illustration of the substrate carrier is omitted.
The spare chambers 120A and 120B for loading and unloading the substrate to and from the atmosphere side and the vacuum side are hereinafter simply referred to as “spare chamber”, “load / unload chamber”, as described in the prior art. It may be simply called “L / UL room”.

また、各真空処理室130、132、134内には、基板キャリア12が下流側に搬送される往路となる第1の搬送経路160と、上流側に搬送される復路となる第2の搬送経路162の2つの搬送経路が設けられている。
更に、従来の真空処理装置100は、最後部(図中右端)の第3の真空処理室164が、基板キャリア12を往路160から復路162に、この2つの搬送経路160、162に対して横方向に移動させて移載する移載機構(図示せず)を備えている。
Further, in each of the vacuum processing chambers 130, 132, and 134, a first transport path 160 that is a forward path through which the substrate carrier 12 is transported downstream, and a second transport path that is a return path through which the substrate carrier 12 is transported upstream. Two transport paths 162 are provided.
Further, in the conventional vacuum processing apparatus 100, the third vacuum processing chamber 164 at the rearmost part (right end in the drawing) is arranged so that the substrate carrier 12 moves laterally from the forward path 160 to the backward path 162 with respect to the two transport paths 160 and 162. A transfer mechanism (not shown) that moves in the direction and transfers is provided.

従って、本発明の真空処理装置10の基本構成は、上述した従来の真空処理装置100とほぼ同様であり、ロード/アンロード室(L/UL室)120A、120Bと真空処理室130、132、134間に、基板キャリアスライド室20を設け、L/UL室を複数(図示のものは2)の120A、120Bにした点に構成上の特徴を備えている。
従って、以下、基板キャリアスライド室20を中心に説明する。
Therefore, the basic configuration of the vacuum processing apparatus 10 of the present invention is almost the same as that of the conventional vacuum processing apparatus 100 described above, and load / unload chambers (L / UL chambers) 120A, 120B and vacuum processing chambers 130, 132, A substrate carrier slide chamber 20 is provided between 134, and a structural feature is provided in that the L / UL chamber is a plurality (2 in the drawing) 120A and 120B.
Accordingly, the following description will focus on the substrate carrier slide chamber 20.

上述したように、一般に、L/UL室では、基板キャリアの搬入搬出の他に、真空排気と大気圧開放が行われ、L/UL室におけるこの作業時間が各真空処理室における真空処理に要する加工時間よりも大幅に長い場合は、L/UL室が単数の場合は、基板キャリアの真空処理室への仕込みに手間取り、各真空処理室では真空処理が行えないブランクタイムが生じ、生産効率が低下するという問題が生じる。   As described above, in general, in the L / UL chamber, in addition to loading and unloading of the substrate carrier, evacuation and atmospheric pressure release are performed, and this working time in the L / UL chamber is required for vacuum processing in each vacuum processing chamber. If it is much longer than the processing time, if there is a single L / UL chamber, it takes time to prepare the substrate carrier in the vacuum processing chamber, resulting in a blank time during which vacuum processing cannot be performed in each vacuum processing chamber. The problem of deteriorating arises.

そこで、本実施の形態の真空処理装置10では、図1に示すように、L/UL室120A、120Bを複数(図示のものは2)のものとし、真空処理室130、132、134に搬出入される基板キャリア12、及び、L/UL室120A、120Bに搬出入される基板キャリア12を一時的に滞在させる、基板キャリアスライド室20を、L/UL室120A、120Bと真空処理室130、132、134の間に設置し、基板キャリア12を搬出入するL/UL室120A、120Bを利用状況に合わせて適宜選択できるようにすることにより、上記ブランクタイムを解消し、生産効率の向上を図る。
なお、基板キャリアスライド室20は、真空処理装置10稼働中は、常時、高真空に保持されている。
Therefore, in the vacuum processing apparatus 10 of the present embodiment, as shown in FIG. 1, a plurality of L / UL chambers 120A and 120B (2 in the drawing) are used and are carried out to the vacuum processing chambers 130, 132, and 134. The substrate carrier 12 and the substrate carrier slide chamber 20 in which the substrate carrier 12 carried in and out of the L / UL chambers 120 </ b> A and 120 </ b> B stays temporarily are divided into the L / UL chambers 120 </ b> A and 120 </ b> B and the vacuum processing chamber 130. , 132 and 134, and the L / UL chambers 120A and 120B for carrying the substrate carrier 12 in and out can be appropriately selected according to the use situation, thereby eliminating the blank time and improving the production efficiency. Plan.
The substrate carrier slide chamber 20 is always kept in a high vacuum while the vacuum processing apparatus 10 is in operation.

次に、この基板キャリアスライド室20の構成について、図2を用いて説明する。
図2は、基板キャリアスライド室20の構成を示す平面図である。
基板キャリアスライド室20には、L/UL室120A、120Bから搬出入され、或いは、真空処理室130、132、134から搬出入される基板キャリア12を一時的に滞在させる滞在軌道として多数対(図示のものでは4)のレール22A〜22Dと、このレール22A〜22Dを第1の真空処理室130やL/UL室120A、120Bの搬出ポジションに制御する位置制御機構を備えている。
Next, the configuration of the substrate carrier slide chamber 20 will be described with reference to FIG.
FIG. 2 is a plan view showing the configuration of the substrate carrier slide chamber 20.
A large number of pairs of staying trajectories for temporarily staying the substrate carriers 12 carried in / out from the L / UL chambers 120A, 120B or carried in / out from the vacuum processing chambers 130, 132, 134 in the substrate carrier slide chamber 20 ( In the illustrated example, 4) rails 22A to 22D and a position control mechanism for controlling the rails 22A to 22D to the carry-out positions of the first vacuum processing chamber 130 and the L / UL chambers 120A and 120B are provided.

また、位置制御機構は、多数対のレール22A〜22Dをスライドさせるボールネジ24と、このボールネジ24の回転駆動モータ(図示せず)と、レール22A〜22Dの平行移動を保持する直動ガイド26とを備えた構成である。   The position control mechanism includes a ball screw 24 that slides a plurality of pairs of rails 22A to 22D, a rotation drive motor (not shown) of the ball screw 24, and a linear guide 26 that holds the parallel movement of the rails 22A to 22D. It is the structure provided with.

この構成で、基板キャリアスライド室20では、多数のレール22A〜22Dは、直動ガイド26に沿って、ボールネジ24の推力でL/UL室120A、120Bや第1の真空処理室130の各搬出入ポジションにスライドされ、基板キャリア12が搬出入される。
また、単一のボールネジ24により、各レール22A〜22Dは一定の間隙を保ったまま並行にスライドされる。
多数対のレール22A〜22Dには、多数(図示のものは最大4)の基板キャリア12が滞在可能であり、L/UL室120A、120Bが複数ある場合でも、対応が可能で、生産性の効率化が可能である。
With this configuration, in the substrate carrier slide chamber 20, a large number of rails 22 </ b> A to 22 </ b> D are carried out of the L / UL chambers 120 </ b> A and 120 </ b> B and the first vacuum processing chamber 130 along the linear motion guide 26 by the thrust of the ball screw 24. The substrate carrier 12 is carried in and out by sliding to the entry position.
In addition, the rails 22 </ b> A to 22 </ b> D are slid in parallel while maintaining a certain gap by a single ball screw 24.
Many pairs of rails 22A to 22D can accommodate a large number (up to 4 in the figure) of substrate carriers 12, and even when there are a plurality of L / UL chambers 120A and 120B, it is possible to cope with the productivity. Efficiency can be improved.

次に、本実施の形態の真空処理装置10の基本動作を図1及び図2を用いて、簡単に説明する。
基板着脱室110で、基板キャリア12に図示しない基板を載置すると、この基板キャリア12は、L/UL室120A、120Bのいずれかに搬入され、このいずれかのL/UL室120A、120Bが真空排気され、高真空化された後に、基板キャリアスライド室20に搬出される。
Next, the basic operation of the vacuum processing apparatus 10 according to the present embodiment will be briefly described with reference to FIGS.
When a substrate (not shown) is placed on the substrate carrier 12 in the substrate attaching / detaching chamber 110, the substrate carrier 12 is carried into one of the L / UL chambers 120A and 120B, and any one of the L / UL chambers 120A and 120B is loaded. After being evacuated and evacuated to high vacuum, it is carried out to the substrate carrier slide chamber 20.

次に、基板キャリア12は、基板キャリアスライド室20内の位置制御機構により、基板キャリア12の搬入位置から第1の真空処理室130の入室ポジションまで移送され、第1の真空処理室130内に用意されている、往路となる第1の搬送経路160に搬出される。
基板キャリア12は、往路160を搬送されながら、第1乃至第3の真空処理室130、132、134において、載置された基板が加熱や成膜等の真空処理が施される。
Next, the substrate carrier 12 is transferred from the loading position of the substrate carrier 12 to the entry position of the first vacuum processing chamber 130 by the position control mechanism in the substrate carrier slide chamber 20, and enters the first vacuum processing chamber 130. It is carried out to the prepared first transport path 160 as the forward path.
The substrate carrier 12 is subjected to vacuum processing such as heating and film formation in the first to third vacuum processing chambers 130, 132, and 134 while being transported through the forward path 160.

第3の真空処理室134で基板が真空処理された後は、基板キャリア12は復路となる第2の搬送経路162に、図示しない移載機構により移載され、第3乃至第1の真空処理室134、132、130においてそれぞれ成膜等の真空処理がなされて、基板キャリアスライド室20に戻される。
基板キャリア12は、L/UL室120A、120Bを選択して、位置制御機構により選択したL/UL室120A、120Bのポジションに位置制御され、に退出し、大気解放後、基板着脱室110で基板が取り外される。
After the substrate is vacuum-processed in the third vacuum processing chamber 134, the substrate carrier 12 is transferred to the second transport path 162 serving as the return path by a transfer mechanism (not shown), and the third to first vacuum processing is performed. The chambers 134, 132, and 130 are each subjected to vacuum processing such as film formation and returned to the substrate carrier slide chamber 20.
The substrate carrier 12 selects the L / UL chambers 120A and 120B, is controlled to the positions of the L / UL chambers 120A and 120B selected by the position control mechanism, and is released to the atmosphere, and then released to the atmosphere. The substrate is removed.

従って、本実施の形態の形態の真空処理装置10では、基板キャリアスライド室20を設けるとともに、この基板キャリアスライド室20に多数の滞在軌道であるレール22A〜22Dと位置制御機構24、26を具備することにより、L/UL室を複数120A、120Bにでき、多数の基板キャリア12を滞在可能にできるため、真空処理室130、132、134におけるブランクタイムの発生を抑えることができ、生産効率を向上させることができる。   Therefore, in the vacuum processing apparatus 10 according to the present embodiment, the substrate carrier slide chamber 20 is provided, and the substrate carrier slide chamber 20 includes a large number of staying tracks 22A to 22D and position control mechanisms 24 and 26. As a result, a plurality of L / UL chambers can be made 120A and 120B, and a large number of substrate carriers 12 can stay. Therefore, the occurrence of blank time in the vacuum processing chambers 130, 132, and 134 can be suppressed, and production efficiency can be improved. Can be improved.

第1の実施の形態の課題
本発明の真空処理装置の第2の実施の形態の説明の前に、上記した第1の実施の形態の問題点を説明する。
ところで、液晶ディスプレイ、プラズマディスプレイの大型化に伴い、真空処理する基板が大型化する場合の問題点を、図3及び図4を用いて説明する。
図3及び図4は、基板が大型化した場合の問題点を説明するための平面図である。
Problems of First Embodiment Prior to the description of the second embodiment of the vacuum processing apparatus of the present invention, the problems of the first embodiment described above will be described.
By the way, the problem in the case where the substrate to be vacuum-processed becomes larger as the liquid crystal display and the plasma display become larger will be described with reference to FIGS.
3 and 4 are plan views for explaining problems when the substrate is enlarged.

図2に示した第1の実施の形態の真空処理装置に用いる基板キャリアスライド室20では、多数対のレール22A〜22Dを有していたために、例えば、図3に示すように、図中最下端のレール22Dが上側のL/UL室120Aに基板キャリア12を搬出入させる場合、多数対(図示のものでは3対)分のレール22A〜Cの逃げ代を確保しなければならないことになる。
同様に、図4に示すように、図中最上端のレール22Aが下側のL/UL室120Bに基板キャリア12を搬出入させる場合、多数対(図示のものでは3対)分のレール22B〜Dの逃げ代を確保しなければならない。
これは、基板キャリアスライド室20内に多数の基板キャリア12を滞在させることが可能であり、ブランクタイムを少なくし、生産効率の向上に対しては非常に有利であった。
Since the substrate carrier slide chamber 20 used in the vacuum processing apparatus of the first embodiment shown in FIG. 2 has many pairs of rails 22A to 22D, for example, as shown in FIG. When the lower end rail 22D carries the substrate carrier 12 into and out of the upper L / UL chamber 120A, it is necessary to secure a clearance for multiple pairs (three pairs in the illustrated example) of the rails 22A to 22C. .
Similarly, as shown in FIG. 4, when the uppermost rail 22A in the drawing carries the substrate carrier 12 into and out of the lower L / UL chamber 120B, many pairs (three pairs in the illustrated example) of rails 22B are provided. It is necessary to secure a clearance for ~ D.
This makes it possible to allow a large number of substrate carriers 12 to stay in the substrate carrier slide chamber 20, which is very advantageous for reducing the blank time and improving the production efficiency.

しかし、近年、基板の大型化が加速しており、例えば、2、3m級或いはそれ以上の特大の基板では、この基板キャリアスライド室20自体が巨大化し、真空処理装置の設置スペースが過大になるという問題が生じる。
また、基板キャリアスライド室20が余りに巨大化すると、基板キャリアスライド室20の製作や搬送が不能になって、真空処理装置10そのものの製作や設置に障害が発生するという虞を有している。
However, in recent years, the increase in size of the substrate has been accelerated. For example, in the case of an extra large substrate of 2, 3 m class or more, the substrate carrier slide chamber 20 itself becomes huge, and the installation space for the vacuum processing apparatus becomes excessive. The problem arises.
In addition, if the substrate carrier slide chamber 20 becomes too large, the substrate carrier slide chamber 20 cannot be manufactured or transported, and there is a risk that the manufacturing and installation of the vacuum processing apparatus 10 itself may be obstructed.

また、第1の実施の形態の基板キャリアスライド室20では、各レール22A〜22Dが単一のボールネジ24によって、同時に並行してポジションが制御されていたために、レール22A〜22D上に滞在させておいた複数の基板キャリア12について、ひとつひとつ位置制御するため、複数の同時位置制御ができないため、タクトタイムが長くなるという問題も備えている。   In the substrate carrier slide chamber 20 according to the first embodiment, since the positions of the rails 22A to 22D are simultaneously controlled by the single ball screw 24, the rails 22A to 22D are allowed to stay on the rails 22A to 22D. Since the positions of the plurality of substrate carriers 12 are controlled one by one, a plurality of simultaneous position controls cannot be performed, and thus the tact time is increased.

第2の実施の形態
以上の事情を踏まえて、次に、本発明の真空処理装置の第2の実施の形態について、図5乃至図7を用いて説明する。
図5は、本発明の真空処理装置の基板キャリアスライド室の基本構成を示す平面図である。
図6及び図7は、本発明の真空処理装置の基板キャリアスライド室の基本動作を説明する平面図である。
Second Embodiment Based on the above circumstances, a second embodiment of the vacuum processing apparatus of the present invention will be described with reference to FIGS.
FIG. 5 is a plan view showing the basic configuration of the substrate carrier slide chamber of the vacuum processing apparatus of the present invention.
6 and 7 are plan views for explaining the basic operation of the substrate carrier slide chamber of the vacuum processing apparatus of the present invention.

なお、本実施の形態の真空処理装置の基本構成は、図1に示す第1の実施の形態のものと基板キャリアスライド室以外では同一の構成を用いるので、以下、基板キャリアスライド室を中心に説明する。   The basic configuration of the vacuum processing apparatus of this embodiment is the same as that of the first embodiment shown in FIG. 1 except for the substrate carrier slide chamber. explain.

先ず、図5を用いて、本実施の形態の基板キャリアスライド室30の基本構成を説明する。
前記基板キャリアスライド室の主要構成30は、基板キャリア12を滞在させる滞在軌道として、2対のレール32A、32Bと、この2対のレール32A、32Bを、それぞれ独立に、L/UL室120A、120B、又は、真空処理室130に、基板キャリア12を搬出入するポジションに制御する位置制御機構を備えている。
First, the basic configuration of the substrate carrier slide chamber 30 according to the present embodiment will be described with reference to FIG.
The main configuration 30 of the substrate carrier slide chamber includes two pairs of rails 32A and 32B and two pairs of rails 32A and 32B, which are independent stays in the L / UL chamber 120A. A position control mechanism for controlling the position to carry in / out the substrate carrier 12 is provided in the vacuum processing chamber 130 or 120B.

また、この位置制御機構は、2つのボールネジ34A、34Bとこのボールネジ34A、34Bの回転駆動モータ(図示せず)と、直動ガイド40とを有し、2対のレール32A、32Bは、直動ガイド40に沿って、ボールネジ34A、34Bをそれぞれ独立に回転制御することによって、それぞれ独立に位置制御される。   The position control mechanism includes two ball screws 34A and 34B, a rotation drive motor (not shown) for the ball screws 34A and 34B, and a linear motion guide 40. The two pairs of rails 32A and 32B are directly connected to each other. By independently controlling the rotation of the ball screws 34A and 34B along the moving guide 40, the positions are controlled independently.

このように構成すると、図6に示すように、図中、上側のレール32Aが下側のL/UL室120Bの基板キャリア12の搬出入ポジションに位置制御される場合でも、基板キャリアスライド室30のレール32Bの逃げ代は1レール分だけで済む。
同様に、図7に示すように、図中、下側のレール32Bが上側のL/UL室120Aの基板キャリア12の搬出入ポジションに位置制御される場合でも、基板キャリアスライド室30のレール32Aの逃げ代は1レール分だけで済む。
With this configuration, as shown in FIG. 6, even when the upper rail 32A is controlled to the loading / unloading position of the substrate carrier 12 in the lower L / UL chamber 120B, as shown in FIG. The rail 32B has only one rail to escape.
Similarly, as shown in FIG. 7, even when the lower rail 32B is controlled to the loading / unloading position of the substrate carrier 12 in the upper L / UL chamber 120A, the rail 32A of the substrate carrier slide chamber 30 is shown. The escape allowance is only for one rail.

従って、真空処理される基板が特大化した場合でも、基板キャリアスライド室30自体の巨大化を極力抑えることができ、設置箇所の省スペース化、そして、基板キャリアスライド室30の製作、搬送が非常に困難になるという上記した問題を回避することができる。   Therefore, even when the substrate to be vacuum processed is oversized, the enlargement of the substrate carrier slide chamber 30 itself can be suppressed as much as possible, the installation space can be saved, and the substrate carrier slide chamber 30 can be manufactured and transported very much. It is possible to avoid the above-mentioned problem of becoming difficult.

また、本実施の形態の基板キャリアスライド室30では、2対のレール32A、32Bをそれぞれのボールネジ34A、34Bにより、独立に位置制御可能としているために、例えば、図1に示すように、一方のレール32Bを真空処理室130の搬入ポジションに位置制御し、他方のレール32Aは、それとは独立に、上側のL/UL室120Aの搬出ポジションに位置制御するといったことが可能になる。   In the substrate carrier slide chamber 30 of the present embodiment, since the two pairs of rails 32A and 32B can be independently controlled by the respective ball screws 34A and 34B, for example, as shown in FIG. It is possible to control the position of the rail 32B to the carry-in position of the vacuum processing chamber 130 and to control the position of the other rail 32A to the carry-out position of the upper L / UL chamber 120A independently.

これにより、第1の実施の形態では、1つの基板キャリア12の搬出入の度に、多数のレール22A〜22D全体をスライドさせていたが(図2参照)、本実施の形態によれば、基板の真空処理のロスタイムが削減できるので、タクトタイムを短くすることができ、生産効率が向上する。   Thus, in the first embodiment, the entire number of rails 22A to 22D are slid each time one substrate carrier 12 is carried in and out (see FIG. 2), but according to the present embodiment, Since the loss time of the vacuum processing of the substrate can be reduced, the tact time can be shortened and the production efficiency is improved.

即ち、本実施の形態の発明の特徴は、基板キャリアスライド室30のレール32A、32Bを最小限の2対に限定することにより、基板キャリアスライド室30内には2つの基板キャリア12が滞在可能であり、基板の成膜処理効率の低減を抑えるとともに、基板キャリアスライド室30自体の省スペース化を図るものである。   That is, the invention according to the present embodiment is characterized in that two substrate carriers 12 can stay in the substrate carrier slide chamber 30 by limiting the rails 32A and 32B of the substrate carrier slide chamber 30 to the minimum two pairs. Thus, it is possible to suppress the reduction of the substrate film forming process efficiency and to save the space of the substrate carrier slide chamber 30 itself.

本発明の真空処理装置は上記実施の形態に限定されず、種々の変更が可能である。
例えば、上記実施の形態の真空処理装置では、図1に示す第3の真空処理室で基板が往路から復路に移載されて帰還するタイプのもので説明したが、本発明の特徴は、基板キャリアスライド室であり、この基板キャリアスライド室が利用できる総ての真空処理装置に適用できるのは勿論のことである。
The vacuum processing apparatus of the present invention is not limited to the above embodiment, and various modifications are possible.
For example, in the vacuum processing apparatus of the above embodiment, the substrate is described as a type in which the substrate is transferred from the forward path to the return path and returned in the third vacuum processing chamber shown in FIG. Needless to say, this is a carrier slide chamber and can be applied to all vacuum processing apparatuses that can use this substrate carrier slide chamber.

また、レールの独立位置制御機構としては、2本のボールネジと直動ガイドでレール位置を制御する例で説明したが、これを他の位置制御機構に置き換えても良い。
更に、基板キャリアスライド室の滞在軌道については、2本のレールの例で説明したが、これに限定されず他の構成の軌道、例えば単一のレールを用いたものなどを用いても何ら支障はない。
The rail independent position control mechanism has been described with reference to an example in which the rail position is controlled by two ball screws and a linear guide, but this may be replaced with another position control mechanism.
Furthermore, although the stay track of the substrate carrier slide chamber has been described with the example of two rails, the present invention is not limited to this, and there is no problem even if a track with another configuration, for example, a single rail is used. There is no.

本発明の真空処理装置の第1の実施の形態の基本構成を示す平面図である。It is a top view which shows the basic composition of 1st Embodiment of the vacuum processing apparatus of this invention. 本発明の真空処理装置に用いる基板キャリアスライド室の基本構成を示す平面図である。It is a top view which shows the basic composition of the substrate carrier slide chamber used for the vacuum processing apparatus of this invention. 第1の実施の形態の真空処理装置の基板キャリアスライド室の問題点を説明するための平面図である。It is a top view for demonstrating the problem of the substrate carrier slide chamber of the vacuum processing apparatus of 1st Embodiment. 第1の実施の形態の真空処理装置の基板キャリアスライド室の問題点を説明するための平面図である。It is a top view for demonstrating the problem of the substrate carrier slide chamber of the vacuum processing apparatus of 1st Embodiment. 本発明の第2の実施の形態の真空処理装置の基板キャリアスライド室の基本構成を説明する平面図である。It is a top view explaining the basic composition of the substrate carrier slide room of the vacuum processing apparatus of a 2nd embodiment of the present invention. 本発明の第2の実施の形態の真空処理装置の基板キャリアスライド室の基本動作を説明する平面図である。It is a top view explaining the basic operation | movement of the substrate carrier slide chamber of the vacuum processing apparatus of the 2nd Embodiment of this invention. 本発明の第2の実施の形態の真空処理装置の基板キャリアスライド室の基本動作を説明する平面図である。It is a top view explaining the basic operation | movement of the substrate carrier slide chamber of the vacuum processing apparatus of the 2nd Embodiment of this invention. 従来の真空処理装置の主要構成を示す平面図である。It is a top view which shows the main structures of the conventional vacuum processing apparatus.

符号の説明Explanation of symbols

10:真空処理装置
12:基板キャリア
20、30:基板キャリアスライド室
22A〜22D:レール(滞在軌道)
32A〜32D:レール(滞在軌道)
24、34A、34B:ボールネジ
26、40:直動ガイド
120A、120B:L/UL室(予備室)
130、132、134:真空処理室
10: Vacuum processing equipment
12: Substrate carrier
20, 30: Substrate carrier slide chambers 22A to 22D: Rail (stay track)
32A-32D: Rail (stay track)
24, 34A, 34B: Ball screw
26, 40: Linear motion guide 120A, 120B: L / UL room (preliminary room)
130, 132, 134: Vacuum processing chamber

Claims (6)

基板を真空処理する真空処理室と、前記基板を載置して搬送する基板キャリアと、前記基板を大気側と真空側とに搬入、搬出する予備室とを具備した真空処理装置において、
前記予備室を複数とし、かつ、前記予備室と前記真空処理室間に、前記予備室又は前記真空処理室に前記基板キャリアを搬出入させる基板キャリアスライド室を設けるとともに、この基板キャリアスライド室は、前記基板キャリアを滞在させる複数の滞在軌道を有し、この各滞在軌道を前記各予備室又は前記真空処理室に基板キャリアを搬出入する位置に制御する位置制御機構を備え、上記基板キャリアスライド室の基板キャリアスライド方向に、上記複数の滞在軌道のうち1又は2以上の滞在軌道が待避できる逃げ代を設けたことを特徴とする真空処理装置。
In a vacuum processing apparatus comprising a vacuum processing chamber for vacuum processing a substrate, a substrate carrier for placing and transporting the substrate, and a preliminary chamber for transporting the substrate to and from the atmosphere side and the vacuum side,
A plurality of the reserve chambers are provided, and a substrate carrier slide chamber for carrying the substrate carrier in and out of the reserve chamber or the vacuum processing chamber is provided between the reserve chamber and the vacuum processing chamber. A plurality of staying tracks for staying the substrate carrier, and a position control mechanism for controlling each staying track to a position where the substrate carrier is carried into and out of each of the preliminary chambers or the vacuum processing chamber, and the substrate carrier slide A vacuum processing apparatus characterized in that an escape allowance is provided in the chamber carrier slide direction of the chamber so that one or more of the plurality of stay tracks can be saved.
上記基板キャリアスライド室内の滞在軌道の数を2とすると共に、上記予備室の数を2としたことを特徴とする請求項1に記載の真空処理装置。 2. The vacuum processing apparatus according to claim 1, wherein the number of staying trajectories in the substrate carrier slide chamber is two and the number of spare chambers is two. 上記基板キャリアスライド室内の2以上の滞在軌道は、それぞれ独立に位置制御が可能とされていることを特徴とする請求項1又は2に記載の真空処理装置。 The two or more stays trajectory of the substrate carrier slide chamber, the vacuum processing apparatus according to claim 1 or 2, characterized in that it is possible to position control independently. 上記位置制御機構は、ボールネジとこのボールネジの回転駆動モータと直動ガイドとを有し、上記滞在軌道は、前記直動ガイドに沿って、前記ボールネジの回転によって位置制御されることを特徴とする請求項1乃至のいずれかに記載の真空処理装置。 The position control mechanism includes a ball screw, a rotation drive motor for the ball screw, and a linear guide, and the stay track is controlled by the rotation of the ball screw along the linear guide. the vacuum processing apparatus according to any one of claims 1 to 3. 上記基板キャリアスライド室内の基板キャリアの滞在軌道は、1対のレールで構成されることを特徴とする請求項1乃至のいずれかに記載の真空処理装置。 The stay trajectory of the substrate carrier slide chamber of the substrate carrier, the vacuum processing apparatus according to any one of claims 1 to 4, characterized in that it is constituted by a pair of rails. 上記真空処理装置は、基板を略直立させた状態で真空処理を行う縦型方式であることを特徴とする請求項1乃至のいずれかに記載の真空処理装置。 The vacuum processing apparatus, the vacuum processing apparatus according to any one of claims 1 to 5, characterized in that a vertical system in which the vacuum treatment while being substantially upright substrate.
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