JP4754791B2 - Vacuum processing equipment - Google Patents
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Description
本発明は、いわゆるインライン式の真空処理装置に係り、特に、生産性を向上し、省スペース化した、1m級以上の大型基板用の縦型方式の真空処理装置に関する。 The present invention relates to a so-called in-line type vacuum processing apparatus, and more particularly to a vertical type vacuum processing apparatus for a large substrate of 1 m class or higher, which has improved productivity and saved space.
例えば、プラズマディスプレイや液晶ディスプレイに用いられる大型ガラス基板を加工するには、真空下において、所望の温度まで昇温させる加熱工程や、スパッタリング、CVD、或いは、エッチング等の加工手段で複数層成膜する種々の成膜工程が必要である。 For example, to process large glass substrates used in plasma displays and liquid crystal displays, multiple layers are formed by a heating process that raises the temperature to a desired temperature under vacuum, or by processing means such as sputtering, CVD, or etching. Various film forming steps are required.
ここで、以下、これら真空下における複数層の成膜工程の他、この成膜工程に付随する加熱工程等の真空下における処理工程を総括的に真空処理と呼び、また、真空槽にスパッタリング装置、CVD装置やエッチング装置の他、加熱装置等の真空処理機構を具備し、基板を真空処理する一工程分の機能を有する真空室を真空処理室と総括的に呼ぶこととする。 Here, in addition to the multiple layer film forming step under vacuum, the processing step under vacuum such as a heating step accompanying the film forming step is generally referred to as vacuum processing. In addition to the CVD apparatus and the etching apparatus, a vacuum chamber having a vacuum processing mechanism such as a heating device and having a function for one step of vacuum processing the substrate is collectively referred to as a vacuum processing chamber.
特許文献1に示されるように、従来より、種々の真空処理装置が実用に供されている。
特許文献1のインライン型スパッタリング装置は、基板はローディング室の搬送手段に装着され、成膜室で成膜されて、アンローディング室で回収されるワンスルータイプである(特許文献図10参照)。
As shown in Patent Document 1, various vacuum processing apparatuses have been put to practical use conventionally.
The inline-type sputtering apparatus of Patent Document 1 is a one-through type in which a substrate is mounted on a transfer means in a loading chamber, formed in a film forming chamber, and collected in an unloading chamber (see FIG. 10 of Patent Document).
一方、従来の真空処理装置の例として、特許文献1とは異なる真空リターンタイプの縦型の真空処理装置を図8を用いて説明する。
図8は、従来の真空処理装置の主要構成を示す平面図である。
On the other hand, as an example of a conventional vacuum processing apparatus, a vacuum return type vertical vacuum processing apparatus different from Patent Document 1 will be described with reference to FIG.
FIG. 8 is a plan view showing a main configuration of a conventional vacuum processing apparatus.
図8に示すように、従来の真空処理装置100は、基板着脱室110、複数(図示のものでは3)の真空処理室130、132、134と、及び、基板を大気側と真空側間で搬入、搬出する予備室120とを備えている。
As shown in FIG. 8, the conventional
同図において、150は真空排気装置である。
また、説明の便宜上、基板キャリアの図示は省略している。
なお、基板を、大気側と真空側とに搬入、搬出する予備室120A、120Bについては、以下、単に「予備室」、「ロード/アンロード室」、簡単に「L/UL室」という場合がある。
In the figure,
For convenience of explanation, illustration of the substrate carrier is omitted.
In addition, the
また、各真空処理室130、132、134内には、基板キャリアが下流側に搬送される往路となる第1の搬送経路160と、上流側に搬送される復路となる第2の搬送経路162の2つの搬送経路が設けられている。
更に、従来の真空処理装置100は、最後部(図中右端)の第3の真空処理室164が、基板キャリアを往路160から復路162に、この2つの搬送経路160、162に対して横方向に移動させて移載する移載機構(図示せず)を備えている。
Further, in each of the
Further, in the conventional
従来の真空処理装置100の基本動作について、図8を用いて説明する。
基板着脱室110で、基板キャリアに基板を載置されると、この基板キャリアは、ロード/アンロード室(L/UL室)120に搬入され、このL/UL室120が真空排気され、高真空化された後に、第1の真空処理室130内に用意されている、往路となる第1の搬送経路160に搬出される。
基板キャリアは、往路160を搬送されながら、第1乃至第3の真空処理室130、132、134において、載置された基板が加熱や成膜等の真空処理が施される。
The basic operation of the conventional
When a substrate is placed on the substrate carrier in the substrate attaching / detaching
The substrate carrier is subjected to vacuum processing such as heating and film formation in the first to third
第3の真空処理室134で基板が真空処理された後は、基板キャリアは復路となる第2の搬送経路162に、図示しない移載機構により移載され、第3乃至第1の真空処理室134、132、130においてそれぞれ成膜等の真空処理がなされて、基板キャリアは、真空処理された基板を載置した状態で、L/UL室120を経て、基板着脱室110で基板が取り外される。
即ち、この従来例は、真空中で基板がL/UL室に帰還してくる真空リターン方式である点に特徴を有している。
After the substrate is vacuum-processed in the third
That is, this conventional example is characterized in that it is a vacuum return system in which the substrate is returned to the L / UL chamber in a vacuum.
ところで、一般に、L/UL室では、基板キャリアの搬入搬出の他に、真空排気と大気圧開放が行われる。
図8に示す従来の真空処理装置100では、真空処理室の入り口が単数であり、また、L/UL室120が単数のため、基板を真空処理室130の真空側に搬送する際の大気圧から真空排気する際に掛かる時間が長いと、基板の出し入れに手間取り、各真空処理室で成膜等の真空処理が滞るブランクタイムが発生して、生産効率が低下する問題が発生する。
Incidentally, in general, in the L / UL chamber, in addition to loading and unloading of the substrate carrier, vacuum exhaust and atmospheric pressure release are performed.
In the conventional
また、これとは異なる問題として、近年、基板の大型化が加速しており、例えば、2、3m級或いはそれ以上の特大の基板では、真空処理装置100の設置スペースが過大になるという難点がある。
Further, as a problem different from this, in recent years, an increase in the size of the substrate has been accelerated. For example, in the case of an extra large substrate of 2, 3 m class or more, the installation space of the
本発明は、上記従来の課題を解決し、生産性を向上させるとともに、省スペース化した真空処理装置を提供することを目的とする。 An object of the present invention is to provide a vacuum processing apparatus that solves the above-described conventional problems, improves productivity, and saves space.
本発明の真空処理装置は、請求項1に記載のものでは、基板を真空処理する真空処理室と、前記基板を載置して搬送する基板キャリアと、前記基板を大気側と真空側とに搬入、搬出する予備室とを具備した真空処理装置において、前記予備室を複数とし、かつ、前記予備室と前記真空処理室間に、前記予備室又は前記真空処理室に前記基板キャリアを搬出入させる基板キャリアスライド室を設けるとともに、この基板キャリアスライド室は、前記基板キャリアを滞在させる複数の滞在軌道を有し、この各滞在軌道を前記各予備室又は前記真空処理室に基板キャリアを搬出入する位置に制御する位置制御機構を備え、上記基板キャリアスライド室の基板キャリアスライド方向に、上記複数の滞在軌道のうち1又は2以上の滞在軌道が待避できる逃げ代を設けた構成とした。 According to a vacuum processing apparatus of the present invention, a vacuum processing chamber for vacuum processing a substrate, a substrate carrier for mounting and transporting the substrate, and the substrate on the atmosphere side and the vacuum side are provided. In a vacuum processing apparatus having a spare chamber for carrying in and out, the plurality of spare chambers are provided, and the substrate carrier is carried into and out of the spare chamber or the vacuum processing chamber between the spare chamber and the vacuum processing chamber. A substrate carrier slide chamber is provided, and the substrate carrier slide chamber has a plurality of staying tracks for staying the substrate carrier, and the substrate carriers are carried into and out of the preliminary chambers or the vacuum processing chambers. comprising a position control mechanism for controlling the position, the substrate carrier sliding direction of the substrate carrier slide chamber, one or more stay track among the plurality of stay trajectories can be retracted Has a structure in which a lower cost.
請求項2に記載の真空処理装置は、上記基板キャリアスライド室内の滞在軌道の数を2とすると共に、上記予備室の数を2とした構成とした。 The vacuum processing apparatus according to claim 2 has a configuration in which the number of staying tracks in the substrate carrier slide chamber is two and the number of spare chambers is two.
請求項3に記載の真空処理装置は、上記基板キャリアスライド室内の2以上の滞在軌道は、それぞれ独立に位置制御が可能とされている構成とした。 The vacuum processing apparatus according to claim 3 is configured such that the position of two or more staying trajectories in the substrate carrier slide chamber can be independently controlled.
請求項4に記載の真空処理装置は、上記位置制御機構は、ボールネジとこのボールネジの回転駆動モータと直動ガイドとを有し、上記滞在軌道は、前記直動ガイドに沿って、前記ボールネジの回転によって位置制御される構成とした。 The vacuum processing apparatus according to claim 4 , wherein the position control mechanism includes a ball screw, a rotation drive motor for the ball screw, and a linear motion guide, and the staying track extends along the linear motion guide along the linear motion guide. The position is controlled by rotation.
請求項5に記載の真空処理装置は、上記基板キャリアスライド室内の基板キャリアの滞在軌道は、1対のレールで構成される。 According to a fifth aspect of the present invention, the staying trajectory of the substrate carrier in the substrate carrier slide chamber is constituted by a pair of rails.
請求項6に記載の真空処理装置は、上記真空処理装置は、基板を略直立させた状態で真空処理を行う縦型方式である構成とした。 The vacuum processing apparatus according to claim 6 is configured such that the vacuum processing apparatus is of a vertical type that performs vacuum processing in a state where the substrate is substantially upright.
本発明の真空処理装置は、上述のように構成したために、以下のような優れた効果を有する。
(1)請求項1に記載したように構成すると、真空排気に長時間を有しても、真空処理室でブランクタイムが生じるという事態を回避でき、生産効率を向上することができる。
Since the vacuum processing apparatus of the present invention is configured as described above, it has the following excellent effects.
(1) With the configuration described in claim 1, even if the evacuation has a long time, a situation in which a blank time occurs in the vacuum processing chamber can be avoided, and the production efficiency can be improved.
(2)請求項2に記載したように構成すると、基板キャリアスライド室内に2つの基板キャリアが滞在可能であるとともに、滞在軌道を2に限定することにより、基板キャリアスライド室内に設ける滞在軌道の逃げ代分を1軌道分のみとすることができるので、基板キャリアスライド室の大きさも小さくすることが可能になる。 (2) With the configuration as described in claim 2, with two substrate carrier to the substrate carrier slide chamber can be stayed by limiting the stay orbit 2, relief stay track provided on the substrate carrier slide chamber Since the cost can be limited to one track, the size of the substrate carrier slide chamber can be reduced.
(3)請求項3に記載したように構成すると、タクトタイムを短くすることができ、基板の真空処理の生産効率を向上することができる。 (3) If it comprises as described in Claim 3 , a tact time can be shortened and the production efficiency of the vacuum processing of a board | substrate can be improved.
(4)請求項4に記載したように構成すると、簡単な構成の基板キャリアの滞在軌道の位置制御装置とすることができる。 (4) When configured as described in claim 4 , a position control device for the staying trajectory of the substrate carrier having a simple configuration can be provided.
(5)請求項5に記載したように構成すると、基板キャリアを安定して滞在させることができる。 (5) If comprised as described in Claim 5 , a board | substrate carrier can be made to stay stably.
(6)請求項6に記載したように構成すると、大型基板に容易に対応可能となり、真空処理装置の設置スペースを削減することができる。 (6) If it comprises as described in Claim 6 , it will become possible to respond | correspond easily to a large sized substrate and the installation space of a vacuum processing apparatus can be reduced.
以下、本発明の真空処理装置の第1及び第2の各実施の形態を図1乃至図7を用いて、順次説明する。
第1の実施の形態:
先ず、本発明の真空処理装置の第1の実施の形態を図1及び図2を用いて説明する。
図1は、本実施の形態の真空処理装置の構成を示す平面図である。
図2は、本実施の形態の真空処理装置に用いる基板キャリアスライド室の構成を示す平面図である。
Hereinafter, first and second embodiments of the vacuum processing apparatus of the present invention will be sequentially described with reference to FIGS.
First embodiment:
First, a first embodiment of the vacuum processing apparatus of the present invention will be described with reference to FIGS.
FIG. 1 is a plan view showing the configuration of the vacuum processing apparatus of the present embodiment.
FIG. 2 is a plan view showing the configuration of the substrate carrier slide chamber used in the vacuum processing apparatus of the present embodiment.
図1に示すように、本実施の形態の真空処理装置10は、基板着脱室110、複数(図示のものでは3)の真空処理室130、132、134と、基板キャリアスライド室20、及び、基板を大気側と真空側間とで搬入、搬出する複数(図示のものは2)の予備室120A、120Bとを備えている。
As shown in FIG. 1, the
同図において、150は真空排気装置である。
また、説明の便宜上、基板キャリアの図示は省略している。
なお、基板を、大気側と真空側とに搬入、搬出する予備室120A、120Bについては、従来技術で説明した場合と同様に、以下、単に「予備室」、「ロード/アンロード室」、簡単に「L/UL室」という場合がある。
In the figure,
For convenience of explanation, illustration of the substrate carrier is omitted.
The
また、各真空処理室130、132、134内には、基板キャリア12が下流側に搬送される往路となる第1の搬送経路160と、上流側に搬送される復路となる第2の搬送経路162の2つの搬送経路が設けられている。
更に、従来の真空処理装置100は、最後部(図中右端)の第3の真空処理室164が、基板キャリア12を往路160から復路162に、この2つの搬送経路160、162に対して横方向に移動させて移載する移載機構(図示せず)を備えている。
Further, in each of the
Further, in the conventional
従って、本発明の真空処理装置10の基本構成は、上述した従来の真空処理装置100とほぼ同様であり、ロード/アンロード室(L/UL室)120A、120Bと真空処理室130、132、134間に、基板キャリアスライド室20を設け、L/UL室を複数(図示のものは2)の120A、120Bにした点に構成上の特徴を備えている。
従って、以下、基板キャリアスライド室20を中心に説明する。
Therefore, the basic configuration of the
Accordingly, the following description will focus on the substrate
上述したように、一般に、L/UL室では、基板キャリアの搬入搬出の他に、真空排気と大気圧開放が行われ、L/UL室におけるこの作業時間が各真空処理室における真空処理に要する加工時間よりも大幅に長い場合は、L/UL室が単数の場合は、基板キャリアの真空処理室への仕込みに手間取り、各真空処理室では真空処理が行えないブランクタイムが生じ、生産効率が低下するという問題が生じる。 As described above, in general, in the L / UL chamber, in addition to loading and unloading of the substrate carrier, evacuation and atmospheric pressure release are performed, and this working time in the L / UL chamber is required for vacuum processing in each vacuum processing chamber. If it is much longer than the processing time, if there is a single L / UL chamber, it takes time to prepare the substrate carrier in the vacuum processing chamber, resulting in a blank time during which vacuum processing cannot be performed in each vacuum processing chamber. The problem of deteriorating arises.
そこで、本実施の形態の真空処理装置10では、図1に示すように、L/UL室120A、120Bを複数(図示のものは2)のものとし、真空処理室130、132、134に搬出入される基板キャリア12、及び、L/UL室120A、120Bに搬出入される基板キャリア12を一時的に滞在させる、基板キャリアスライド室20を、L/UL室120A、120Bと真空処理室130、132、134の間に設置し、基板キャリア12を搬出入するL/UL室120A、120Bを利用状況に合わせて適宜選択できるようにすることにより、上記ブランクタイムを解消し、生産効率の向上を図る。
なお、基板キャリアスライド室20は、真空処理装置10稼働中は、常時、高真空に保持されている。
Therefore, in the
The substrate
次に、この基板キャリアスライド室20の構成について、図2を用いて説明する。
図2は、基板キャリアスライド室20の構成を示す平面図である。
基板キャリアスライド室20には、L/UL室120A、120Bから搬出入され、或いは、真空処理室130、132、134から搬出入される基板キャリア12を一時的に滞在させる滞在軌道として多数対(図示のものでは4)のレール22A〜22Dと、このレール22A〜22Dを第1の真空処理室130やL/UL室120A、120Bの搬出ポジションに制御する位置制御機構を備えている。
Next, the configuration of the substrate
FIG. 2 is a plan view showing the configuration of the substrate
A large number of pairs of staying trajectories for temporarily staying the
また、位置制御機構は、多数対のレール22A〜22Dをスライドさせるボールネジ24と、このボールネジ24の回転駆動モータ(図示せず)と、レール22A〜22Dの平行移動を保持する直動ガイド26とを備えた構成である。
The position control mechanism includes a
この構成で、基板キャリアスライド室20では、多数のレール22A〜22Dは、直動ガイド26に沿って、ボールネジ24の推力でL/UL室120A、120Bや第1の真空処理室130の各搬出入ポジションにスライドされ、基板キャリア12が搬出入される。
また、単一のボールネジ24により、各レール22A〜22Dは一定の間隙を保ったまま並行にスライドされる。
多数対のレール22A〜22Dには、多数(図示のものは最大4)の基板キャリア12が滞在可能であり、L/UL室120A、120Bが複数ある場合でも、対応が可能で、生産性の効率化が可能である。
With this configuration, in the substrate
In addition, the rails 22 </ b> A to 22 </ b> D are slid in parallel while maintaining a certain gap by a
Many pairs of
次に、本実施の形態の真空処理装置10の基本動作を図1及び図2を用いて、簡単に説明する。
基板着脱室110で、基板キャリア12に図示しない基板を載置すると、この基板キャリア12は、L/UL室120A、120Bのいずれかに搬入され、このいずれかのL/UL室120A、120Bが真空排気され、高真空化された後に、基板キャリアスライド室20に搬出される。
Next, the basic operation of the
When a substrate (not shown) is placed on the
次に、基板キャリア12は、基板キャリアスライド室20内の位置制御機構により、基板キャリア12の搬入位置から第1の真空処理室130の入室ポジションまで移送され、第1の真空処理室130内に用意されている、往路となる第1の搬送経路160に搬出される。
基板キャリア12は、往路160を搬送されながら、第1乃至第3の真空処理室130、132、134において、載置された基板が加熱や成膜等の真空処理が施される。
Next, the
The
第3の真空処理室134で基板が真空処理された後は、基板キャリア12は復路となる第2の搬送経路162に、図示しない移載機構により移載され、第3乃至第1の真空処理室134、132、130においてそれぞれ成膜等の真空処理がなされて、基板キャリアスライド室20に戻される。
基板キャリア12は、L/UL室120A、120Bを選択して、位置制御機構により選択したL/UL室120A、120Bのポジションに位置制御され、に退出し、大気解放後、基板着脱室110で基板が取り外される。
After the substrate is vacuum-processed in the third
The
従って、本実施の形態の形態の真空処理装置10では、基板キャリアスライド室20を設けるとともに、この基板キャリアスライド室20に多数の滞在軌道であるレール22A〜22Dと位置制御機構24、26を具備することにより、L/UL室を複数120A、120Bにでき、多数の基板キャリア12を滞在可能にできるため、真空処理室130、132、134におけるブランクタイムの発生を抑えることができ、生産効率を向上させることができる。
Therefore, in the
第1の実施の形態の課題
本発明の真空処理装置の第2の実施の形態の説明の前に、上記した第1の実施の形態の問題点を説明する。
ところで、液晶ディスプレイ、プラズマディスプレイの大型化に伴い、真空処理する基板が大型化する場合の問題点を、図3及び図4を用いて説明する。
図3及び図4は、基板が大型化した場合の問題点を説明するための平面図である。
Problems of First Embodiment Prior to the description of the second embodiment of the vacuum processing apparatus of the present invention, the problems of the first embodiment described above will be described.
By the way, the problem in the case where the substrate to be vacuum-processed becomes larger as the liquid crystal display and the plasma display become larger will be described with reference to FIGS.
3 and 4 are plan views for explaining problems when the substrate is enlarged.
図2に示した第1の実施の形態の真空処理装置に用いる基板キャリアスライド室20では、多数対のレール22A〜22Dを有していたために、例えば、図3に示すように、図中最下端のレール22Dが上側のL/UL室120Aに基板キャリア12を搬出入させる場合、多数対(図示のものでは3対)分のレール22A〜Cの逃げ代を確保しなければならないことになる。
同様に、図4に示すように、図中最上端のレール22Aが下側のL/UL室120Bに基板キャリア12を搬出入させる場合、多数対(図示のものでは3対)分のレール22B〜Dの逃げ代を確保しなければならない。
これは、基板キャリアスライド室20内に多数の基板キャリア12を滞在させることが可能であり、ブランクタイムを少なくし、生産効率の向上に対しては非常に有利であった。
Since the substrate
Similarly, as shown in FIG. 4, when the
This makes it possible to allow a large number of
しかし、近年、基板の大型化が加速しており、例えば、2、3m級或いはそれ以上の特大の基板では、この基板キャリアスライド室20自体が巨大化し、真空処理装置の設置スペースが過大になるという問題が生じる。
また、基板キャリアスライド室20が余りに巨大化すると、基板キャリアスライド室20の製作や搬送が不能になって、真空処理装置10そのものの製作や設置に障害が発生するという虞を有している。
However, in recent years, the increase in size of the substrate has been accelerated. For example, in the case of an extra large substrate of 2, 3 m class or more, the substrate
In addition, if the substrate
また、第1の実施の形態の基板キャリアスライド室20では、各レール22A〜22Dが単一のボールネジ24によって、同時に並行してポジションが制御されていたために、レール22A〜22D上に滞在させておいた複数の基板キャリア12について、ひとつひとつ位置制御するため、複数の同時位置制御ができないため、タクトタイムが長くなるという問題も備えている。
In the substrate
第2の実施の形態
以上の事情を踏まえて、次に、本発明の真空処理装置の第2の実施の形態について、図5乃至図7を用いて説明する。
図5は、本発明の真空処理装置の基板キャリアスライド室の基本構成を示す平面図である。
図6及び図7は、本発明の真空処理装置の基板キャリアスライド室の基本動作を説明する平面図である。
Second Embodiment Based on the above circumstances, a second embodiment of the vacuum processing apparatus of the present invention will be described with reference to FIGS.
FIG. 5 is a plan view showing the basic configuration of the substrate carrier slide chamber of the vacuum processing apparatus of the present invention.
6 and 7 are plan views for explaining the basic operation of the substrate carrier slide chamber of the vacuum processing apparatus of the present invention.
なお、本実施の形態の真空処理装置の基本構成は、図1に示す第1の実施の形態のものと基板キャリアスライド室以外では同一の構成を用いるので、以下、基板キャリアスライド室を中心に説明する。 The basic configuration of the vacuum processing apparatus of this embodiment is the same as that of the first embodiment shown in FIG. 1 except for the substrate carrier slide chamber. explain.
先ず、図5を用いて、本実施の形態の基板キャリアスライド室30の基本構成を説明する。
前記基板キャリアスライド室の主要構成30は、基板キャリア12を滞在させる滞在軌道として、2対のレール32A、32Bと、この2対のレール32A、32Bを、それぞれ独立に、L/UL室120A、120B、又は、真空処理室130に、基板キャリア12を搬出入するポジションに制御する位置制御機構を備えている。
First, the basic configuration of the substrate
The
また、この位置制御機構は、2つのボールネジ34A、34Bとこのボールネジ34A、34Bの回転駆動モータ(図示せず)と、直動ガイド40とを有し、2対のレール32A、32Bは、直動ガイド40に沿って、ボールネジ34A、34Bをそれぞれ独立に回転制御することによって、それぞれ独立に位置制御される。
The position control mechanism includes two
このように構成すると、図6に示すように、図中、上側のレール32Aが下側のL/UL室120Bの基板キャリア12の搬出入ポジションに位置制御される場合でも、基板キャリアスライド室30のレール32Bの逃げ代は1レール分だけで済む。
同様に、図7に示すように、図中、下側のレール32Bが上側のL/UL室120Aの基板キャリア12の搬出入ポジションに位置制御される場合でも、基板キャリアスライド室30のレール32Aの逃げ代は1レール分だけで済む。
With this configuration, as shown in FIG. 6, even when the
Similarly, as shown in FIG. 7, even when the
従って、真空処理される基板が特大化した場合でも、基板キャリアスライド室30自体の巨大化を極力抑えることができ、設置箇所の省スペース化、そして、基板キャリアスライド室30の製作、搬送が非常に困難になるという上記した問題を回避することができる。
Therefore, even when the substrate to be vacuum processed is oversized, the enlargement of the substrate
また、本実施の形態の基板キャリアスライド室30では、2対のレール32A、32Bをそれぞれのボールネジ34A、34Bにより、独立に位置制御可能としているために、例えば、図1に示すように、一方のレール32Bを真空処理室130の搬入ポジションに位置制御し、他方のレール32Aは、それとは独立に、上側のL/UL室120Aの搬出ポジションに位置制御するといったことが可能になる。
In the substrate
これにより、第1の実施の形態では、1つの基板キャリア12の搬出入の度に、多数のレール22A〜22D全体をスライドさせていたが(図2参照)、本実施の形態によれば、基板の真空処理のロスタイムが削減できるので、タクトタイムを短くすることができ、生産効率が向上する。
Thus, in the first embodiment, the entire number of
即ち、本実施の形態の発明の特徴は、基板キャリアスライド室30のレール32A、32Bを最小限の2対に限定することにより、基板キャリアスライド室30内には2つの基板キャリア12が滞在可能であり、基板の成膜処理効率の低減を抑えるとともに、基板キャリアスライド室30自体の省スペース化を図るものである。
That is, the invention according to the present embodiment is characterized in that two
本発明の真空処理装置は上記実施の形態に限定されず、種々の変更が可能である。
例えば、上記実施の形態の真空処理装置では、図1に示す第3の真空処理室で基板が往路から復路に移載されて帰還するタイプのもので説明したが、本発明の特徴は、基板キャリアスライド室であり、この基板キャリアスライド室が利用できる総ての真空処理装置に適用できるのは勿論のことである。
The vacuum processing apparatus of the present invention is not limited to the above embodiment, and various modifications are possible.
For example, in the vacuum processing apparatus of the above embodiment, the substrate is described as a type in which the substrate is transferred from the forward path to the return path and returned in the third vacuum processing chamber shown in FIG. Needless to say, this is a carrier slide chamber and can be applied to all vacuum processing apparatuses that can use this substrate carrier slide chamber.
また、レールの独立位置制御機構としては、2本のボールネジと直動ガイドでレール位置を制御する例で説明したが、これを他の位置制御機構に置き換えても良い。
更に、基板キャリアスライド室の滞在軌道については、2本のレールの例で説明したが、これに限定されず他の構成の軌道、例えば単一のレールを用いたものなどを用いても何ら支障はない。
The rail independent position control mechanism has been described with reference to an example in which the rail position is controlled by two ball screws and a linear guide, but this may be replaced with another position control mechanism.
Furthermore, although the stay track of the substrate carrier slide chamber has been described with the example of two rails, the present invention is not limited to this, and there is no problem even if a track with another configuration, for example, a single rail is used. There is no.
10:真空処理装置
12:基板キャリア
20、30:基板キャリアスライド室
22A〜22D:レール(滞在軌道)
32A〜32D:レール(滞在軌道)
24、34A、34B:ボールネジ
26、40:直動ガイド
120A、120B:L/UL室(予備室)
130、132、134:真空処理室
10: Vacuum processing equipment
12: Substrate carrier
20, 30: Substrate
32A-32D: Rail (stay track)
24, 34A, 34B: Ball screw
26, 40:
130, 132, 134: Vacuum processing chamber
Claims (6)
前記予備室を複数とし、かつ、前記予備室と前記真空処理室間に、前記予備室又は前記真空処理室に前記基板キャリアを搬出入させる基板キャリアスライド室を設けるとともに、この基板キャリアスライド室は、前記基板キャリアを滞在させる複数の滞在軌道を有し、この各滞在軌道を前記各予備室又は前記真空処理室に基板キャリアを搬出入する位置に制御する位置制御機構を備え、上記基板キャリアスライド室の基板キャリアスライド方向に、上記複数の滞在軌道のうち1又は2以上の滞在軌道が待避できる逃げ代を設けたことを特徴とする真空処理装置。 In a vacuum processing apparatus comprising a vacuum processing chamber for vacuum processing a substrate, a substrate carrier for placing and transporting the substrate, and a preliminary chamber for transporting the substrate to and from the atmosphere side and the vacuum side,
A plurality of the reserve chambers are provided, and a substrate carrier slide chamber for carrying the substrate carrier in and out of the reserve chamber or the vacuum processing chamber is provided between the reserve chamber and the vacuum processing chamber. A plurality of staying tracks for staying the substrate carrier, and a position control mechanism for controlling each staying track to a position where the substrate carrier is carried into and out of each of the preliminary chambers or the vacuum processing chamber, and the substrate carrier slide A vacuum processing apparatus characterized in that an escape allowance is provided in the chamber carrier slide direction of the chamber so that one or more of the plurality of stay tracks can be saved.
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