JP4747208B2 - 電磁界計測装置および方法 - Google Patents

Description

本発明は、電子機器から放射される電磁波ノイズにより生じる電磁界を計測する、電磁界計測センサを備えた電磁界計測装置および方法とに関する。

従来、電磁界計測センサは、電磁波ノイズを放射する電子機器のＥＭＩ（Ｅｌｅｃｔｒｏ Ｍａｇｎｅｔｉｃ Ｉｎｔｅｒｆｅｒｅｎｃｅ）対策において、電子機器の導体表面の極めて近傍に存在する電磁界を計測するようになっている。電磁界計測センサは、導体表面上の各位置での電界と磁界とを計測し、導体表面全体の電界分布及び磁界分布を求めることで、ノイズの放射源となる場所を可視化する。一般にノイズの放射源とは、波源、伝搬経路、アンテナとして機能している場所であり、その場所を特定することでノイズ対策の効率化を計っている。

図１０に電子機器のプリント回路板１での電磁界成分を示す。プリント回路板１の電界は垂直方向成分が支配的であり、Ｅｚ（Ｖ／ｍ）で表すことができる。この電界成分Ｅｚを計測することで高インピーダンスとなる放射源を検出することができる。また、プリント回路板１の磁界は水平方向が支配的であり、互いに直行する２つの成分Ｈｘ、Ｈｙ（Ａ／ｍ）で表すことができる。この２つの磁界成分Ｈｘ、Ｈｙを計測することで、低インピーダンスな放射源を検出することができる。すなわち、プリント回路板１における放射源は、これらの３つの成分Ｅｚ、Ｈｘ、Ｈｙ（電磁界３成分）を計測することが要求される。

従来から、これら電磁界３成分Ｅｚ、Ｈｘ、Ｈｙは、それぞれの成分に対応したセンサにより計測されてきた。電界センサとしては、モノポールアンテナ型センサが一般的に知られている。モノポールアンテナ型センサにより、垂直方向の電界成分Ｅｚを計測することができる。また、磁界センサとしてはループアンテナ型センサが知られている。ループアンテナ型センサにより、ループと垂直な方向の磁界成分Ｈｘ（又は、Ｈｙ）を計測することができる。残りの磁界成分Ｈｙ（又は、Ｈｘ）は、ループアンテナ型センサをプリント回路板１に垂直な方向を軸に９０度回転させることで計測していた。すなわち、モノポールアンテナ型センサによる電界の計測と、ループアンテナ型センサの磁界の計測は、別々に行なうのが一般的であった。

これに対して特許文献１には、電界と磁界を同時に計測する電磁界センサが記載されている。特許文献１に記載されている電磁界センサ１０を図１１に示す。図１１において、１２、１３は平行に配置された同軸ケーブルであり、それぞれ接続コネクタ１４、１５に接続されている。同軸ケーブル１２、１３の接続コネクタ１４、１５とは逆側の端部は、同軸ケーブルの内部導体からなるループアンテナ１１により、お互いが接続されている。同軸ケーブル１２、１３を流れる電流値をそれぞれ検出し、その検出値を演算する事で、電界によって生じる電流と磁界によって生じる電流とを分離している。これにより、電界成分Ｅｚと磁界成分Ｈｘ（又は、Ｈｙ）の２つの成分を同時に計測している。

また、残りの磁界成分Ｈｙ（又は、Ｈｘ）は、ループアンテナ型センサ１１を、プリント回路板１に垂直な方向を軸に９０度回転させることで計測している。

特開２０００−２０６１６３号公報

近年、電子機器の高機能化により、ＥＭＩの主な原因となる放射電磁波ノイズが、定常的、周期的なノイズから時間的に変化するノイズへと変化してきている。時間的に変化するノイズとは、可動部やデータ通信など機器の動作状態によって変化するノイズのことである。これに伴い計測すべき電磁界も、定常的、周期的な電磁界から時間的に変動する電磁界へと変わってきている。すなわち、動作状態と同期して時間的に変化する電界と磁界との関係や、電流の強度や電流の向きなどを観測するためには、電磁界計測センサによる、電磁界３成分の同時計測が必要である。

しかし、（特許文献１）に記載の電磁界センサの場合、磁界２成分ＨｘとＨｙを同時に測定することができない。従って、電磁界センサが９０度回転している間に、電磁界が変化してしまい、時間的に変動する電磁界の様子を観測することができなかった。

本発明の目的は、電界１成分と磁界２成分とからなる電磁界３成分を、高感度でかつ同時に計測することのできる電磁界計測センサを備えた電磁界計測装置および方法を提供することにある。

本発明の電磁界計測センサは、板状導体及び前記板状導体に立設された少なくとも３本の柱状導体とからなる電磁界計測センサと、前記柱状導体に誘起される電流を独立して検出する測定器と、前記測定機による測定した各電流値を演算する演算機とを有し、前記演算機は、前記測定器により各測定値を演算し、前記板状導体により励起される電流と、前記板状導体と前記柱状導体の任意の２本とにより形成されるループにより励起される電流とを分離して算出することを特徴としている。

また本発明の電磁界計測方法は、板状導体及び前記板状導体に立設された少なくとも３本の柱状導体とからなる電磁界計測センサを、前記電子機器の近傍に配置し、柱状導体に誘起される電流を独立して検出し、前記測定機により測定した各電流値から、前記板状導体により励起される電流と、前記板状導体と前記柱状導体の任意の２本とにより形成されるループにより励起される電流とを分離して算出することで、前記電子機器から放出される電界と磁界を独立して算出することを特徴としている。

本発明の電磁界計測装置は、板状導体に立設された少なくとも３本の柱状導体を備えているので、電界１成分と磁界２成分とからなる電磁界３成分を高感度かつ同時に計測することができる。これにより、電子機器の動作状態と同期して変化する電界と磁界との関係や、基板上を流れる電流の強度や向きなどを正確に観測することができ、放射電磁波ノイズの放射源となる場所を可視化し、ノイズ対策を効率的に行うことができる。

第１の実施の形態の電磁界計測装置を示す模式図 第１の実施の形態の電界に誘導される電流の流れを説明するため模式図 第１の実施の形態の磁界に誘導される電流の流れを説明するため模式図 実施例１における実験装置の概略図 実施例１における電磁界計測センサの測定結果を示すグラフ 実施例１における電磁界計測センサの測定結果を示すグラフ 実施例２における電磁界計測センサのシミュレーション結果を示すグラフ 第２の実施の形態の電磁界計測装置を示す模式図 第３の実施の形態の電磁界計測装置を示す模式図 導体表面の電磁界３成分の説明図 従来の電磁界計測センサを示す模式図

本発明の実施形態の電磁界計測センサを備えた電磁界計測装置を、図面に基づいて説明する。なお、以下の説明における数値や部品の材質は、本発明を理解し易くするために示したものであり、本発明を限定するものではない。

（第１の実施の形態）
図１は本発明の第１の実施の形態を示す概略図である。第１の実施の形態における電磁界計測装置１００は、電磁界計測センサ２、測定器３、演算機４及び表示機５を備えている。電磁界計測装置１００により計測対象である電子機器のプリント回路板１等から放射される電磁界を計測する。

電磁界計測センサ２は、円形の板状導体６と、この板状導体６の外周部に立設され、お互いが９０度回転対称の関係となる４本の柱状導体７ａ、７ｂ、７ｃ、７ｄとで構成されている。各柱状導体７ａ、７ｂ、７ｃ、７ｄは、板状導体６に対して垂直に立設されており、板状導体６に電気的に接続されている。また各柱状導体７ａ、７ｂ、７ｃ、７ｄの板状導体６と逆側の端部は、検出信号の出力端になっており、それぞれ測定器３ａ、３ｂ、３ｃ、３ｄに独立して接続されている。各測定器３ａ、３ｂ、３ｃ、３ｄでは、各柱状導体７ａ、７ｂ、７ｃ、７ｄに流れる電流量を、抵抗を利用することで電圧に変換して検出する。各測定器３ａ、３ｂ、３ｃ、３ｄは演算機４に接続されている。演算機では、各測定器３ａ、３ｂ、３ｃ、３ｄが検出した各電圧値から換算された電流量を演算し、プリント回路板１の各点での電界および磁界を求める。プリント回路板１の各点の値から、プリント回路板１の全面における電界分布と磁界分布を表示機５に表示する。

まず、電磁界計測センサ２による電界検出方法を、図２を用いて説明する。図２は、電磁界計測センサ２の斜視図である。図１に示すように、電磁界計測センサ２を電子機器のプリント回路版１の近傍に配置することにより、電子機器のプリント回路板１と板状導体６とが容量結合する。これにより電磁界計測センサ２の各柱状導体７ａ、７ｂ、７ｃ、７ｄには、容量結合の大きさに応じた電流が誘起される。すなわち、プリント回路板１における垂直方向の電界成分Ｅｚにより、各柱状導体７ａ、７ｂ、７ｃ、７ｄには、矢印で示す上方向に電流ＩＥｚが流れる。このときの容量結合は、板状導体６の面積に比例する。従って、容量結合に寄与する面積は、図１１に示した従来の電磁界センサにおけるループアンテナ３３の下側の面積よりも大きくすることが容易であり、電界検出の感度を向上させることができる。

次に、電磁界計測センサ２による、プリント回路板１における磁界２成分の内の１成分である磁界Ｈｘ１の検出方法を、図３（ａ）を用いて説明する。図３（ａ）は電磁界計測センサ２の斜視図である。板状導体６と柱状導体７ａ、７ｂで形成されるループＢと、板状導体６と柱状導体７ｃ、７ｄで形成されるループＣは、矢印で示す磁界Ｈｘ１と電磁結合することで電流が流れる。柱状導体７ｂ、７ｃには矢印で示す上方向に電流ＩＨｘ１が励起され、柱状導体７ａ、７ｄには矢印で示す下向きに電流ＩＨｘ１が励起される。

次に、電磁界計測センサ２による、プリント回路板１における磁界２成分の内の１成分であるＨｙ１の検出方法を、図３（ｂ）を用いて説明する。図３（ｂ）は電磁界計測センサ２の斜視図である。板状導体６と柱状導体７ａ、７ｄで形成されるループＤと、板状導体６と柱状導体７ｂ、７ｃで形成されるループＥは、矢印で示す磁界Ｈｙ１と電磁結合することで電流が流れる。柱状導体７ａ、７ｂには矢印で示す上方向に電流ＩＨｙ１が励起され、柱状導体７ｃ、７ｄには矢印で示す下向きに電流ＩＨｙ１が励起される。

さらに、電磁界計測センサ２は、図３（ｃ）に示した、板状導体６と柱状導体７ａ、７ｃで形成されるループＦと、板状導体６と柱状導体７ｂ、７ｄで形成されるループＧとを形成する。ループＦ、Ｇによって、磁界成分Ｈｘ１により各柱状導体の矢印で示した方向に、電流ＩＨｘ１が励起される。このときの電流ＩＨｘ１の向きは、図３（ａ）と等しく、ループＦ、Ｇによって、電流ＩＨｘ１は大きくなり磁界成分Ｈｘ１に対する感度を高めている。また、磁界成分Ｈｙ１に関しても同様に、ループＦ、Ｇによって、電流ＩＨｙ１は大きくなり感度を高めることができる。すなわち、ループＢ、Ｃ、Ｄ、Ｅのみでなく、ループＦ、Ｇも含めた多重ループを利用することで、磁界検出感度を高めている。

なお、板状導体７ａ、７ｂ、７ｃ、７ｄと柱状導体６に対して垂直に立設することで、形成されるループＢ乃至Ｇの面は板状導体６に対して垂直となる。これにより、板状導体６に対して垂直方向等の、磁界成分Ｈｘ１、Ｈｙ１以外の磁界成分の影響が少なくなるため、磁界検出感度は高まる。

前述の容量結合および電磁結合により、各柱状導体７ａ、７ｂ、７ｃ、７ｄには、ＩＥｚ、ＩＨｘ１、ＩＨｙ１を合成した電流であるＩ１、Ｉ２、Ｉ３、Ｉ４が流れる。演算機４では、電流Ｉ１、Ｉ２、Ｉ３、Ｉ４を演算し、プリント回路板１に対して垂直方向の電界１成分及び水平方向の磁界２成分の強度を算出する。

各柱状導体７ａ、７ｂ、７ｃ、７ｄに流れる電流Ｉ１、Ｉ２、Ｉ３、Ｉ４は、（式１）、（式２）、（式３）、（式４）で表すことができる。
Ｉ１＝ＩＥｚ−ＩＨｘ１＋ＩＨｙ１ ・・・（式１）
Ｉ２＝ＩＥｚ＋ＩＨｘ１＋ＩＨｙ１ ・・・（式２）
Ｉ３＝ＩＥｚ＋ＩＨｘ１−ＩＨｙ１ ・・・（式３）
Ｉ４＝ＩＥｚ−ＩＨｘ１−ＩＨｙ１ ・・・（式４）
（式１）、（式２）、（式３）、（式４）から、電流ＩＥｚ、ＩＨｘ、ＩＨｙは（式５）、（式６）、（式７）で表すことができる。
ＩＥｚ＝（Ｉ１＋Ｉ２＋Ｉ３＋Ｉ４）／４ ・・・（式５）
ＩＨｘ１＝（−Ｉ１＋Ｉ２＋Ｉ３−Ｉ４）／４ ・・・（式６）
ＩＨｙ１＝（Ｉ１＋Ｉ２−Ｉ３−Ｉ４）／４ ・・・（式７）
なお、電流ＩＥｚ、ＩＨｘ１、ＩＨｙ１は、電界強度および磁界強度そのものではなく、電界強度および磁界強度の絶対値を求めるためには、柱状導体７ａ、７ｂ、７ｃ、７ｄや板状導体６の透磁率やループ面積を考慮して計算しなければならない。ただし、電界強度および磁界強度の絶対値は、電流ＩＥｚ、ＩＨｘ１、ＩＨｙ１に比例するため、プリント回路板１の電界分布および磁界分布を可視化するには、プリント回路板１の各点における相対値が分かれば良い。従って、本実施例では電流ＩＥｚ、ＩＨｘ１、ＩＨｙ１を検出するに留めている。

（実施例１）
図１に示した第１の実施の形態の電磁界計測装置１００を使って、電磁界計測の実験を行なった。図４は、その実験の様子を示す斜視図である。なお、図４において図１と同じ部材には同じ符号を付し、その説明は省略する。

図４において、柱状導体７ａ、７ｂ、７ｃ、７ｄは、板状導体６の円周を４等分する等間隔の位置に、板状導体６に対して垂直に立設されている。板状導体６は厚さ０．２ｍｍの円形の銅板であり、その直径は１５ｍｍである。柱状導体７ａ、７ｂ、７ｃ、７ｄには、外部導体の直径が２．１９ｍｍ、内部導体の直径が０．５１ｍｍの銅製セミリジッド同軸ケーブルを使用した。柱状導体７ａ、７ｂ、７ｃ、７ｄの長さは１００ｍｍであり、板状導体６に接続される端部の先端から５ｍｍの部分までは、内部導体が剥き出しになっている。測定器３、演算機４、表示機５はオシロスコープ３２を用い、演算処理はオシロスコープ３２の演算機能を用いて行った。

計測対象として、プリント回路板１に設けられた、終端された長さ３００ｍｍ、幅３ｍｍ、厚さ１．６ｍｍのマイクロストリップライン２０を用いた。マイクロストリップライン２０の幅方向をｘ、長さ方向をｙ、高さ方向をｚとする。ファンクションジェネレータ３１から、プリント回路板１の大きさに対して５／４波長共振となる６２５ＭＨｚの正弦波（０ｄＢｍ）を入力した。

マイクロストリップライン２０から、高さ１０ｍｍの位置に電磁界計測センサ２の板状導体６を配置し、マイクロストリップライン２０に沿ってｙ方向に走査させて電磁界を計測した。電磁界計測センサ２の向きは、マイクロストリップライン２０の中心線が柱状導体７ａ、７ｂの間、柱状導体７ｃ、７ｄの間を通るように配置した。オシロスコープ３２によって検出した、各柱状導体７ａ、７ｂ、７ｃ、７ｄに流れる電流Ｉ１、Ｉ２、Ｉ３、Ｉ４を、前述の（式１）乃至（式７）に従ってオシロスコープ３２の演算機能により演算し、各走査位置での電流ＩＥｚ、ＩＨｘ１、ＩＨｙ１を算出した。その結果を図５に示す。

図５の横軸は、マイクロストリップライン２０の長さ方向の位置である。３００ｍｍのマイクロストリップラインの長さ方向における中央を０としているため、−１５０ｍｍから１５０ｍｍとなっている。縦軸は各電磁界成分に対応した出力電圧である。図５からわかるように、各走査位置での電磁界の各成分Ｅｚ、Ｈｘ１、Ｈｙ１は、入力した５／４波長共振となる信号の特性を正確に表している。すなわち、マイクロストリップライン２０に発生する５／４波長の定在波に対応した電磁界成分を表している。

次に、図５において磁界Ｈｘ１が腹となる５０ｍｍの位置において、電磁界計測センサ２を板状導体６の垂直方向を軸として回転させた。その時の計測結果を図６に示す。図６より垂直方向電界１成分Ｅｚの水平方向の指向性がほぼ平坦であることがわかる。また磁界成分Ｈｘ１、Ｈｙ１は、電磁界計測センサ２を回転させることで周期的に変化する。従って、計測した磁界２成分Ｈｘ１、Ｈｙ１のベクトルを合成すれば、電磁界計測センサ２の回転角にかかわらず、一定の値を計測することが可能である。すなわち、電磁界計測センサ２に対して、どの方向の磁界成分が支配的であっても、等しい感度で計測することが可能である。なお、全ての方向の電界、磁界成分でも等しい感度で計測するためには、板状導体６は円形が最適であり、柱状導体７ａ、７ｂ、７ｃ、７ｄはできるだけ細い導体とすることが好ましい。

（実施例２）
本実施の形態における電磁界センサと、図１１に示した従来の電磁界センサの性能を比較するため、電磁界シミュレーションを行なった。シミュレーションモデルは、実施例１の図４で示した電磁界計測装置１００と同様である。ただし、マイクロストリップライン２０の長さは２００ｍｍである。ファンクションジェネレータ３１から、プリント回路板１の大きさに対して１／４波長共振する１９３ＭＨｚの正弦波を入力した。なお図１１に示した従来の電磁界センサのモデルは、磁界検出部であるループの面積が等しくなるように作成した。

本実施の形態における電磁界センサと従来の電磁界センサのシミュレーション結果を図７に示す。なお、図７の横軸は、マイクロストリップライン２０の長さ方向の位置である。２００ｍｍのマイクロストリップライン２０の長さ方向における中央を０としているため、−１００ｍｍから１００ｍｍとなっている。縦軸は各電磁界成分に対応した出力電圧である。磁界に関する測定結果は、マイクロストリップライン２０の長さ方向に垂直な方向（ｘ方向）の磁界のみを表示している。

図７から分かるように、マイクロストリップライン２０の各位置における磁界検出感度は、本実施の形態における電磁界センサの方が、最大で３．４ｄＢ高いことがわかる。これは、図３（ｃ）に示した多重ループの影響によるものである。また電界検出感度は、本実施の形態における電磁界センサの方が、最大で３．７ｄＢ高いことがわかる。これは、電界の検出部である板状導体６が、従来のループ型センサ３２（図１１）よりも大きいため、電界検出感度が向上している。

（第２の実施の形態）
図８は本発明の第２の実施の形態の電磁界計測装置１０２を示す概略図である。図８において図１と同じ部材には同じ符号を付し、その説明は省略する。図８に示す電磁界計測センサ２４は、第１の実施の形態の電磁界計測センサ２と比較して、柱状導体の数を３本とした構成となっている。この場合においても電磁界３成分の同時に計測することができる。

各柱状導体７ａ、７ｂ、７ｃに、電磁界により電流ＩＥｚ、ＩＨｘ１、ＩＨｙ１が誘起され、電流Ｉ１、Ｉ２、Ｉ３が流れる。電流値Ｉ１、Ｉ２、Ｉ３は（式８）、（式９）、（式１０）で表すことができる。

（式８）、（式９）、（式１０）から、電流ＩＥｚ、ＩＨｘ、ＩＨｙは（式１１）、（式１２）、（式１３）で表すことができる。
ＩＥｚ＝（Ｉ１＋Ｉ２＋Ｉ３） ・・・（式１１）
ＩＨｘ１＝（−Ｉ１＋２Ｉ２−Ｉ３） ・・・（式１２）
ＩＨｙ１＝（Ｉ１−Ｉ３） ・・・（式１３）
柱状導体の数が３本の場合、図１に示した柱状導体の数が４本の場合に比べて、磁界を検出するループの数が減少するため磁界検出感度は低下する。しかしながら柱状導体および測定器３が３個で良いため、小型化およびコストを削減することが可能となる。

（第３の実施の形態）
図９は本発明の第３の実施の形態の電磁界計測装置１０４を示す概略図である。図９において図１と同じ部材には同じ符号を付し、その説明は省略する。図９に示す電磁界計測センサ２６は、第１の実施の形態の電磁界計測センサ２と比較して、４本の柱状導体７ａ、７ｂ、７ｃ、７ｄが外側に向けて傾斜している。

板状導体６に対して柱状導体７ａ、７ｂ、７ｃ、７ｄを傾けることにより、各柱状導体と板状導体から形成されるループ面の面積が大きくなり、磁界の検出感度が向上する。

なお、柱状導体の数は３本以上で有れば何本でもかまわない。各柱状導体が等間隔に配置されていれば、磁界の方向に関わらず磁界強度を正確に計測することができる。柱状導体の数が多いと、磁界を検出するループの数も多くなり磁界の検出感度は高まる。しかしながら、磁界強度および測定器３の数を柱状導体の数に応じて設ける必要があり、装置が大型化しコストも高くなる。従って、柱状導体の本数は、計測する電子機器や、計測の目的に応じて決定するのが好ましい。

また、板状導体６は必ずしも円形である必要はなく、正方形や長方形とし、その４隅に柱状導体７ａ、７ｂ、７ｃ、７ｄを配置する形態であっても良い。ただし長方形の場合は、長辺と短辺で磁界を検出するループの大きさが異なるため、同じ磁界強度であっても、検出する磁界の向きによって測定結果が異なってしまう。従って、予めある方向の磁界の感度を強調したい場合には有効である。

１ プリント回路板
２、２４、２６ 電磁界計測センサ
３ａ、３ｂ、３ｃ、３ｄ 測定器
４ 演算機
５ 表示機
６ 板状導体
７ａ、７ｂ、７ｃ、７ｄ 柱状導体
２０ マイクロストリップライン
２１ ファンクションジェネレータ
２２ オシロスコープ
１００、１０２、１０４ 電磁界計測装置

Claims (7)

1. 電子機器から放出される電界と磁界とを計測する電磁界計測装置において、
   板状導体及び前記板状導体に立設された少なくとも３本の柱状導体とからなる電磁界計測センサと、前記柱状導体に誘起される電流を独立して検出する測定器と、前記測定機による測定した各電流値を演算する演算機とを有し、
   前記演算機は、前記測定器により各測定値を演算し、前記板状導体により励起される電流と、前記板状導体と前記柱状導体の任意の２本とにより形成されるループにより励起される電流とを分離して算出することを特徴とする電磁界計測装置。
2. 前記板状導体は円形であり、前記柱状部材はお互いが９０度回転対称の位置に４本設けられていることを特徴とする請求項１に記載の電磁界計測装置。
3. 前記柱状導体は、前記板状導体に対して垂直に立設されていることを特徴とする請求項１または２に記載の電磁界計測装置。
4. 前記柱状導体は、前記板状導体の外周部に等間隔に立設されていることを特徴とする請求項１乃至３のいずれか１つに記載の電磁界計測装置。
5. 前記電磁界計測装置にはさらに、前記演算機により算出した結果を表示する表示機が設けられており、電子機器の各測定点における演算値から、前記電子機器から放出される電界の強度分布および磁界の強度分布を表示することを特徴とする請求項１乃至４に記載の電磁界計測装置。
6. 電子機器から放出される電界と磁界とを計測する電磁界計測方法において、
   板状導体及び前記板状導体に立設された少なくとも３本の柱状導体とからなる電磁界計測センサを、前記電子機器の近傍に配置し、柱状導体に誘起される電流を独立して検出し、前記測定機により測定した各電流値から、前記板状導体により励起される電流と、前記板状導体と前記柱状導体の任意の２本とにより形成されるループにより励起される電流とを分離して算出することで、前記電子機器から放出される電界と磁界を独立して算出すること特徴とする電磁界計測方法。
7. 前記電子機器の複数の位置において算出した、前記板状導体により励起される電流と、前記板状導体と前記柱状導体の任意の２本とにより形成されるループにより励起される電流とから、前記電子機器から放出される電界の強度分布および磁界の強度分布を表示することを特徴とする請求項６に記載の電磁界計測方法。