JP4746363B2 - 超音波診断装置 - Google Patents
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Description
図1は本発明の第1の実施の形態の超音波診断装置を示すブロック図である。
次に、本発明の第2の実施の形態の超音波診断装置について説明する。なお、本実施の形態は、上述の第1の実施の形態と略同様に構成されているので、図1を流用して、特徴部分のみ説明する。
次に、本発明の第3の実施の形態の超音波診断装置について説明する。なお、本実施の形態は、上述の第1の実施の形態と略同様に構成されているので、図1を流用して、特徴部分のみ説明する。
12 プローブハンドル
13 ビームフォーマ
14 信号処理部
15 表示部
16 制御部
Claims (4)
- 二次元に配列された二次元配列振動子と、
送信超音波信号を発生するとともに前記二次元配列振動子が受信した信号から受信ビームを形成するビームフォーマと、
前記ビームフォーマを制御する制御部とを備え、
前記制御部は、三次元走査領域と、この三次元走査領域の断面を含み、この三次元走査領域より広範囲な領域の二次元走査領域とを走査し、前記三次元走査領域と前記二次元走査領域の相対位置関係を保持したまま、前記二次元走査領域を含む平面と前記二次元配列振動子の中心部に接する平面との交線を中心に回転させる超音波診断装置。 - 前記制御部は、前記三次元走査領域の断面部分では、三次元走査の情報を二次元走査の情報としても使うことを特徴とする請求項1に記載の超音波診断装置。
- 前記制御部は、前記三次元走査領域での音響走査線間隔を前記二次元走査領域での音響走査線間隔より粗くすることを特徴とする請求項1または請求項2に記載の超音波診断装置。
- 前記制御部は、前記三次元走査領域の断面部分では、前記二次元走査領域と同じ音響走査線間隔とすることを特徴とする請求項3に記載の超音波診断装置。
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JP2005193819A JP4746363B2 (ja) | 2005-07-01 | 2005-07-01 | 超音波診断装置 |
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JP2000116651A (ja) * | 1998-10-14 | 2000-04-25 | Toshiba Corp | 超音波診断装置 |
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Patent Citations (2)
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