JP4743905B2 - フラッシュメモリ・ストレージ寿命監視装置 - Google Patents
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また、他のフラッシュメモリ・ストレージ寿命監視装置は、通信回線に接続されたフラッシュメモリ・ストレージ寿命監視装置と、それぞれがフラッシュメモリ・ストレージを有する複数の端末装置とを備え、前記フラッシュメモリ・ストレージのうちのいずれか1つに代替ブロックの1つが割り当てられ、残代替ブロック数が規定値Mに減少したとき、この残代替ブロック数が規定値Mに減少した1つのフラッシュメモリ・ストレージを有する1つの端末装置は、前記1つのフラッシュメモリ・ストレージにおける残代替ブロック数と実績寿命情報とを送信し、前記フラッシュメモリ・ストレージ寿命監視装置は、送信された残代替ブロック数と実績寿命情報を受信する受信手段と、受信した実績寿命情報を用いて前記1つのフラッシュメモリ・ストレージの予測寿命を算出する寿命予測手段と、前記予測寿命を明示する表示手段とを備え、前記寿命予測手段は、受信した実績寿命情報と、他のフラッシュメモリ・ストレージの実績寿命情報の平均値とを比例計算することで、予測寿命を算出することを特徴とする。
また、更なる他のフラッシュメモリ・ストレージ寿命監視装置は、通信回線に接続されたフラッシュメモリ・ストレージ寿命監視装置と、それぞれがフラッシュメモリ・ストレージを有する複数の端末装置とを備え、前記フラッシュメモリ・ストレージのうちのいずれか1つに代替ブロックの1つが割り当てられ、残代替ブロック数が規定値Mに減少したとき、この残代替ブロック数が規定値Mに減少した1つのフラッシュメモリ・ストレージを有する1つの端末装置は、前記1つのフラッシュメモリ・ストレージにおける残代替ブロック数と実績寿命情報とを送信し、前記フラッシュメモリ・ストレージ寿命監視装置は、送信された残代替ブロック数と実績寿命情報を受信する受信手段と、受信した実績寿命情報を用いて前記1つのフラッシュメモリ・ストレージの予測寿命を算出する寿命予測手段と、前記予測寿命を明示する表示手段とを備え、前記寿命予測手段は、受信した実績寿命情報の総ブロック書換回数が他のフラッシュメモリ・ストレージの総ブロック書換回数の平均値より20%以上下回った場合には異常とし、アラーム処理として、前記表示手段から表示させることを特徴とする。
また、他のフラッシュメモリ・ストレージ寿命予測方法は、通信回線に接続されたフラッシュメモリ・ストレージ寿命監視装置と、それぞれがフラッシュメモリ・ストレージを有する複数の端末装置とを備え、前記フラッシュメモリ・ストレージのうちのいずれか1つに代替ブロックの1つが割り当てられ、残代替ブロック数が規定値Mに減少したとき、この残代替ブロック数が規定値Mに減少した1つのフラッシュメモリ・ストレージを有する1つの端末装置は、前記1つのフラッシュメモリ・ストレージにおける残代替ブロック数と実績寿命情報とを送信し、前記フラッシュメモリ・ストレージ寿命監視装置は、送信された残代替ブロック数と実績寿命情報を受信し、受信した実績寿命情報を用いて前記1つのフラッシュメモリ・ストレージの予測寿命を算出し、受信した実績寿命情報と、他のフラッシュメモリ・ストレージの実績寿命情報の平均値とを比例計算することで、予測寿命を算出することを特徴とする。
また、更なる他のフラッシュメモリ・ストレージ寿命予測方法は、通信回線に接続されたフラッシュメモリ・ストレージ寿命監視装置と、それぞれがフラッシュメモリ・ストレージを有する複数の端末装置とを備え、前記フラッシュメモリ・ストレージのうちのいずれか1つに代替ブロックの1つが割り当てられ、残代替ブロック数が規定値Mに減少したとき、この残代替ブロック数が規定値Mに減少した1つのフラッシュメモリ・ストレージを有する1つの端末装置は、前記1つのフラッシュメモリ・ストレージにおける残代替ブロック数と実績寿命情報とを送信し、前記フラッシュメモリ・ストレージ寿命監視装置は、送信された残代替ブロック数と実績寿命情報を受信し、受信した実績寿命情報を用いて前記1つのフラッシュメモリ・ストレージの予測寿命を算出し、受信した実績寿命情報の総ブロック書換回数が他のフラッシュメモリ・ストレージの総ブロック書換回数の平均値より20%以上下回った場合には異常とし、アラーム処理することを特徴とする。
SSD1、SSD2、・・・SSDn フラッシュメモリ・ストレージ
10 フラッシュメモリ・ストレージ寿命監視装置
11 通信回線
Claims (6)
- 通信回線に接続されたフラッシュメモリ・ストレージ寿命監視装置と、それぞれがフラッシュメモリ・ストレージを有する複数の端末装置とを備え、前記フラッシュメモリ・ストレージのうちのいずれか1つに代替ブロックの1つが割り当てられ、残代替ブロック数が規定値Mに減少したとき、
この残代替ブロック数が規定値Mに減少した1つのフラッシュメモリ・ストレージを有する1つの端末装置は、前記1つのフラッシュメモリ・ストレージにおける残代替ブロック数と実績寿命情報とを送信し、
前記フラッシュメモリ・ストレージ寿命監視装置は、送信された残代替ブロック数と実績寿命情報を受信する受信手段と、受信した実績寿命情報を用いて前記1つのフラッシュメモリ・ストレージの予測寿命を算出する寿命予測手段と、前記予測寿命を明示する表示手段とを備え、
前記実績寿命情報は、残代替ブロック数が規定値Mよりも1つ多いM+1の期間における総ブロック書換回数、総装置稼動時間、実績寿命であることを特徴とするフラッシュメモリ・ストレージ寿命監視装置。 - 通信回線に接続されたフラッシュメモリ・ストレージ寿命監視装置と、それぞれがフラッシュメモリ・ストレージを有する複数の端末装置とを備え、前記フラッシュメモリ・ストレージのうちのいずれか1つに代替ブロックの1つが割り当てられ、残代替ブロック数が規定値Mに減少したとき、
この残代替ブロック数が規定値Mに減少した1つのフラッシュメモリ・ストレージを有する1つの端末装置は、前記1つのフラッシュメモリ・ストレージにおける残代替ブロック数と実績寿命情報とを送信し、
前記フラッシュメモリ・ストレージ寿命監視装置は、送信された残代替ブロック数と実績寿命情報を受信する受信手段と、受信した実績寿命情報を用いて前記1つのフラッシュメモリ・ストレージの予測寿命を算出する寿命予測手段と、前記予測寿命を明示する表示手段とを備え、
前記寿命予測手段は、受信した実績寿命情報と、他のフラッシュメモリ・ストレージの実績寿命情報の平均値とを比例計算することで、予測寿命を算出することを特徴とするフラッシュメモリ・ストレージ寿命監視装置。 - 通信回線に接続されたフラッシュメモリ・ストレージ寿命監視装置と、それぞれがフラッシュメモリ・ストレージを有する複数の端末装置とを備え、前記フラッシュメモリ・ストレージのうちのいずれか1つに代替ブロックの1つが割り当てられ、残代替ブロック数が規定値Mに減少したとき、
この残代替ブロック数が規定値Mに減少した1つのフラッシュメモリ・ストレージを有する1つの端末装置は、前記1つのフラッシュメモリ・ストレージにおける残代替ブロック数と実績寿命情報とを送信し、
前記フラッシュメモリ・ストレージ寿命監視装置は、送信された残代替ブロック数と実績寿命情報を受信する受信手段と、受信した実績寿命情報を用いて前記1つのフラッシュメモリ・ストレージの予測寿命を算出する寿命予測手段と、前記予測寿命を明示する表示手段とを備え、
前記寿命予測手段は、受信した実績寿命情報の総ブロック書換回数が他のフラッシュメモリ・ストレージの総ブロック書換回数の平均値より20%以上下回った場合には異常とし、アラーム処理として、前記表示手段から表示させることを特徴とするフラッシュメモリ・ストレージ寿命監視装置。 - 通信回線に接続されたフラッシュメモリ・ストレージ寿命監視装置と、それぞれがフラッシュメモリ・ストレージを有する複数の端末装置とを備え、前記フラッシュメモリ・ストレージのうちのいずれか1つに代替ブロックの1つが割り当てられ、残代替ブロック数が規定値Mに減少したとき、
この残代替ブロック数が規定値Mに減少した1つのフラッシュメモリ・ストレージを有する1つの端末装置は、前記1つのフラッシュメモリ・ストレージにおける残代替ブロック数と実績寿命情報とを送信し、
前記フラッシュメモリ・ストレージ寿命監視装置は、送信された残代替ブロック数と実績寿命情報を受信し、受信した実績寿命情報を用いて前記1つのフラッシュメモリ・ストレージの予測寿命を算出し、
受信した実績寿命情報は、残代替ブロック数が規定値Mよりも1つ多いM+1の期間における総ブロック書換回数、総装置稼動時間、実績寿命であることを特徴とするフラッシュメモリ・ストレージ寿命予測方法。 - 通信回線に接続されたフラッシュメモリ・ストレージ寿命監視装置と、それぞれがフラッシュメモリ・ストレージを有する複数の端末装置とを備え、前記フラッシュメモリ・ストレージのうちのいずれか1つに代替ブロックの1つが割り当てられ、残代替ブロック数が規定値Mに減少したとき、
この残代替ブロック数が規定値Mに減少した1つのフラッシュメモリ・ストレージを有する1つの端末装置は、前記1つのフラッシュメモリ・ストレージにおける残代替ブロック数と実績寿命情報とを送信し、
前記フラッシュメモリ・ストレージ寿命監視装置は、送信された残代替ブロック数と実績寿命情報を受信し、受信した実績寿命情報を用いて前記1つのフラッシュメモリ・ストレージの予測寿命を算出し、
受信した実績寿命情報と、他のフラッシュメモリ・ストレージの実績寿命情報の平均値とを比例計算することで、予測寿命を算出することを特徴とするフラッシュメモリ・ストレージ寿命予測方法。 - 通信回線に接続されたフラッシュメモリ・ストレージ寿命監視装置と、それぞれがフラッシュメモリ・ストレージを有する複数の端末装置とを備え、前記フラッシュメモリ・ストレージのうちのいずれか1つに代替ブロックの1つが割り当てられ、残代替ブロック数が規定値Mに減少したとき、
この残代替ブロック数が規定値Mに減少した1つのフラッシュメモリ・ストレージを有する1つの端末装置は、前記1つのフラッシュメモリ・ストレージにおける残代替ブロック数と実績寿命情報とを送信し、
前記フラッシュメモリ・ストレージ寿命監視装置は、送信された残代替ブロック数と実績寿命情報を受信し、受信した実績寿命情報を用いて前記1つのフラッシュメモリ・ストレージの予測寿命を算出し、
受信した実績寿命情報の総ブロック書換回数が他のフラッシュメモリ・ストレージの総ブロック書換回数の平均値より20%以上下回った場合には異常とし、アラーム処理することを特徴とするフラッシュメモリ・ストレージ寿命予測方法。
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Families Citing this family (7)
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JP5885681B2 (ja) * | 2013-02-04 | 2016-03-15 | 三菱電機株式会社 | 情報処理装置 |
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JP6536614B2 (ja) * | 2017-03-30 | 2019-07-03 | 日本電気株式会社 | ストレージ装置、ストレージ装置の制御方法及びプログラム |
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TWI782490B (zh) * | 2020-07-02 | 2022-11-01 | 日商鎧俠股份有限公司 | 接收終端、通訊系統及程式 |
Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2003085054A (ja) * | 2001-06-27 | 2003-03-20 | Mitsubishi Electric Corp | フラッシュメモリを搭載した半導体記憶装置における装置寿命警告発生システムとその方法 |
JP2008009594A (ja) * | 2006-06-28 | 2008-01-17 | Seiko Epson Corp | 半導体記憶装置管理システム、半導体記憶装置、ホスト装置、プログラム、半導体記憶装置の管理方法 |
JP2009537904A (ja) * | 2006-05-15 | 2009-10-29 | サンディスク コーポレイション | 最終期を計算する不揮発性メモリシステム |
Family Cites Families (3)
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---|---|---|---|---|
JP3557511B2 (ja) * | 1997-08-27 | 2004-08-25 | 沖電気工業株式会社 | 半導体ディスク装置の寿命算出方法 |
JP4527456B2 (ja) * | 2004-07-06 | 2010-08-18 | Necインフロンティア株式会社 | メモリ寿命警告装置、および情報処理方法 |
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Patent Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2003085054A (ja) * | 2001-06-27 | 2003-03-20 | Mitsubishi Electric Corp | フラッシュメモリを搭載した半導体記憶装置における装置寿命警告発生システムとその方法 |
JP2009537904A (ja) * | 2006-05-15 | 2009-10-29 | サンディスク コーポレイション | 最終期を計算する不揮発性メモリシステム |
JP2008009594A (ja) * | 2006-06-28 | 2008-01-17 | Seiko Epson Corp | 半導体記憶装置管理システム、半導体記憶装置、ホスト装置、プログラム、半導体記憶装置の管理方法 |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN105913857A (zh) * | 2015-02-25 | 2016-08-31 | 株式会社东芝 | 磁盘装置及重写处理方法 |
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