JP2013097575A - 半導体ディスク寿命監視装置 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】半導体ディスク5−1〜5−Kの書込み制御を行うファイルシステム3と、当該ファイルシステム3と前記半導体ディスク5−1〜5−Kを接続するインタフェースドライバ4を備え、当該インタフェースドライバ4により書込みが行われる半導体ディスク5−1〜5−Kの寿命を予測する半導体ディスク寿命監視装置1であって、前記ファイルシステム3からの書込みを書込情報として測定する測定部7と、前記測定結果を累積し第1の保存データ32として保存する保存部8と、前記保存した累積書込情報に基づいて、半導体ディスク5−1〜5−Kの寿命を予測する。
【選択図】図1
Description
図1に実施例1の半導体ディスク寿命監視装置の構成および係るシステム全体の構成図を示す。同図に示したように、実施例1の半導体ディスク寿命監視装置1は、ホスト12と後述の通信路11により接続され、また、インタフェースバス13を介して1つまたは複数の半導体ディスク5と接続されたコンピュータシステム9から半導体ディスク5の寿命を予測するための詳細後述の個体情報15、書込情報16を取得できる構成となっている。
以上の構成により、実施例1の半導体ディスク寿命監視装置は以下のように動作する。この動作を図3の動作フローチャート図を用いて以下詳細に説明する。
以上詳細に説明したように、実施例1の半導体ディスク寿命監視装置によれば、コンピュータシステムのファイルシステムからの出力を書込情報として測定する測定部と、前記測定結果を累積し第1の保存データとして保存する保存部を備え、前記保存した累積書込情報に基づいて半導体ディスクの寿命を予測できるようにしたので、高精度に半導体ディスクの寿命を予測できる。
ところで、実際の半導体ディスクの寿命は、半導体ディスク内部のキャッシュや書換アルゴリズムの影響を受け、同じ書込回数、書込量でもそのアドレス、保存データサイズの分布、ライトのタイミングにより変わる場合がある。
以上の構成により実施例2の半導体ディスク寿命監視装置は、以下のように動作する。この動作を、図7の実施例2の半導体ディスク寿命監視装置の測定および保存時の動作フローチャート図および図8の加速試験部21の動作フローチャート図を用いて以下詳細に説明する。
なお、以上の実施例の説明では、図6に示したように、加速試験に係る構成を半導体ディスク寿命監視装置1内に設ける構成として説明したが、図9の変形例として示したように、加速試験に係る構成を半導体ディスク寿命監視装置1とは別に設けるようにしてもよい。
以上詳細に説明したように、実施例2の半導体ディスク寿命監視装置によれば、運用される半導体ディスクと同種類の加速試験用半導体ディスクを設け、当該加速試験用半導体ディスクを用い、任意に設定可能な加速係数に応じて加速試験を行い、運用される半導体ディスク内部のキャッシュ構成や書き換えアルゴリズムに沿った書込の様子を加速して加速試験用半導体ディスクにて測定できるようにしたので、より先行した寿命推定を行うことができ、さらに精度よく寿命予測できる。
以上の実施例の説明では、半導体ディスクの寿命を監視する装置として説明したが、書換回数制限のある記憶装置であればUSBメモリやSDカードのような記憶装置にも適用することができる。また、それぞれの半導体ディスクを別々のデータ用ディスクとして使用する場合やRAIDとして半導体ディスクを組み合わせて使用している場合にも本発明を適用することができる。
2 アプリケーションプログラム
3 ファイルシステム
4 インタフェースドライバ
5 半導体ディスク
6 個体情報取得部
7 測定部
8 保存部
10 通信部
11 通信路
15 個体情報
16 書込情報
21 加速試験部
23 加速係数設定部
31、41 測定データ
32、42 保存データ
51 寿命予測データ
Claims (6)
- ディスクコントローラにより書込みが行われる半導体ディスクの寿命を予測する半導体ディスク寿命監視装置において、
前記ディスクコントローラからの出力を書込情報として測定する測定部と、
前記測定結果を累積し第1の保存データとして保存する保存部と、
前記保存した累積書込情報に基づいて、半導体ディスクの寿命を予測できるようにしたことを特徴とする半導体ディスク寿命監視装置。 - 前記ディスクコントローラは、半導体ディスクの書込み制御を行うファイルシステムと、当該ファイルシステムと前記半導体ディスクを接続するインタフェースドライバと、を備え、当該インタフェースドライバにより半導体ディスクに書込みを行う制御部であって、
前記書込情報は、前記ファイルシステムからの出力としたことを特徴とする請求項1記載の半導体ディスク寿命監視装置。 - 前記累積書込情報をホストへ送信する通信部を備え、
ホストにて半導体ディスクの寿命を予測できるようにしたことを特徴とする請求項1記載の半導体ディスク寿命監視装置。 - 前記書込情報は、書込回数、書込量および経過時間であって、
前記累積書込情報は、累積書込回数、累積書込量および累積経過時間としたことを特徴とする請求項1記載の半導体ディスク寿命監視装置。 - 前記半導体ディスクは複数で成し、各半導体ディスクの個体情報を取得する個体情報取得手段を設け、
前記個体情報に基づいて半導体ディスクが変更されたことを検出したときは、当該半導体ディスクの前記累積書込情報をクリアするようにしたことを特徴とする請求項1記載の半導体ディスク寿命監視装置。 - 運用される半導体ディスクと同種類の加速試験用半導体ディスクと、
書込み速度を増加させる加速係数を設定する加速係数設定部を備え、
前記書込情報は、前記ファイルシステムから運用される半導体ディスクへの書込みアドレスおよびサイズであって、
前記測定部は、前記書込情報を測定し、
前記保存部は、前記測定した測定結果をコマンド送出時刻とともに第2の保存データとして保存し、
前記第2の保存データを用いて前記設定された加速係数に基づき書込み速度を増加させて前記加速試験用半導体ディスクに書き込むようにしたことを特徴とする請求項1記載の半導体ディスク寿命監視装置。
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