JP2010244521A - フラッシュメモリストレージの寿命の評価指標と管理 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】フラッシュメモリ媒体の信頼性の評価方法は、それぞれがRAIDグループ又はシン・プロビジョニング・プールの一方である構成を持つ一つ以上のフラッシュメモリ媒体グループ内に提供される複数のフラッシュメモリ媒体ディスクの各ディスクに対するフラッシュメモリ残存寿命を測定するステップ、各フラッシュメモリ媒体グループに対する書き込みI/Oタイプのシーケンシャル対ランダムの比率を取得するステップ、及び各フラッシュメモリ媒体グループ内の各ディスクに対して測定したフラッシュメモリ残存寿命、各フラッシュメモリ媒体グループの構成、及び各フラッシュメモリ媒体グループに対する書き込みI/Oタイプのシーケンシャル対ランダムの比率に基づいて各フラッシュメモリ媒体グループの残存寿命を計算するステップからなる。
【選択図】図36
Description
E=ρEp/Seq+(1−ρ)Ep/Rnd
ここで、
ERAID10/Seq=(N/2)min(λi=〔0,N−1〕)、
ERAID10/Rnd=(N/2)min(λi=〔0,N−1〕)、
ERAID5/Seq=(N−1)min(λi=〔0,N−1〕)、
ERAID5/Rnd=(N/2)min(λi=〔0,N−1〕)、
ERAID6/Seq=(N−2)min(λi=〔0,N−1〕)、
ERAID6/Rnd=(N/3)min(λi=〔0,N−1〕)、
pはディスクのRAIDグループのRAIDレベルである、
Seqはシーケンシャルな書き込みI/Oタイプである、
Rndはランダムな書き込みI/Oタイプである、
Ep/Seqはシーケンシャルな書き込みI/OタイプでのRAIDレベルpのRAIDグループの書き込みI/O耐久性である、
Ep/Rndはランダムな書き込みI/OタイプでのRAIDレベルpのRAIDグループの書き込みI/O耐久性である、
iはディスクIDであり、0≦i≦N−1の整数である、
NはRAIDグループ内のディスク数である、
λiはディスクiの残存寿命である、
ρは書き込みI/Oタイプのシーケンシャル対ランダムの比率で、0≦ρ≦1である。
ここで、
jはシン・プロビジョニング・プール内のディスクのRAIDグループのIDである、
EjはE=ρEp/Seq+(1−ρ)Ep/Rndを使用したRAIDグループjの残存寿命である、
Mはシン・プロビジョニング・プール内のRAIDグループ数である。
E=ρEp/Seq+(1−ρ)Ep/Rnd
ここで、
ERAID10/Seq=(N/2)min(λi=〔0,N−1〕)、
ERAID10/Rnd=(N/2)min(λi=〔0,N−1〕)、
ERAID5/Seq=(N−1)min(λi=〔0,N−1〕)、
ERAID5/Rnd=(N/2)min(λi=〔0,N−1〕)、
ERAID6/Seq=(N−2)min(λi=〔0,N−1〕)、
ERAID6/Rnd=(N/3)min(λi=〔0,N−1〕)、
pはディスクのRAIDグループのRAIDレベルである、
Seqはシーケンシャルな書き込みI/Oタイプである、
Rndはランダムな書き込みI/Oタイプである、
Ep/Seqはシーケンシャルな書き込みI/OタイプでのRAIDグループの書き込みI/O耐久性である、
Ep/Rndはランダムな書き込みI/OタイプでのRAIDグループの書き込みI/O耐久性である、
iはディスクIDであり、0≦i≦N−1の整数である、
NはRAIDグループ内のディスク数である、
ρは書き込みI/Oタイプのシーケンシャル対ランダムの比率で、0≦ρ≦1である、
λiはディスクiの残存寿命であり、λi≡Li−Iiである、
Liはディスクiへの書き込み回数の理論限界である、
Iiはシーケンシャルな書き込みI/Oタイプの書き込みI/O耐久性を計算するステップで使用されるディスクiに対するシーケンシャル書き込み動作数、又はランダムな書き込みI/Oタイプの書き込みI/O耐久性を計算するステップで使用されるディスクiに対するランダム書き込み動作数、の一方である。
ここで、
iはディスクIDである、
λiはディスクiの残存寿命である、
Pはシン・プロビジョニング・プール内のディスク数である。
Claims (18)
- それぞれがRAIDグループ又はシン・プロビジョニング・プールの一方である構成を持つ一つ以上のフラッシュメモリ媒体グループ内に提供される複数のフラッシュメモリ媒体ディスクの各ディスクに対するフラッシュメモリ残存寿命を測定するステップと、
各フラッシュメモリ媒体グループに対する書き込みI/Oタイプのシーケンシャル対ランダムの比率を取得するステップと、
各フラッシュメモリ媒体グループ内の各ディスクに対する前記測定したフラッシュメモリ残存寿命、該各フラッシュメモリ媒体グループの前記構成、及び該各フラッシュメモリ媒体グループに対する書き込みI/Oタイプのシーケンシャル対ランダムの前記比率に基づいて該各フラッシュメモリ媒体グループの残存寿命を計算するステップと、
を含むことを特徴とするフラッシュメモリ媒体の信頼性の評価方法。 - ディスクに対する前記フラッシュメモリ残存寿命を測定するステップは、該ディスクへのシーケンシャル書き込み動作数とランダム書き込み動作数を数えるステップ、又は該ディスク内のシーケンシャル書き込みカウンタとランダム書き込みカウンタから前記フラッシュメモリ残存寿命を取得するステップの一方からなる
ことを特徴とする請求項1に記載の方法。 - ディスクに対する前記フラッシュメモリ残存寿命を測定するステップは、該ディスク内のシーケンシャル書き込みカウンタとランダム書き込みカウンタから前記フラッシュメモリ残存寿命を取得するステップからなり、
前記計算するステップはディスクのRAIDグループの前記残存寿命Eを、
E=ρEp/Seq+(1−ρ)Ep/Rnd
ここで、
ERAID10/Seq=(N/2)min(λi=〔0,N−1〕)、
ERAID10/Rnd=(N/2)min(λi=〔0,N−1〕)、
ERAID5/Seq=(N−1)min(λi=〔0,N−1〕)、
ERAID5/Rnd=(N/2)min(λi=〔0,N−1〕)、
ERAID6/Seq=(N−2)min(λi=〔0,N−1〕)、
ERAID6/Rnd=(N/3)min(λi=〔0,N−1〕)、
pはディスクの前記RAIDグループのRAIDレベルである、
Seqはシーケンシャルな書き込みI/Oタイプである、
Rndはランダムな書き込みI/Oタイプである、
Ep/Seqはシーケンシャルな書き込みI/OタイプでのRAIDレベルpの前記RAIDグループの書き込みI/O耐久性である、
Ep/Rndはランダムな書き込みI/OタイプでのRAIDレベルpの前記RAIDグループの書き込みI/O耐久性である、
iはディスクIDであり、0≦i≦N−1の整数である、
Nは前記RAIDグループ内のディスク数である、
λiはディスクiの残存寿命である、
ρは書き込みI/Oタイプのシーケンシャル対ランダムの比率で、0≦ρ≦1である、
式から計算するステップを含む
ことを特徴とする請求項1に記載の方法。 - 前記複数のフラッシュメモリ媒体ディスクは、それぞれがディスクの複数のRAIDグループを持つ一つ以上のシン・プロビジョニング・プール内に提供され、
前記計算するステップは各シン・プロビジョニング・プールの前記残存寿命EThin Provを、
ここで、
jは前記シン・プロビジョニング・プール内のディスクのRAIDグループのIDである、
EjはE=ρEp/Seq+(1−ρ)Ep/Rndを使用したRAIDグループjの残存寿命である、
Mは前記シン・プロビジョニング・プール内のRAIDグループ数である、
式から計算するステップを含む
ことを特徴とする請求項3に記載の方法。 - ディスクに対する前記フラッシュメモリ残存寿命を前記測定するステップは、該ディスクへのシーケンシャル書き込み動作数とランダム書き込み動作数を数えるステップからなり、
前記計算するステップはディスクのRAIDグループの前記残存寿命Eを、
E=ρEp/Seq+(1−ρ)Ep/Rnd
ここで、
ERAID10/Seq=(N/2)min(λi=〔0,N−1〕)、
ERAID10/Rnd=(N/2)min(λi=〔0,N−1〕)、
ERAID5/Seq=(N−1)min(λi=〔0,N−1〕)、
ERAID5/Rnd=(N/2)min(λi=〔0,N−1〕)、
ERAID6/Seq=(N−2)min(λi=〔0,N−1〕)、
ERAID6/Rnd=(N/3)min(λi=〔0,N−1〕)、
pはディスクの前記RAIDグループのRAIDレベルである、
Seqはシーケンシャルな書き込みI/Oタイプである、
Rndはランダムな書き込みI/Oタイプである、
Ep/Seqはシーケンシャルな書き込みI/Oタイプでの前記RAIDグループの書き込みI/O耐久性である、
Ep/Rndはランダムな書き込みI/Oタイプでの前記RAIDグループの書き込みI/O耐久性である、
iはディスクIDであり、0≦i≦N−1の整数である、
Nは前記RAIDグループ内のディスク数である、
ρは書き込みI/Oタイプのシーケンシャル対ランダムの比率で、0≦ρ≦1である、
λiはディスクiの残存寿命であり、λi≡Li−Iiである、
Liはディスクiへの書き込み回数の理論限界である、
Iiはシーケンシャルな書き込みI/Oタイプの前記書き込みI/O耐久性を計算するステップで使用されるディスクiに対する前記シーケンシャル書き込み動作数、又はランダムな書き込みI/Oタイプの前記書き込みI/O耐久性を計算するステップで使用されるディスクiに対する前記ランダム書き込み動作数、の一方である、
式から計算するステップを含む
ことを特徴とする請求項1に記載の方法。 - 前記複数のフラッシュメモリ媒体ディスクは、それぞれが複数のディスクを持つ一つ以上のシン・プロビジョニング・プール内に提供され、
前記計算するステップは前記シン・プロビジョニング・プールの前記残存寿命EThin Provを、
ここで、
iはディスクIDである、
λiはディスクiの残存寿命である、
Pは前記シン・プロビジョニング・プール内のディスク数である、
式から計算するステップを含む
ことを特徴とする請求項1に記載の方法。 - それぞれがRAIDグループ又はシン・プロビジョニング・プールの一方である構成を持つ一つ以上のフラッシュメモリ媒体グループ内に提供される複数のフラッシュメモリ媒体ディスクと、
データと一つ以上のモジュールを保存するメモリと、
一つ以上の前記モジュールを実行して、
前記複数のフラッシュメモリ媒体ディスクの各ディスクに対するフラッシュメモリ残存寿命を測定し、
各フラッシュメモリ媒体グループに対する書き込みI/Oタイプのシーケンシャル対ランダムの比率を取得し、
各フラッシュメモリ媒体グループ内の各ディスクに対して前記測定したフラッシュメモリ残存寿命、該各フラッシュメモリ媒体グループの前記構成、及び該各フラッシュメモリ媒体グループに対する書き込みI/Oタイプのシーケンシャル対ランダムの前記比率に基づいて該各フラッシュメモリ媒体グループの残存寿命を計算する、
プロセッサを備える、
ことを特徴とするフラッシュメモリ媒体の信頼性評価システム。 - ディスクに対する前記フラッシュメモリ残存寿命は、該ディスクへのシーケンシャル書き込み動作数とランダム書き込み動作数を数えるか、又は該ディスク内のシーケンシャル書き込みカウンタとランダム書き込みカウンタから前記フラッシュメモリ残存寿命を取得するか、いずれか一方により測定される
ことを特徴とする請求項7に記載のシステム。 - ディスクに対する前記フラッシュメモリ残存寿命は、該ディスク内のシーケンシャル書き込みカウンタとランダム書き込みカウンタから前記フラッシュメモリ残存寿命を取得することにより測定され、
ディスクのRAIDグループの前記残存寿命Eは、
E=ρEp/Seq+(1−ρ)Ep/Rnd
ここで、
ERAID10/Seq=(N/2)min(λi=〔0,N−1〕)、
ERAID10/Rnd=(N/2)min(λi=〔0,N−1〕)、
ERAID5/Seq=(N−1)min(λi=〔0,N−1〕)、
ERAID5/Rnd=(N/2)min(λi=〔0,N−1〕)、
ERAID6/Seq=(N−2)min(λi=〔0,N−1〕)、
ERAID6/Rnd=(N/3)min(λi=〔0,N−1〕)、
pはディスクの前記RAIDグループのRAIDレベルである、
Seqはシーケンシャルな書き込みI/Oタイプである、
Rndはランダムな書き込みI/Oタイプである、
Ep/Seqはシーケンシャルな書き込みI/OタイプでのRAIDレベルpの前記RAIDグループの書き込みI/O耐久性である、
Ep/Rndはランダムな書き込みI/OタイプでのRAIDレベルpの前記RAIDグループの書き込みI/O耐久性である、
iはディスクIDであり、0≦i≦N−1の整数である、
Nは前記RAIDグループ内のディスク数である、
λiはディスクiの残存寿命である、
ρは書き込みI/Oタイプのシーケンシャル対ランダムの比率で、0≦ρ≦1である、
式から計算される、
ことを特徴とする請求項7に記載のシステム。 - 前記複数のフラッシュメモリ媒体ディスクは、それぞれがディスクの複数のRAIDグループを持つ一つ以上のシン・プロビジョニング・プール内に提供され、
各シン・プロビジョニング・プールの前記残存寿命EThin Provは、
ここで、
jは前記シン・プロビジョニング・プール内のディスクのRAIDグループのIDである、
EjはE=ρEp/Seq+(1−ρ)Ep/Rndを使用したRAIDグループjの残存寿命である、
Mは前記シン・プロビジョニング・プール内のRAIDグループ数である、
式から計算される、
ことを特徴とする請求項9に記載のシステム。 - ディスクに対する前記フラッシュメモリ残存寿命は、前記複数のフラッシュメモリ媒体ディスクの各ディスクへのシーケンシャル書き込み動作数とランダム書き込み動作数を数えることで測定され、
ディスクのRAIDグループの前記残存寿命Eは、
E=ρEp/Seq+(1−ρ)Ep/Rnd
ここで、
ERAID10/Seq=(N/2)min(λi=〔0,N−1〕)、
ERAID10/Rnd=(N/2)min(λi=〔0,N−1〕)、
ERAID5/Seq=(N−1)min(λi=〔0,N−1〕)、
ERAID5/Rnd=(N/2)min(λi=〔0,N−1〕)、
ERAID6/Seq=(N−2)min(λi=〔0,N−1〕)、
ERAID6/Rnd=(N/3)min(λi=〔0,N−1〕)、
pはディスクの前記RAIDグループのRAIDレベルである、
Seqはシーケンシャルな書き込みI/Oタイプである、
Rndはランダムな書き込みI/Oタイプである、
Ep/Seqはシーケンシャルな書き込みI/Oタイプでの前記RAIDグループの書き込みI/O耐久性である、
Ep/Rndはランダムな書き込みI/Oタイプでの前記RAIDグループの書き込みI/O耐久性である、
iはディスクIDであり、0≦i≦N−1の整数である、
Nは前記RAIDグループ内のディスク数である、
ρは書き込みI/Oタイプのシーケンシャル対ランダムの比率で、0≦ρ≦1である、
λiはディスクiの残存寿命であり、λi≡Li−Iiである、
Liはディスクiへの書き込み回数の理論限界である、
Iiはシーケンシャルな書き込みI/Oタイプの前記書き込みI/O耐久性の計算で使用されるディスクiに対する前記シーケンシャル書き込み動作数か、又はランダムな書き込みI/Oタイプの前記書き込みI/O耐久性の計算で使用されるディスクiに対する前記ランダム書き込み動作数、の一方である、
式から計算される、
ことを特徴とする請求項7に記載のシステム。 - 前記複数のフラッシュメモリ媒体ディスクは、それぞれが複数のディスクを持つ一つ以上のシン・プロビジョニング・プール内に提供され、
前記シン・プロビジョニング・プールの前記残存寿命EThin Provは、
ここで、
iはディスクIDである、
λiはディスクiの残存寿命である、
Pは前記シン・プロビジョニング・プール内のディスク数である、
式から計算される、
ことを特徴とする請求項7に記載のシステム。 - それぞれがRAIDグループ又はシン・プロビジョニング・プールの一方である構成を持つ一つ以上のフラッシュメモリ媒体グループ内に提供される複数のフラッシュメモリ媒体ディスクの各ディスクに対するフラッシュメモリ残存寿命をデータプロセッサに測定させる命令と、
各フラッシュメモリ媒体グループに対する書き込みI/Oタイプのシーケンシャル対ランダムの比率をデータプロセッサに取得させる命令と、
各フラッシュメモリ媒体グループ内の各ディスクに対する前記測定したフラッシュメモリ残存寿命、該各フラッシュメモリ媒体グループの前記構成、及び該各フラッシュメモリ媒体グループに対する書き込みI/Oタイプのシーケンシャル対ランダムの前記比率に基づいて該各フラッシュメモリ媒体グループの残存寿命をデータプロセッサに計算させる命令、とからなる、
ことを特徴とするデータプロセッサを制御するための複数の命令をフラッシュメモリ媒体の信頼性を評価するために保存するコンピュータ読み取り可能ストレージ媒体。 - ディスクに対する前記フラッシュメモリ残存寿命を前記データプロセッサに測定させる前記命令は、該ディスクへのシーケンシャル書き込み動作数とランダム書き込み動作数を数えるか、又は該ディスク内のシーケンシャル書き込みカウンタとランダム書き込みカウンタから前記フラッシュメモリ残存寿命を取得するか、いずれか一方を前記データプロセッサに遂行させる命令からなることを特徴とする請求項13に記載のコンピュータ読み取り可能ストレージ媒体。
- ディスクに対する前記フラッシュメモリ残存寿命は、該ディスク内のシーケンシャル書き込みカウンタとランダム書き込みカウンタから前記フラッシュメモリ残存寿命を取得することで測定され、
前記データプロセッサに計算させる前記命令は、ディスクのRAIDグループの前記残存寿命Eを、
E=ρEp/Seq+(1−ρ)Ep/Rnd
ここで、
ERAID10/Seq=(N/2)min(λi=〔0,N−1〕)、
ERAID10/Rnd=(N/2)min(λi=〔0,N−1〕)、
ERAID5/Seq=(N−1)min(λi=〔0,N−1〕)、
ERAID5/Rnd=(N/2)min(λi=〔0,N−1〕)、
ERAID6/Seq=(N−2)min(λi=〔0,N−1〕)、
ERAID6/Rnd=(N/3)min(λi=〔0,N−1〕)、
pはディスクの前記RAIDグループのRAIDレベルである、
Seqはシーケンシャルな書き込みI/Oタイプである、
Rndはランダムな書き込みI/Oタイプである、
Ep/Seqはシーケンシャルな書き込みI/OタイプでのRAIDレベルpの前記RAIDグループの書き込みI/O耐久性である、
Ep/Rndはランダムな書き込みI/OタイプでのRAIDレベルpの前記RAIDグループの書き込みI/O耐久性である、
iはディスクIDであり、0≦i≦N−1の整数である、
Nは前記RAIDグループ内のディスク数である、
λiはディスクiの残存寿命である、
ρは書き込みI/Oタイプのシーケンシャル対ランダムの比率で、0≦ρ≦1である、
式を前記データプロセッサに計算させる命令を含む、
ことを特徴とする請求項13に記載のコンピュータ読み取り可能ストレージ媒体。 - 前記複数のフラッシュメモリ媒体ディスクは、それぞれがディスクの複数のRAIDグループを持つ一つ以上のシン・プロビジョニング・プール内に提供され、
前記データプロセッサに計算させる前記命令は、各シン・プロビジョニング・プールの前記残存寿命EThin Provを、
ここで、
jは前記シン・プロビジョニング・プール内のディスクのRAIDグループのIDである、
EjはE=ρEp/Seq+(1−ρ)Ep/Rndを使用したRAIDグループjの残存寿命である、
Mは前記シン・プロビジョニング・プール内のRAIDグループ数である、
式を前記データプロセッサに計算させる命令からなる、
ことを特徴とする請求項15に記載のコンピュータ読み取り可能ストレージ媒体。 - ディスクに対する前記フラッシュメモリ残存寿命は、該ディスクへのシーケンシャル書き込み動作数とランダム書き込み動作数を数えることで測定され、
前記データプロセッサに計算させる前記命令は、ディスクのRAIDグループの前記残存寿命Eを、
E=ρEp/Seq+(1−ρ)Ep/Rnd
ここで、
ERAID10/Seq=(N/2)min(λi=〔0,N−1〕)、
ERAID10/Rnd=(N/2)min(λi=〔0,N−1〕)、
ERAID5/Seq=(N−1)min(λi=〔0,N−1〕)、
ERAID5/Rnd=(N/2)min(λi=〔0,N−1〕)、
ERAID6/Seq=(N−2)min(λi=〔0,N−1〕)、
ERAID6/Rnd=(N/3)min(λi=〔0,N−1〕)、
pはディスクの前記RAIDグループのRAIDレベルである、
Seqはシーケンシャルな書き込みI/Oタイプである、
Rndはランダムな書き込みI/Oタイプである、
Ep/Seqはシーケンシャルな書き込みI/Oタイプでの前記RAIDグループの書き込みI/O耐久性である、
Ep/Rndはランダムな書き込みI/Oタイプでの前記RAIDグループの書き込みI/O耐久性である、
iはディスクIDであり、0≦i≦N−1の整数である、
Nは前記RAIDグループ内のディスク数である、
ρは書き込みI/Oタイプのシーケンシャル対ランダムの比率で、0≦ρ≦1である、
λiはディスクiの残存寿命であり、λi≡Li−Iiである、
Liはディスクiへの書き込み回数の理論限界である、
Iiはシーケンシャルな書き込みI/Oタイプの前記書き込みI/O耐久性の計算で使用されるディスクiに対する前記シーケンシャル書き込み動作数か、又はランダムな書き込みI/Oタイプの前記書き込みI/O耐久性の計算で使用されるディスクiに対する前記ランダム書き込み動作数、の一方である、
式を前記データプロセッサに計算させる命令からなる、
ことを特徴とする請求項13に記載のコンピュータ読み取り可能ストレージ媒体。 - 前記複数のフラッシュメモリ媒体ディスクは、それぞれが複数のディスクを持つ一つ以上のシン・プロビジョニング・プール内に提供され、
前記データプロセッサに計算させる前記命令は、前記シン・プロビジョニング・プールの前記残存寿命EThin Provを、
ここで、
iはディスクIDである、
λiはディスクiの残存寿命である、
Pは前記シン・プロビジョニング・プール内のディスク数である、
式を前記データプロセッサに計算させる命令からなる、
ことを特徴とする請求項13に記載のコンピュータ読み取り可能ストレージ媒体。
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