JP4736963B2 - 積層セラミック電子部品の製造方法 - Google Patents

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本発明は、積層セラミック電子部品の製造方法に関し、詳しくは、セラミックグリーンシートを積層して焼成する、積層セラミックコンデンサなどの積層セラミック電子部品の製造方法に関する。
積層セラミックコンデンサの作製には、キャリアフィルムが用いられる。例えば図5(a)に示すように、キャリアフィルムロール82からキャリアフィルム84を引き出し、塗布装置86でセラミックスラリー88を塗布して、乾燥装置90で乾燥させ、キャリアフィルム84上にセラミックグリーンシートを形成した状態で、巻き取り装置96でロール状に巻き取る。次いで、図5(b)に示すように、ロールを巻き戻し、キャリアフィルムとともに搬送されるセラミックグリーンシートの上に、印刷装置94で内部電極パターンを印刷し、乾燥装置95で乾燥させて巻き取り装置96で、ロール状に巻き取る。次いで、ロールを巻き戻し、キャリアフィルムからセラミックグリーンシートを剥離し、セラミックグリーンシートを積層し、切断した後焼成し、さらに外部電極を形成することにより、積層セラミックコンデンサを作製する。
近年の積層セラミックコンデンサの小型大容量化により、セラミックグリーンシートの薄膜化技術の進歩は必須であった。セラミックグリーンシートの薄膜化においては、セラミックグリーンシートの平滑性の向上が重要である。セラミックグリーンシートは、セラミックスラリーを合成樹脂のキャリアフィルムに塗布して形成されるため、キャリアフィルムのセラミックスラリーを塗布する側の面(以下、「セラミックスラリー塗布面」ともいう。)の平滑性がセラミックグリーンシートの平滑性に及ぼす影響が大きいことから、キャリアフィルムを平滑化する必要が生じている。
しかし、キャリアフィルムを平滑化した場合、キャリアフィルムの巻き出し帯電や、巻き込んだ空気の排出性悪化によるブロッキング現象や、フィルム走行性への悪影響などの弊害が大きい。
この問題を解決するため、キャリアフィルムのセラミックスラリー塗布面と、その反対側の面(以下、「塗布裏面」という。)とで平滑性が異なるように、少なくとも2層以上からなるキャリアフィルムを用いて、積層セラミックコンデンサを製造することが提案されている(例えば、特許文献1参照)。
特開2003−305806号公報
2層以上からなるキャリアフィルムにおいて、セラミックスラリー塗布面の平滑性を向上させた場合、キャリアフィルムの巻き出し帯電や巻き込んだ空気の排出性悪化を抑えるために、塗布裏面の表面を粗くする必要が生じる。この表面を粗くされた塗布裏面の凸状突起が、セラミックグリーンシート形成後の巻き取り時に、セラミックグリーンシートに当接して、セラミックグリーンシートに凹状のダメージを与えることが分かった。
特許文献1には、フィルム表面の平均高さに対する10nm以上の高さの突起の個数が5×10〜1×10個/mmとするセラミック離型用ポリエステルフィルムが提案されているが、このときの突起の面積は、キャリアフィルム表面の僅か3.9×10−6%〜7.9×10−5%であり、セラミックグリーンシートにかかる凸状突起の圧力を分散させることは難しい。そのため、セラミックグリーンシートに凹状のダメージが発生する。
本発明は、上記実情に鑑み、キャリアフィルムの塗布裏面を粗くしても、セラミックグリーンシートへのダメージを低減することができる、積層セラミック電子部品の製造方法を提供することを目的とする。
上記課題を解決するため、以下のように構成した積層セラミック電子部品の製造方法を提供する。
積層セラミック電子部品の製造方法は、(1)キャリアフィルムの片面(以下、「塗布面」という。)にセラミックスラリーを塗布する工程と、(2)上記セラミックスラリーを乾燥させてセラミックグリーンシートを形成する工程と、(3)上記セラミックグリーンシート上に内部電極パターンを印刷する工程と、(4)前記内部電極パターンが印刷された前記セラミックグリーンシートを積層して積層体を形成する工程と、(5)前記積層体を焼成してセラミック焼結体を形成する工程と、(6)前記セラミック焼結体の外表面に外部電極を形成する工程とを含む。前記キャリアフィルムは、前記塗布面に離型層を有する。前記塗布面とは反対側の面(以下、「塗布裏面」という。)は、日本工業規格(JIS)B0601−2001で規定される最大高さRmaxが0.5μmを越え、かつ最大高さRmaxの1/2以上の表面粗さとなる部分の面積割合(以下、「突起面積率」という。)が、4%以上、2×10%以下(それぞれ、有効数字1桁で表している。)である。
上記方法において、積層セラミック電子部品1個分ごとに作製してもよいが、積層セラミック電子部品複数個分を含む積層体を作製すると効率的であるので、好ましい。この場合、積層体を1個分ずつに分割して焼成しても、積層体を焼成した後に1個分ずつに分割してもよい。
上記方法によれば、離型層により、キャリアフィルムの塗布面からセラミックグリーンシートを分離することが容易になる。
また、キャリアフィルムの塗布裏面において、突起面積率が4%以上であれば、塗布裏面において最大高さRmaxの1/2以上の表面粗さとなる部分(以下、「突起部分」という。)がセラミックグリーンシートに接触したときに、突起部分に作用する圧力を分散することができ、突起部分がセラミックグリーンシートに食い込みにくくなる。そのため、塗布裏面の突起部分が当接してもセラミックグリーンシートにダメージを与えないようにすることができる。
一方、突起面積率が2×10%以下(有効数字1桁)以下であると、キャリアフィルムは、塗布裏面における接触面積の増大によりキャリアフィルムの巻き出し時に帯電量が増加することがない。そのため、帯電除去が不要であり、工程が簡単になる。
好ましくは、前記キャリアフィルムは、積層された2層以上の合成樹脂フィルムを含み。前記塗布面は、日本工業規格(JIS)B0601−2001で規定される最大高さRmaxが0.2μm以下である。
塗布面に適した表面粗さと塗布裏面に適した表面粗さとは異なるが、それぞれに適した表面粗さの合成樹脂フィルムを積層することにより、塗布面と塗布裏面の表面粗さがともに好適であるキャリアフィルムを容易に作製することができる。
また、本発明は、以下のように構成した、積層セラミック電子部品の製造に用いるキャリアフィルム(以下、単に「キャリアフィルム」という。)を提供する。
キャリアフィルムは、片面(以下、「塗布面」という。)にセラミックスラリーが塗布される。キャリアフィルムは、前記塗布面に離型層を有し、前記塗布面とは反対側の面(以下、「塗布裏面」という。)は、日本工業規格(JIS)B0601−2001で規定される最大高さRmaxが0.5μmを越え、かつ最大高さRmaxの1/2以上の表面粗さとなる部分の面積割合(以下、「突起面積率」という。)が、4%以上、2×10%以下である。
上記構成において、離型層により、キャリアフィルムの塗布面からセラミックグリーンシートを分離することが容易になる。
また、キャリアフィルムの塗布裏面において、突起面積率が4%以上であれば、塗布裏面において最大高さRmaxの1/2以上の表面粗さとなる部分(以下、「突起部分」という。)がセラミックグリーンシートに接触したときに、突起部分に作用する圧力を分散することができ、突起部分がセラミックグリーンシートに食い込みにくくなる。そのため、塗布裏面の突起部分が当接してもセラミックグリーンシートにダメージを与えないようにすることができる。
一方、突起面積率が2×10%以下(有効数字1桁)以下であると、キャリアフィルムは、塗布裏面における接触面積の増大によりキャリアフィルムの巻き出し時に帯電量が増加することがない。そのため、帯電除去が不要であり、キャリアフィルムを用いる製造工程が簡単になる。
好ましくは、キャリアフィルムは、積層された2層以上の合成樹脂フィルムを含む。前記塗布面は、日本工業規格(JIS)B0601−2001で規定される最大高さRmaxが0.2μm以下である。
塗布面に適した表面粗さと塗布裏面に適した表面粗さとは異なるが、上記構成によれば、それぞれに適した表面粗さの合成樹脂フィルムを積層することにより、塗布面と塗布裏面の表面粗さがともに好適であるキャリアフィルムを容易に作製することができる。
本発明によれば、キャリアフィルムの塗布裏面を粗くしても、キャリアフィルムの塗布裏面によるセラミックグリーンシートへのダメージを低減することができる。
以下、本発明の実施形態について、図1〜図4を参照しながら説明する。
図1(a)は、積層セラミックコンデンサの製造に用いるキャリアフィルム10の断面図である。
キャリアフィルム10は、合成樹脂からなる2層のフィルム14,16が貼り合わされ、一方のフィルム14側の表面14aに離型層18が形成されている。例えば、フィルム14,16は、PET(ポリエチレンテレフタレート)で形成されている。また、離型層18は、シリコン樹脂によって形成されている。
キャリアフィルム10は、一方のフィルム14側の表面14aの突起15が、他方のフィルム16側の表面16aの突起17よりも小さい。すなわち、一方のフィルム14側の表面14aの表面粗さは相対的に小さく、他方のフィルム16側の表面16aの表面粗さは相対的に大きい。
他方のフィルム16側の表面16aの突起17は、図1(b)の断面図に模式的に示すように、日本工業規格B0601−2001で規定される最大高さRmaxの1/2以上の表面粗さ(高さ)となる部分(突起部分)17tと、最大高さRmaxの1/2未満の表面粗さ(高さ)となる部分17sとを含む。最大高さRmaxは、最も深い谷の底を通る平面20と、最も高い突起の先端を通る平面24との間の距離である。その50%の高さを通る平面22によって突起部分17tが切断される断面積をA1,A2,A3・・・とする。他方のフィルム16側の表面16aの基準面積Aにおいて、最大高さRmaxの1/2以上の表面粗さ(高さ)となる突起部分17tの面積合計ΣAiの割合(以下、「突起面積率」という。)、すなわち(ΣAi)/Aが、4%以上、2×10%以下(それぞれ、有効数字1桁で表している。)となるようにする。
次に、キャリアフィルム10を用いて積層セラミックコンデンサを製造する方法について、図2〜図4を参照しながら説明する。
まず、図2に示すように、キャリアフィルム10上にセラミックグリーンシート30を形成し、セラミックグリーンシート30上に内部電極パターン32を形成する。具体的な工程は、図5に示した従来例と同様である。
すなわち、ロール状のキャリアフィルム10を巻き出し、巻き出されたキャリアフィルム10の一方のフィルム14側の離型層18上に、塗布装置によりセラミックスラリーを塗布する。セラミックスラリーには、チタン酸バリウムを主原料とするセラミック原料粉末と、バインダー等の有機物と、溶剤とが混合したものを用いる。セラミックスラリーは、焼結後の平均厚みが1.0μmとなるように塗布する。セラミックスラリーの塗布後に、乾燥装置で乾燥し、セラミックグリーンシート30がキャリアフィルム10上に形成された状態で、巻き取り装置により、一旦、ロール状に巻き取る。次いで、キャリアフィルム10を巻き出し、セラミックグリーンシート30の上面に、内部電極パターン32をスクリーン印刷装置によって形成した後、乾燥装置で乾燥し、再び、巻き取り装置で巻き取る。なお、セラミックグリーンシート30の形成後に、キャリアフィルム10の巻き取りを行わずに、内部電極パターン32を形成するようにしてもよい。
次いで、キャリアフィルム10を巻き戻し、キャリアフィルム10から、内部電極パターン32が印刷されたセラミックグリーンシート30を剥離し、所定の大きさに切断した後、所定枚数積層してプレスすることにより、図3に示すような積層体40を形成する。積層体40の上下両面側には、特に図示していないが内部電極パターンが形成された上部、下部にはそれぞれ所定の厚みを持った外層シートが配設されている。この積層体40を所定の位置で切断し、個々の素子に分割した後、所定の条件で焼成を行う。
次いで、図4に示すように、焼成後の素子41に外部電極52を形成して、セラミック層42の間に内部電極44が配置された積層セラミックコンデンサ50が完成する。
次に、実施例と比較例の品質評価について説明する。
キャリアフィルムの両面(塗布面と塗布裏面)の表面形状を、東レエンジニアリング(株)製の光干渉系表面測定装置SP−500を用いて測定した。突起面積については、図1(b)に示すように基準面積における最大突起高さRmaxの50%以上の高さを持つ突起部分の断面積の割合(突起面積率)を算出した。
セラミックグリーンシートの作製の際におけるキャリアフィルムの巻き出し帯電について、春日電気のKSD−0103を用いて帯電量を測定し、評価した。後述する表1において、帯電量が0〜1kVを○(良)、3〜5kVを△(やや不良)、10〜20kVを×(不良)で示している。
キャリアフィルムによるセラミックグリーンシートの欠陥について、セラミックグリーンシートの両面(塗布面と塗布裏面)のそれぞれにおいて、15cmの面積を100倍の光学顕微鏡にて観察し、欠陥の個数を評価した。
得られた積層セラミックコンデンサについて、内部電極の短絡不良を評価した。評価には、横河ヒューレットパッカード(株)のHP−4278Aを用い、温度25℃、湿度50%RH、周波数1kHz、電圧0.5Vの条件で行った。この評価では、サンプル数を300個とした。
実施例と比較例について、評価結果を次の表1に示す。実施例については、10種類のサンプルA〜Jについて評価した。比較例は1〜4の4種類について評価した。比較例2、3は、実施例と同様に、キャリアフィルムは2層構造である。比較例1、4は、1層構造のキャリアフィルムである。
Figure 0004736963
表1の実施例のサンプルC〜Jから、塗布裏面の突起面積率4%〜2×10%において、塗布裏面の突起によるセラミックグリーンシートの巻き取り時のシート欠陥を無くすことができることが分かる。塗布面側のシート欠陥についても、塗布面側の平滑性が高いことから、塗布面側にも欠陥がなく、平滑性が高いセラミックグリーンシートを得ることができた。内部電極の短絡不良に関しても、良好であった。
比較例1に示すように、キャリアフィルムの突起の大きさが両面(塗布面と塗布裏面)でほぼ同じである場合、塗布裏面の突起によるセラミックグリーンシートの凹状のダメージは低減できる。しかし、キャリアフィルムの塗布面側が平滑でないため、セラミックグリーンシートの塗布面側に欠陥が多数発生しており、製品品質が悪い。
比較例2は、塗布裏面の突起面積率を25%まで上げた場合であり、塗布裏面の突起は製品品質に問題を引き起こさないが、巻き出し時の帯電量が増加する傾向を示しており、接触面積の増加による影響が見られる。
実施例のサンプルA,Bや比較例3のように、塗布裏面の突起面積率が小さい場合には、塗布裏面の突起によるセラミックグリーンシートに欠陥が発生している。これは、塗布裏面の突起部分にかかる圧力を分散することができないため、突起部分がセラミックグリーンシートに食い込むためと思われる。
実施例のサンプルAおよび比較例4から、塗布裏面が平滑であると、巻き出し帯電量が大きくなることが分かる。
以上に説明したように、キャリアフィルムの塗布裏面を粗くしても、突起面積率を4%以上、20%以下(それぞれ、有効数字1桁)とすることにより、セラミックグリーンシート形成後の巻き取り時において、キャリアフィルムの塗布裏面によるセラミックグリーンシートへのダメージを低減することができる。
なお、本発明は、上記実施の形態に限定されるものではなく、種々の変更を加えて実施することが可能である。例えば、本発明は、積層型インダクタ、積層型LCフィルタなど、積層セラミックコンデンサ以外の積層セラミック電子部品についても、適用することが可能である。
(a)キャリアフィルムの断面図、(b)キャリアフィルムの要部拡大断面図である。(実施例) セラミックグリーンシートに内部電極パターンを印刷した状態を示す断面図である。(実施例) 積層体の断面図である。(実施例) 積層セラミックコンデンサの断面図である。(実施例) 積層セラミックコンデンサの製造工程の概念図である。(従来例)
符号の説明
10 キャリアフィルム
14,16 フィルム
17t 突起部分
18 離型層

Claims (4)

  1. キャリアフィルムの片面(以下、「塗布面」という。)にセラミックスラリーを塗布する工程と、
    上記セラミックスラリーを乾燥させてセラミックグリーンシートを形成する工程と、
    上記セラミックグリーンシート上に内部電極パターンを印刷する工程と、
    前記内部電極パターンが印刷された前記セラミックグリーンシートを積層して積層体を形成する工程と、
    前記積層体を焼成してセラミック焼結体を形成する工程と、
    前記セラミック焼結体の外表面に外部電極を形成する工程とを含む、積層セラミック電子部品の製造方法において、
    前記キャリアフィルムは、前記塗布面に離型層を有し、
    前記塗布面とは反対側の面(以下、「塗布裏面」という。)は、日本工業規格(JIS)B0601−2001で規定される最大高さRmaxが0.5μmを越え、かつ最大高さRmaxの1/2以上の表面粗さとなる部分の面積割合(以下、「突起面積率」という。)が、4%以上、2×10%以下であることを特徴とする、積層セラミック電子部品の製造方法。
  2. 前記キャリアフィルムは、積層された2層以上の合成樹脂フィルムを含み、
    前記塗布面は、日本工業規格(JIS)B0601−2001で規定される最大高さRmaxが0.2μm以下であることを特徴とする、請求項1に記載の積層セラミック電子部品の製造方法。
  3. 片面(以下、「塗布面」という。)にセラミックスラリーが塗布されるキャリアフィルムであって、
    前記塗布面に離型層を有し、
    前記塗布面とは反対側の面(以下、「塗布裏面」という。)は、日本工業規格(JIS)B0601−2001で規定される最大高さRmaxが0.5μmを越え、かつ最大高さRmaxの1/2以上の表面粗さとなる部分の面積割合(以下、「突起面積率」という。)が、4%以上、2×10%以下であることを特徴とする、積層セラミック電子部品の製造に用いるキャリアフィルム。
  4. 積層された2層以上の合成樹脂フィルムを含み、
    前記塗布面は、日本工業規格(JIS)B0601−2001で規定される最大高さRmaxが0.2μm以下であることを特徴とする、請求項3に記載の積層セラミック電子部品の製造に用いるキャリアフィルム。
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