JP4728386B2 - アバランシ・フォトダイオード - Google Patents
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Description
図1は、第1実施形態のAPDを説明する素子断面の模式図である。図1のAPDは、n電極層31、n電極接続層32、バッファ層33、なだれ増倍層34、電界制御層35、バンドギャップ傾斜層36、低濃度光吸収層37a、p形光吸収層37b及びp電極層38が順次積層され、少なくとも低濃度光吸収層37aとp形光吸収層37bからなる光吸収部37がメサ形状をなす電子注入形のAPDである。また、図1のAPDは、n電極接続層32が、積層方向から見て、なだれ増倍層34の外周、及び、光吸収部37のメサの外周よりも内側に配置されたn形領域32aと、積層方向と垂直な方向においてn形領域32aの周囲にドーピング濃度が低い低ドープ領域32bと、をもつ埋め込みn電極構造を採用する。
図3は、第2実施形態のAPDを説明する素子断面の模式図である。図3のAPDも図1のAPDと同様に埋め込みn電極構造を採用する電子注入形のAPDである。図3のAPDと図1のAPDとの違いは、図3のAPDのバッファ層33にはドーピング部33aが必ずしも形成される必要はなく、バッファ層33となだれ増倍層34とは異なる組成の半導体であり、バッファ層33がなだれ増倍層34より広いバンドギャップであることである。
図5は第3実施形態のAPDを説明する素子断面の模式図である。基板30の上に、p電極層38、p形光吸収層37b、低濃度光吸収層37a、バンドギャップ傾斜層36、電界制御層35、なだれ増倍層34、バッファ層33、n電極接続層32及びn電極層31が順次積層され、p電極39とn電極40が形成される。この構造は、おおむね、前述の第2の実施例の半導体構造を上下逆に配置したものに相当である。ここでは、n電極接続層32は基板側ではなく上部にあるため、必ずしも、第1、第2の実施例の場合の様なSiイオン注入による選択的なn層として形成する必要はなく、単にメサとして形状を決めれば良い。すなわち、n電極接続層32は、バッファ層33から下のメサの外周よりも内側に配置することにより、埋め込みn電極構造を持つAPDと同様の機能を持たせることができる。
30:基板
31:n電極層
32:n電極接続層
32a:n形領域
33:バッファ層
34:なだれ増倍層
35:電界制御層
36:バンドギャップ傾斜層
37:光吸収部
37a:低濃度光吸収層
37b:p形光吸収層
38:p電極層
39:p電極
40:n電極
Claims (5)
- n電極層、n電極接続層、なだれ増倍層、電界制御層、バンドギャップ傾斜層、低濃度光吸収層、p形光吸収層及びp電極層を含む積層構造をなし、前記n電極接続層は、積層方向から見て、前記なだれ増倍層の外周よりも内側に配置されたn形領域を有する半導体構造のアバランシ・フォトダイオードであって、
前記積層構造は、前記n電極接続層と前記なだれ増倍層との間に、イオン化率が前記なだれ増倍層よりも低いバッファ層が、前記n電極接続層と前記なだれ増倍層とが接することがないように挿入されており、
前記p形光吸収層は、前記p電極層と前記n電極層との間が逆バイアスされたときに、前記p電極層側に中性状態を保つ領域が生ずることを特徴とするアバランシ・フォトダイオード。 - 基板上に前記n電極層を前記基板側として前記積層構造を形成し、前記低濃度光吸収層と前記p形光吸収層からなる光吸収部がメサ形状をなし、前記n電極接続層の前記n形領域が、積層方向から見て前記光吸収部のメサ形状の外周よりも内側に配置されたことを特徴とする請求項1に記載のアバランシ・フォトダイオード。
- n電極層、n電極接続層、なだれ増倍層、電界制御層、バンドギャップ傾斜層、低濃度光吸収層、p形光吸収層及びp電極層を含む積層構造を備えるアバランシ・フォトダイオードであって、
前記積層構造は、前記n電極接続層と前記なだれ増倍層との間に、イオン化率が前記なだれ増倍層よりも低いバッファ層が、前記n電極接続層と前記なだれ増倍層とが接することがないように挿入されており、
前記p形光吸収層は、前記p電極層と前記n電極層との間が逆バイアスされたときに、前記p電極層側に中性状態を保つ領域が生じ、
基板上に前記p電極層を前記基板側として前記積層構造を形成し、前記n電極接続層及び前記n電極層がメサ形状をなし、前記メサ形状が、積層方向から見て前記バッファ層の外周よりも内側に配置されることを特徴とするアバランシ・フォトダイオード。 - 前記バッファ層は、少なくとも前記なだれ増倍層側に不純物がドーピングされたドーピング部があることを特徴とする請求項1から3のいずれかに記載のアバランシ・フォトダイオード。
- 前記バッファ層と前記なだれ増倍層とは異なる組成の半導体であり、前記バッファ層のバンドギャップが前記なだれ増倍層のバンドギャップより広いことを特徴とする請求項1から4のいずれかに記載のアバランシ・フォトダイオード。
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