JP4728042B2 - マスクパターン作成方法 - Google Patents
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Description
パターン作成ユニット10に接続された外部記憶装置20は、設計情報ファイル12、補正情報ファイル14、危険図形定義ファイル16、及び描画データファイル18等を備える。設計情報ファイル12は、半導体装置の回路の仕様及び回路の設計マスクパターンのレイアウトデータ等を含むフォトマスクの設計情報を格納している。補正情報ファイル14は、設計マスクパターンをOPC処理されたマスクパターンのレイアウトデータ、マスクパターンの配置に基いて発生する大域的寸法変動から規定された寸法補正量の面内分布、及びマスクパターンの大域的寸法変動補正の手順を規定する補正手順仕様等を格納している。危険図形定義ファイル16は、OPC処理でマスクパターンに発生する段差の最小段差長に基いて規定される危険図形の定義等を格納している。描画データファイル18は、フォトマスクの作製に用いるマスクパターンの描画データを格納している。
12 設計情報ファイル
14 補正情報ファイル
16 危険図形定義ファイル
18 描画データファイル
20 外部記憶装置
22 入力装置
24 出力装置
30 入力部
32 マップ作成部
34 補正部
36 合成部
38 検索部
40 図形処理部
42 データ変換部
44 出力部
46 内部メモリ
50 描画システム
60 第1の補正マップ
62a〜62k 第1の小領域
64 第2の補正マップ
66a〜66k 第2の小領域
68 第1の拡張領域
69 第2の拡張領域
70…マスクパターン
71 第1のマスクパターン
72 第2のマスクパターン
73、73a、73b 第3のマスクパターン
74、74a 第4のマスクパターン
75 第5のマスクパターン
76a、76b、77a、77b 分割パターン
76b…分割パターン
76c、77c 補正分割パターン
78a 微小突起
78b 微小くぼみ
79a、79b 微小段差
82a、82b 補正段差
170 描画パターン
171〜175、175a 補正パターン
176a、176b ショット領域
Claims (3)
- マップ作成部により、マスクパターンの配置面を格子状に区分した複数の第1の小領域のそれぞれに前記マスクパターンの配置に基いて第1の寸法補正量を設定した第1の補正マップを作成し、
前記マップ作成部により、前記複数の第1の小領域に対して境界の位置をずらした複数の第2の小領域のそれぞれに前記マスクパターンの配置に基いて第2の寸法補正量を設定した第2の補正マップを作成し、
補正部により、前記第1及び第2の補正マップに基づいて前記マスクパターンを補正することを含み、
前記第1及び第2の寸法補正量が、前記マスクパターンの第1及び第2の小領域のそれぞれのパターン密度と、フォトマスク基板に前記マスクパターンを転写する装置の特性とに基づいて与えられ、
前記マスクパターンのうち、
前記複数の第1の小領域のそれぞれに完全包含されるように配置された第1のマスクパターンを前記複数の第1の小領域のそれぞれに設定された前記第1の寸法補正量に基づいて補正し、
前記第1のマスクパターンを除いて、前記複数の第2の小領域のそれぞれに完全包含されるように配置された第2のマスクパターンを前記複数の第2の小領域のそれぞれに設定された前記第2の寸法補正量に基づいて補正する
ことを特徴とするマスクパターン作成方法。 - 前記マスクパターンのうち、
前記第1の小領域の外側に接するように第1の拡張領域を設け、
前記第1及び第2のマスクパターンと、三つ以上の前記第1の小領域と重なりを持つマスクパターンとを除いて、前記第1の拡張領域内に少なくとも一端が包含された第3のマスクパターンを前記第1の補正マップに基づいて補正し、
前記第2の小領域の外側に接するように第2の拡張領域を設け、
前記第1〜第3のマスクパターンと、三つ以上の前記第2の小領域と重なりを持つマスクパターンとを除いて、前記第2の拡張領域内に少なくとも一端が包含された第4のマスクパターンを前記第2の補正マップに基づいて補正し、
前記第1〜第4のマスクパターンを除いた第5のマスクパターンを前記第1の補正マップで分割パターンに分割し、
前記分割パターンを前記第1の補正マップに基づいて補正する
ことを、更に含むことを特徴とする請求項1に記載のマスクパターン作成方法。 - フォトマスクのパターンを半導体基板上のレジスト膜に転写する露光装置の光学像の計算に基いて光近接効果補正が実施されたマスクパターンを取得し、
補正部により、前記マスクパターンの配置面を格子状に区分した複数の第1の小領域のそれぞれに前記マスクパターンの配置に基いて第1の寸法補正量を設定した第1の補正マップと、前記複数の第1の小領域に対して境界の位置をずらした複数の第2の小領域のそれぞれに前記マスクパターンの配置に基いて第2の寸法補正量を設定した第2の補正マップとに基づいて前記マスクパターンを補正した補正パターンを作成し、
検索部により、前記マスクパターンにおいて、直角を成す2線分の一方の線分長が前記光近接効果補正による最小段差長未満、且つ、前記2線分の他方の線分長がフォトマスク基板に前記マスクパターンを描画する最小ショットサイズ未満である危険図形を検索し、
図形処理部により、前記危険図形において前記補正パターンに含まれる前記最小ショットサイズ未満の微小パターンを除去する
ことを含むことを特徴とするマスクパターン作成方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2005144650A JP4728042B2 (ja) | 2005-05-17 | 2005-05-17 | マスクパターン作成方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2005144650A JP4728042B2 (ja) | 2005-05-17 | 2005-05-17 | マスクパターン作成方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2006323023A JP2006323023A (ja) | 2006-11-30 |
JP4728042B2 true JP4728042B2 (ja) | 2011-07-20 |
Family
ID=37542774
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2005144650A Expired - Fee Related JP4728042B2 (ja) | 2005-05-17 | 2005-05-17 | マスクパターン作成方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP4728042B2 (ja) |
Families Citing this family (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2008176303A (ja) * | 2006-12-19 | 2008-07-31 | Nec Electronics Corp | マスク生成方法、マスク形成方法、パターン形成方法および半導体装置 |
JP5322443B2 (ja) * | 2008-01-21 | 2013-10-23 | ルネサスエレクトロニクス株式会社 | マスクパターンデータ作成方法および半導体装置の製造方法 |
JP5182641B2 (ja) * | 2008-12-01 | 2013-04-17 | 凸版印刷株式会社 | フォトマスクのパターンデータ生成方法、フォトマスクのパターンデータ生成装置、およびプログラム |
US10197909B2 (en) * | 2015-10-06 | 2019-02-05 | Aselta Nanographics | Method of reducing shot count in direct writing by a particle or photon beam |
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-
2005
- 2005-05-17 JP JP2005144650A patent/JP4728042B2/ja not_active Expired - Fee Related
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Publication number | Publication date |
---|---|
JP2006323023A (ja) | 2006-11-30 |
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A711 | Notification of change in applicant |
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A521 | Written amendment |
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A977 | Report on retrieval |
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A521 | Written amendment |
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|
A131 | Notification of reasons for refusal |
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A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
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R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
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FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
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S531 | Written request for registration of change of domicile |
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R350 | Written notification of registration of transfer |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350 |
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