JP4701890B2 - X線診断装置 - Google Patents
X線診断装置 Download PDFInfo
- Publication number
- JP4701890B2 JP4701890B2 JP2005208488A JP2005208488A JP4701890B2 JP 4701890 B2 JP4701890 B2 JP 4701890B2 JP 2005208488 A JP2005208488 A JP 2005208488A JP 2005208488 A JP2005208488 A JP 2005208488A JP 4701890 B2 JP4701890 B2 JP 4701890B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- ray
- variation
- fluctuation
- image
- detection
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 191
- 238000012937 correction Methods 0.000 claims description 71
- 238000009826 distribution Methods 0.000 claims description 63
- 238000004364 calculation method Methods 0.000 claims description 60
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 claims description 54
- 238000003860 storage Methods 0.000 claims description 49
- 238000003745 diagnosis Methods 0.000 claims description 31
- 230000002123 temporal effect Effects 0.000 claims description 20
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 19
- 238000013500 data storage Methods 0.000 claims description 7
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 claims description 6
- 230000006870 function Effects 0.000 description 77
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 15
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 13
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 description 7
- 230000003321 amplification Effects 0.000 description 4
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 4
- 238000003199 nucleic acid amplification method Methods 0.000 description 4
- 238000002583 angiography Methods 0.000 description 3
- 210000004204 blood vessel Anatomy 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 2
- 239000011159 matrix material Substances 0.000 description 2
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 2
- 239000002872 contrast media Substances 0.000 description 1
- 230000003247 decreasing effect Effects 0.000 description 1
- 238000002594 fluoroscopy Methods 0.000 description 1
- 238000011835 investigation Methods 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 230000036962 time dependent Effects 0.000 description 1
Images
Landscapes
- Apparatus For Radiation Diagnosis (AREA)
Description
すなわち、請求項1にかかる発明は、X線診断装置であって、X線を照射するX線照射手段と、前記X線照射手段から照射されたX線を複数の検出領域で検出するX線フラットパネル検出器と、X線診断に先立って前記X線照射手段からX線を継続して照射したときに前記X線フラットパネル検出器の複数の検出領域からそれぞれ出力されるX線検出信号を取得して、各X線検出信号の経時的な変動量に関係した変動情報として、X線照射を開始してから所定時間経過した時点の各検出領域におけるX線検出信号の変動量とこれらの変動量のうち基準になる所定の検出領域の変動量との比の分布である感度分布データと、前記基準になる所定の検出領域におけるX線検出信号の経時的な変動態様を示す変動関数とを求める前記変動情報算出手段と、前記変動情報算出手段で求められた感度分布データを記憶する感度分布データ記憶手段と、前記変動情報算出手段で求められた変動関数を記憶する変動関数記憶手段とを有する変動情報記憶手段と、X線診断の際に前記X線照射手段からX線を継続して照射したときに前記X線フラットパネル検出器の複数の検出領域からそれぞれ出力されるX線検出信号に対して、前記感度分布データ記憶手段に記憶された感度分布データと前記変動関数記憶手段に記憶された変動関数とを用いた補正演算処理を行うことにより、各X線検出信号の経時的な変動を補正する前記補正演算処理手段と、を備えていることを特徴とする。
2 …X線検出器(X線検出手段)
5 …画像記憶部(画像記憶手段)
17 …サブトラクション処理部(サブトラクション処理手段)
20 …変動情報記憶部(変動情報記憶手段)
23 …変動情報算出部(変動情報算出手段)
24 …補正演算処理部(補正演算処理手段)
25 …感度分布データメモリ(感度分布データ記憶手段)
26 …変動関数メモリ(変動関数記憶手段)
31 …ライブ像メモリ(ライブ画像記憶手段)
32 …マスク像メモリ(マスク画像記憶手段)
Claims (2)
- X線を照射するX線照射手段と、前記X線照射手段から照射されたX線を複数の検出領域で検出するX線フラットパネル検出器と、X線診断に先立って前記X線照射手段からX線を継続して照射したときに前記X線フラットパネル検出器の複数の検出領域からそれぞれ出力されるX線検出信号を取得して、各X線検出信号の経時的な変動量に関係した変動情報として、X線照射を開始してから所定時間経過した時点の各検出領域におけるX線検出信号の変動量とこれらの変動量のうち基準になる所定の検出領域の変動量との比の分布である感度分布データと、前記基準になる所定の検出領域におけるX線検出信号の経時的な変動態様を示す変動関数とを求める前記変動情報算出手段と、前記変動情報算出手段で求められた感度分布データを記憶する感度分布データ記憶手段と、前記変動情報算出手段で求められた変動関数を記憶する変動関数記憶手段とを有する変動情報記憶手段と、X線診断の際に前記X線照射手段からX線を継続して照射したときに前記X線フラットパネル検出器の複数の検出領域からそれぞれ出力されるX線検出信号に対して、前記感度分布データ記憶手段に記憶された感度分布データと前記変動関数記憶手段に記憶された変動関数とを用いた補正演算処理を行うことにより、各X線検出信号の経時的な変動を補正する前記補正演算処理手段と、を備えていることを特徴とするX線診断装置。
- 請求項1に記載のX線診断装置において、前記補正演算処理手段で補正演算処理されたX線検出信号を画像として記憶する画像記憶手段を備え、前記画像記憶手段は、マスク画像として記憶するマスク画像記憶手段と、ライブ画像として記憶するライブ画像記憶手段と、を備え、前記マスク画像記憶手段に記憶されているマスク画像と前記ライブ画像記憶手段に記憶されているライブ画像とをサブトラクション処理するサブトラクション処理手段を備えていることを特徴とするX線診断装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2005208488A JP4701890B2 (ja) | 2005-07-19 | 2005-07-19 | X線診断装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2005208488A JP4701890B2 (ja) | 2005-07-19 | 2005-07-19 | X線診断装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2007020925A JP2007020925A (ja) | 2007-02-01 |
JP4701890B2 true JP4701890B2 (ja) | 2011-06-15 |
Family
ID=37782458
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2005208488A Active JP4701890B2 (ja) | 2005-07-19 | 2005-07-19 | X線診断装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP4701890B2 (ja) |
Families Citing this family (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP5683808B2 (ja) * | 2007-02-21 | 2015-03-11 | コニカミノルタ株式会社 | X線画像システム |
WO2011073819A2 (en) * | 2009-12-15 | 2011-06-23 | Koninklijke Philips Electronics N.V. | Radiation dose based imaging detector tile parameter compensation |
JP5901973B2 (ja) * | 2011-01-11 | 2016-04-13 | 株式会社東芝 | X線診断装置 |
Citations (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS61159887A (ja) * | 1984-12-31 | 1986-07-19 | Shimadzu Corp | デジタルサブトラクシヨンシステム |
JPH05150050A (ja) * | 1991-11-27 | 1993-06-18 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 測定データ補正法 |
JPH0772256A (ja) * | 1993-09-01 | 1995-03-17 | Fuji Photo Film Co Ltd | 画像信号補正装置および方法 |
JPH1011564A (ja) * | 1996-06-21 | 1998-01-16 | Shimadzu Corp | 画像処理装置 |
JPH10260487A (ja) * | 1997-01-14 | 1998-09-29 | Canon Inc | 放射線画像撮影装置 |
JP2002158926A (ja) * | 2000-11-17 | 2002-05-31 | Minolta Co Ltd | 固体撮像装置 |
WO2003000136A1 (en) * | 2001-06-22 | 2003-01-03 | Hitachi Medical Corporation | X-ray image diagnosing device, and x-ray image data correcting method |
JP2003047605A (ja) * | 2001-08-07 | 2003-02-18 | Shimadzu Corp | 放射線撮像装置 |
JP2003156567A (ja) * | 2001-11-20 | 2003-05-30 | Shimadzu Corp | X線フラットパネル検出器の感度補正方法及びその装置並びにx線検出装置 |
-
2005
- 2005-07-19 JP JP2005208488A patent/JP4701890B2/ja active Active
Patent Citations (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS61159887A (ja) * | 1984-12-31 | 1986-07-19 | Shimadzu Corp | デジタルサブトラクシヨンシステム |
JPH05150050A (ja) * | 1991-11-27 | 1993-06-18 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 測定データ補正法 |
JPH0772256A (ja) * | 1993-09-01 | 1995-03-17 | Fuji Photo Film Co Ltd | 画像信号補正装置および方法 |
JPH1011564A (ja) * | 1996-06-21 | 1998-01-16 | Shimadzu Corp | 画像処理装置 |
JPH10260487A (ja) * | 1997-01-14 | 1998-09-29 | Canon Inc | 放射線画像撮影装置 |
JP2002158926A (ja) * | 2000-11-17 | 2002-05-31 | Minolta Co Ltd | 固体撮像装置 |
WO2003000136A1 (en) * | 2001-06-22 | 2003-01-03 | Hitachi Medical Corporation | X-ray image diagnosing device, and x-ray image data correcting method |
JP2003047605A (ja) * | 2001-08-07 | 2003-02-18 | Shimadzu Corp | 放射線撮像装置 |
JP2003156567A (ja) * | 2001-11-20 | 2003-05-30 | Shimadzu Corp | X線フラットパネル検出器の感度補正方法及びその装置並びにx線検出装置 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2007020925A (ja) | 2007-02-01 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP5405093B2 (ja) | 画像処理装置及び画像処理方法 | |
JP6603233B2 (ja) | データ処理装置、x線ct装置、及びリファレンス補正方法 | |
US7632016B1 (en) | Digital detector calibration with known exposure | |
US20130148782A1 (en) | Radiation imaging apparatus and operation method thereof | |
US9301728B2 (en) | X-ray apparatus | |
JP2008237920A (ja) | X線診断装置 | |
JP4701890B2 (ja) | X線診断装置 | |
JP2007222501A (ja) | X線透視撮影装置 | |
JP2004321346A (ja) | X線画像診断装置 | |
JP2009201586A (ja) | 放射線画像撮影装置 | |
JP2009254660A (ja) | X線撮影装置 | |
US7457452B2 (en) | Radiographic image diagnosis device | |
JP2007215918A (ja) | X線診断装置 | |
JP2009201587A (ja) | 放射線画像撮影装置 | |
JP5155020B2 (ja) | 放射線画像撮像装置及び放射線画像撮像方法 | |
US9949708B2 (en) | Radiation imaging apparatus and method of controlling the same, radiation image processing apparatus and method thereof, and computer-readable storage medium | |
JP6455337B2 (ja) | 放射線画像撮影システムおよび放射線画像撮影装置 | |
JP6305008B2 (ja) | 放射線撮影装置およびその制御方法、放射線画像処理装置および方法、並びに、プログラムおよびコンピュータ可読記憶媒体 | |
JP2018114211A (ja) | X線ct装置 | |
JP2018149166A (ja) | 放射線画像処理装置 | |
JP4146113B2 (ja) | X線診断装置 | |
JP2006230484A (ja) | X線診断装置、画像処理方法及び画像処理プログラム | |
JP7383673B2 (ja) | 画像処理装置、放射線撮影システム、画像処理方法及びプログラム | |
JP2013138280A (ja) | 放射線画像撮影装置および放射線画像撮影システム | |
JP2007213979A (ja) | X線診断装置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20070911 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20100525 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20100714 |
|
A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20100907 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20101129 |
|
A911 | Transfer to examiner for re-examination before appeal (zenchi) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A911 Effective date: 20101203 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20110208 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20110221 |
|
R151 | Written notification of patent or utility model registration |
Ref document number: 4701890 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R151 |