JP4691562B2 - 積層状態検査装置、積層状態検査方法および積層状態検出プログラム - Google Patents
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Description
ラムの実施例を図面に基づいて詳細に説明する。なお、この実施例によりこの発明が限定
されるものではない。
(1)シートの繊維方向と光の照射方向のなす角が垂直でなくなるため、傾斜角がつくほどシートの輝度が低くなる。
(2)シートの段差部は照明によって照らされることにより、他の部分と比べ反射が強く、シートに傾斜がついても輝度が高いままとなる。
3 撮像装置
4 撮像制御装置
5 照明制御装置
6 画像表示装置
60 画像処理装置
61 シート端検出部
62 重なり判定部
63 隙間量測定部
100,200 積層状態検査装置
300 コンピュータ
310 RAM
311 積層状態検出プログラム
320 CPU
321 積層状態検出プロセス
330 HDD
340 LANインタフェース
350 入出力インタフェース
360 DVDドライブ
Claims (5)
- 隣接するシートの積層状態を検査する積層状態検査装置であって、
シートの隣接箇所に所定の方向から光を照射する第1の照明手段と、
前記第1の照明手段とは反対の方向から光を照射する第2の照明手段と、
前記隣接箇所の画像を撮像する撮像手段と、
前記第1の照明手段及び前記第2の照明手段のうち、前記第1の照明手段が点灯している間に前記隣接箇所の第1の画像を前記撮像手段に撮像させ、前記第1の照明手段及び前記第2の照明手段のうち、前記第2の照明手段が点灯している間に前記隣接箇所の第2の画像を前記撮像手段に撮像させるように制御する撮像制御手段と、
を備えたことを特徴とする積層状態検査装置。 - 前記第1の画像および第2の画像からシート端を検出するシート端検出手段と、
前記シート端検出手段によるシート端の検出結果に基づいてシート間の積層状態を判定する積層状態判定手段と、
をさらに備えたことを特徴とする請求項1に記載の積層状態検査装置。 - 隣接するシートの積層状態を検査する積層状態検査手法であって、
所定の方向及び該所定の方向と反対の方向のうち、該所定の方向からシートの隣接箇所に光を照射している間に該隣接箇所の第1の画像を撮像する第1の撮像工程と、
前記所定の方向及び前記反対の方向のうち、該反対の方向から前記隣接箇所に光を照射している間に該隣接箇所の第2の画像を撮像する第2の撮像工程と、
を含んだことを特徴とする積層状態検査方法。 - 所定の方向及び該所定の方向と反対の方向のうち、該所定の方向からシートの隣接箇所に光を照射している間に該隣接箇所を撮像した第1の画像からシート端を検出する第1のシート端検出手順と、
前記所定の方向及び前記反対の方向のうち、該反対の方向から前記隣接箇所に光を照射している間に該隣接箇所を撮像した第2の画像からシート端を検出する第2のシート端検出手順と、
前記第1のシート端検出手順によるシート端の検出結果および前記第2のシート端検出手順によるシート端の検出結果に基づいてシート間の積層状態を判定する積層状態判定手順と、
をコンピュータに実行させることを特徴とする積層状態検出プログラム。 - 前記シート端検出手順は、画像の輝度が所定の閾値以上である場合には前記隣接箇所に段差があるときに生じる影を用いてシート端を検出し、画像の輝度が所定の閾値以上でない場合には前記隣接箇所に段差があるときに輝度が周辺より高くなる画像部分を用いてシート端を検出することを特徴とする請求項4に記載の積層状態検出プログラム。
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Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2014024543A1 (ja) * | 2012-08-07 | 2014-02-13 | 東レエンジニアリング株式会社 | 繊維強化プラスチックテープの貼付状態を検査する装置 |
JP2015152342A (ja) * | 2014-02-12 | 2015-08-24 | 東レエンジニアリング株式会社 | 繊維強化プラスチックテープの貼付状態を検査する装置 |
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Families Citing this family (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2011104905A (ja) * | 2009-11-18 | 2011-06-02 | Mitsubishi Heavy Ind Ltd | 複合材部品製造方法、複合材部品製造装置及び検査装置 |
US8280172B1 (en) * | 2011-03-22 | 2012-10-02 | Mitutoyo Corporation | Edge location measurement correction for coaxial light images |
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Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0375502A (ja) * | 1989-08-18 | 1991-03-29 | Central Glass Co Ltd | 積層体のエッジ検出装置 |
JPH03245003A (ja) * | 1990-02-23 | 1991-10-31 | Bridgestone Corp | 積層部材の端部位置測定装置 |
JP2001183113A (ja) * | 1999-12-27 | 2001-07-06 | Toshiba Corp | 段差検知装置 |
Family Cites Families (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5260771A (en) * | 1988-03-07 | 1993-11-09 | Hitachi, Ltd. | Method of making semiconductor integrated circuit, pattern detecting method, and system for semiconductor alignment and reduced stepping exposure for use in same |
JPH02105002A (ja) * | 1988-10-14 | 1990-04-17 | Hitachi Ltd | 半導体素子上のパターン検出方法およびそれを用いた半導体装置の製造方法およびそれに使用する投影露光装置 |
US5094539A (en) * | 1988-03-07 | 1992-03-10 | Hitachi, Ltd. | Method of making semiconductor integrated circuit, pattern detecting method, and system for semiconductor alignment and reduced stepping exposure for use in same |
US5115142A (en) * | 1989-08-18 | 1992-05-19 | Central Glass Company, Limited | Device for detecting edge of transparent sheet of laminated transparent and translucent sheet assembly |
US5120976A (en) * | 1990-07-25 | 1992-06-09 | The Boeing Company | Strip lay-up verification system with width and centerline skew determination |
US7236625B2 (en) * | 2003-07-28 | 2007-06-26 | The Boeing Company | Systems and method for identifying foreign objects and debris (FOD) and defects during fabrication of a composite structure |
US20060108048A1 (en) * | 2004-11-24 | 2006-05-25 | The Boeing Company | In-process vision detection of flaws and fod by back field illumination |
-
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Patent Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0375502A (ja) * | 1989-08-18 | 1991-03-29 | Central Glass Co Ltd | 積層体のエッジ検出装置 |
JPH03245003A (ja) * | 1990-02-23 | 1991-10-31 | Bridgestone Corp | 積層部材の端部位置測定装置 |
JP2001183113A (ja) * | 1999-12-27 | 2001-07-06 | Toshiba Corp | 段差検知装置 |
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2014024543A1 (ja) * | 2012-08-07 | 2014-02-13 | 東レエンジニアリング株式会社 | 繊維強化プラスチックテープの貼付状態を検査する装置 |
US20150212008A1 (en) * | 2012-08-07 | 2015-07-30 | Toray Engineering Co., Ltd. | Device for testing application state of fiber reinforced plastic tape |
US9664624B2 (en) | 2012-08-07 | 2017-05-30 | Toray Engineering Co., Ltd. | Device for testing application state of fiber reinforced plastic tape |
US9659358B2 (en) | 2012-12-25 | 2017-05-23 | Toray Engineering Co., Ltd. | Apparatus for checking adherence state of fiber reinforced plastic tape |
JP2015152342A (ja) * | 2014-02-12 | 2015-08-24 | 東レエンジニアリング株式会社 | 繊維強化プラスチックテープの貼付状態を検査する装置 |
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