JP4682867B2 - Electronic component mounting method - Google Patents
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Description
本発明は、1つの吸気路から分岐した複数のノズルのそれぞれに電子部品を吸着して複数の実装箇所に電子部品の実装を行う電子部品実装方法に関するものである。 The present invention relates to an electronic component mounting method for performing mounting of electronic components on one of the plurality of mounting portions to suck the electronic component to a plurality of nozzles Noso respectively branched from the intake passage.
電子部品の実装分野では、ノズルにより電子部品供給部から電子部品を吸着し、基板等の実装対象の複数の実装箇所に実装を行う実装装置が用いられている。また、電子部品の実装効率を高めるため、複数のノズル(多連ノズル)を使用したものが知られている。そして、多連ノズルに吸着した複数の電子部品を基板上の複数の実装箇所に正確に実装し、欠品基板の発生を防止することが実装品質を確保する上で重要な課題となっている。そのため、電子部品供給部から多連ノズルに吸着してピックアップした電子部品をカメラ等の認識手段により認識し、電子部品が多連ノズルの各ノズルに吸着されているか否かの確認を行っている。 In the field of electronic component mounting, a mounting apparatus is used in which an electronic component is sucked from an electronic component supply unit by a nozzle and mounted at a plurality of mounting locations such as a substrate. Moreover, in order to improve the mounting efficiency of electronic components, one using a plurality of nozzles (multiple nozzles) is known. And, it is an important issue to ensure the mounting quality to accurately mount a plurality of electronic components attracted by the multiple nozzles at a plurality of mounting locations on the substrate and prevent the occurrence of a missing substrate. . For this reason, the electronic component picked up by picking up the multiple nozzles from the electronic component supply unit is recognized by a recognition means such as a camera, and it is confirmed whether or not the electronic components are picked up by each nozzle of the multiple nozzles. .
しかし、電子部品を吸着していると確認された場合であっても、多連ノズルが基板上の実装箇所に移動するまでの間に電子部品が落下することがある。この場合、カメラによる認識結果に基づいて実装が行われるので、実際には電子部品を吸着していないノズルにより実装が行われることがあり、欠品基板が発生するおそれがあった。 However, even when it is confirmed that the electronic component is adsorbed, the electronic component may fall before the multiple nozzles move to the mounting location on the substrate. In this case, since the mounting is performed based on the recognition result by the camera, the mounting may be actually performed by the nozzle that does not suck the electronic component, and there is a possibility that a missing substrate may be generated.
このような問題を解決する手段として、多連ノズルの吸気路内の圧力の変化を真空圧センサで検知し、電子部品を吸着した時点の真空圧と実装を行う前の時点の真空圧との差が閾値を超える場合に、移動途中で何れかのノズルで電子部品の落下が発生したことを検出する方法が提案されている(特許文献1参照)。
しかしながら、移動途中で何れかのノズルから電子部品が落下した場合、当該ノズル周辺における真空圧の変化が吸気路全体の真空圧の変化として表れるには一定の時間を要する。そのため、多連ノズルに電子部品を吸着してから実装するまでの移動時間が短いと、吸気路内の真空圧の変化が安定しない段階で閾値と比較されるので、電子部品が落下していても吸気路内の真空圧の変化が閾値を超えない場合がある。この場合、電子部品の落下が検出されないので、電子部品の落下が発生したノズルにより実装が行われ、欠品基板が発生するおそれがあった。 However, when an electronic component falls from any nozzle during the movement, it takes a certain time for the change in the vacuum pressure around the nozzle to appear as the change in the vacuum pressure in the entire intake passage. Therefore, if the movement time from the time when the electronic component is attracted to the multiple nozzles until the mounting is short, the change in the vacuum pressure in the intake passage is compared with the threshold value when it is not stable, the electronic component has dropped. In some cases, the change in the vacuum pressure in the intake passage does not exceed the threshold value. In this case, since the drop of the electronic component is not detected, the mounting is performed by the nozzle in which the drop of the electronic component has occurred, and there is a possibility that a missing substrate may be generated.
そこで本発明は、多連ノズルからの電子部品の落下を正確に検出することで欠品基板の発生を防止することができる電子部品実装方法を提供することを目的とする。 The present invention aims to provide an electronic part Shinami instrumentation method capable of preventing the occurrence of a shortage substrate by accurately detecting the dropping of the electronic component from the array type nozzle.
請求項1記載の電子部品実装方法は、1つの吸気路から分岐した複数のノズルに吸着された電子部品を認識する認識工程と、前記認識工程後に前記吸気路内の真空圧を検知する第1の検知工程と、前記第1の検知工程後に前記複数のノズルを電子部品の最初の実装箇所の上方に移動させる第1の移動工程と、前記第1の移動工程が開始した時点からの経過時間を測定する第1の測定工程と、前記第1の移動工程が終了した時点において、前記第1の測定工程において測定された経過時間が第1の所定時間を超えている場合には、前記第1の移動工程が終了した時点において前記吸気路内の真空圧を検知し、前記第1の移動工程が終了した時点において、前記第1の測定工程において測定された経過時間が前記第1の所定時間を超えていない場合には、前記第1の所定時間が経過した時点において前記吸気路内の真空圧を検知する第2の検知工程と、前記第2の検知工程において検知された前記吸気路内の真空圧と前記第1の検知工程において検知された前記吸気路内の真空圧との差が第1の閾値以下である場合に、前記最初の実装箇所に電子部品を実装する第1の実装工程と、前記第1の実装工程後に前記吸気路内の真空圧を検知する第3の検知工程と、前記第3の検知工程後に前記複数のノズルを電子部品の次の実装箇所の上方に移動させる第2の移動工程と、前記第2の移動工程が開始した時点からの経過時間を測定する第2の測定工程と、前記第2の移動工程が終了した時点において、前記第2の測定工程において測定された経過時間が第2の所定時間を超えている場合には、前記第2の移動工程が終了した時点において前記吸気路内の真空圧を検知し、前記第2の移動工程が終了した時点において、前記第2の測定工程において測定された経過時間が前記第2の所定時間を超えていない場合には、前記第2の所定時間が経過した時点において前記吸気路内の真空圧を検知する第4の検知工程と、前記第4の検知工程において検知された前記吸気路内の真空圧と前記第3の検知工程において検知された前記吸気路内の真空圧との差が第2の閾値以下である場合に、前記次の実装箇所に電子部品を実装する第2の実装工程と、前記第2の移動工程および前記第2の測定工程、前記第3の検知工程、前記第4の検知工程、前記第2の実装工程を繰り返し行うことにより、複数の実装箇所に電子部品を順次実装する工程と、を含む。
The electronic component mounting method according to
請求項2記載の電子部品実装方法は、請求項1記載の電子部品実装方法において、前記第2の検知工程において検知された前記吸気路内の真空圧と前記第1の検知工程において検知された前記吸気路内の真空圧との差が第1の閾値を超えている場合に、前記第1の実装工程において電子部品を実装しない。
The electronic component mounting method according to
請求項3記載の電子部品実装方法は、請求項1または2記載の電子部品実装方法において、前記第4の検知工程において検知された前記吸気路内の真空圧と前記第3の検知工程において検知された前記吸気路内の真空圧との差が第2の閾値を超えている場合に、前記第2の実装工程において電子部品を実装しない。
Electronic component mounting method according to
請求項4記載の電子部品実装方法は、請求項1乃至3の何れかに記載の電子部品実装方法において、前記第2の所定時間が前記第1の所定時間より小さく設定されているとともに前記第2の閾値が前記第1の閾値より小さく設定されている。
An electronic component mounting method according to a fourth aspect is the electronic component mounting method according to any one of the first to third aspects, wherein the second predetermined time is set to be smaller than the first predetermined time. The
本発明によれば、多連ノズルの移動後における真空圧が移動開始時点から所定時間を経過した後に検知されるので、多連ノズルの移動距離に影響されることなく電子部品の落下を正確に検出することが可能となり、欠品基板の発生を防止することができる。 According to the present invention, since the vacuum pressure after the movement of the multiple nozzles is detected after a predetermined time has elapsed from the start of movement, the electronic component can be accurately dropped without being affected by the movement distance of the multiple nozzles. It becomes possible to detect, and generation | occurrence | production of a missing-part board | substrate can be prevented.
本発明の一実施の形態について図面を参照して説明する。図1は本発明の一実施の形態の電子部品実装装置の平面図、図2は本発明の一実施の形態の電子部品実装装置における吸気系の構成図、図3は本発明の一実施の形態の電子部品実装装置における制御系の構成図、図4は本発明の一実施の形態の電子部品実装装置における吸気路内の真空圧の変化の様子を示す説明図、図5は本発明の一実施の形態の電子部品実装装置における吸気路内の真空圧の変化の様子を示す説明図、図6は本発明の一実施の形態における電子部品実装方法の工程を示すフローチャートである。 An embodiment of the present invention will be described with reference to the drawings. 1 is a plan view of an electronic component mounting apparatus according to an embodiment of the present invention, FIG. 2 is a configuration diagram of an intake system in the electronic component mounting apparatus according to an embodiment of the present invention, and FIG. 3 is an embodiment of the present invention. 4 is a configuration diagram of a control system in the electronic component mounting apparatus according to the embodiment, FIG. 4 is an explanatory diagram showing a change in vacuum pressure in the intake passage in the electronic component mounting apparatus according to the embodiment of the present invention, and FIG. FIG. 6 is an explanatory diagram showing a change in vacuum pressure in the air intake passage in the electronic component mounting apparatus of one embodiment, and FIG. 6 is a flowchart showing the steps of the electronic component mounting method in one embodiment of the present invention.
まず、電子部品実装装置の全体構成について説明する。図1において、基台1上の略中央にはX方向に延伸する搬送路2が配設されている。搬送路2は、基板3を搬送して所定位置に位置決めする機能を有している。なお、本発明において、基板3の搬送方向をX方向とし、これに水平面内で直交する方向をY方向とする。搬送路2のY方向における両側方は電子部品供給部4となっており、複数個のパーツフィーダ5が基台1に対して着脱自在に並設されている。パーツフィーダ5には多数の電子部品が格納されている。
First, the overall configuration of the electronic component mounting apparatus will be described. In FIG. 1, a
基台1の縁部には、Y方向に延伸するYテーブル6とX方向に延伸するXテーブル7が配設されている。Xテーブル7には実装ヘッド8が配設されている。実装ヘッド8には、図2に示すように、電子部品を吸着する複数のノズル群である多連ノズル20(本実施の形態では10個のノズルをX方向に一列に配列したノズル群を示している)が装着されている。多連ノズル20の各ノズルは昇降、回転自在に構成されており、吸着した電子部品の姿勢変更を独立して行うことができるようになっている。実装ヘッド8は、Yテーブル6およびXテーブル7により基台1上を水平移動可能に構成されており、パーツフィーダ5から供給される電子部品をピックアップして基板3に実装する機能を有している。
At the edge of the
図1において、実装ヘッド8の側方には側像手段であるカメラ9が配設されており、実装ヘッド8と一体となって基台1上を水平移動可能に構成されている。カメラ9は、下方の電子部品や基板3等に設けられた位置合わせ用のマークを撮像する機能を有している。また、搬送路2と電子部品供給部4の間には電子部品認識手段であるラインカメラ10が配設されており、多連ノズル20に吸着された電子部品を下方からスキャニングする機能を有している。
In FIG. 1, a
次に、電子部品実装装置における多連ノズルの吸気系の構成について説明する。図2において、多連ノズル20の各ノズルには通気路21が形成されており、各通気路21は1つの吸気路22と連通するように構成されている。吸気路22内は真空発生源23により負圧に保たれており、各ノズルに電子部品を吸着することができるようになっている。各通気路21には、通気路の開閉を行うバルブ24が備えられており、バルブ24の開閉により任意のノズルにおける電子部品の吸着または非吸着を選択することができる。吸気路22には真空圧センサ25が備えられており、吸気路22内の真空圧が検知できるようになっている。
Next, the configuration of the intake system of the multiple nozzles in the electronic component mounting apparatus will be described. In FIG. 2, an
次に、電子部品実装装置の制御系の構成について説明する。図3において、制御部30
は、搬送路2の駆動機構2a、パーツフィーダ5、Yテーブル6の駆動機構6a、Xテーブル7の駆動機構7a、カメラ9、ラインカメラ10、多連ノズル20、真空発生源23、バルブ24、真空圧センサ25の各部と接続されている。制御部30には演算部31と記憶部32が含まれており、演算部31は、記憶部31に記憶された電子部品や基板、ノズル等に関するデータや制御プログラムに基づいて各種の演算処理を行い、電子部品実装装置における実装動作の制御を行うように構成されている。また、演算部31は、カメラ9、ラインカメラ10により撮像された位置合わせ用のマークやノズルに吸着された電子部品の画像を処理して位置認識を行う機能を備えており、実装動作における位置決め制御を行う。操作入力部33は、キーボードやドライバ等から構成され、記憶部31にデータや制御プログラム等を入力するほか、演算部31に直接アクセスして電子部品実装装置の操作を行うことができる。出力部34は、CRTや液晶パネル等の可視表示手段や警告手段等から構成され、電子部品実装装置における動作状況を可視表示するほか、実装動作中に不具合が生じた場合等にエラー警告を行うようになっている。
Next, the configuration of the control system of the electronic component mounting apparatus will be described. In FIG. 3, the
Are a drive mechanism 2a of the
次に、電子部品実装装置における電子部品落下検出方法について説明する。図2において、多連ノズル20に吸着された電子部品のうち何れかの電子部品が落下すると、落下が発生したノズルから外気が吸引され吸気路22内の真空圧が低下する。図4は、電子部品の落下が発生した場合の吸気路内の真空圧の変化を示している。多連ノズル20に電子部品を吸着した状態における真空圧はp0である。電子部品を吸着した多連ノズル20は基板3上の実装箇所の上方に移動し、実装対象となる電子部品を吸着したノズルと実装箇所の位置合わせが行われる。一般に多連ノズル20の移動の際には、電子部品実装装置に備えられた各駆動機構が一時に駆動を開始するため、ノズルから電子部品が落下する事故が発生し易い。移動開始直後の時点t1において多連ノズル20の何れかのノズルから電子部品が落下すると、真空圧は電子部品の落下直後に急速に低下し、その後低下率が徐々に減少し最終的に定常化する。
Next, an electronic component fall detection method in the electronic component mounting apparatus will be described. In FIG. 2, when any one of the electronic components sucked by the
多連ノズル20の移動終了時点t2における真空圧はp1である。多連ノズル20の移動前後の真空圧p0、p1は、演算部31による制御指令に基づいて真空圧センサ25により検知され、これらの真空圧p0、p1の差Δp1が演算される。演算された真空圧の差Δp1は、記憶部32に予め記憶された閾値thと比較され、真空圧の差Δp1が閾値thを超えているときには、多連ノズル20の移動途中で少なくとも何れか1つのノズルから電子部品が落下したと判断され、エラー処理が行われる。このエラー処理により電子部品実装装置における実装動作を停止し、電子部品の落下が発生したノズルによる実装(空実装)が行われることにより欠品基板が発生する不具合を防止する。また、警告灯や警告音等の警告手段によりオペレータに通知される。
The vacuum pressure at the time t2 when the movement of the
閾値thは、少なくとも1つの電子部品の落下の前後において変化する真空圧の差より小さい値に設定されており、真空圧の差が閾値thを超えているときには、少なくとも1つのノズルから電子部品が落下したことが検出できるようになっている。 The threshold th is set to a value smaller than the difference in vacuum pressure that changes before and after the fall of at least one electronic component. When the difference in vacuum pressure exceeds the threshold th, the electronic component is removed from at least one nozzle. It is possible to detect that it has fallen.
ところで、あるノズルから電子部品が落下した場合、まず当該ノズル周辺に局所的な真空圧の変化が発生し、徐々に周囲に伝播しつつ最終的に吸気路22内全体の真空圧が安定する。図4に示すように、電子部品が落下した時点t1からの真空圧の変化が真空圧センサ25により安定した値として検知されるのは、真空圧の低下がほぼ定常化する時点t3であり、電子部品が落下してからΔt(=t3−t1)の時間を要する。そのため、図5に示すように、多連ノズル20の移動時間が短いと、吸気路22内の真空圧の変化が安定しない(下がりきらない)時点t4において真空圧p2が検知されてしまい、真空圧の差Δp2(=p2−p0)が閾値thを超えない場合が起こりうる。このような場合に電子部品の落下を正確に検出できないと、電子部品の落下が発生したノズルにより実装動作が行われ、欠品基板が発生するおそれがある。
By the way, when an electronic component falls from a certain nozzle, first, a local change in vacuum pressure is generated around the nozzle, and finally the entire vacuum pressure in the intake passage 22 is stabilized while gradually propagating to the surroundings. As shown in FIG. 4, the change in the vacuum pressure from the time point t1 when the electronic component is dropped is detected as a stable value by the
そのため、多連ノズル20の移動開始時点から真空圧の低下がほぼ定常化するまでの定常化時間Δtが経過した以降において多連ノズル20の移動終了後の真空圧の検知を行うことで、吸気路22内の真空圧の変化が安定した段階における真空圧の検知を行う。演算部31は、多連ノズル20の移動開始時点t0から定常化時間Δtが経過するまでを計測し、定常化時間Δtが経過する以前の時点t4において多連ノズル20が移動終了した場合であっても真空圧の検知を行わず、定常化時間Δtが経過した時点t3で真空圧p3の検知を行う。
Therefore, by detecting the vacuum pressure after completion of the movement of the
すなわち、図4においては、多連ノズル20の移動距離が比較的大きく、移動に要する時間t0〜t2が定常化時間Δtより長いので、多連ノズル20の移動終了時点t2においては定常化時間Δtが経過している。そのため、多連ノズル20の移動終了時点t2において真空圧p1の検知を行い、真空圧p0、p1の差Δp1と閾値thの比較を行う。一方、図5においては、多連ノズル20の移動距離が比較的小さく、移動に要する時間t0〜t4が定常化時間Δtより短いので、多連ノズル20の移動終了時点t4においては定常化時間Δtが経過していない。そのため、多連ノズル20の移動終了後、定常化時間Δtが経過した時点t3において真空圧p3の検知を行い、真空圧p0、p3の差Δp3と閾値thの比較を行う。
That is, in FIG. 4, since the moving distance of the
なお、図4、図5において、多連ノズル20の移動開始時点t0から電子部品の落下発生時点t1までの時間は極めて短い。また、真空圧の低下が定常化する時点t3前後における真空圧の差は極めて小さい。そのため、図5において、多連ノズル20の移動開始時点t0から定常化時間Δtを経過する時点は、ほぼt3と同じ時点となる。従って、演算部31により演算される多連ノズル20の移動前後の真空圧の差は、ほぼΔp3と同じとなる。一方、稀にではあるが多連ノズル20の移動終了直前で電子部品が落下する場合が起こりうる。この場合、多連ノズル20の移動開始時点t0から定常化時間Δtを経過する時点が、電子部品落下発生時点の直後であると、定常化時間Δが経過した時点であっても真空圧が安定していないことがある。この場合を想定し、多連ノズル20の移動終了時点から定常化時間Δtを経過した時点で真空圧の検知を行うようにすることもできる。
4 and 5, the time from the movement start time t0 of the
また、ノズルから流入する空気の流量がノズルの開口径に依存すること、および吸着する電子部品が小さい場合には完全な密閉状態にならないことから、定常化時間Δtは、ノズルや電子部品の品種等により異なるので、電子部品実装装置において使用されるノズルや電子部品に対応したものを予め設定して記憶部32に記憶させている。実装の際には操作入力部33によりノズルや電子部品等の品種を予め入力すると、演算部31は入力された品種に対応した定常化時間Δtを使用して電子部品の落下の検出処理を行う。 In addition, since the flow rate of air flowing from the nozzle depends on the opening diameter of the nozzle and the electronic component to be adsorbed is not completely sealed, the steady time Δt is the type of the nozzle or electronic component. Therefore, nozzles and electronic components used in the electronic component mounting apparatus are set in advance and stored in the storage unit 32. At the time of mounting, if a type such as a nozzle or an electronic component is input in advance by the operation input unit 33, the calculation unit 31 performs a detection process of the drop of the electronic component using the steady time Δt corresponding to the input type. .
また、本実施の形態において多連ノズル20の移動終了後の真空圧を検知するタイミングに定常化時間Δtを使用したのは、電子部品落下発生後における真空圧の変化が安定した時点で信頼性の高い真空圧の検知を行うことが望ましいからであるが、本発明は、定常化時間Δt以外の所定の時間と、これに対応した閾値を設定することによってもその目的を達することができる。
In the present embodiment, the stabilization time Δt is used as the timing for detecting the vacuum pressure after completion of the movement of the
また、多連ノズル20の移動前の真空圧p0を検知する真空圧センサ25をゼロリセットすることにより、多連ノズル20の移動前後の真空圧の差Δp1やΔp3を相対真空圧p1やp3として直接検知することができる。この場合、演算部31は、多連ノズル20の移動後に真空圧センサ25により検知された相対真空圧と記憶部32に予め記憶された閾値th1とを比較して電子部品の落下の判断を行う。
Further, by resetting the
次に、電子部品実装方法について説明する。図6は、上述した電子部品実装装置におけ
る実装動作を工程順に示したフローチャートである。図6において、まず、多連ノズル20の各ノズルに電子部品を吸着する(ST1)。各ノズルに吸着された電子部品をラインカメラ10によりスキャニングし、電子部品の位置および姿勢認識を行う(認識工程:ST2)。このとき電子部品が認識されなかった未吸着ノズルについては、欠品基板の発生を防止するため以後の実装動作を行わない。
Next, an electronic component mounting method will be described. FIG. 6 is a flowchart showing the mounting operation in the electronic component mounting apparatus described above in the order of steps. In FIG. 6, first, an electronic component is adsorbed to each nozzle of the multiple nozzle 20 (ST1). The electronic component sucked by each nozzle is scanned by the
次に、多連ノズル20の吸気路22内の真空圧の検知を行う(第1の検知工程:ST3)。真空圧の検知後、多連ノズル20を基板3の上方へ移動させ、基板3に最初に実装される電子部品を吸着したノズルと基板3上に設定された最初の実装箇所の位置合わせを行う(第1の移動工程:ST4)。また、多連ノズル20の移動開始時点からの経過時間の測定を行う(第1の測定工程:ST5)。多連ノズル20の移動終了後、予め設定された第1の所定時間が経過したかどうかの判定がなされ(ST6)、第1の移動工程(ST4)が終了した時点において、第1の測定工程(ST5)において測定された経過時間が第1の所定時間を超えている場合には、第1の移動工程(ST4)が終了した時点において真空圧の検知を行う。一方、第1の移動工程(ST4)が終了した時点において、第1の測定工程(ST5)において測定された経過時間が第1の所定時間を超えていない場合には、第1の所定時間が経過した時点において真空圧の検知を行う(第2の検知工程:ST7)。
Next, the vacuum pressure in the intake passage 22 of the
次に、第1の検知工程(ST3)と第2の検知工程(ST7)において検知された真空圧の差を演算し、演算結果と予め設定された第1の閾値との比較を行う(ST8)。演算結果が第1の閾値以下である場合は、第1の移動工程(ST4)において電子部品の落下が発生していないと判断され、最初の実装箇所に電子部品の実装を行う(ST9:第1の実装工程)。一方、演算結果が第1の閾値を超えている場合には、第1の移動工程(ST4)において電子部品の落下が発生したと判断され、実装動作を中断してエラー処理を行う(ST10)。 Next, the difference in vacuum pressure detected in the first detection step (ST3) and the second detection step (ST7) is calculated, and the calculation result is compared with a preset first threshold (ST8). ). If the calculation result is equal to or less than the first threshold value, it is determined that the electronic component has not dropped in the first movement step (ST4), and the electronic component is mounted at the first mounting location (ST9: No. 1). 1 mounting process). On the other hand, if the calculation result exceeds the first threshold value, it is determined that the electronic component has dropped in the first movement step (ST4), and the mounting operation is interrupted to perform error processing (ST10). .
第1の実装工程(ST9)において、基板3上に設定された最初の実装箇所に電子部品の実装を行った後、同じく基板3上に設定された次の実装箇所に電子部品の実装を行う。まず、第1の実装工程(ST9)後に、多連ノズル20の吸気路22内の真空圧の検知を行う(第3の検知工程:ST11)。真空圧の検知後、多連ノズル20を基板3の上方へ移動させ、基板3に次に実装される電子部品を吸着したノズルと基板3上に設定された次の実装箇所の位置合わせを行う(第2の移動工程:ST12)。また、多連ノズル20の移動開始時点からの経過時間の測定を行う(第2の測定工程:ST13)。多連ノズル20の移動終了後、予め設定された第2の所定時間が経過したかどうかの判定がなされ(ST14)、第2の移動工程(ST12)が終了した時点において、第2の測定工程(ST13)において測定された経過時間が第2の所定時間を超えている場合には、第2の移動工程(ST12)が終了した時点において真空圧の検知を行う。一方、第2の移動工程(ST12)が終了した時点において、第2の測定工程(ST13)において測定された経過時間が第2の所定時間を超えていない場合には、第2の所定時間が経過した時点において真空圧の検知を行う(第4の検知工程:ST15)。
In the first mounting step (ST9), after mounting the electronic component on the first mounting location set on the
次に、第3の検知工程(ST11)と第4の検知工程(ST15)において検知された真空圧の差を演算し、演算結果と予め設定された第2の閾値との比較を行う(ST16)。演算結果が第2の閾値以下である場合は、第2の移動工程(ST12)において電子部品の落下が発生していないと判断され、実装箇所に電子部品の実装を行う(ST17:第2の実装工程)。一方、演算結果が第2の閾値を超えている場合には、第2の移動工程(ST12)において電子部品の落下が発生したと判断され、実装動作を中断してエラー処理を行う(ST18)。以後、第3の検知工程(ST11)から第2の実装工程(ST17)までの諸工程を所定回数繰り返し行うことにより、基板3上に設定された実装箇所に
電子部品の実装を順次行い、全ての実装箇所に電子部品の実装が完了すると実装動作が終了する。
Next, the difference in vacuum pressure detected in the third detection step (ST11) and the fourth detection step (ST15) is calculated, and the calculation result is compared with a preset second threshold value (ST16). ). If the calculation result is less than or equal to the second threshold, it is determined that the electronic component has not dropped in the second movement step (ST12), and the electronic component is mounted at the mounting location (ST17: second). Mounting process). On the other hand, if the calculation result exceeds the second threshold value, it is determined that the electronic component has dropped in the second movement step (ST12), and the mounting operation is interrupted to perform error processing (ST18). . Thereafter, by repeating the steps from the third detection step (ST11) to the second mounting step (ST17) a predetermined number of times, electronic components are sequentially mounted on the mounting locations set on the
以上の各工程を経て行われる実装動作によれば、多連ノズル20からの電子部品の落下を正確に検出することができるので、欠品基板の発生を防止することができる。なお、第1の所定時間およびこれに対応する第1の閾値と、第2の所定時間およびこれに対応する第2の閾値は、それぞれ独立して設定することが可能である。本実施の形態における第2の移動工程(ST12)は、基板3上で最初の実装箇所から次の実装箇所へ移動工程であるので、第1の移動工程(ST4)における移動距離より小さい。そのため、第2の所定時間を第1の所定時間と同じに設定すると、第4の検知工程(ST15)において第1の所定時間が経過するまでの時間がロス時間となる場合がある。この場合、第2の所定時間を第1の所定時間より小さく設定し、これに対応して第2の閾値も第1の閾値より小さく設定することでロス時間を減少させることができる。
According to the mounting operation performed through the above steps, it is possible to accurately detect the drop of the electronic component from the
本発明の電子部品実装方法によれば、多連ノズルの移動距離に影響されることなく電子部品の落下を正確に検出することが可能となり、欠品基板の発生を防止することができるので、1つの吸気路から分岐した複数のノズルのそれぞれに電子部品を吸着して複数の実装箇所に電子部品の実装を行う分野において有用である。 According to the electronic unit Shinami instrumentation process of the present invention, it is possible to it is possible to accurately detect the dropping of the electronic component without being affected by the moving distance of the array type nozzle, to prevent the occurrence of shortage substrate Therefore, it is useful in the field where an electronic component is attracted to each of a plurality of nozzles branched from one intake passage and the electronic component is mounted at a plurality of mounting locations.
20 多連ノズル
22 吸気路
20 Multiple nozzles 22 Air intake passage
Claims (4)
前記認識工程後に前記吸気路内の真空圧を検知する第1の検知工程と、
前記第1の検知工程後に前記複数のノズルを電子部品の最初の実装箇所の上方に移動させる第1の移動工程と、
前記第1の移動工程が開始した時点からの経過時間を測定する第1の測定工程と、
前記第1の移動工程が終了した時点において、前記第1の測定工程において測定された経過時間が第1の所定時間を超えている場合には、前記第1の移動工程が終了した時点において前記吸気路内の真空圧を検知し、前記第1の移動工程が終了した時点において、前記第1の測定工程において測定された経過時間が前記第1の所定時間を超えていない場合には、前記第1の所定時間が経過した時点において前記吸気路内の真空圧を検知する第2の検知工程と、
前記第2の検知工程において検知された前記吸気路内の真空圧と前記第1の検知工程において検知された前記吸気路内の真空圧との差が第1の閾値以下である場合に、前記最初の実装箇所に電子部品を実装する第1の実装工程と、
前記第1の実装工程後に前記吸気路内の真空圧を検知する第3の検知工程と、
前記第3の検知工程後に前記複数のノズルを電子部品の次の実装箇所の上方に移動させる第2の移動工程と、
前記第2の移動工程が開始した時点からの経過時間を測定する第2の測定工程と、
前記第2の移動工程が終了した時点において、前記第2の測定工程において測定された経過時間が第2の所定時間を超えている場合には、前記第2の移動工程が終了した時点において前記吸気路内の真空圧を検知し、前記第2の移動工程が終了した時点において、前記第2の測定工程において測定された経過時間が前記第2の所定時間を超えていない場合には、前記第2の所定時間が経過した時点において前記吸気路内の真空圧を検知する第4の検知工程と、
前記第4の検知工程において検知された前記吸気路内の真空圧と前記第3の検知工程において検知された前記吸気路内の真空圧との差が第2の閾値以下である場合に、前記次の実装箇所に電子部品を実装する第2の実装工程と、
前記第2の移動工程および前記第2の測定工程、前記第3の検知工程、前記第4の検知工程、前記第2の実装工程を繰り返し行うことにより、複数の実装箇所に電子部品を順次実装する工程と、
を含む電子部品実装方法。 A recognition process for recognizing electronic components adsorbed by a plurality of nozzles branched from one intake passage;
A first detection step of detecting a vacuum pressure in the intake passage after the recognition step;
A first movement step of moving the plurality of nozzles above the first mounting location of the electronic component after the first detection step;
A first measuring step for measuring an elapsed time from the time when the first moving step is started;
When the elapsed time measured in the first measurement process exceeds the first predetermined time at the time when the first movement process is completed, the time at which the first movement process is completed is When the elapsed time measured in the first measurement step does not exceed the first predetermined time when the vacuum pressure in the intake passage is detected and the first movement step is completed, A second detection step of detecting a vacuum pressure in the intake passage when the first predetermined time has elapsed;
When the difference between the vacuum pressure in the intake passage detected in the second detection step and the vacuum pressure in the intake passage detected in the first detection step is equal to or less than a first threshold, A first mounting step of mounting an electronic component at the first mounting location;
A third detection step of detecting a vacuum pressure in the intake passage after the first mounting step;
A second moving step of moving the plurality of nozzles above the next mounting location of the electronic component after the third detecting step;
A second measuring step for measuring an elapsed time from the time when the second moving step is started;
When the elapsed time measured in the second measurement process exceeds the second predetermined time at the time when the second movement process is completed, the time at which the second movement process is completed is When the elapsed time measured in the second measurement step does not exceed the second predetermined time at the time when the vacuum pressure in the intake passage is detected and the second movement step is finished, A fourth detection step of detecting a vacuum pressure in the intake passage when a second predetermined time has elapsed;
When the difference between the vacuum pressure in the intake passage detected in the fourth detection step and the vacuum pressure in the intake passage detected in the third detection step is equal to or less than a second threshold, A second mounting step of mounting an electronic component on the next mounting location;
By sequentially performing the second moving step, the second measuring step, the third detecting step, the fourth detecting step, and the second mounting step, electronic components are sequentially mounted at a plurality of mounting locations. And a process of
An electronic component mounting method including:
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