JP4680565B2 - レチクルホルダおよびレチクルのアセンブリ - Google Patents
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Description
− 放射線の投影ビームを供給する照明システムと、
− パターン付与手段を支持する支持構造とを有し、パターン付与手段が、投影ビームの断面にパターンを与える働きをし、さらに、
− 基板を保持する基板ホルダと、
− パターン付与したビームを基板の目標部分に投影する投影システムとを有し、
装置が、請求項1から7いずれかに記載の少なくとも1つのアセンブリおよび/または請求項8から16いずれかに記載の少なくとも1つのシステムおよび/または請求項17または18に記載の少なくとも1つの支持構造および/または請求項19に記載の少なくとも1つのレチクルホルダおよび/または請求項20から23いずれかに記載の少なくとも1つの保存箱を有するものであるリソグラフィ装置が提供される。
− 放射線の投影ビームPB(例えばUV放射線、EUV放射線または他のタイプの放射線)を供給する放射線システム(照明装置)ILと、
− パターン付与手段(例えばマスク)を支持するために、品目PLに対して正確にパターン付与手段の位置決めを行う第一位置決め手段PMに連結を行った第一支持構造(例えばマスクテーブル)と、
− 基板(例えばレジスト塗布ウェハ)を保持するために、品目PLに対して正確に基板の位置決めを行う第二位置決め手段PWに連結を行った基板テーブル(例えばウェハテーブル)WTと、
− パターン付与手段MAによって投影ビームPBに与えられたパターンを基板Wの目標部分C(例えば1つあるいはそれ以上のダイから成る)に描像する投影システム(例えば屈折性投影レンズ)PLとを有する。
1.ステップモードにおいては、マスクテーブルMTおよび基板テーブルWTは基本的に静止状態に保たれている間に、投影ビームに与えた模様全体が1回の作動(すなわち1回の静止露光)で目標部分Cに投影される。次に基板テーブルWTがX方向および/あるいはY方向にシフトされ、異なる目標部分Cを露光することができる。ステップモードでは、露光フィールドの最大サイズが、1回の静止露光で描像される目標部分Cのサイズを制限する。
2.走査モードにおいては、マスクテーブルMTおよび基板テーブルWTを同期操作する一方、投影ビームに与えられた模様を目標部分Cに投影する(つまり1回の動的露光)。マスクテーブルMTに対する基板テーブルWTの速度および方向は、投影システムPLの拡大(縮小)および像反転特性によって決定される。走査モードでは、露光フィールドの最大サイズが、1回の動的露光で目標部分の(非走査方向における)幅を制限し、走査動作の長さが目標部分の(走査方向における)高さを決定する。
3.別のモードでは、マスクテーブルMTが基本的に静止状態に維持されて、プログラマブルパターン付与手段を保持し、投影ビームに与えられたパターンを目標部分Cに投影する間に、基板テーブルWTが動作するか、走査される。このモードでは、一般的にパルス状放射線ソースを使用して、プログラム可能なパターン付与手段は、基板テーブルWTを動作させるごとに、または走査中に連続する放射線パルス間に、必要に応じて更新される。この動作モードは、以上で言及したようなタイプのプログラマブルミラーアレイなどのプログラム可能なパターン付与手段を使用するマスクなしリソグラフィに容易に適用することができる。
Claims (13)
- レチクル及びレチクルホルダのアセンブリであって、
前記レチクルホルダの状態が、レチクル阻止状態とレチクル解放状態との間で調節可能であり、
前記レチクルホルダは、前記レチクルホルダが前記レチクル阻止状態にある場合に、実質的に力を加えない方法で少なくとも1つの方向にて前記レチクルを保持するよう配置構成され、
前記レチクルホルダは、前記レチクルホルダが前記レチクル解放状態にある場合に、前記レチクルを解放するよう配置構成され、
前記レチクルホルダは、前記レチクル阻止状態と前記レチクル解放状態とをそれぞれ提供するために、レチクル阻止位置とレチクル解放位置との間で動作可能な少なくとも1つの可動レチクル保持要素を有し、
少なくとも1つの可動レチクル保持要素は、前記レチクル阻止位置で固定されるよう配置構成され、
前記可動レチクル保持要素が、前記レチクル阻止位置にあり、前記レチクルが前記レチクルホルダによって保持されている場合に、各可動レチクル保持要素と前記レチクルとの間の距離は、0nm以上且つ約1μm未満である、アセンブリ。 - 前記可動レチクル保持要素が前記レチクル解放位置にある場合に、各可動レチクル保持要素と前記レチクルとの間の距離は、約1μmより大きい、特には約100μmより大きい、さらに特には約1mmより大きい、請求項1に記載のアセンブリ。
- 前記レチクルホルダは、前記レチクル阻止状態と前記レチクル解放状態とをそれぞれ提供するため、固体状態と変形可能な状態とにすることができる少なくとも1つの物質、例えば、凍結可能な流体、強磁性流体及び/又は熱可塑性樹脂を有する、請求項1又は請求項2に記載のアセンブリ。
- 前記レチクルホルダは、実質的に力を加えない方法で前記レチクルを保持するために前記レチクルの少なくとも一部に突き当たるよう配置構成された少なくとも1つの不動レチクル保持要素を有する、請求項1乃至請求項3のうち何れか1項に記載のアセンブリ。
- 前記レチクルホルダは、前記レチクルの側部を支持する支持フレームを有する、請求項1乃至請求項4のうち何れか1項に記載のアセンブリ。
- 請求項1乃至請求項5のうち何れか1項に記載のアセンブリのレチクルホルダ。
- 請求項1乃至請求項5のうち何れか1項に記載のアセンブリを含むよう配置構成された保存箱。
- 保持器がホルダ保持状態にある場合に、前記レチクルホルダを保持するよう配置された少なくとも1つの保持器を有し、前記保持器は、前記保持器がホルダ解放状態にある場合に、前記レチクルホルダを解放するよう配置構成された、請求項7に記載の保存箱。
- 少なくともレチクル及びレチクルホルダを有するアセンブリを保存するよう配置構成された保存箱であって、
前記レチクルホルダの状態が、レチクル阻止状態とレチクル解放状態との間で調節可能であり、
前記レチクルホルダは、前記レチクルホルダが前記レチクル阻止状態にある場合に、実質的に力を加えない方法で少なくとも1つの方向にて前記レチクルを保持するよう配置構成され、
前記レチクルホルダは、前記レチクルホルダが前記レチクル解放状態にある場合に、前記レチクルを解放するよう配置構成され、
前記レチクルホルダは、前記レチクル阻止状態と前記レチクル解放状態とをそれぞれ提供するために、レチクル阻止位置とレチクル解放位置との間で動作可能な少なくとも1つの可動レチクル保持要素を有し、
少なくとも1つの可動レチクル保持要素は、前記レチクル阻止位置で固定されるよう配置構成され、
前記可動レチクル保持要素が、前記レチクル阻止位置にあり、前記レチクルが前記レチクルホルダによって保持されている場合に、各可動レチクル保持要素と前記レチクルとの間の距離は、0nm以上且つ約1μm未満であり、
前記保存箱は、保持器がホルダ保持状態にある場合に、前記レチクルホルダを保持するよう配置構成された少なくとも1つの保持器を有し、前記保持器は、前記保持器がホルダ解放状態にある場合に、前記レチクルホルダを解放するよう配置構成された保存箱。 - 支持構造と運動学的にドッキングするために協働するように配置構成された保存箱であって、
前記支持構造は、レチクルホルダが保存箱内に保持されている場合に、保存箱と運動学的にドッキングするように配置構成され、
レチクルは、1つ又は複数のレチクルマーカを有し、
レチクルホルダ及び検出器は、相互に対して運動学的に位置合わせされるよう配置構成され、
前記検出器は、レチクルホルダに対してレチクルを位置決めするために、前記レチクルマーカを検出するよう配置構成され、
保存箱の少なくとも一部が、好ましくは光学的に透明であり、検出器が使用中にレチクルマーカを検出することができる、請求項7乃至請求項9のうち何れか1項に記載の保存箱。 - 放射線の投影ビームを供給する照明システムと、
パターン付与手段を支持する支持構造であって、前記パターン付与手段は、前記投影ビームの断面にパターンを与える働きをする支持構造と、
基板を保持する基板テーブルと、
パターン付与した投影ビームを基板の目標部分に投影する投影システムと、
を備えるリソグラフィ装置であって、
請求項1乃至請求項5のうち何れか1項に記載のアセンブリ、及び/又は請求項6に記載の少なくとも1つのレチクルホルダ、及び/又は請求項7乃至請求項10のうち何れか1項に記載の少なくとも1つの保存箱を有する、リソグラフィ装置。 - デバイス製造方法であって、
基板を設け、
照明システムを使用して放射線の投影ビームを供給し、
パターン付与手段が、投影ビームの断面にパターンを与えるために使用され、
パターン付与した投影ビームを基板の目標部分に投影し、
レチクルを取り扱うために、請求項1乃至請求項5のうち何れか1項に記載のアセンブリ、及び/又は請求項6に記載の少なくとも1つのレチクルホルダ、及び/又は請求項7乃至請求項10のうち何れか1項に記載の少なくとも1つの保存箱を使用する、方法。 - レチクルホルダは、実質的に力を加えない方法で少なくとも1つの方向にて、および好ましくは少なくとも2つの方向にて、レチクルを保持する、請求項6に記載のレチクルホルダを使用する方法。
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