JP4655392B2 - Continuity inspection jig and manufacturing method thereof - Google Patents
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Description
【技術分野】
【0001】
本発明は,プリント配線板の電気導通を検査するための導通検査治具及びその製造方法に関する。
【0002】
【従来技術】
導通検査治具は,コンタクトピンをプリント配線板の配線回路に接触させて導通の有無を検査する装置である。従来,かかる導通検査治具としては,図6(a),図7に示すごとく,セラミックまたは樹脂からなる絶縁体97と,コンタクトピン96と,絶縁体97に設けられコンタクトピン96を挿入するガイド穴970と,ガイド穴970の中でコンタクトピン96を配線回路981側に付勢する圧縮コイルバネ95とを有している。圧縮コイルバネ95は,ガイド穴970の中で,ソケット94により支持されている。図6(b)に示すごとく,ソケット94は,コイルバネまたはパイプであり,ワイヤー93に対して半田付けされている。ワイヤー93の表面は,絶縁保護膜939により被覆されている。
【0003】
コンタクトピン96,圧縮コイルバネ95,ソケット94及びワイヤー93は,導通状態にある。図7に示すごとく,コンタクトピン96の先端に,プリント配線板98の配線回路981を当接させると,図8に示すごとく,これらを通じて,ワイヤー93の端部に設けた電気導通測定器97にて,配線回路981の導通状態を検査する。
【0004】
【解決しようとする課題】
しかしながら,上記従来の導通検査治具においては,図6(b)に示すごとく,ワイヤー93とソケット94とが別体であることから,両者を組み付ける作業が必要とされる。そのため,導通検査治具の製造工程が複雑なものとなる。
また,近年のファインパターン化に対応するために,配線回路のピッチが狭くなっている。そのため,コンタクトピンのピッチも狭くする必要がある。しかし,従来のように,ワイヤーにソケットを組み付ける構造では,各部品を微小化する必要があり,加工が困難となり,製造コストが高くなってしまう。
【0005】
本発明はかかる従来の問題点に鑑み,製造が容易でファインパターンの導通検査をすることができる導通検査治具及びその製造方法を提供しようとするものである。
【0006】
【課題の解決手段】
説明の都合上,まず参考発明について説明する。
参考発明1は,プリント配線板の電気導通を検査する導通検査治具において,
上記導通検査治具は,ガイド穴を有する絶縁体と,上記ガイド穴の中にピン先端を配線回路側に向けて上下動可能に設けたコンタクトピンと,該コンタクトピンを配線回路側に付勢するための導電性の弾性部材と,該弾性部材を通じてコンタクトピンと電気的に接続しているワイヤーとからなり,
上記弾性部材と上記ワイヤーとは互いに接触しているとともに,上記ワイヤーにおける弾性部材と接触する接触部は,上記ワイヤーの先端を曲げ加工してなる曲げ加工部からなることを特徴とする導通検査治具である。
【0007】
本参考発明の導通検査治具においては,ワイヤーにおける弾性部材との接触部が,ワイヤーの先端を曲げ加工して形成された曲げ加工部である。この曲げ加工部は,ワイヤーの直径よりも大きく,弾性部材を支持するに適切な形状である。そのため,弾性部材を安定して支持することができる。
また,上記接触部は,曲げ加工によって形成されており,ワイヤーと一体である。そのため,従来必要とされた組み付け作業が不要となり,製造コストを低くすることができる。更に,ワイヤー及び接触部の強度は高く,電気接続信頼性にも優れている。
【0008】
また,ワイヤーにおける接触部は,ワイヤーの曲げ加工により形成されるため,従来のソケットよりも小さくすることができる。そのため,ワイヤーをガイドするガイド穴の直径を小さくすることができ,ガイド穴の小ピッチ化を図ることができる。ゆえに,配線ピッチの狭いファインパターンの導通検査をすることもできる。
【0009】
ワイヤーの先端部に施される曲げ加工は,例えば,治具の成形用穴の中にワイヤーの先端を強制的に押し込み,ワイヤーの先端を成形用穴壁面によって曲げて,成形用穴と同様の形状にする方法により行うことが好ましい。これにより,容易に曲げ加工を行うことができる。
【0010】
絶縁体としては,樹脂,セラミックなどを用いることができる。
ワイヤーの一端には曲げ加工部からなる接触部が形成されており,ワイヤーは該接触部及び弾性部材を通じてコンタクトピンと電気的に接続している。ワイヤーの他端は,電源または電気導通測定器に接続されている。
【0011】
プリント配線板の配線回路の電気導通状態を検査するにあたっては,複数のコンタクトピンを配線回路の測定箇所に配置する。次いで,配線回路側に導通検査治具を近づけ,配線回路にコンタクトピンの先端を接触させる。コンタクトピンは弾性部材により配線回路側に付勢されているため,配線回路の高さに応じて適切な押圧力でピン先端が接触する。次いで,コンタクトピンを通じて配線回路に電気を流し,正常な電気導通を示すか否かを検査する。
【0012】
次に,上記ワイヤーの上記曲げ加工部の表面には,半田が付着していることが好ましい。これにより,電気接続が確実で安定する。
【0013】
曲げ加工部の形状は,弾性部材を安定して保持することができる形状であることが好ましい。たとえば,曲げ加工部は,ガイド穴の中心軸と同じ中心軸を有する円柱体または円盤型である。また,曲げ加工部は,平面でもよいし,また凹凸を設けてもよい。
【0014】
参考発明2は,プリント配線板の電気導通を検査する導通検査治具において,
上記導通検査治具は,ガイド穴を有する絶縁体と,上記ガイド穴の中にピン先端を配線回路側に向けて上下動可能に設けたコンタクトピンと,該コンタクトピンを配線回路側に付勢するための導電性の弾性部材と,該弾性部材を通じてコンタクトピンと電気的に接続しているワイヤーとからなり,
上記弾性部材と上記ワイヤーとは互いに接触しているとともに,上記ワイヤーにおける上記弾性部材と接触する接触部は,上記ワイヤー先端に半田が施されてなる半田付着部からなることを特徴とする導通検査治具である。
【0015】
この参考発明2においては,ワイヤーにおける弾性部材との接触部が,上記曲げ加工部に代えて,ワイヤー先端に半田が付着した半田付着部からなる。この半田付着部は,ワイヤーの直径よりも大きく,弾性部材を支持するに適切な形状である。そのため,半田付着部は,弾性部材を安定して支持することができる。
また,ワイヤーと半田との接合強度が高いため,接触部の電気接続信頼性も高い。さらに,接触部の作成が容易であり,従来必要とされたワイヤーとソケットとの組み付け作業が不要となり,製造コストを低くすることができる。
【0016】
また,接触部はワイヤー先端に半田を付着させた半田付着部からなるため,従来のソケットよりも小型化できる。それゆえ,ワイヤーをガイドするガイド穴の内径を小さくすることができ,小ピッチ化ができる。それゆえ,本発明の導通検査治具によれば,配線ピッチの狭いファインパターンの導通検査をすることができる。
【0017】
半田付着部の形状は,弾性部材を安定して保持することができる形状であることが好ましい。たとえば,半田付着部は,ガイド穴の中心軸と同じ中心軸を有する円柱体または円盤型である。また,半田付着部のワイヤーとの接触部は,平面でもよいし,また凹凸を設けてもよい。
【0018】
ワイヤーの半田付着部を形成するにあたっては,例えば,治具の成形に,半田ボールを入れ溶融させ,その中にワイヤーの先端を入れ,半田を固化させる方法,治具の成形用穴の中に溶融半田を入れ,その中にワイヤーの先端を入れ,半田の固化を行う方法などがある。
【0019】
次に,上記ワイヤーの上記接触部と上記弾性部材とは,互いに嵌合していることが好ましい。これにより,接触部と弾性部材とを確実に電気的に接続することができる。接触部と弾性部材とを互いに嵌合させるには,たとえば,接触部と弾性部材について,一方を凹部とし,他方を,該凹部内に嵌まる大きさの凸部とする。
弾性部材としては,圧縮コイルバネなどを用いることができる。
【0020】
次に,本願における請求項1の発明は,プリント配線板の電気導通を検査するとともに,ガイド穴を有する絶縁体と,上記ガイド穴の中にピン先端を配線回路側に向けて上下動可能に設けたコンタクトピンと,該コンタクトピンを配線回路側に付勢するための導電性の弾性部材と,該弾性部材を通じてコンタクトピンと電気的に接続しているワイヤーとからなる導通検査治具の製造方法において,
ワイヤーの先端を,成形用治具の成形穴内に押し込んで曲げ加工部を形成する工程と,
上記成形穴の中において,上記曲げ加工部の間隙に半田を充填し,固化させる工程と,
上記曲げ加工部を上記成形穴から離型して,半田が付着した曲げ加工部からなる接触部を先端に有するワイヤーを得る工程と,
上記絶縁体に設けたガイド穴内において,ワイヤーの先端に形成した上記接触部を上記弾性部材の一端に当接させるとともに該弾性部材の他端をコンタクトピンに当接させる工程とを含むことを特徴とする導通検査治具の製造方法である。
【0021】
本発明の製造方法においては,治具の成形用穴の中でワイヤーの曲げ加工をおこない,次いで半田を充填,固化して,成形用穴の形状と同様の接触部を形成している。
これにより形成された上記ワイヤーの接触部は,ワイヤーの直径よりも大きく,弾性部材を支持するに適切な形状である。そのため,弾性部材を安定して支持することができる。
【0022】
また,接触部においては,ワイヤー先端の曲げ加工部と半田とは接合強度に優れているため,電気接続信頼性に優れている。さらに,接触部の加工が容易であり,従来必要とされた両者の組み付け作業が不要となり,製造コストを低くすることができる。
また,接触部はワイヤーに曲げ加工を施し半田を付着させることにより形成されるため,従来のソケットよりも小型化できる。それゆえ,ワイヤーをガイドするガイド穴の内径を小さくすることができ,小ピッチ化ができる。それゆえ,本発明の導通検査治具によれば,配線ピッチの狭いファインパターンの導通検査をすることができる。
次に,上記ワイヤーの上記接触部と上記弾性部材とは,互いに嵌合していることが好ましい。これにより,接触部と弾性部材とを確実に電気的に接続することができる。接触部と弾性部材とを互いに嵌合させるには,たとえば,接触部と弾性部材について,一方を凹部とし,他方を該凹部内に嵌まる大きさの凸部とする。
【0023】
【発明の実施の形態】
実施形態例1
本発明の実施形態に係る導通検査治具について,図1〜図3を用いて説明する。
本例の導通検査治具1は,図1(a)に示すごとく,ガイド穴70を有する絶縁体7と,ガイド穴70の中にピン先端を配線回路81側に向けて上下動可能に設けたコンタクトピン6と,コンタクトピン6を配線回路81側に付勢するための導電性の圧縮コイルバネ5と,圧縮コイルバネ5を通じてコンタクトピン6と電気的に接続しているワイヤー3とからなる。
【0024】
図1(b)に示すごとく,ワイヤー3における圧縮コイルバネ5との接触部31は,ワイヤー3の先端を曲げ加工してなる曲げ加工部310からなる。曲げ加工部310の表面には,半田311が付着している。
【0025】
ワイヤー3の接触部31は,直径0.15mm,厚み0.15mmの円盤形状であり,ワイヤー3の直径(0.1mm)よりも大きく,かつガイド穴70の直径よりも小さい。
図1(b),図2(a)に示すごとく,ワイヤー3の接触部31は,圧縮コイルバネ5と対面する部分に,凹部312を有する。
【0026】
圧縮コイルバネ5におけるワイヤー3側の一端には,略円盤形状の対向接触部51を設けている。対向接触部51には,接触部31の凹部312に嵌まるような凸部512が設けられている。ワイヤー3の凹部312と,圧縮コイルバネ5の凸部512は,互いに嵌合している。
圧縮コイルバネ5における対向接触部51と反対側の端部には,コンタクトピン6と当接する当接部53が設けられている。
【0027】
ワイヤー3における接触部31とは反対側には,電気導通測定器(図7参照)が接続されている。ワイヤー3は,金属材料からなり,樹脂などの絶縁保護膜39により被覆されている。
【0028】
図1(a)に示すごとく,絶縁体7は,配線回路側81から順に,3枚の第一,第二,第三樹脂板71,72,73を接着したものである。第一,第二,第三樹脂板71,72,73には,第一,第二,第三ガイド穴710.720,730が形成されている。第一〜第三ガイド穴710,720,730は,同一中心軸を有し,これらはガイド穴70を構成している。第一,第二,第三ガイド穴710,720,730の内径は,順に0.15mm,0.20mm,0.15mmである。
【0029】
第一,第二,第三ガイド穴710,720,730の中には,順にコンタクトピン6,圧縮コイルバネ5,ワイヤー3が挿入されている。圧縮コイルバネ5が最大伸びとなったときに,コンタクトピン6の頭部62は,第一ガイド穴710と第二ガイド穴720との間に形成されている段部721に係止される。ワイヤー3の接触部31は,第三ガイド穴730と第二ガイド穴720との間に形成されている段部723に係止されている。圧縮コイルバネ5は,コンタクトピン6を配線回路81側に付勢するとともに,ワイヤー3を配線回路81と反対側に付勢している。
【0030】
コンタクトピン6の脚部61,頭部62の直径は0.1mm,0.15mmである。圧縮コイルバネ5の直径は0.1mmである。ワイヤー3及びその接触部31の直径は0.05mm,0.2mmである。
【0031】
次に,本例の導通検査治具1の製造方法について説明する。
まず,図1(a)に示すごとく,3枚の第一,第二,第三樹脂板71,72,73に第一,第二,第三ガイド穴710,720,730を穿設する。
絶縁保護膜39で被覆されているワイヤー3を準備する。図3(a)に示すごとく,ワイヤー3の先端を絶縁保護膜39から露出させる。
【0032】
次に,図3(b)に示すごとく,成形しようとする接触部と同一の形状を有する成形穴20を設けた治具2を準備する。ワイヤー3の先端を治具2の成形穴20内に押し込んで,曲げ加工部310を形成する。
次に,図3(c)に示すごとく,曲げ加工部310を押しこんだ成形穴20の中に,溶融した半田311を充填する。
【0033】
なお,図4(a)に示すごとく,曲げ加工後に曲げ加工部310を一旦離型し,溶融状態の半田311を被覆した後に,図4(b)に示すごとく,再度成形穴20の中に入れて成形することもできる。
次に,曲げ加工部310を成形穴20から離型する。以上により,図1(b)に示すごとく,ワイヤー3の先端に曲げ加工部310からなる接触部31が形成される。
【0034】
また,圧縮コイルバネ5の一端に,直径0.4mm,厚み2mmの円盤形状の金属材を半田付けして対向接触部51を形成する。
【0035】
次に,図1(a)に示すごとく,ワイヤー3を第三ガイド穴730の中に挿入し,接触部31を段部723に係止する。また,コンタクトピン6を第一ガイド穴710の中に挿入し,頭部62を段部721に係止する。また,圧縮コイルバネ5を第二ガイド穴720の中に挿入する。
【0036】
次に,第一樹脂板71,第二樹脂板72,第三樹脂板73を順に積層し,接着する。このとき,第三ガイド穴730内のワイヤー3の接触部31と,第二ガイド穴720内の圧縮コイルバネ5の対向接触部51とを互いに嵌合させるとともに,第二ガイド穴720内の圧縮コイルバネ5の当接部53と,第一ガイド穴710内のコンタクトピン6の頭部62とが当接するように,第一〜第三樹脂板71〜73を配置する。
以上により,本例の導通検査治具1が得られる。
【0037】
次に,本例の導通検査治具1を用いてプリント配線板の導通検査を行う方法について説明する。
図1(a)に示すごとく,プリント配線板8の配線回路81の測定箇所の上に,コンタクトピン6を配置する。次いで,配線回路81にコンタクトピン6を近づけ,配線回路81にコンタクトピン6の先端を接触させる。コンタクトピン6は圧縮コイルバネ5により配線回路81側に付勢されているため,配線回路81の高さに応じて適切な押圧力でピン先が接触する(図7参照)。
【0038】
次いで,コンタクトピン6を通じて配線回路81に電気を流す。配線回路81に断線,短絡などの異常が生じていなければ,電気導通測定器により正常な電気導通が検出される。異常が生じている場合には,電流が流れないか,または異常な電流値が検出される。
【0039】
本例の導通検査治具1においては,ワイヤー3における圧縮コイルバネ5との接触部31が,ワイヤー3の先端を曲げ加工して形成されている。この曲げ加工部310は,幅広であり,圧縮コイルバネ5を支持するに適切な形状である。そのため,曲げ加工部310は,圧縮コイルバネ5を安定して支持することができる。
【0040】
また,ワイヤー3における接触部31は,曲げ加工によって形成されているため,ワイヤー3と一体である。そのため,組み付け作業が不要となり,製造コストを低くすることができる。更に,ワイヤーとその接触部との強度及び電気接続信頼性にも優れている。
また,ワイヤー3の接触部31及び圧縮コイルバネ5の対向接触部51は,互いに嵌合しているため,ワイヤー3と圧縮コイルバネ5とを安定に接続することができる。
【0041】
実施形態例2
本例においては,図2(b)に示すごとく,ワイヤー3の接触部31及び圧縮コイルバネ5の対向接触部51のいずれも,平面部313,513において互いに接触している。その他は,実施形態例1と同様である。本例においても,実施形態例1と同様の効果を得ることができる。
【0042】
実施形態例3
本例においては,図2(c)に示すごとく,ワイヤー3の接触部31及び圧縮コイルバネ5の対向接触部51とが,互いに嵌合している。ワイヤー3の接触部31は凸部314であり,圧縮コイルバネ5の対向接触部51は,凸部314が嵌まるような凹部514を有している。
【0043】
圧縮コイルバネ5の対向接触部51は,図5に示すごとく,リング519(図5(a))と円盤体518(図5(b))とを接合することにより形成される。リング519の内側壁とその中の円盤体518の表面によって,凹部514が形成される。
その他は,実施形態例1と同様である。本例においても,実施形態例1と同様の効果を得ることができる。
【0044】
【発明の効果】
本発明によれば,製造が容易でファインパターンの導通検査をすることができる導通検査治具及びその製造方法を提供することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】実施形態例1における導通検査治具の説明図(a)及びワイヤーの接触部の断面図(b)。
【図2】実施形態例1〜3における,ワイヤーの接触部と圧縮コイルバネとの接触状態を示す説明図(a),(b),(c)。
【図3】実施形態例1における,ワイヤーの接触部の形成方法の説明図(a),(b),(c)。
【図4】実施形態例1における,他のワイヤーの接触部の形成方法の説明図(a),(b)。
【図5】実施形態例3における,圧縮コイルバネの対向接触部の形成方法の説明図(a),(b),(c)。
【図6】従来例における導通検査治具の説明図(a),及びワイヤーとソケットの正面図(b)。
【図7】従来例における,導通検査治具の検査方法の説明図。
【図8】従来例における,導通検査治具の拡大説明図。
【符号の説明】
1...導通検査治具,
2...治具,
20...成形用穴,
3...ワイヤー,
31...接触部,
310...曲げ加工部,
311...半田,
312,514...凹部,
313,513...平面部,
314,512...凸部,
39...絶縁保護膜,
5...圧縮コイルバネ,
51...対向接触部,
6...コンタクトピン,
7...絶縁体,
70...ガイド穴,
8...プリント配線板,
81...配線回路,【Technical field】
[0001]
The present invention relates to a continuity inspection jig for inspecting electrical continuity of a printed wiring board and a method for manufacturing the same.
[0002]
[Prior art]
The continuity inspection jig is a device for inspecting the presence or absence of continuity by bringing a contact pin into contact with a wiring circuit of a printed wiring board. Conventionally, as such a continuity inspection jig, as shown in FIGS. 6A and 7, an
[0003]
The
[0004]
[Problems to be solved]
However, in the conventional continuity inspection jig, as shown in FIG. 6 (b), the
In addition, the pitch of the wiring circuit has been reduced in order to cope with the recent fine patterning. Therefore, it is necessary to reduce the contact pin pitch. However, in the conventional structure in which the socket is assembled to the wire, it is necessary to miniaturize each part, which makes processing difficult and increases the manufacturing cost.
[0005]
In view of the conventional problems, the present invention is intended to provide a continuity inspection jig that can be easily manufactured and can perform a continuity inspection of a fine pattern, and a method of manufacturing the same.
[0006]
[Means for solving problems]
For convenience of explanation, the reference invention will be described first.
The continuity inspection jig includes an insulator having a guide hole, a contact pin provided in the guide hole so as to be movable up and down with the tip of the pin facing the wiring circuit side, and biases the contact pin toward the wiring circuit side. And a conductive elastic member for the wire and a wire electrically connected to the contact pin through the elastic member,
The elastic member and the wire are in contact with each other, and the contact portion of the wire that contacts the elastic member comprises a bent portion formed by bending the tip of the wire. It is a tool.
[0007]
In the continuity inspection jig of this reference invention , the contact portion of the wire with the elastic member is a bent portion formed by bending the tip of the wire. The bent portion is larger than the diameter of the wire and has a shape suitable for supporting the elastic member. Therefore, the elastic member can be stably supported.
The contact portion is formed by bending, and is integral with the wire. This eliminates the need for conventional assembly work and reduces the manufacturing cost. Furthermore, the strength of the wire and the contact part is high, and the electrical connection reliability is also excellent.
[0008]
Moreover, since the contact part in a wire is formed by the bending process of a wire, it can be made smaller than the conventional socket. Therefore, the diameter of the guide hole for guiding the wire can be reduced, and the pitch of the guide hole can be reduced. Therefore, it is possible to inspect the continuity of fine patterns with a narrow wiring pitch.
[0009]
The bending process applied to the tip of the wire is the same as that of the forming hole, for example by forcing the tip of the wire into the forming hole of the jig and bending the tip of the wire with the wall of the forming hole. It is preferably performed by a method of forming a shape. Thereby, a bending process can be performed easily.
[0010]
As the insulator, resin, ceramic, or the like can be used.
A contact portion made of a bent portion is formed at one end of the wire, and the wire is electrically connected to the contact pin through the contact portion and the elastic member. The other end of the wire is connected to a power source or electrical continuity meter.
[0011]
When inspecting the electrical continuity state of the printed circuit board's wiring circuit, a plurality of contact pins are arranged at the measurement points of the wiring circuit. Next, the continuity inspection jig is brought close to the wiring circuit side, and the tip of the contact pin is brought into contact with the wiring circuit. Since the contact pin is urged to the wiring circuit side by the elastic member, the tip of the pin contacts with an appropriate pressing force according to the height of the wiring circuit. Next, electricity is passed through the wiring circuit through the contact pins, and it is inspected whether or not normal electrical conduction is exhibited.
[0012]
Next , it is preferable that the solder adheres to the surface of the bent portion of the wire. This ensures a reliable and stable electrical connection.
[0013]
The shape of the bent portion is preferably a shape that can stably hold the elastic member. For example, the bending portion is a cylinder or a disk having the same central axis as the central axis of the guide hole. Further, the bending portion may be flat or uneven.
[0014]
The continuity inspection jig includes an insulator having a guide hole, a contact pin provided in the guide hole so as to be movable up and down with the tip of the pin facing the wiring circuit side, and biases the contact pin toward the wiring circuit side. And a conductive elastic member for the wire and a wire electrically connected to the contact pin through the elastic member,
The elastic member and the wire are in contact with each other, and the contact portion of the wire that contacts the elastic member is a solder adhesion portion in which solder is applied to the tip of the wire. It is a jig.
[0015]
In this
In addition, since the bonding strength between the wire and the solder is high, the electrical connection reliability of the contact portion is also high. Furthermore, it is easy to create the contact portion, and it is not necessary to assemble the wire and socket, which is conventionally required, and the manufacturing cost can be reduced.
[0016]
Further, since the contact portion is composed of a solder attachment portion in which solder is attached to the tip of the wire, it can be made smaller than a conventional socket. Therefore, the inner diameter of the guide hole for guiding the wire can be reduced and the pitch can be reduced. Therefore, according to the continuity inspection jig of the present invention, it is possible to perform continuity inspection of fine patterns with a narrow wiring pitch.
[0017]
The shape of the solder adhesion portion is preferably a shape that can stably hold the elastic member. For example, the solder adhesion part is a cylindrical body or a disk shape having the same central axis as the central axis of the guide hole. Further, the contact portion of the solder adhesion portion with the wire may be a flat surface or may be provided with unevenness.
[0018]
When forming the solder adhesion part of the wire, for example, in forming the jig, solder ball is put and melted, the tip of the wire is put in it and the solder is solidified, in the hole for forming the jig There is a method of putting molten solder, putting the tip of the wire in it, and solidifying the solder.
[0019]
Next , it is preferable that the contact portion of the wire and the elastic member are fitted to each other. Thereby, a contact part and an elastic member can be reliably electrically connected. In order to fit the contact portion and the elastic member to each other, for example, one of the contact portion and the elastic member is a concave portion, and the other is a convex portion having a size that fits in the concave portion.
As the elastic member, a compression coil spring or the like can be used.
[0020]
Next, the invention according to
The tip of the wire, forming a bent portion is pushed into the forming hole of the molding jig,
Filling the gap in the bent portion with solder in the forming hole , and solidifying ;
Releasing the bent portion from the forming hole to obtain a wire having a contact portion formed of a bent portion to which solder is attached at the tip ;
In the guide bore provided in the insulator, characterized in that it comprises a step of abutting the contact portion formed at the tip of the wire to the contact pin and the other end of the elastic member causes abutting one end of the elastic member It is a manufacturing method of a conduction inspection jig.
[0021]
In the manufacturing method of the present invention, the wire is bent in the forming hole of the jig, and then the solder is filled and solidified to form a contact portion similar to the shape of the forming hole.
The contact portion of the upper SL wires thereby formed is larger than the diameter of the wire, a suitable shape to support the elastic member. Therefore, the elastic member can be stably supported.
[0022]
Moreover, in the contact part, since the bending process part and solder of a wire tip are excellent in joining strength, it is excellent in electrical connection reliability. Further, the processing of the contact portion is easy, the assembly work of both required conventionally is unnecessary, and the manufacturing cost can be reduced.
Further, since the contact portion is formed by bending the wire and attaching solder, the contact portion can be made smaller than a conventional socket. Therefore, the inner diameter of the guide hole for guiding the wire can be reduced and the pitch can be reduced. Therefore, according to the continuity inspection jig of the present invention, it is possible to perform continuity inspection of fine patterns with a narrow wiring pitch.
Next, it is preferable that the contact portion of the wire and the elastic member are fitted to each other. Thereby, a contact part and an elastic member can be reliably electrically connected. In order to fit the contact portion and the elastic member to each other, for example, one of the contact portion and the elastic member is a concave portion, and the other is a convex portion having a size that fits in the concave portion.
[0023]
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION
A continuity inspection jig according to an embodiment of the present invention will be described with reference to FIGS.
As shown in FIG. 1A, the
[0024]
As shown in FIG. 1B, the
[0025]
The
As shown in FIGS. 1B and 2A, the
[0026]
A substantially disc-shaped opposing
An abutting
[0027]
On the opposite side of the
[0028]
As shown in FIG. 1A, the
[0029]
In the first, second, and third guide holes 710, 720, and 730, a contact pin 6, a
[0030]
The diameters of the leg portion 61 and the
[0031]
Next, a method for manufacturing the
First, as shown in FIG. 1A, first, second, and third guide holes 710, 720, and 730 are formed in the three first, second, and
A
[0032]
Next, as shown in FIG. 3B, a
Next, as shown in FIG. 3C, the melted
[0033]
As shown in FIG. 4 (a), after bending, the
Next, the bending
[0034]
Further, the opposing
[0035]
Next, as shown in FIG. 1A, the
[0036]
Next, the
Thus, the
[0037]
Next, a method for conducting a continuity test on a printed wiring board using the
As shown in FIG. 1A, the contact pin 6 is arranged on the measurement location of the wiring circuit 81 of the printed
[0038]
Next, electricity is supplied to the wiring circuit 81 through the contact pins 6. If there is no abnormality such as disconnection or short circuit in the wiring circuit 81, normal electrical continuity is detected by the electrical continuity measuring instrument. If an abnormality has occurred, no current flows or an abnormal current value is detected.
[0039]
In the
[0040]
Moreover, since the
Moreover, since the
[0041]
In this example, as shown in FIG. 2B, both the
[0042]
In this example, as shown in FIG. 2C, the
[0043]
As shown in FIG. 5, the opposing
Others are the same as in the first embodiment. Also in this example, the same effects as those of the first embodiment can be obtained.
[0044]
【The invention's effect】
According to the present invention, it is possible to provide a continuity inspection jig that can be easily manufactured and can perform a continuity inspection of a fine pattern, and a method of manufacturing the same.
[Brief description of the drawings]
FIG. 1A is an explanatory view of a continuity inspection jig in
FIGS. 2A to 2C are explanatory views (a), (b), and (c) showing a contact state between a wire contact portion and a compression coil spring in
FIGS. 3A to 3C are explanatory views (a), (b), and (c) of a method for forming a wire contact portion in
FIGS. 4A and 4B are explanatory views (a) and (b) of a method for forming a contact portion of another wire in
FIGS. 5A to 5C are explanatory views (a), (b), and (c) of a method for forming an opposing contact portion of a compression coil spring in
FIG. 6 is an explanatory view of a continuity inspection jig in a conventional example, and a front view of a wire and a socket (b).
FIG. 7 is an explanatory diagram of an inspection method for a continuity inspection jig in a conventional example.
FIG. 8 is an enlarged explanatory view of a continuity inspection jig in a conventional example.
[Explanation of symbols]
1. . . Continuity inspection jig,
2. . . jig,
20. . . Hole for molding,
3. . . wire,
31. . . Contact part,
310. . . Bending section,
311. . . solder,
312,514. . . Recess,
313,513. . . Plane part,
314, 512. . . Convex part,
39. . . Insulation protective film,
5. . . Compression coil spring,
51. . . Opposite contact part,
6). . . Contact pin,
7). . . Insulator,
70. . . Guide holes,
8). . . Printed wiring board,
81. . . Wiring circuit,
Claims (2)
ワイヤーの先端を,成形用治具の成形穴内に押し込んで曲げ加工部を形成する工程と,
上記成形穴の中において,上記曲げ加工部の間隙に半田を充填し,固化させる工程と,
上記曲げ加工部を上記成形穴から離型して,半田が付着した曲げ加工部からなる接触部を先端に有するワイヤーを得る工程と,
上記絶縁体に設けたガイド穴内において,ワイヤーの先端に形成した上記接触部を上記弾性部材の一端に当接させるとともに該弾性部材の他端をコンタクトピンに当接させる工程とを含むことを特徴とする導通検査治具の製造方法。 Inspecting the electrical continuity of the printed wiring board, an insulator having a guide hole, a contact pin provided in the guide hole so as to be movable up and down with the tip of the pin facing the wiring circuit side, and the contact pin on the wiring circuit side In a method of manufacturing a continuity inspection jig comprising a conductive elastic member for biasing to a wire and a wire electrically connected to a contact pin through the elastic member,
A process of forming the bent portion by pushing the tip of the wire into the forming hole of the forming jig;
Filling the gap in the bent portion with solder in the forming hole, and solidifying;
Releasing the bent portion from the forming hole to obtain a wire having a contact portion formed of a bent portion to which solder is attached at the tip;
And a step of bringing the contact portion formed at the tip of the wire into contact with one end of the elastic member and bringing the other end of the elastic member into contact with a contact pin in a guide hole provided in the insulator. A method for manufacturing a continuity inspection jig .
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
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Applications Claiming Priority (1)
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Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2002277501A JP2002277501A (en) | 2002-09-25 |
JP4655392B2 true JP4655392B2 (en) | 2011-03-23 |
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Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2001076444A Expired - Lifetime JP4655392B2 (en) | 2001-03-16 | 2001-03-16 | Continuity inspection jig and manufacturing method thereof |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP4655392B2 (en) |
Families Citing this family (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100741930B1 (en) | 2004-12-30 | 2007-07-23 | 동부일렉트로닉스 주식회사 | Assembly for Testing Package and Socket pin thereof |
JP4448086B2 (en) | 2005-12-12 | 2010-04-07 | 大西電子株式会社 | Inspection jig for printed wiring boards |
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Publication number | Publication date |
---|---|
JP2002277501A (en) | 2002-09-25 |
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