JP2002286779A - Continuity inspection jig - Google Patents

Continuity inspection jig

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JP2002286779A
JP2002286779A JP2001083503A JP2001083503A JP2002286779A JP 2002286779 A JP2002286779 A JP 2002286779A JP 2001083503 A JP2001083503 A JP 2001083503A JP 2001083503 A JP2001083503 A JP 2001083503A JP 2002286779 A JP2002286779 A JP 2002286779A
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wire
contact pin
support
inspection jig
continuity inspection
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JP2001083503A
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Japanese (ja)
Inventor
Koji Takahashi
浩二 高橋
Tsutomu Takahashi
努 高橋
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Ibiden Co Ltd
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Ibiden Co Ltd
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Publication date
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide an easily manufacturable continuity inspection jig capable of executing continuity inspection of a fine pattern, and its manufacturing method. SOLUTION: This continuity inspection jig comprises a contact pin 6, a wire 5 joined to the contact pin by solder or the like, and a support 1 for supporting the contact pin 6 and the wire 5. A wire support part 11 of the support comprises an elastic member such as rubber or the like. The contact pin is fixed on the wall surface of an insertion hole 10 formed in the support. The wire is inserted in the unfixed state to the insertion hole wall surface. The contact pin is preferably fixed on the support.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION 【技術分野】【Technical field】

【0001】本発明は,プリント配線板の電気導通を検
査するための導通検査治具に関する。
The present invention relates to a continuity inspection jig for inspecting electrical continuity of a printed wiring board.

【0002】[0002]

【従来技術】導通検査治具は,コンタクトピンをプリン
ト配線板の配線回路に接触させて導通の有無を検査する
装置である。従来,かかる導通検査治具としては,図4
(a),図5に示すごとく,セラミックまたは樹脂から
なる絶縁体97と,コンタクトピン96と,絶縁体97
に設けられコンタクトピン96を挿入するガイド穴97
0と,ガイド穴970の中でコンタクトピン96を配線
回路981側に付勢する圧縮コイルバネ95とを有して
いる。圧縮コイルバネ95は,ガイド穴970の中で,
ソケット94により支持されている。図4(b)に示す
ごとく,ソケット94は,コイルバネまたはパイプであ
り,ワイヤー93に対して半田付けされている。ワイヤ
ー93の表面は,絶縁保護膜939により被覆されてい
る。
2. Description of the Related Art A continuity inspection jig is an apparatus for inspecting the presence or absence of continuity by bringing a contact pin into contact with a wiring circuit of a printed wiring board. Conventionally, as such a continuity inspection jig, FIG.
(A) As shown in FIG. 5, an insulator 97 made of ceramic or resin, a contact pin 96, and an insulator 97
Guide hole 97 for inserting contact pin 96
0 and a compression coil spring 95 for urging the contact pin 96 in the guide hole 970 toward the wiring circuit 981. The compression coil spring 95 is inserted into the guide hole 970,
It is supported by a socket 94. As shown in FIG. 4B, the socket 94 is a coil spring or a pipe, and is soldered to the wire 93. The surface of the wire 93 is covered with an insulating protective film 939.

【0003】コンタクトピン96,圧縮コイルバネ9
5,ソケット94及びワイヤー93は,導通状態にあ
る。図5に示すごとく,コンタクトピン96の先端に,
プリント配線板98の配線回路981を当接させると,
図6に示すごとく,これらを通じて,ワイヤー93の端
部に設けた電気導通測定器にて,配線回路981の導通
状態を検査する。
[0003] Contact pin 96, compression coil spring 9
5, the socket 94 and the wire 93 are in a conductive state. As shown in FIG. 5, at the tip of the contact pin 96,
When the wiring circuit 981 of the printed wiring board 98 is brought into contact,
As shown in FIG. 6, through these, the conduction state of the wiring circuit 981 is inspected by an electrical continuity measuring device provided at the end of the wire 93.

【0004】[0004]

【解決しようとする課題】しかしながら,上記従来の導
通検査治具においては,図4(b)に示すごとく,ワイ
ヤー93とソケット94とが別体であることから,両者
を組み付ける作業が必要とされる。そのため,導通検査
治具の製造工程が複雑なものとなる。また,近年のファ
インパターン化に対応するために,配線回路のピッチが
狭くなっている。そのため,コンタクトピンのピッチも
狭くする必要がある。しかし,従来のように,ワイヤー
にソケットを組み付ける構造では,各部品を微小化する
必要があり,加工が困難となり,製造コストが高くなっ
てしまう。
However, in the above-mentioned conventional continuity inspection jig, as shown in FIG. 4B, since the wire 93 and the socket 94 are separate bodies, an operation for assembling them is required. You. Therefore, the manufacturing process of the continuity inspection jig becomes complicated. Also, in order to cope with recent fine patterning, the pitch of wiring circuits has been reduced. Therefore, it is necessary to narrow the pitch of the contact pins. However, in a conventional structure in which a socket is assembled to a wire, each component needs to be miniaturized, processing becomes difficult, and manufacturing costs increase.

【0005】本発明はかかる従来の問題点に鑑み,製造
が容易でファインパターンの導通検査をすることができ
る導通検査治具を提供しようとするものである。
SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made in view of the above-mentioned problems, and has as its object to provide a continuity inspection jig which is easy to manufacture and can perform continuity inspection of fine patterns.

【0006】[0006]

【課題の解決手段】請求項1の発明は,プリント配線板
の電気導通を検査する導通検査治具において,上記導通
検査治具は,コンタクトピンと,上記コンタクトピンに
接合されているワイヤーと,上記コンタクトピン及びワ
イヤーを支持するための支持体とからなり,上記支持体
における上記ワイヤーを支持するワイヤー支持部は弾性
部材からなり,上記コンタクトピンは,上記支持体に設
けた挿入穴の中に挿入され該挿入穴壁面に対して固定さ
れており,上記ワイヤーは,上記挿入穴壁面に対して非
固定状態に挿入されていることを特徴とする導通検査治
具である。
According to a first aspect of the present invention, there is provided a continuity inspection jig for inspecting electrical continuity of a printed wiring board, wherein the continuity inspection jig comprises: a contact pin; a wire joined to the contact pin; A contact pin and a support for supporting the wire. The wire support portion of the support for supporting the wire is made of an elastic member. The contact pin is inserted into an insertion hole provided in the support. The wire is fixed to the wall surface of the insertion hole, and the wire is inserted in a non-fixed state with respect to the wall surface of the insertion hole.

【0007】本発明の導通検査治具は,コンタクトピン
をプリント配線板の検査部位に当接させて,プリント配
線板の電気導通を検査する器具である。ワイヤーはコン
タクトピンに直接的に接合されているため,ワイヤーと
コンタクトピンとの間にソケットを設ける必要はなく,
ソケットとワイヤーとの組み付け作業が不要となり,製
造が容易となり,製造コストの低減化を図ることができ
る。また,コンタクトピンのピッチを狭小化でき,ファ
インパターンの導通検査をすることもできる。
The continuity inspection jig of the present invention is an instrument for inspecting electrical continuity of a printed wiring board by bringing a contact pin into contact with an inspection site of the printed wiring board. Since the wire is directly connected to the contact pin, there is no need to provide a socket between the wire and the contact pin,
The operation of assembling the socket and the wire is not required, so that the production becomes easy and the production cost can be reduced. Further, the pitch of the contact pins can be narrowed, and the continuity test of the fine pattern can be performed.

【0008】また,コンタクトピンは挿入穴に固定され
ているため,コンタクトピンの動きに応じて弾性を有す
るワイヤー支持部が圧縮される。それゆえ,配線回路の
高さに応じてコンタクトピンが上方向に動く。したがっ
て,コンタクトピンを適切な高さに調整することができ
る。また,ワイヤーは,挿入穴内において非固定状態で
挿入されている。そのため,ワイヤーは,上記ワイヤー
支持部の圧縮を妨げることはない。
Further, since the contact pin is fixed to the insertion hole, the elastic wire support is compressed in accordance with the movement of the contact pin. Therefore, the contact pins move upward according to the height of the wiring circuit. Therefore, the contact pins can be adjusted to an appropriate height. The wire is inserted in the insertion hole in a non-fixed state. Therefore, the wire does not hinder the compression of the wire support.

【0009】コンタクトピンをピン挿入穴に固定するに
あたっては,たとえば,半田,熱硬化性樹脂などの接着
剤により接着する方法などがある。
For fixing the contact pins in the pin insertion holes, for example, there is a method of bonding with an adhesive such as solder or thermosetting resin.

【0010】請求項2の発明のように,上記弾性部材
は,ゴム及び樹脂のグループから選ばれる1種以上から
なることが好ましい。これにより,配線回路の高さに応
じてコンタクトピンの高さを適切に調整できる。
Preferably, the elastic member is made of at least one selected from the group consisting of rubber and resin. Thereby, the height of the contact pins can be appropriately adjusted according to the height of the wiring circuit.

【0011】請求項3の発明のように,上記ワイヤー
は,上記コンタクトピンに半田付けされていることが好
ましい。これにより,ワイヤーをコンタクトピンに容易
に接合することができる。
It is preferable that the wire is soldered to the contact pin. Thereby, the wire can be easily joined to the contact pin.

【0012】支持体におけるコンタクトピンを支持する
ピン支持部は,可撓性であることが好ましい。これによ
り,異なる高さに位置する複数の配線回路を検査する場
合に,配線回路の高さの差に追従してピン支持部が歪
み,この歪みはその上のワイヤー支持部に吸収される。
したがって,高さの異なる複数の検査部位の導通検査を
同じに行うことができる。可撓性のピン支持体として
は,たとえば,ゴム,樹脂などを用いることができる。
[0012] It is preferable that the pin supporting portion for supporting the contact pin in the support is flexible. As a result, when inspecting a plurality of wiring circuits located at different heights, the pin support is distorted following the difference in the height of the wiring circuits, and the distortion is absorbed by the wire support on the pin support.
Therefore, the continuity inspection of a plurality of inspection parts having different heights can be performed in the same manner. As the flexible pin support, for example, rubber, resin, or the like can be used.

【0013】ワイヤーの一端には上記のようにコンタク
トピンが接合されているが,ワイヤーの他端は,電源ま
たは電気導通測定器に接続されている。プリント配線板
の配線回路の電気導通状態を検査するにあたっては,複
数のコンタクトピンを配線回路の測定箇所に配置する。
次いで,配線回路側に導通検査治具を近づけ,配線回路
にコンタクトピンの先端を接触させる。コンタクトピン
は弾性部材からなるワイヤー支持部により適切な高さに
調整される。次いで,コンタクトピンを通じて配線回路
に電気を流し,正常な電気導通を示すか否かを検査す
る。
The contact pin is connected to one end of the wire as described above, while the other end of the wire is connected to a power supply or an electrical continuity measuring device. In inspecting the electrical continuity of the wiring circuit of the printed wiring board, a plurality of contact pins are arranged at measurement points of the wiring circuit.
Next, the continuity inspection jig is brought closer to the wiring circuit side, and the tip of the contact pin is brought into contact with the wiring circuit. The contact pin is adjusted to an appropriate height by a wire support portion made of an elastic member. Next, electricity is supplied to the wiring circuit through the contact pins to check whether or not normal electrical continuity is exhibited.

【0014】[0014]

【発明の実施の形態】実施形態例1 本発明の実施形態に係る導通検査治具について,図1〜
図3を用いて説明する。本例の導通検査治具4は,図1
(a)に示すごとく,コンタクトピン6と,コンタクト
ピン6に接合されているワイヤー5と,コンタクトピン
6及びワイヤー5を支持する支持体1とを有する。コン
タクトピン6及びワイヤー5は,支持体1に設けられた
挿入穴10内に挿入されている。
DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS Embodiment 1 A continuity inspection jig according to an embodiment of the present invention is shown in FIGS.
This will be described with reference to FIG. The continuity inspection jig 4 of this example is shown in FIG.
As shown in (a), the contact pin 6, a wire 5 joined to the contact pin 6, and a support 1 supporting the contact pin 6 and the wire 5 are provided. The contact pins 6 and the wires 5 are inserted into insertion holes 10 provided in the support 1.

【0015】支持体1は,ワイヤー5を支持するワイヤ
ー支持部11が設けられており,これは,弾性部材とし
てのゴムからなる。コンタクトピン6は挿入穴10内に
おいて支持体1に固定されている。ワイヤー5は,挿入
穴10の壁面に対して非固定状態に挿入されている。
The support 1 is provided with a wire supporting portion 11 for supporting the wire 5, which is made of rubber as an elastic member. The contact pin 6 is fixed to the support 1 in the insertion hole 10. The wire 5 is inserted into the wall of the insertion hole 10 in a non-fixed state.

【0016】挿入穴10には,コンタクトピン6のピン
先端を露出させた状態でコンタクトピン6が固定されて
いる。コンタクトピン6と挿入穴10との間は,接着剤
により接着されている。図1(b)に示すごとく,ワイ
ヤー5のコンタクトピン接合部51は,半田56により
コンタクトピン6の頭部62に接合されている。挿入穴
10は,ワイヤー5を摺動可能に支持している。
The contact pin 6 is fixed to the insertion hole 10 with the pin tip of the contact pin 6 exposed. The contact pin 6 and the insertion hole 10 are bonded with an adhesive. As shown in FIG. 1B, the contact pin joint 51 of the wire 5 is joined to the head 62 of the contact pin 6 by solder 56. The insertion hole 10 slidably supports the wire 5.

【0017】図1(b)に示すごとく,コンタクトピン
6は,挿入穴10に固定されている脚部61と,ワイヤ
ー5が接合されている頭部62とからなる。脚部61の
先端は,プリント配線板8の検査部位81に当接させる
ために挿入穴10から突出している。
As shown in FIG. 1B, the contact pin 6 comprises a leg 61 fixed to the insertion hole 10 and a head 62 to which the wire 5 is joined. The tip of the leg 61 protrudes from the insertion hole 10 to make contact with the inspection part 81 of the printed wiring board 8.

【0018】支持部1のプリント配線板8側には,可撓
性部材からなるピン支持部12が設けられており,その
反対側には硬質材からなる被覆部13が設けられてい
る。ピン支持部12としては,可撓性部材である,ゴム
または樹脂を用い,被覆材13としては,硬質部材であ
る,銅,鉄などの金属,42アロイ,コバール,SUS
を用いる。ピン支持部12,自由状態のワイヤー支持部
11及び被覆部13の厚みは,それぞれ2cm,7c
m,5cmである。ワイヤー5の直径は0.05mmで
あり,コンタクトピン6の脚部61の直径は0.1mm
である。挿入穴10における,ワイヤー支持部11,ピ
ン支持部12及び被覆部13にそれぞれ位置している穴
110,120,130の直径は,0.2mm,0.1
5mm,0.15mmである。ワイヤー5は,金属材料
からなり,樹脂などの絶縁保護膜59により被覆されて
いる。図2に示すごとく,ワイヤー5におけるコンタク
トピン接合部51と反対側には,電気導通測定器7が接
続されている。
A pin support 12 made of a flexible material is provided on the printed wiring board 8 side of the support 1, and a coating 13 made of a hard material is provided on the opposite side. The pin supporting portion 12 is made of a flexible material such as rubber or resin, and the covering material 13 is a hard material such as a metal such as copper or iron, 42 alloy, Kovar, or SUS.
Is used. The thickness of the pin support 12, the free wire support 11, and the covering 13 is 2 cm and 7 c, respectively.
m, 5 cm. The diameter of the wire 5 is 0.05 mm, the diameter of the leg portion 61 of the contact pins 6 0.1 mm
It is. In the insertion hole 10, the diameters of the holes 110, 120, and 130 located in the wire support 11, the pin support 12, and the covering 13, respectively, are 0.2 mm and 0.1 mm.
5 mm and 0.15 mm. The wire 5 is made of a metal material, and is covered with an insulating protective film 59 such as a resin. As shown in FIG. 2, the electrical continuity measuring device 7 is connected to the wire 5 on the side opposite to the contact pin joint 51.

【0019】次に,本例の導通検査治具の製造方法につ
いて説明する。まず,図1(a)に示すごとく,ピン支
持部12形成用の可撓性部材,ワイヤー支持部11形成
用の弾性部材,及び被覆部13形成用の硬質材に,それ
ぞれ穴120,110,130を穿設する。
Next, a method of manufacturing the continuity inspection jig of this embodiment will be described. First, as shown in FIG. 1A, holes 120, 110, and 110 are formed in a flexible member for forming the pin support portion 12, an elastic member for forming the wire support portion 11, and a hard material for forming the covering portion 13, respectively. 130 is drilled.

【0020】次に,コンタクトピン6を,ピン支持部1
2形成用の可撓性部材に形成した穴120の中に挿入す
る。このとき,コンタクトピン6の脚部61と穴120
との間を接着剤により接着する。
Next, the contact pins 6 are moved to the pin support portions 1.
2 is inserted into the hole 120 formed in the forming flexible member. At this time, the leg 61 of the contact pin 6 and the hole 120
Are bonded with an adhesive.

【0021】次に,ピン支持部12形成用の可撓性部材
に,ワイヤー支持部11形成用の弾性部材を接着する。
更に,該弾性部材に被覆部形成用の硬質材を接着する。
これにより,ワイヤー支持部11の上面及び下面に被覆
部13及びピン支持部12を設けてなる支持体1が形成
される。
Next, an elastic member for forming the wire support 11 is bonded to the flexible member for forming the pin support 12.
Further, a hard material for forming a covering portion is bonded to the elastic member.
As a result, the support 1 having the covering portion 13 and the pin supporting portion 12 on the upper and lower surfaces of the wire supporting portion 11 is formed.

【0022】次に,絶縁保護膜39で被覆されているワ
イヤー3を準備し,ワイヤー3の先端を絶縁保護膜39
から露出させる。ワイヤー5の先端に半田56を付着さ
せ,支持穴10の中に挿入する。次に,支持体1を加熱
して,その中のワイヤー5に付着している半田56を溶
融させる。これにより,コンタクトピン6の頭部62
に,ワイヤー56の先端を半田56により接合する。以
上により,本例の導通検査治具4が得られる。
Next, the wire 3 covered with the insulating protective film 39 is prepared, and the tip of the wire 3 is connected to the insulating protective film 39.
To expose. Solder 56 is attached to the tip of wire 5 and inserted into support hole 10. Next, the support 1 is heated to melt the solder 56 attached to the wire 5 therein. As a result, the head 62 of the contact pin 6
Then, the tip of the wire 56 is joined by the solder 56. Thus, the continuity inspection jig 4 of the present example is obtained.

【0023】本例の導通検査治具4を用いてプリント配
線板の導通検査を行う方法について説明する。図1
(a)に示すごとく,プリント配線板8の配線回路にお
ける検査部位81の上に,コンタクトピン6を配置す
る。次いで,検査部位81にコンタクトピン6を近づ
け,検査部位81にコンタクトピン6の先端を接触させ
る。図2に示すごとく,コンタクトピン6は,ワイヤー
支持部11の弾性力により検査部位81の高さに応じて
上方向に動き,適切な押圧力でピン先が接触する。
A method for conducting a continuity test on a printed wiring board using the continuity test jig 4 of this embodiment will be described. Figure 1
As shown in (a), the contact pins 6 are arranged on the inspection site 81 in the wiring circuit of the printed wiring board 8. Next, the contact pin 6 is brought close to the inspection site 81, and the tip of the contact pin 6 is brought into contact with the inspection site 81. As shown in FIG. 2, the contact pin 6 moves upward according to the height of the inspection part 81 by the elastic force of the wire support part 11, and the pin tip contacts with an appropriate pressing force.

【0024】次いで,コンタクトピン6を通じてプリン
ト配線板8の配線回路に電気を流す。配線回路に断線,
短絡などの異常が生じていなければ,電気導通測定器7
により正常な電気導通が検出される。異常が生じている
場合には,電流が流れないか,または異常な電流値が検
出される。
Next, electricity is supplied to the wiring circuit of the printed wiring board 8 through the contact pins 6. Disconnection in the wiring circuit,
If there is no abnormality such as a short circuit, the electrical continuity measuring device 7
, Normal electrical conduction is detected. If an abnormality has occurred, no current flows or an abnormal current value is detected.

【0025】本例の導通検査治具4においては,ワイヤ
ー5がコンタクトピン6に直接的に接合されている。そ
のため,従来のようにワイヤー5とコンタクトピン6と
の間にソケットを組み付ける作業が不要となり,製造が
容易となり,製造コストの低減化を図ることができる。
また,コンタクトピン6のピッチを狭くすることがで
き,ファインパターン間の導通検査を行うこともでき
る。
In the continuity inspection jig 4 of this embodiment, the wire 5 is directly joined to the contact pin 6. This eliminates the need for the work of assembling the socket between the wire 5 and the contact pin 6 as in the conventional case, thereby facilitating the manufacture and reducing the manufacturing cost.
Further, the pitch of the contact pins 6 can be narrowed, and a continuity test between fine patterns can be performed.

【0026】また,コンタクトピン6の先端を検査部位
81に当接させたときには,コンタクトピン6は,検査
部位81に押され,検査部位81の高さに応じて上方に
動こうとする。コンタクトピン6は支持体1に固定され
ているため,コンタクトピン6の上方への押圧力は,支
持体1におけるワイヤー支持部11を圧縮する。したが
って,本例の導通検査治具4によれば,検査部位81の
高さに応じてコンタクトピン6を適切な高さに調整する
ことができる。
When the tip of the contact pin 6 is brought into contact with the inspection part 81, the contact pin 6 is pushed by the inspection part 81 and tends to move upward according to the height of the inspection part 81. Since the contact pin 6 is fixed to the support 1, the upward pressing force of the contact pin 6 compresses the wire support 11 of the support 1. Therefore, according to the continuity inspection jig 4 of this example, the contact pins 6 can be adjusted to an appropriate height according to the height of the inspection site 81.

【0027】また,図3に示すごとく,複数の検査部位
81の高さが異なる場合には,コンタクトピン6の上方
への動き量はそれぞれ異なる。本例では,ピン支持部1
2は可撓性であるため,コンタクトピン6を支持してい
る可撓性のピン支持部12は,各コンタクトピン6の上
方への力の差に応じて歪む。この歪みは,その上の弾性
のワイヤー支持部材11に吸収される。したがって,複
数の検査部位81の高さが異なっても,検査部位81の
高さに応じてコンタクトピン6を適切な高さに調整する
ことができる。以上のように,本例の導通検査治具4に
よれば,高さの異なる複数の検査部位の導通検査を同じ
に行うことができる。
As shown in FIG. 3, when the heights of the plurality of inspection parts 81 are different, the upward movement amounts of the contact pins 6 are different. In this example, the pin support 1
Since 2 is flexible, the flexible pin support 12 supporting the contact pins 6 is distorted in accordance with the difference in upward force of each contact pin 6. This distortion is absorbed by the elastic wire support member 11 thereon. Therefore, even if the heights of the plurality of inspection parts 81 are different, the contact pins 6 can be adjusted to an appropriate height according to the height of the inspection parts 81. As described above, according to the continuity inspection jig 4 of the present embodiment, the continuity inspection of a plurality of inspection parts having different heights can be performed in the same manner.

【0028】[0028]

【発明の効果】本発明によれば,製造が容易でファイン
パターンの導通検査をすることができる導通検査治具を
提供することができる。
According to the present invention, it is possible to provide a continuity inspection jig which can be easily manufactured and can conduct a continuity inspection of a fine pattern.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】実施形態例1における導通検査治具の説明図
(a)及びワイヤーとコンタクトピンとの接合方法の説
明図(b)。
FIG. 1A is an explanatory view of a continuity inspection jig according to a first embodiment, and FIG. 1B is an explanatory view of a bonding method between a wire and a contact pin.

【図2】実施形態例1における,導通検査治具によるプ
リント配線板の導通検査方法を示す説明図。
FIG. 2 is an explanatory view showing a method for inspecting the continuity of a printed wiring board using a continuity inspection jig in the first embodiment.

【図3】実施形態例1における,配線回路当接時のコン
タクトピン及び支持体の説明図。
FIG. 3 is an explanatory diagram of a contact pin and a support when a wiring circuit is in contact with the first embodiment.

【図4】従来例の導通検査治具の断面説明図(a),及
びワイヤーに設けたソケットを示す説明図(b)。
4A is a cross-sectional explanatory view of a continuity inspection jig of a conventional example, and FIG. 4B is an explanatory view showing a socket provided on a wire.

【図5】従来例における,導通検査治具によるプリント
配線板の導通検査方法の説明図。
FIG. 5 is an explanatory view of a method for inspecting the continuity of a printed wiring board using a continuity inspection jig in a conventional example.

【図6】従来例における,プリント配線板の導通検査治
具の説明図。
FIG. 6 is an explanatory view of a continuity inspection jig of a printed wiring board in a conventional example.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1...支持体, 10...挿入穴, 11...ワイヤー支持部, 110,120,130...穴, 12...ピン支持部, 13...被覆部, 4...導通検査治具, 5...ワイヤー, 51...コンタクトピン接合部, 56...半田, 6...コンタクトピン, 8...プリント配線板, 81...検査部位, 1. . . Support, 10. . . Insertion hole, 11. . . Wire support, 110,120,130. . . Hole, 12. . . 12. pin support, . . Coating part, 4. . . 4. Continuity inspection jig, . . Wire, 51. . . Contact pin joint, 56. . . 5. solder, . . 7. contact pin; . . Printed wiring board, 81. . . Inspection site,

Claims (3)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 プリント配線板の電気導通を検査する導
通検査治具において,上記導通検査治具は,コンタクト
ピンと,上記コンタクトピンに接合されているワイヤー
と,上記コンタクトピン及びワイヤーを支持するための
支持体とからなり,上記支持体における上記ワイヤーを
支持するワイヤー支持部は弾性部材からなり,上記コン
タクトピンは,上記支持体に設けた挿入穴の中に挿入さ
れ該挿入穴壁面に対して固定されており,上記ワイヤー
は,上記挿入穴壁面に対して非固定状態に挿入されてい
ることを特徴とする導通検査治具。
1. A continuity inspection jig for inspecting electrical continuity of a printed wiring board, wherein the continuity inspection jig supports a contact pin, a wire connected to the contact pin, and the contact pin and the wire. A wire support portion for supporting the wire in the support member is made of an elastic member, and the contact pin is inserted into an insertion hole provided in the support member, and the contact pin is inserted into a wall of the insertion hole. A continuity inspection jig, which is fixed, and wherein the wire is inserted in a non-fixed state with respect to the wall surface of the insertion hole.
【請求項2】 請求項1において,上記弾性部材は,ゴ
ム及び樹脂のグループから選ばれる1種以上からなるこ
とを特徴とする導通検査治具。
2. The continuity inspection jig according to claim 1, wherein said elastic member is made of at least one selected from the group consisting of rubber and resin.
【請求項3】 請求項1または2において,上記ワイヤ
ーは,上記コンタクトピンに半田付けされていることを
特徴とする導通検査治具。
3. A continuity inspection jig according to claim 1, wherein said wire is soldered to said contact pin.
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Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH07294552A (en) * 1994-04-26 1995-11-10 Onishi Denshi Kk Continuity inspection jig for printed-wiring board
JPH1164379A (en) * 1997-08-21 1999-03-05 Ibiden Co Ltd Chacker head
JPH11108981A (en) * 1997-09-30 1999-04-23 Ibiden Co Ltd Continuity checker
JPH11273819A (en) * 1997-12-26 1999-10-08 Unitechno Kk Contact for electronic component
JP2000199767A (en) * 1998-10-27 2000-07-18 Matsushita Electric Ind Co Ltd Board for inspection

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH07294552A (en) * 1994-04-26 1995-11-10 Onishi Denshi Kk Continuity inspection jig for printed-wiring board
JPH1164379A (en) * 1997-08-21 1999-03-05 Ibiden Co Ltd Chacker head
JPH11108981A (en) * 1997-09-30 1999-04-23 Ibiden Co Ltd Continuity checker
JPH11273819A (en) * 1997-12-26 1999-10-08 Unitechno Kk Contact for electronic component
JP2000199767A (en) * 1998-10-27 2000-07-18 Matsushita Electric Ind Co Ltd Board for inspection

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