JP4648888B2 - 超音波探触子 - Google Patents

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本発明は、各種構造物の超音波検査に用いる超音波探触子に係り、特に超音波探触子を被検査体に直接接触させて検査するに好適な超音波探触子に関する。
超音波探触子を被検査体に当接させる超音波検査方法には、探触子の底面にギャップを設けて接触媒質を溜めて超音波検査を実施するギャップ法が知られている(例えば、特許文献1参照)。しかし、ギャップ法においては、接触媒質を供給および回収するための設備を要するため装置が煩雑になるという問題があった。
それに対して、接触媒質を介して超音波探触子の底面を被検査体表面に直接当接させて超音波検査を実施する直接接触法が知られている(例えば、特許文献2参照)。
特開2003−139749号公報 特開平9−318606号公報
しかしながら、直接接触法においては、超音波探触子を被検査体に当接させると超音波探触子の接触面と被検査体表面に隙間がなくなり、探傷走査中に事前塗布した接触媒質を超音波探触子側部が押し出すため次第に接触媒質が途切れて超音波が被検査体中に伝達されなくなる状態になることがあるという問題がある。
本発明の目的は、簡便な装置で安定した超音波の伝達を可能にした超音波検査ができる超音波探触子を提供することにある。
(1)上記目的を達成するために、本発明は、超音波を発する振動子と、底面に対して所定の角度を有する斜面を有し、その斜面に前記振動子が取り付けられるくさびとからなり、被検査体に超音波探触子を直接接触させて、移動しながら超音波検査をおこなう超音波探触子であって、前記くさびの底面側に取り付けられるとともに、前記被検査体と接触する側の面に形成され、前記超音波探触子の移動方向に延在し、一方の端部が前記移動方向の前方側の端部に開口し、他方の端部は、前記移動方向の後方側の端部に開口する断面形状がV字型のV型溝を有するシューを備えるようにしたものである。
かかる構成により、 簡便な装置で安定した超音波の伝達を可能にし得るものとなる。
(2)上記(1)において、好ましくは、前記シューに形成されたV型溝は、少なくとも3本としたものである。
(3)上記(1)において、好ましくは、前記シューに形成されたV型溝の断面形状は、直角二等辺三角形としたものである。
(4)上記(1)において、好ましくは、前記シューは、前記くさびと同一の材質としたものである。
(5)上記(4)において、好ましくは、前記シュー及び前記くさびは、アクリル樹脂またはポリイミド樹脂からなり、前記シューは、エポキシ樹脂系接着剤により、前記くさびに接着固定したものである。
(6)上記(5)において、好ましくは、前記シューは、そのくさびの接着部の近傍の側面に形成された溝部を備えるようにしたものである。
本発明によれば、簡便な装置で安定した超音波の伝達を可能にした超音波検査ができるものとなる。
以下、図1〜図7を用いて、本発明の一実施形態による超音波探触子の構成について説明する。
最初に、図1〜図3を用いて、本実施形態による超音波探触子の全体構成について説明する。
図1は、本発明の一実施形態による超音波探触子の全体構成を示す側面断面図である。図2は、本発明の一実施形態による超音波探触子の全体構成を示す正面図である。図3は、本発明の一実施形態による超音波探触子の全体構成を示す底面図である。なお、各図において、同一符号は同一部分を示している。
図1及び図2に示すように、超音波探触子1は、接栓2と、くさび3と、シュー4と、振動子5とを備えている。くさび3は、その底面に対して所定の角度を有する斜面を備え、その斜面に振動子5が接着されて、取り付けられる。これによって、振動子5から発せられた超音波7は、所定の角度を持って、被検査体8に伝達される。くさび3は、例えば、アクリル樹脂またはポリイミド樹脂などの樹脂製である。振動子5には、接栓2を介して、外部から電圧が供給され、振動する。シュー4は、くさび3の底面に接着剤で取り付けられている。シュー4の材質としては、くさび3と同じ材料,すなわち、アクリル樹脂またはポリイミド樹脂などの樹脂が用いられる。これによって、くさび3を伝達するときの音速と、シュー4を伝達するときの音速とを同一にできる。接着剤としては、エポキシ樹脂が用いられる。
被検査体8の表面には、接触媒質6が塗布されている。接触媒質6としては、例えば、水やグリセリン等が用いられる。振動子5の振動により発せられた超音波7は、くさび3およびシュー4を通り接触媒質6を介して被検査体8に伝達される。
図1に示すように、超音波探触子1は、ばね等の押圧力が加えられ、被検査体8の表面に軽く押し付けられ、シュー4と被検査体8の間に接触媒質6が充満した状態で矢印X方向に移動され、被検査体8の内部の探傷が行われる。
ここで、図3に示すように、シュー4の底面(被検査体8の側で、接触媒質6に接触する面)には、断面形状がV字型のV型溝4aが形成されている。V型溝4aが延在する方向は、図1における超音波探触子1の移動方向Xと同じである。V型溝4aは、図示するように、5本形成されている。V型溝4aの長さは、シュー4の長辺の長さと等しい。すなわち、V型溝4aは、超音波探触子1の移動方向Xにおいて、その全域に形成されている。従って、V型溝4aの一方の端部は、超音波探触子1の移動方向Xの前方側の端部に開口し、また、他方の端部は、超音波探触子1の移動方向Xの後方側の端部に開口している。
次に、図4及び図5を用いて、本実施形態による超音波探触子におけるシュー4に形成されたV型溝4aの機能について説明する。
図4及び図5は、本発明の一実施形態による超音波探触子の要部拡大図である。図4は、図2と同じ方向から見た場合の拡大図である。図5は、図1と同じ方向から見た場合の拡大図である。なお、図4及び図5において、図1〜図3と同一符号は同一部分を示している。
図4に示すように、被検査体8の表面に事前塗布されたに接触媒質6は、超音波探触子1を被検査体8の表面に軽く押圧し、図1に示した矢印X方向に移動することで、V型溝4aに浸透し、探傷走査の連続でV型溝4a内の接触媒質6は飽和状態になるが、V型溝4aの斜面4bで押された接触媒質6は、矢印6aの方向(溝4aの延在する方向に直交する方向;探触子1の移動方向に直交する方向)に、超音波探触子1の幅方向に浸透して行く。
また、図5に示すように、V型溝4aは、走査方向に延在した溝としているので、矢印6bの方向(溝4aの延在する方向;探触子1の移動方向)に、V型溝4aの内部を、その長さ方向に押し出されて超音波探触子1の後方に流出する。
従来は、直接接触法においては、超音波探触子を被検査体に当接させると超音波探触子の接触面と被検査体表面に隙間がなくなり、探傷走査中に事前塗布した接触媒質を超音波探触子側部が押し出すため、次第に探触子と被検査体の間の接触媒質が途切れて、超音波が被検査体中に伝達されなくなる状態になることがあった。
それに対して本実施形態では、図4にて説明したように、矢印6aの方向(V型溝4aの延在する方向に直交する方向)に接触媒質6が押し出されて、超音波探触子1の幅方向に浸透し、また、図5にて説明したように、V型溝4aの長さ方向に押し出されることにより、探触子と被検査体の間の接触媒質が途切れることを防止できる。
また、V型溝4aは、超音波探触子1の移動方向Xにおいて、その全域に形成されており、V型溝4aの一方の端部は、超音波探触子1の移動方向Xの前方側の端部に開口しているので、超音波探触子1が移動方向Xに移動すると、V型溝4aの前方の開口部から接触媒質が補給され、溝内で接触媒質が途切れることを防止できる。また、V型溝4aの他方の端部は、超音波探触子1の移動方向Xの後方側の端部に開口しているので、接触媒質が溝内にあふれそうになっても、余分な接触媒質は後方から排出されるので、シューと被検査体の間に一定の膜厚の皮膜を形成することができる。
V型溝4aの断面形状は、頂角が90度の直角二等辺三角形としている。溝4aの断面形状としては、半円形や四角形も考えられるが、図4にて説明したように、溝の斜面が接触媒質を押して、左右に押し出す作用を考えると、V字型の溝が適している。V型溝4aの頂角は、90度に限らないが、90度よりも鋭角や鈍角になると、溝の左右に押し出す力が弱くなるため、90度近傍が好ましいものである。
V型溝4aの本数は、少なくとも1本あれば、従来の溝がない場合に比べて、接触媒質が途切れるのを防止できる効果はある。ただし、好ましくは、シュー4の溝4aによる超音波探触子1の幅方向への接触媒質の浸透効果を積極的に利用するため、少なくても3本のV型溝4aを形成することで接触媒質6を超音波探触子1の底面全体、すなわち被検査体8と超音波探触子1との接触面全体に浸透させることができることにより安定した超音波の送受信を可能にできる。なお、図3に示すように、シュー4の形状は、長方形である。その長辺(図1の移動方向Xの方向)は、例えば、25mmであり、短辺は、例えば、15mmである。溝4aの本数が3本の場合、溝ピッチは7mm程度となる。接触媒質が十分に幅方向に浸透させるには、溝ピンチは4mm程度が好ましく、その場合には、溝の本数は、図3に示したように、5本となる。
次に、図6及び図7を用いて、本実施形態による超音波探触子におけるシュー4に形成されたV型溝4aの深さについて説明する。
図6は、本発明の一実施形態による超音波探触子の要部拡大図である。図7は、本発明の一実施形態による超音波探触子におけるシューに形成されたV型溝の深さを変えた場合の感度の説明図である。なお、図6において、図1〜図3と同一符号は同一部分を示している。
図6は、V型溝部4aを拡大して示しており、図6(A)はV型溝が浅い場合(本例では深さ0.5mm)を示しており、図6(B)はV型溝が深い場合(本例では深さ1.0mm)を示している。
図6(A)に示すように、V型溝4aが浅い場合には、振動子から発信された超音波7は、V型溝4aの斜面4bでスネルの法則による屈折によりV型溝内の接触媒質中を超音波7bで伝搬し、超音波7bは被検査体表面8aで前記同様の法則に従った屈折により超音波7cのように被検査体中に散乱して伝搬する。
また、図6(B)に示すように、V型溝4aが深い場合には、超音波7,7bおよび7cは、図6(A)と同様に被検査体中に散乱して伝搬するが、V型溝が深くなったことにより、V型溝の幅が広くなり、超音波の散乱範囲も広くなる。
したがって、V型溝以外の平行部4cでは超音波は直進して被検査体中に伝搬するのに対し、V型溝4aではV型形状が超音波を散乱させてしまい、V型溝を付けない平板シューに比べると超音波の受信感度が低下することになり、その程度はV型溝が深く、その結果V型溝が広いほど大きくなる。
次に、図7を用いて、V型溝が形成されていない平板シューと、溝深さを0.5mmおよび1.0mmのV型溝が形成されたシューとの、超音波の受信感度差を確認した試験結果について説明する。図7の横軸は、スリット深さ(mm)を示し、縦軸は、感度(dB)を示している。
試験方法としては、超音波の受信感度差を確認するために、板厚38mmの試験片に深さの異なる6種類のスリット(スリット深さ0.5mm,1.0mm,1.5mm,2.0mm,3.0mmおよび5.0mm)を形成し、前述の3種類のシューをそれぞれ使用して、前述の6種類のスリットを探傷してそれぞれのスリットからの超音波反射波を超音波探傷器表示部上で80%になるように受信感度を調整してそのときの感度(dB値)を確認した。
図中、点線S1は、平板シューを用いた場合の感度を示し、実線S2は、V型溝の深さを0.5mmとした場合の感度を示し、実線S3は、V型溝の深さを1.0mmとした場合の感度を示している。
V型溝の深さを0.5mmとした場合は、平板シューに比べて1.9dB〜2.2dBの感度低下であるが、V型溝の深さを1.0mmとした場合は平板シューに比べて7.4dB〜7.9dBの感度低下であり、感度低下が大きいことを確認した。
したがって、V型溝の形状は接触媒質を被検査体との接触面に浸透させるのに都合の良い形状であるが、溝深さを深くし過ぎると超音波の受信感度を低下させてしまうため浅い方(本例では0.5mm)が好ましいことがわかった。
次に、図8を用いて、本発明の他の実施形態による超音波探触子の構成について説明する。
図8は、本発明の他の実施形態による超音波探触子の構成を示す図であり、図8(A)は正面図であり、図8(B)は要部拡大図である。なお、図8において、図1〜図3と同一符号は同一部分を示している。
超音波探触子1におけるシュー4’は、図1に示したシューと同様に、被検査体と接触する側の底面に、V型溝4aを有している。超音波探触子1との接触面は、エポキシ樹脂にて探触子1に接着されている。また、その側端部であって、探触子1と接触する部分には、溝4dが形成されている。
そして、シュー4’が磨耗した場合には、シュー4’の側面の面取り部分の溝4dを使って、この溝にドライバー等の金属部材を引っかけることで、エポキシ樹脂の粘着を剥がすことにより、被検査体8にきず等をつけることがなくシュー4’を交換することができる。
以上説明したように、本実施形態によれば、超音波検査を直接接触法で実施する場合の超音波探触子と被検査体表面との接触面における接触媒質の途切れによる超音波の送受信不良を起こすことがなくなるため、安定した超音波検査ができる。
また、被検査体表面に接触媒質を一度塗布するだけで十分であることから、本発明を自動超音波探傷に使用した場合、接触媒質の供給設備等は不要であり、シンプルな装置構成にできるため現場での作業効率が向上する。
また、シューの磨耗によるV型溝効果低減時は、超音波探触子とシューを接着しているエポキシ樹脂を剥がすことで、シューの貼り替えが可能な構造にしたことから超音波探触子のくさびの磨耗はなく、超音波探触子の寿命を長くできる。
本発明の一実施形態による超音波探触子の全体構成を示す側面断面図である。 本発明の一実施形態による超音波探触子の全体構成を示す正面図である。 本発明の一実施形態による超音波探触子の全体構成を示す底面図である。 本発明の一実施形態による超音波探触子の要部拡大図である。 本発明の一実施形態による超音波探触子の要部拡大図である。 本発明の一実施形態による超音波探触子の要部拡大図である。 本発明の一実施形態による超音波探触子におけるシューに形成されたV型溝の深さを変えた場合の感度の説明図である。 本発明の他の実施形態による超音波探触子の構成を示す図である。
符号の説明
1…超音波探触子
2…接栓
3…くさび
4…シュー
4a…V型溝
4d…溝
5…振動子
6…接触媒質
7…超音波
8…被検査体

Claims (6)

  1. 超音波を発する振動子と、底面に対して所定の角度を有する斜面を有し、その斜面に前記振動子が取り付けられるくさびとからなり、被検査体に超音波探触子を直接接触させて、移動しながら超音波検査をおこなう超音波探触子であって、
    前記くさびの底面側に取り付けられるとともに、前記被検査体と接触する側の面に形成され、前記超音波探触子の移動方向に延在し、一方の端部が前記移動方向の前方側の端部に開口し、他方の端部は、前記移動方向の後方側の端部に開口する断面形状がV字型のV型溝を有するシューを備えたことを特徴とする超音波探触子。
  2. 請求項1記載の超音波探触子において、
    前記シューに形成されたV型溝は、少なくとも3本であることを特徴とする超音波探触子。
  3. 請求項1記載の超音波探触子において、
    前記シューに形成されたV型溝の断面形状は、直角二等辺三角形であることを特徴とする超音波探触子。
  4. 請求項1記載の超音波探触子において、
    前記シューは、前記くさびと同一の材質からなることを特徴とする超音波探触子。
  5. 請求項4記載の超音波探触子において、
    前記シュー及び前記くさびは、アクリル樹脂またはポリイミド樹脂からなり、
    前記シューは、エポキシ樹脂系接着剤により、前記くさびに接着固定されていることを特徴とする超音波探触子。
  6. 請求項5記載の超音波探触子において、
    前記シューは、そのくさびの接着部の近傍の側面に形成された溝部を備えたことを特徴とする超音波探触子。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP2979644B1 (en) * 2013-03-29 2017-09-13 Fujifilm Corporation Ultrasonic probe for puncture needle and ultrasonic diagnostic device using same
KR102085411B1 (ko) * 2014-12-18 2020-03-05 가부시키가이샤 아이에이치아이 검사 프로브
JP6362568B2 (ja) * 2015-06-05 2018-07-25 日立Geニュークリア・エナジー株式会社 超音波探触子
JP7159127B2 (ja) * 2019-07-29 2022-10-24 日立Geニュークリア・エナジー株式会社 超音波探触子装置
JP7104669B2 (ja) * 2019-08-06 2022-07-21 日立Geニュークリア・エナジー株式会社 超音波探触子装置
JP7358191B2 (ja) * 2019-10-25 2023-10-10 株式会社東芝 音波検査方法、音波検査装置、及び接触媒質

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH10221308A (ja) * 1997-02-10 1998-08-21 Kajima Corp 鉄骨破断部の検出方法及び装置並びに探触子
JP2003130858A (ja) * 2001-10-26 2003-05-08 Toshiba Corp 超音波探触子

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH10221308A (ja) * 1997-02-10 1998-08-21 Kajima Corp 鉄骨破断部の検出方法及び装置並びに探触子
JP2003130858A (ja) * 2001-10-26 2003-05-08 Toshiba Corp 超音波探触子

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