JP4640244B2

JP4640244B2 - 粉粒体供給装置

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Publication number: JP4640244B2
Application number: JP2006116612A
Authority: JP
Inventors: 隆小坂
Original assignee: Panasonic Corp; Matsushita Electric Works Ltd
Current assignee: Panasonic Corp; Panasonic Electric Works Co Ltd
Priority date: 2005-04-25
Filing date: 2006-04-20
Publication date: 2011-03-02
Anticipated expiration: 2026-04-20
Also published as: JP2006327824A

Description

本発明は、密度や粒径等が異なる様々な粉粒体を精度よく定量供給することができる粉粒体供給装置に関する。

従来、粉粒体の供給装置としては、ロードセル等を用いた質量制御手段を備えた供給装置が知られている。例えば、特許文献１及び特許文献２には粉末成形機の秤量式原料供給装置として、ロードセルを備えた秤量機が記載されている。
特公平６−３７０４７号公報特開平８−１６４４９９号公報

ところで、前記ロードセルを用いた質量制御手段の場合、ロードセル上の供給ホッパ部内に材料を供給する際には大量の材料を一時にまとめて供給するため、制御が一時的に不能になり、制御が安定するまでの間は材料供給にバラツキが生じるという問題があった。また、粉粒体として比重の軽い微粉末を含む場合には、供給後ホッパ内の空間に微粉末が舞い上がり、質量が安定するまでに時間がかかるという問題があった。

本発明は、上記事情に鑑みて為された発明であり、密度や粒径等が異なる様々な粉粒体を精度よく定量供給する場合においても安定的且つ正確に粉粒体を供給することのできる粉粒体供給装置を提供することを目的とする。

本発明の一態様に係る、粉粒体を定量供給するための粉粒体供給装置は、粉粒体を貯蔵するための供給ホッパ部と、前記供給ホッパ部の質量を検知する質量検知部と、前記供給ホッパ部内に貯蔵されている粉粒体の粉面位置を検知する粉面位置検知部と、前記供給ホッパ部から供給された粉粒体を外部に供給する粉粒体供給部と、前記質量検知部で検知された質量及び前記粉面位置検知部で検知された粉面位置に基づいて実供給量をそれぞれ求め、これら求めた各実供給量の何れか一方が予め設定された設定供給量範囲外である場合には、前記質量検知部で検知された質量に基づいて前記粉粒体供給部を制御している際には前記粉面位置検知部で検知された粉面位置に基づいて前記粉粒体供給部を制御すると共に、前記粉面位置検知部で検知された粉面位置に基づいて前記粉粒体供給部を制御している際には前記質量検知部で検知された質量に基づいて前記粉粒体供給部を制御する制御部とを備えることを特徴とする。

そして、本発明の一態様に係る、粉粒体を定量供給するための粉粒体供給装置は、粉粒体を貯蔵するための供給ホッパ部と、前記供給ホッパ部の質量を検知する質量検知部と、前記供給ホッパ部内に貯蔵されている粉粒体の粉面位置を検知する粉面位置検知部と、前記供給ホッパ部から供給された粉粒体を外部に供給する粉粒体供給部と、前記質量検知部で検知された質量及び前記粉面位置検知部で検知された粉面位置に基づいて実供給量をそれぞれ求め、これら求めた各実供給量と予め設定された設定供給量との差をそれぞれ求め、これら求めた差のうちの小さい方の検知部の検知結果に基づいて前記粉粒体供給部から外部に供給される粉粒体の供給量が一定量となるように前記粉粒体供給部を制御する制御部とを備えることを特徴とする。

即ち、前記制御部は、前記質量検知部で検知された質量及び前記粉面位置検知部で検知された粉面位置に基づいて実供給量をそれぞれ求め、これら求めた各実供給量と予め設定された設定供給量との差をそれぞれ求め、前記質量検知部で検知された質量に基づいて求めた実供給量と設定供給量との差が前記粉面位置検知部で検知された粉面位置に基づいて求めた実供給量と設定供給量との差より小さい場合には前記質量検知部で検知された質量に基づいて前記粉粒体供給部を制御すると共に、前記粉面位置検知部で検知された粉面位置に基づいて求めた実供給量と設定供給量との差が前記質量検知部で検知された質量に基づいて求めた実供給量と設定供給量との差より小さい場合には前記粉面位置検知部で検知された粉面位置に基づいて前記粉粒体供給部を制御するものである。

このような構成の粉粒体供給装置は、供給ホッパ部の質量を検知する質量検知部、及び、供給ホッパ部内の粉面位置を検知する粉面位置検知部を備え、それらのどちらか一方により粉粒体の供給量を定量供給制御するために、幅広い形態（例えば、形状、比重、嵩比重等）の粉粒体の精密な供給に対応できる。即ち、例えば、形状が不定形で供給ホッパ部内の粉面に偏り等が生じるような粉粒体を供給する場合には質量に基づいて供給量を制御し、また、比重が低い微粒子で供給ホッパ部への供給時に供給ホッパ部内の空間で微粒子が舞い上がり、質量が安定するまでに時間がかかる粉粒体等を供給する場合には粉面位置に基づいて供給量を制御する等、定量供給制御を粉粒体の形態に応じて切替えることにより、幅広い形態の粉粒体を供給する場合にも正確且つ安定的に定量供給ができる。また、実際に供給された実供給量をモニターし、その結果に基づき質量定量供給制御あるいは粉面位置定量供給制御の何れか一方のうちより最適なものを選択することにより、粉粒体の安定した供給を継続することができる。

本発明の粉粒体供給装置の具体的な実施態様の一形態を、図１に基づいて説明する。図１は、本発明の粉粒体供給装置の実施形態の一例の模式図を示す。

図１に示された粉粒体供給装置Ａは、粉粒体材料供給部１（１ａ〜１ｃ）と、配合撹拌部２と、排出調整部３と、質量検知部４と、粉面位置検知部５と、供給ホッパ部６と、粉粒体供給部７と、供給量設定部８と、制御部９と、記憶部１０とを備えて構成される。

粉粒体材料供給部１は、各種粉粒体材料を配合撹拌部２に供給するための貯蔵タンクと配合撹拌部２とを連結する各種粉粒体材料の供給路である。粉粒体材料供給部１の供給路は、配合する粉粒体材料の種類数に応じて必要個数が設けられる。図１に示す例では、３種類の粉粒体材料を配合撹拌部２で配合するため、３個の供給路１ａ〜１ｃが設けられている。

配合撹拌部２は、粉粒体材料供給部１から供給された各種粉粒体材料を混合する装置であり、例えば、配合ミキサを備えて構成される。

排出調整部３は、配合撹拌部２で混合された粉粒体に対して配合撹拌部２から供給ホッパ部６への供給及び停止を行う装置であり、例えば、排出シャッターを備えて構成される。配合撹拌部２で混合された粉粒体混合物は、排出調整部３が開かれることにより、供給ホッパ部６に供給される。排出調整部３は、供給ホッパ部６内の粉粒体の残量が、予め設定された供給ホッパ部内下限残量よりも少なくなった場合には開いて供給し、予め設定された時間が経過した場合、あるいは、予め設定された供給ホッパ部内上限残量に達した場合には、閉じられて停止するように制御部９によって制御される。

供給ホッパ部６は、配合撹拌部２から排出調整部３を介して供給された粉粒体を貯蔵するための容器であり、容器の底部には、この貯蔵している粉粒体を粉粒体供給部７へ供給するための１又は複数の排出口が開口されている。

質量検知部４は、供給ホッパ部６の質量を検知する装置であり、例えば、ロードセル等が用いられる。供給ホッパ部６の質量は、粉粒体供給装置Ａに備えられた質量検知部４により検知され、この検知された供給ホッパ部６の質量は、質量検知部４から制御部９へ出力される。

粉面位置検知部５は、供給ホッパ部６内に貯蔵されている粉粒体によって形成される粉面位置を検知する装置である。供給ホッパ部６内の粉粒体によって形成される粉面位置は、粉粒体供給装置Ａに備えられた粉面位置検知部５により検知され、この検知された粉面位置は、粉面位置検知部５から制御部９へ出力される。粉面位置検知部５としては、各種粉面計、具体的には、例えば、供給ホッパ部６に取り付けて、パルス振動を与えてその振幅で粉面位置を検知するパルス振動式の粉面計や、粉面の表面に音波や光を照射して反射させて表面位置を測定する超音波式の粉面計や、吊線に吊下げられた超軽量フロート板に粉面が当接することで、吊線を介してリミットスイッチの起動子に加わるわずかな力の変化を検知する粉面計等が挙げられる。

粉粒体供給部７は、制御部９によって制御され、供給ホッパ部６から供給された粉粒体を当該粉粒体供給装置Ａの外部に定量供給するための供給装置フィーダーであり、例えば、公知のスクリュー状又はスパイラル状の供給装置や、ベルトコンベアや、振動式フィーダー等を備えた供給装置等である。

供給量設定部８は、単位時間あたりの供給量（設定供給量）、その供給量に対して許容されるバラツキの範囲である上限量及び下限量等の供給量範囲（設定供給量範囲）、並びに、供給ホッパ部６内に貯蔵される粉粒体の下限量（供給ホッパ部内下限残量）及び上限量（供給ホッパ部内上限残量）等の各種データを粉粒体供給装置Ａに入力するための装置であり、例えば、テンキーやキーボード等である。

制御部９は、例えば、マイクロプロセッサ、記憶素子及びその周辺回路等を備えて構成され、機能的に、質量検知部４で検知された質量に基づいて実供給量及び単位時間当たりの実供給量を演算すると共に、粉面位置検知部５で検知された粉面位置に基づいて実供給量及び単位時間当たりの実供給量を演算する実供給量演算部２１と、単位時間当たりの実供給量と設定供給量範囲とを比較して判断する判断部２２と、判断部２２における判断結果に基づき定量供給制御を切替える制御切替部２３と、実供給量演算部２１で演算した実供給量に基づいて粉粒体供給部７を制御切替部２３で切り替えられた定量供給制御で制御する供給量制御部２４とを備え、前記記憶素子に予め記憶されている制御プログラムに従い粉粒体供給装置Ａの各部を当該機能に応じてそれぞれ制御する。

より具体的には、例えば、粉粒体供給部７がスクリュー状又はスパイラル状の供給装置である場合では、供給量制御部２４は、設定供給量と実供給量を比較し、スクリュー又はスパイラルの回転数を調整することにより供給量を制御する。即ち、設定された単位時間当りの供給量に比べて単位時間当りの実供給量が少ない場合には、供給量制御部２４は、スクリュー又はスパイラルの回転数を高めて多く供給するように調整する。また、設定された単位時間当りの供給量に比べて単位時間当りの実供給量が多い場合には、供給量制御部２４は、スクリュー又はスパイラルの回転数を低めて少なく供給するように調整する。また例えば、粉粒体供給部７がベルトコンベアである場合では、供給量制御部２４は、設定供給量と実供給量を比較し、ベルトコンベアの進行速度を調整することにより供給量を制御する。即ち、設定された単位時間当りの供給量に比べて単位時間当りの実供給量が少ない場合には、供給量制御部２４は、ベルトコンベアの進行速度を高めて多く供給するように調整する。また、設定された単位時間当りの供給量に比べて単位時間当りの実供給量が多い場合には、供給量制御部２４は、ベルトコンベアの進行速度を低めて少なく供給するように調整する。なお、粉粒体供給部７が振動式フィーダーを備えた供給装置である場合には、振動フィーダーの振動数を変化させることにより供給量を制御することができる。

記憶部１０は、質量検知部４で検知された供給ホッパ部６の質量、粉面位置検知部５で検知された供給ホッパ部６内の粉粒体の粉面位置、実供給量及び単位時間当たりの実供給量等を記憶する装置であり、例えば、ＲＡＭ（Random Access Memory）等の揮発性の記憶素子を備えて構成される。なお、記憶部１０の具体的な態様については本発明においては特に限定されない。

このような構成の粉粒体供給装置Ａでは、まず、粉粒体供給装置Ａの操作者は、供給量設定部８に、設定供給量として単位時間あたりの供給量、設定供給量範囲としてその供給量に対して許容されるバラツキの範囲である上限量及び下限量等の供給量範囲、並びに、供給ホッパ部６に材料供給指令を出すための供給ホッパ部内下限残量及び上限残量等を入力し、予めこれらを粉粒体供給装置Ａに設定する。なお、供給量設定部８で入力、設定される供給量は、質量検知の単位あるいは粉面位置検知の単位で設定されるが、それらは予め供給される粉粒体に応じた相関式により相関付けておくことが好ましい。このように相関付けておきこれら２つの質量検知部４及び粉面位置検知部５によって供給量をモニターすることで何れか一方の定量供給制御がより好ましいかを比較することができる。

そして、粉粒体供給装置Ａが稼働される。粉粒体供給装置Ａが稼働開始すると、質量検知部４は、供給ホッパ部６の質量を検知し、この検知した供給ホッパ部６の質量を制御部９へ出力する。また、粉面位置検知部５は、供給ホッパ部６内の粉粒体によって形成される粉面位置を検知し、この検知した粉面位置を制御部９へ出力する。

図２は、本発明の粉粒体供給装置における定量供給制御の切り替えに関する制御部のフローチャートを示す図である。図２において、質量検知部４から供給ホッパ部６の質量が入力され、粉面位置検知部５から供給ホッパ部６内の粉粒体の粉面位置が入力されると（Ｓ１１）、制御部９の実供給量演算部２１は、まず、質量検知部４からの供給ホッパ部６の質量及び粉面位置検知部５からの供給ホッパ部６内の粉粒体の粉面位置の情報を記憶部１０に記憶する（Ｓ１２）。次に、実供給量演算部２１は、質量検知部４で検知された質量に基づいて実供給量を演算し、単位時間当たりの実供給量を演算すると共に、粉面位置検知部５で検知された粉面に基づいて実供給量を演算し、単位時間当たりの実供給量を演算する（Ｓ１３）。例えば、質量検知部４からの供給ホッパ部６の質量と供給ホッパ部６に貯蔵されている粉粒体の量とが予め相関付けられており、単位換算されることによって質量検知部４からの供給ホッパ部６の質量から供給ホッパ部６に貯蔵されている粉粒体の量が演算される。そして、後述するように図２に示す処理Ｓ１１乃至処理Ｓ１７は、所定の時間間隔で繰り返されるが、前回の処理において求めた供給ホッパ部６に貯蔵されている粉粒体の量と今回の処理において求めた供給ホッパ部６に貯蔵されている粉粒体の量と差が求められることによって粉粒体供給部７で供給される実供給量が演算され、前記所定の時間間隔に基づいて単位時間当たりの実供給量が演算される。また例えば、粉面位置検知部５からの粉粒体の粉面位置と供給ホッパ部６に貯蔵されている粉粒体の量とが予め相関付けられており、単位換算されることによって粉面位置検知部５からの粉粒体の粉面位置から供給ホッパ部６に貯蔵されている粉粒体の量が演算される。そして、前回の処理において求めた供給ホッパ部６に貯蔵されている粉粒体の量と今回の処理において求めた供給ホッパ部６に貯蔵されている粉粒体の量と差が求められることによって粉粒体供給部７で供給される実供給量が演算され、前記所定の時間間隔に基づいて単位時間当たりの実供給量が演算される。次に、実供給量演算部２１は、これら演算した実供給量及び単位時間当たりの実供給量を記憶部１０に記憶する（Ｓ１４）。

次に、制御部９の判断部２２は、供給量制御部２４が質量検知又は粉面位置検知の何れに基づく制御を行なうかを判断する。即ち、供給量制御部２４が質量検知部４からの検知質量に基づく実供給量によって粉粒体供給部７を定量供給制御（質量検知定量供給制御）するか、供給量制御部２４が粉面位置検知部５からの検知粉面位置に基づく実供給量よって粉粒体供給部７を定量供給制御（粉面位置検知定量供給制御）するかを判断する（Ｓ１５）。この判断は、例えば、記憶部１０に記憶された実供給量のデータと供給量設定部８から予め入力された設定供給量のデータとを比較することによって行われ、その判断結果に応じてより好ましい定量供給制御が選ばれる。より具体的には、質量検知部４により検知された質量（検知質量）に基づく単位時間あたりの実供給量とその設定供給量に対して許容される上限量及び下限量等との比較や、粉面位置検知部５により検知された粉面位置（検知粉面位置）に基づく単位時間あたりの実供給量とその設定供給量に対して許容される上限量及び下限量等との比較等が挙げられる。

処理Ｓ１５における判断の結果、検知質量及び検知粉面位置に基づく単位時間あたりの各実供給量が設定供給量の範囲内であると判断された場合には、制御部９の制御切替部２３は、供給量制御部２４が現状の定量供給制御を継続するように供給量制御部２４に通知し、一方、この処理Ｓ１５における判断の結果、検知質量及び検知粉面位置に基づく単位時間あたりの各実供給量の何れか一方が設定供給量の範囲外であると判断された場合には、制御部９の制御切替部２３は、供給量制御部２４が現状とは別の他の定量供給制御に切替えるように、供給量制御部２４に通知する（Ｓ１６）。

そして、供給量制御部２４は、この通知に従った定量供給制御によって粉粒体供給部７を制御する（Ｓ１７）。即ち、供給量制御部２４は、質量検知定量供給制御及び粉面位置検知定量供給制御のうちの、判断部２２の判断結果に基づいて制御切替部２３で選ばれた定量供給制御によって粉粒体供給部７の供給量を制御する。より具体的には、例えば、当初質量検知定量供給制御によって粉粒体供給部７の供給量を制御している場合において、質量検知部４により検知された供給ホッパ部６の質量に基づき算出される単位時間当りの実供給量が、ある時点で設定供給量の範囲外になったと判断されたときには、粉面位置検知定量供給制御による定量供給制御に切替えられる。また例えば、当初粉面位置検知定量供給制御によって粉粒体供給部７の供給量を制御している場合において、粉面位置検知部５により検知された粉面位置に基づき算出される単位時間当りの実供給量が、ある時点で設定供給量の範囲外になったと判断されたときには、質量検知定量供給制御による定量供給制御に切替えられる。

そして、このような処理Ｓ１１乃至処理Ｓ１７の動作が所定の時間間隔で繰り返される。ここで、この所定の時間間隔が単位時間当たりの実供給量における当該単位時間に設定されると、前回の処理における処理Ｓ１３で演算された実供給量と、今回の処理における処理Ｓ１３で演算された実供給量との差を演算することによってそのまま単位時間当たりの実供給量が演算されるので、制御部９の情報処理量が軽減される。

このようにして質量検知による供給量の制御（質量検知定量供給制御）と粉面位置検知による粉粒体供給部７における供給量の制御（粉面位置検知定量供給制御）とが切替えられることにより、粉粒体供給装置Ａは、より安定的且つ正確に粉粒体を供給することができる。

なお、上述の実施形態では、処理Ｓ１５では、単位時間あたりの実供給量とその設定供給量に対して許容される上限量及び下限量等との比較によって何れの定量供給制御を行うかが判断されたが、質量検知部４により検知された検知質量に基づく実供給量とその設定供給量との比較や、粉面位置検知部５により検知された検知粉面位置に基づく実供給量とその設定供給量との比較によって何れの定量供給制御を行うか判断してもよい。この場合には、処理Ｓ１５における判断の結果、検知質量及び検知粉面位置に基づく実供給量の何れか一方のうち、設定供給量との差が小さい方の定量供給制御が選択され、この選択結果の定量供給制御を供給量制御部２４に通知する（Ｓ１６）。より具体的には、例えば、当初質量検知定量供給制御により粉粒体供給部７の供給量を制御している場合、検知質量に基づき算出される単位時間当りの実供給量及び検知粉面位置に基づき算出される単位時間当りの実供給量とそれぞれの設定供給量とをある時点において比較した結果、検知粉面位置に基づき算出される単位時間当りの実供給量と設定供給量との差の方が検知質量に基づき算出される単位時間当りの実供給量と設定供給量との差より小さい場合には、粉面位置による供給量の制御（粉面位置検知定量供給制御）に切替えられる。また例えば、当初粉面位置検知定量供給制御により粉粒体供給部７の供給量を制御している場合、検知質量に基づき算出される単位時間当りの実供給量及び検知粉面位置に基づき算出される単位時間当りの実供給量とそれぞれの設定供給量とをある時点において比較した結果、検知質量に基づき算出される単位時間当りの実供給量と設定供給量との差の方が検知粉面位置に基づき算出される単位時間当りの実供給量と設定供給量との差より小さい場合には、供給ホッパ部６の質量による供給量の制御（質量検知定量供給制御）に切替えられる。また例えば、当初質量検知定量供給制御により粉粒体供給部７の供給量を制御している場合、検知質量に基づき算出される単位時間当りの実供給量及び検知粉面位置に基づき算出される単位時間当りの実供給量とそれぞれの設定供給量とをある時点において比較した結果、検知質量に基づき算出される単位時間当りの実供給量と設定供給量との差の方が検知粉面位置に基づき算出される単位時間当りの実供給量と設定供給量との差より小さい場合には、質量検知定量供給制御が継続される。このように構成された場合でも、粉粒体供給装置Ａは、質量検知による供給量の制御（質量検知定量供給制御）と粉面位置検知による粉粒体供給部７における供給量の制御（粉面位置検知定量供給制御）とが切替えられることにより、より安定的且つ正確に粉粒体を供給することができる。

本発明の粉粒体供給装置Ａにおいては、前記実施形態をその代表例とするが、更に、その他種々の変形した実施形態が適用可能である。例えば、供給ホッパ部６と粉粒体供給部７との間に更に、貯蔵ブレンダーを設けたりしてもよい。

本発明の粉粒体供給装置Ａは、粉粒体の供給が必要とされる用途であれば特に限定なく用いられるが、好ましくは、例えば、樹脂組成物を混練する際の混練機にその各種原料を供給する場合のような幅広い形態の粉粒体を取り扱う用途に用いられる。

前記幅広い形態の粉粒体の具体例としては、例えば、粉末状、粒状、顆粒状、ペレット形状等の樹脂原料やチョップドストランド、パウダー状、ビーズ状、ウイスカー状の無機充填材や、顔料、液状添加剤等の原材料が挙げられる。

本発明の効果が発揮される場合としては以下のような具体例が挙げられる。

例えば、当初粉面位置検知定量供給制御を行なっていた場合において、粉面が正確に計測できなくなった場合には、この粉面位置検知による定量供給制御は、不安定になる。このような場合の具体例としては、例えば、粉粒体として比重の低い微粉末を含む場合であって、微粉末が供給ホッパ部６内の空間で舞い明確な粉面位置を正確に計測できない場合や、粉粒体として密度や粒径等が異なる複数の材料の混合物からなる粉粒体を用いる場合であって、粉面に偏りが生じたり、粉面の全面が均等に変化せず、例えば、粉粒体の排出部の周辺部のみから優先的に供給され、粉面がすり鉢状になったり、前記排出部の直上部に凹状が形成されることにより正確な粉面が検出できない場合などが挙げられる。このような場合には、粉面位置検知における実供給量が大きくバラツキ、供給が安定せず一時的に実供給量が設定供給量の範囲外になる。このような場合においても質量検知における実供給量が安定している場合には、供給量制御部２４が質量検知定量供給制御に切替えられることにより安定的な供給状態を維持することができる。

また、このような場合には、粉面位置検知における実供給量が大きく変動し、粉面位置検知における実供給量は、設定供給量との差が大きく広がるが、質量検知における実供給量は、比較的安定的で設定供給量との差が比較的小さいことがある。このような場合には供給量制御部２４が質量検知定量供給制御に切替えられることにより安定的な供給状態を維持することができる。

本発明の粉粒体供給装置の実施形態の一例の模式図を示す。本発明の粉粒体供給装置における定量供給制御の切り替えに関する制御部のフローチャートを示す図である。

符号の説明

Ａ粉粒体供給装置
４質量検知部
５粉面位置検知部
６供給ホッパ部
７粉粒体供給部
８供給量設定部
９制御部
１０記憶部
２１実供給量演算部
２２判断部
２３制御切替部
２４供給量制御部

Claims

粉粒体を定量供給するための粉粒体供給装置において、
粉粒体を貯蔵するための供給ホッパ部と、
前記供給ホッパ部の質量を検知する質量検知部と、
前記供給ホッパ部内に貯蔵されている粉粒体の粉面位置を検知する粉面位置検知部と、
前記供給ホッパ部から供給された粉粒体を外部に供給する粉粒体供給部と、
前記質量検知部で検知された質量及び前記粉面位置検知部で検知された粉面位置に基づいて実供給量をそれぞれ求め、これら求めた各実供給量の何れか一方が予め設定された設定供給量範囲外である場合には、前記質量検知部で検知された質量に基づいて前記粉粒体供給部を制御している際には前記粉面位置検知部で検知された粉面位置に基づいて前記粉粒体供給部を制御すると共に、前記粉面位置検知部で検知された粉面位置に基づいて前記粉粒体供給部を制御している際には前記質量検知部で検知された質量に基づいて前記粉粒体供給部を制御する制御部とを備えること
を特徴とする粉粒体供給装置。
粉粒体を定量供給するための粉粒体供給装置において、
粉粒体を貯蔵するための供給ホッパ部と、
前記供給ホッパ部の質量を検知する質量検知部と、
前記供給ホッパ部内に貯蔵されている粉粒体の粉面位置を検知する粉面位置検知部と、
前記供給ホッパ部から供給された粉粒体を外部に供給する粉粒体供給部と、
前記質量検知部で検知された質量及び前記粉面位置検知部で検知された粉面位置に基づいて実供給量をそれぞれ求め、これら求めた各実供給量と予め設定された設定供給量との差をそれぞれ求め、これら求めた差のうちの小さい方の検知部の検知結果に基づいて前記粉粒体供給部から外部に供給される粉粒体の供給量が一定量となるように前記粉粒体供給部を制御する制御部とを備えること
を特徴とする粉粒体供給装置。