JP4639202B2

JP4639202B2 - フィルムの膜厚制御方法及びその製膜装置

Info

Publication number: JP4639202B2
Application number: JP2007012428A
Authority: JP
Inventors: 正藤井; 琢司中村; 弘志稲澤; 篤山崎
Original assignee: Toyo Kohan Co Ltd
Current assignee: Toyo Kohan Co Ltd
Priority date: 2006-01-24
Filing date: 2007-01-23
Publication date: 2011-02-23
Anticipated expiration: 2027-01-23
Also published as: JP2007223311A

Description

本発明は、フィルムの膜厚制御方法及びその製膜装置に関し、特にフィルムの局部的偏肉を抑制することが可能なフィルムの膜厚制御方法及びその製膜装置に関するものである。

例えば無延伸フィルムの製膜に際しては、通常は図２に示すような製膜装置を用いて膜厚の制御を行っている。すなわち、Ｔダイ２から加熱溶融した樹脂をキャスティングロール３上にフィルム状に押し出し、デフレクターロールを経て膜厚計５で膜厚を測定する。膜厚計５で測定された膜厚のデータは膜厚制御装置６に送られ、膜厚制御装置６からの指令に基いてＴダイ２の出口のリップ間隙を調整するためにリップの幅方向に配設された複数個のヒートボルトなどの膜厚制御用のアクチュエータ７を個別に作動させることにより、膜厚の制御を行っている。

しかし、膜厚制御装置６からの指令に基くＴダイ出口のリップ間隙の調整には多大な経験が必要であり、安定した膜厚を得るまでに多量のオフゲージ部分が発生し、コスト悪化の一因となっている。また、膜厚制御装置６においてはフィルム幅方向に一定にフラットと仮定した目標膜厚のプロファイルに対して膜厚制御用のアクチュエータを作動させるので、巨視的に膜厚が安定しても微視的に見ると、フィルムにはアクチュエータの制御ピッチよりも小さい、あるいはＴダイ内部の樹脂の流動に起因する局所的にわずかな凹凸が存在する。局所的にわずかな凹凸が存在するフィルムを巻玉としてコイル状に巻取った場合、巻きこぶや凹みが発生する。特に液晶関連部材の光学用フィルムの生産において巻玉に巻きこぶや凹みが生じると、巻張力および巻硬度が不均一となり、この状態で巻玉を長期間経時するとフィルムの位相差が増減する部分が生じて商品価値が失われてしまう。

巻玉における巻きこぶや凹みの発生を防止するため、フィルムを巻き取るコイラーをフィルム幅方向にオシレートして巻き取り、局所的な膜厚の凹凸を分散させる方法が一般的に採用されている。しかし凹凸を小さくするためにはオシレート幅を大きくしなければならず、オシレート幅を大にするとフィルム幅を一定にするためには両端部のトリム幅を大としなければならず、その結果コスト悪化を招くことになる。またオシレート装置の構造が複雑になるため、オシレート幅の大きさはある程度制限される。

他方、オシレートを行わずに局所的な膜厚の凹凸を分散させる方法として、フラットダイから押出すフィルムの厚さを、そのフラットダイの幅方向に複数に区分して各区分毎に位相をずらせて周期的にわずかに増減させることによりフィルムを巻き取る際に生ずる巻こぶ巻ずれを防止する押出成形フィルムの巻こぶ巻ずれ防止方法が知られている（例えば、特許文献１を参照。）。この方法はフラットダイのリップ間隔を複数本毎に区分された複数の調整ボルトにより調整するもので、複数（５個）の単位区分からなるＡ区分とＢ区分という２区分を、各単位区分が互いに１つ置きに位置するように各々配置し、隣接する単位区分の調整ボルトを目標値よりも厚めと薄めに各々設定して巻き取り、一定時間毎に設定を逆にして巻き取ることにより、局所的な膜厚の凹凸が分散される。しかし、光学用フィルムなどの巻玉において均一な巻張力および巻硬度が必要とされる用途においては、十分な厚み制御を行うことが困難である。

また、Ｔダイの幅方向に複数個のアクチュエータを並設し、圧縮空気により各アクチュエータを作動させてフレキシブルリップ部の溶融樹脂流入スキマを変化させ、且つこの変化を経時的に一定周期で押出幅方向に波が移動するようにして局所的な膜厚の凹凸を分散させることにより、偏肉を連続的に均一に分布させることが出来る偏肉自動制御方法が知られている（例えば、特許文献２を参照。）。しかし、この方法も特許文献１の方法と同様に、光学用フィルムなどの巻玉において均一な巻張力および巻硬度が必要とされる用途においては、十分な厚み制御を行うことが困難である。

特開平０３−２７５３２４号公報特開平１０−３３７７６６号公報

上述した通り、従来のオシレートを利用した局所的な膜厚の凹凸を分散させる方法は、コスト悪化を招く問題があり、一方オシレートを利用せずに局所的な膜厚の凹凸を分散させる方法は光学用フィルムなどの巻玉において均一な巻張力および巻硬度が必要とされる用途においては、十分な厚み制御を行うことが難しいという問題がある。
そこで、本発明は、上記実情に鑑み創案されたものであって、巻玉における巻きこぶや凹みの発生を生じることなく、均一な巻張力および巻硬度の巻玉が得られるフィルムの膜厚制御方法及びその製膜装置を提供することを目的とする。

前記目的を達成するために、請求項１に記載のフィルムの膜厚制御方法は、フィルム幅方向の膜厚をＴダイのアクチュエータに対応した各測定ポイントにおいて反復測定し各測定ポイントの膜厚を積算し、次いで各測定ポイントにおける膜厚の個別平均値を各々求め且つ該個別平均値から全平均値を求め、次いで各個別平均値の全平均値に対する個別偏差を測定ポイント毎に求めると共に該個別偏差に所定のゲインを乗じフィルム幅方向に対するグロス（見かけ）の偏差分布を求め、次いで該フィルム幅方向に対するグロスの偏差分布からプラスのものを正偏差分布と同マイナスのものを負偏差分布と分解し、前記全平均値を基本モード、該全平均値＋前記正偏差分布を加算モード、該全平均値＋前記負偏差分布を減算モード、ならびに該全平均値＋該正偏差分布＋該負偏差分布を加減算モードとする４モードを予め作成して、該４モードの中から前記基本モードを必須モードとした合計で少なくとも２モードを適宜選択し、そして該選択したモードを順に前記アクチュエータの制御装置に対する帰還信号とし且つ該帰還信号を所定の時間間隔で次のモードに自動的に更新しながらフィルムの膜厚を所定の範囲内に制御することを特徴とする。
上記フィルムの膜厚制御方法では、アクチュエータに対応した各測定ポイントにおける膜厚の個別平均値およびフィルム幅方向の膜厚の全平均値から各アクチュエータおよびその膜厚制御装置等を含む膜厚制御系のバラツキ特性を把握した上で、膜厚制御装置にフィードバックする帰還量を実際の各測定ポイントにおける膜厚値ではなく各バラツキ特性を加味した帰還（フィードバック）量とした。すなわち、目標値よりも厚い測定値に対応したアクチュエータに対しては、実測定値よりも大きい測定値をそのコントローラである膜厚制御装置にフィードバックすることにより、溶融樹脂の吐出量をより減らす方向にアクチュエータが作動するようにし、一方、目標値よりも薄い測定値に対応したアクチュエータに対しては、実測定値よりも小さい測定値を膜厚制御装置にフィードバックすることにより、溶融樹脂の吐出量をより増やす方向にアクチュエータが作動するようにした。また、その帰還量の膜厚制御装置への帰還方法としては、フィルム幅方向の膜厚の全平均値とする（１）基本モード、その全平均値に正のバラツキ分布（正偏差分布）を上乗せした（２）加算モード、全平均値に負のバラツキ分布（負偏差分布）を上乗せした（３）減算モード、並びに全平均値に正のバラツキ分布および負のバラツキ分布を上乗せした（４）加減算モードを予め作成した上で、（１）を必須モードとして（２）から（４）の少なくとも１モードを組み合わせた選択モードを、順に、所定の時間間隔で更新しながら膜厚制御装置に帰還するようにして、膜厚制御系のバラツキ特性が好適に相殺するようにし、その結果として、巻玉における巻こぶや凹みの発生を抑制し、均一な巻張力および巻硬度の巻玉が得られるようにした。

請求項２に記載のフィルムの膜厚制御方法では、フィルムの巻形状を確認し所望の巻形状が得られない場合は、修正が必要とされる箇所に対して前記ゲインを変更して再度同様な処理を繰り返し前記基本モードを除く新たな３モードを各々作成し、前記基本モードを必須モードとした合計で少なくとも２モードを適宜選択し、そして該選択したモードを順に前記アクチュエータの制御装置に対する帰還信号とし且つ該帰還信号を所定の時間間隔で次のモードに自動的に更新しながらフィルムの膜厚を所定の範囲内に制御することとした。
上記フィルムの膜厚制御方法では、主としてゲインを操作することで膜厚制御装置にフィードバックする帰還量を容易に修正することが出来るため、フィルムの膜厚制御が容易となる。

請求項３に記載のフィルムの製膜装置では、フィルムとなる溶融樹脂を吐出するＴダイと、該Ｔダイの吐出量を調整し膜厚を所定の範囲内に制御する膜厚制御装置と、前記フィルム幅方向の膜厚を測定する膜厚測定手段と、該膜厚測定手段から得られる膜厚データに基いて前記膜厚制御装置に対する帰還量を作成・出力する積算膜厚計測システムとを備えたフィルムの製膜装置であって、前記積算膜厚計測システムは、前記膜厚測定手段によって得られるフィルム幅方向の前記Ｔダイのアクチュエータに対応した各測定ポイントにおける膜厚の積算データに基いて各測定ポイントにおける膜厚の個別平均値を各々求め且つ該個別平均値から全平均値を求め、次いで各個別平均値の全平均値に対する個別偏差を測定ポイント毎に求めると共に該個別偏差に所定のゲインを乗じてフィルム幅方向に対するグロス（見かけ）の偏差分布を求め、次いで該フィルム幅方向に対するグロスの偏差分布をプラスのものを正偏差分布と同マイナスのものを負偏差分布と分解し、前記全平均値を基本モード、該全平均値＋前記正偏差分布を加算モード、該全平均値＋前記負偏差分布を減算モード、ならびに該全平均値＋該正偏差分布＋該負偏差分布を加減算モードとする４モードを予め作成して、該４モードの中から前記基本モードを必須モードとした合計で少なくとも２モードを適宜選択し、そして該選択したモードを順に前記アクチュエータの膜厚制御装置に対する帰還信号とし且つ該帰還信号を所定の時間間隔で次のモードに自動的に更新しながらフィルムの膜厚を所定の範囲内に制御することを特徴とする。
上記フィルムの製膜装置では、上記請求項１に記載のフィルムの膜厚制御方法を好適に実施することが出来る。

請求項４に記載のフィルムの製膜装置では、前記積算膜厚計測システムは、フィルムの巻形状を確認し所望の巻形状が得られない場合は、修正が必要とされる箇所に対して前記ゲインを変更して再度同様な処理を繰り返し前記基本モードを除く新たな３モードを各々作成し、前記基本モードを必須モードとした合計で少なくとも２モードを適宜選択し、そして該選択したモードを順に前記アクチュエータの制御装置に対する帰還信号とし且つ該帰還信号を所定の時間間隔で次のモードに自動的に更新しながらフィルムの膜厚を所定の範囲内に制御することとした。
上記フィルムの製膜装置では、上記請求項２に記載のフィルムの膜厚制御方法を好適に実施することが出来る。

本発明のフィルムの膜厚制御方法によれば、Ｔダイの幅方向に複数個配設された膜厚制御用のアクチュエータに対応した各測定ポイントにおける膜厚の個別平均値およびフィルム幅方向の膜厚の全平均値から各アクチュエータおよびその膜厚制御装置等を含む膜厚制御系のバラツキ特性を把握した上で、膜厚制御装置にフィードバックする帰還量を最適化し且つその帰還量を膜厚制御系のバラツキ特性が相殺する最適な方法でフィードバックするように構成されている。すなわち、その帰還量は、実際のバラツキ特性を誇張したグロス（見かけ）の偏差分布を作成し、そのグロスの偏差分布を正負に応じて正偏差分布および負偏差分布に分解し、フィルム幅方向の膜厚の全平均値とする（１）基本モード、その基本モードに正のバラツキ分布（正偏差分布）を上乗せした（２）加算モード、基本モードに負のバラツキ分布（負偏差分布）を上乗せした（３）減算モード、基本モードに正のバラツキ分布および負のバラツキ分布を上乗せした（４）加減算モードと４モードに細分化し、またこれら４モードの膜厚制御装置に対する帰還方法としては、（１）を必須モードとして（２）から（４）の各モードの内の少なくとも１モードを適宜選択し、選択したこれらのモードを順に所定の時間間隔で更新しながら、膜厚制御装置にフィードバックするように構成した。これにより、アクチュエータが常時作動している間に、フィルムの偏肉を好適に抑制することが出来ると共にフィルムを巻玉にした際に巻こぶや凹みの発生を防止し、加えて均一な巻張力および巻硬度の巻玉が得られるようになる。
また、本発明のフィルムの製膜装置においては、Ｔダイの幅方向に複数個配設された膜厚制御用のアクチュエータを個別に制御して偏肉を防止する膜厚制御装置を有する通常のフィルムの製膜装置において、積算膜厚計測システムを用いて膜厚を連続測定し積算して偏肉が大となる部分を見出し、該偏肉が大となる部分の膜厚制御用のアクチュエータを膜厚制御装置により偏肉を小とするように膜厚制御装置を制御させて膜厚を自動制御するので、フィルムをコイル状に巻き取った巻玉において巻きこぶや凹みの発生を生じることなく、均一な巻張力および巻硬度の巻玉が得られる。そのため、巻玉に巻きこぶや凹みが生じて張力および巻硬度が不均一となり、この状態で巻玉を長期間経時するとフィルムの位相差が増減する部分が生じて商品価値が失われてしまう光学用フィルムなどの生産に有効に適用することができる。

以下、図に示す実施の形態により本発明をさらに詳細に説明する。本発明を無延伸フィルムの製膜装置に適用した場合は、例えば図１に示すように構成される。すなわち、Ｔダイ２から加熱溶融した樹脂をキャスティングロール３上にフィルム状に押し出し、デフレクターロールを経て膜厚計５で膜厚を測定する。膜厚は膜厚計５をフィルム幅方向に走査しながら測定する。膜厚計５で測定した膜厚のデータを積算膜厚計測システム８に送る。本発明においては膜厚計５をフィルム幅方向に複数回（例えば１００往復）走査し、各走査で得られた膜厚のデータを積算膜厚計測システム８に出力して積算し、積算した結果に基いて膜厚の修正加工量を決定し、その結果を膜厚制御装置６に出力する。膜厚制御装置６はＴダイ２のリップの幅方向に複数個配設されたヒートボルトなどの膜厚制御用のアクチュエータ７のそれぞれに修正加工量を出力する。このようにして自動的に膜厚を修正加工しながらフィルムをコイル状に巻き取るので、巻玉において巻きこぶや凹みの発生を生じることがなく、均一な巻張力および巻硬度の巻玉が得られる。

積算膜厚計測システム８における膜厚の修正加工量（膜厚制御装置６への帰還量）の決定は、図３に示すフローチャートに従って行う。図３(a)において破線で囲んだ部分が積算膜厚計測システム８を示す。図１に示す製膜装置１のＴダイ２のダイリップから、加熱溶融した樹脂をフィルム状にしてキャスティングロール３上に押し出してフィルムとして製膜し、膜厚制御装置６を作動させた状態でデフレクターロールを経て図上で右方向に進行して行くフィルムの幅方向に、膜厚計５を複数回走査しながら測定した膜厚のデータを積算膜厚計測システム８に送り（図３(b)）膜厚のデータを積算する（図３(c)）。積算はＴダイ２のダイリップの幅方向に一定間隔で実施する（図３(c)）。次いで積算した膜厚のデータに基いて、それぞれのアクチュエータ７の部位における修正加工量を決定する。まず膜厚のデータ量を演算して加工テーブルを準備する（図３(d)）。

すなわち、積算した膜厚のデータにおいて膜厚が厚い場合は膜厚平均（フィルム幅方向の膜厚の全平均値）からの偏差にゲインを乗じた値を加算した値を膜厚制御装置６に出力して膜厚をより厚く見せかけ、膜厚制御装置６に膜厚をより薄くなる信号をＴダイ２のダイリップの幅方向に複数個配設されたアクチュエータ７に出力させる。一方、積算した膜厚のデータにおいて膜厚が薄い場合は膜厚平均からの偏差にゲインを乗じた値を減算した値を膜厚制御装置６に出力して膜厚をより薄く見せかけ、膜厚制御装置６に膜厚をより厚くなる信号をアクチュエータ７に出力させる。なお、ここでいう偏差とはフィルム幅方向の膜厚の全平均値と各測定点における膜厚の平均値の差である。またゲインの大きさは膜厚目標値の±１％程度に設定することが好ましい。

膜厚制御装置６へフィードバックする加工テーブルとしては、１）加工なしの基本モード（修正加工量ゼロ，図３(e)に相当）、２）加算モード（膜厚が厚い部位においてのみ膜厚平均からの偏差にゲインを乗じた値を加算した値を膜厚制御装置６に出力，図３(f)に相当）、３）減算モード(膜厚が薄い部位においてのみ膜厚平均からの偏差にゲインを乗じた値を減算した値を膜厚制御装置６に出力)、４）加減算モード（膜厚が厚い部位において膜厚平均からの偏差にゲインを乗じた値を加算した値と、膜厚が薄い部位において膜厚平均からの偏差にゲインを乗じた値を減算した値の両方を膜厚制御装置６に出力，図３(g)に相当）の４つのモードのうちの少なくとも１）と、２）〜４）の３つのモードのいずれか１つ以上との少なくとも２つのモードを選択して加工テーブルとする。

モードの選択パターンとしては１）→２）、１）→３）、１）→４）、１）→２）→３）、１）→２）→４）、１）→３）→４）、１）→２）→３）→４）などのパターンを選択することが可能であり、巻きこぶや凹みの出現状態により適宜選択する。

選択したモードの加工テーブルの信号を膜厚制御装置６に出力して、アクチュエータ７を作動させる。このようにして選択したモードの加工テーブルで製膜を継続して良好な巻玉形状が得られる場合は、一定時間毎に加工テーブルを更新して修正するアクチュエータの位置および修正加工量を変更して、巻きこぶ及び凹みを１カ所に集中させずに分散させるようにする。

一方、選択したモードで良好な巻玉形状が得られない場合はフィルム幅方向において修正を必要とする有効幅およびゲインを修正した加工テーブルを作成して製膜を継続し、良好な巻玉形状が得られるまでこの工程を繰り返す。

この状態で製膜を継続して良好な巻玉形状が得られる間は一定時間毎に加工テーブルを更新しながら製膜を継続する。良好な巻玉形状が得られくなった際には上記の膜厚測定からの工程を良好な巻玉形状が得られまるで繰り返す。このようにして巻きこぶ及び凹みを生じることなく、安定して良好な巻玉形状で樹脂フィルムを製膜することができる。

ダイリップの間隙を調整するアクチュエータ７としてはリップ自体を加熱して樹脂の流動性を変化させるリップヒーター式、圧縮空気によりダイリップ問隙を開閉させるエアレバー式、ダイリップにヒータを取り付けたボルトを配設し、ボルトの熱膨張によりダイリップ間隙を開閉させるヒートボルト式などがあるが、正確な制御を実施しやすいヒートボルトをアクチュエータに適用することが好ましい。

以下、実施例にて本発明を詳細に説明する。
ポリエステル樹脂を加熱溶融し、吐出幅が１６５０ｍｍでダイリップ間隙の調整用にアクチュエータとしてヒートボルトを３０ｍｍ間隔で配設してなるＴダイから、フィルム全幅が１６００ｍｍ、幅方向の両端をトリミング除去した後のフィルム製品幅が１３００ｍｍ、目標膜厚を６０μｍとなるように、ポリエステル樹脂を２０ｍ／分の速度でキャスティングロール３上に押し出して長尺帯状のフィルムに製膜した。このフィルムをデフレクターロール４を経て膜厚計５に導き、膜厚を連続測定した。膜厚測定は膜厚計５をフィルムの幅方向に走査させながら、フィルム幅方向に５ｍｍ間隔で２８０地点（１４００ｍｍ幅）で連続測定した。連続測定は膜厚計５をフィルム幅方向に１００往復させて実施して、膜厚計５の下流に設けた積算膜厚計測システム８に出力し、２００回分の積算値を求め加工テーブルを作成した。以上の膜厚の連続測定は走査は膜厚計５および積算膜厚計測システム８の下流に設けた膜厚制御装置６を作動させながら実施した。

ゲインを±１％として加工なしの基本モード、加算モード、加減算モードの３つのモードを演算して加工テーブルを作成し、これらの演算値を膜厚制御装置６に出力して膜厚制御させた。そして１０分毎に加工なしの基本モード、加算モード、加減算モードの３つのモードを更新しながら３時間連続して製膜し、コイラーに巻玉として巻き取った。この巻玉には巻きこぶ及び凹みは認められなかった。また、エコーチップ硬さ試験器（ＰＲＯＣＥＱ．Ａ．，Ｓｗｉｔｚｅｒｌａｎｄ製）を用いて巻硬度を測定したところ、図４に示すように幅方向で均一な巻硬度が得られた。

比較用に、上記と同一のポリエステル樹脂を積算膜厚計測システム８を作動させずに膜厚制御装置６のみを作動させながら３時間連続して製膜し、コイラーに巻玉として巻き取ったところ、巻きこぶの発生が認められた。また巻硬度を測定したところ、図４に示すように巻硬度は幅方向で不均一であった。

なお、上記実施例は本発明を無延伸フィルムの製膜装置に適用した例を示したが、本発明はこれに限らず当然に延伸フィルの製膜装置に対しても好適に適用することが出来る。

本発明のフィルムの製膜装置は、Ｔダイの幅方向に複数個配設された膜厚制御用のアクチュエータを個別に制御して偏肉を防止する膜厚制御装置を有する通常のフィルムの製膜装置において、膜厚制御装置の上流に積算膜厚計測システムを配設して膜厚を連続測定し積算して偏肉が大となる部分を見出し、該偏肉が大となる部分の膜厚制御用のアクチュエータを膜厚制御装置により偏肉を小とするように膜厚制御装置を制御させて膜厚を自動制御するので、フィルムをコイル状に巻き取った巻玉において巻きこぶや凹みの発生を生じることなく、均一な巻張力および巻硬度の巻玉が得ることができる。そのため、巻玉に巻きこぶや凹みが生じて張力および巻硬度が不均一となり、この状態で巻玉を長期間経時するとフィルムの位相差が増減する部分が生じて商品価値が失われてしまう光学用フィルムなどの生産に、本発明のフィルムの製膜装置を有効に適用することができる。また、本発明に用いた積算膜厚計測システムを、従来の膜厚制御装置のみを有する通常のフィルムの製膜装置に追加して用いることにより、よりきめ細かく巻玉形状を管理することができる。

本発明に係る無延伸フィルムの製膜装置を示す概略図である。従来の無延伸フィルムの製膜装置を示す概略図である。本発明に係る無延伸フィルムの製膜のフローチャートを示す説明図である。本発明に係る無延伸フィルムの製膜装置を用いて製膜した巻玉の巻硬度の一例を示すグラフである。

符号の説明

１無延伸フィルムの製膜装置
２Ｔダイ
３キャスティングロール
４デフレクターロール
５膜厚計
６膜厚制御装置
７膜厚制御用のアクチュエータ
８積算膜厚計測システム

Claims

フィルム幅方向の膜厚をＴダイのアクチュエータに対応した各測定ポイントにおいて反復測定し各測定ポイントの膜厚を積算し、
次いで各測定ポイントにおける膜厚の個別平均値を各々求め且つ該個別平均値から全平均値を求め、
次いで各個別平均値の全平均値に対する個別偏差を測定ポイント毎に求めると共に該個別偏差に所定のゲインを乗じフィルム幅方向に対するグロス（見かけ）の偏差分布を作成し、
次いで該フィルム幅方向に対するグロスの偏差分布からプラスのものを正偏差分布と同マイナスのものを負偏差分布に分解し、
前記全平均値を基本モード(全平均値になるように加工量を出力)、
該全平均値＋前記正偏差分布を加算モード(膜厚が厚い部位においてのみ膜厚平均からの偏差にゲインを乗じた値を全平均値に加算した値を修正加工量として出力)、
該全平均値＋前記負偏差分布を減算モード(膜厚が薄い部位においてのみ膜厚平均からの偏差にゲインを乗じた値を全平均値に減算した値を修正加工量として出力)、
ならびに該全平均値＋該正偏差分布＋該負偏差分布を加減算モード(膜厚が厚い部位において膜厚平均からの偏差にゲインを乗じた値を全平均値に加算した値と、膜厚が薄い部位において膜厚平均からの偏差にゲインを乗じた値を全平均値に減算した値の両方を修正加工量として出力)
とする４モードを予め作成して、
一定時間毎に前記モードを切り替えて、修正するアクチュエータの位置および修正加工量を変更することで、修正するアクチュエータを常時作動するようにして、巻きこぶ及び凹みを１カ所に集中させずに分散させるように、
前記基本モードを必須として前記４つのモードの中のいずれかを選択し、切り替えることを特徴とするフィルムの膜厚制御方法。
フィルムの巻形状を確認し所望の巻形状が得られない場合は、修正が必要とされる箇所に対して前記ゲインを変更して再度同様な処理を繰り返し前記基本モードを除く、加算モード、減算モード、加減算モードの新たな３モードを各々作成し、前記切り替えを行うことを特徴とする請求項１に記載のフィルムの膜厚制御方法。
フィルムとなる溶融樹脂を吐出するＴダイと、該Ｔダイの吐出量を調整し膜厚を所定の範囲内に制御する膜厚制御装置と、前記フィルム幅方向の膜厚を測定する膜厚測定手段と、該膜厚測定手段から得られる膜厚データに基いて前記膜厚制御装置に対する帰還量を作成・出力する積算膜厚計測システムとを備えたフィルムの製膜装置であって、前記積算膜厚計測システムは、前記膜厚測定手段によって得られるフィルム幅方向の前記Ｔダイのアクチュエータに対応した各測定ポイントにおける膜厚の積算データに基いて各測定ポイントにおける膜厚の個別平均値を各々求め且つ該個別平均値から全平均値を求め、次いで各個別平均値の全平均値に対する個別偏差を測定ポイント毎に求めると共に該個別偏差に所定のゲインを乗じてフィルム幅方向に対するグロス（見かけ）の偏差分布を作成し、次いで該フィルム幅方向に対するグロスの偏差分布をプラスのものを正偏差分布と同マイナスのものを負偏差分布に分解し、
前記全平均値を基本モード(全平均値になるように加工量を出力)、
該全平均値＋前記正偏差分布を加算モード(膜厚が厚い部位においてのみ膜厚平均からの偏差にゲインを乗じた値を全平均値に加算した値を修正加工量として出力)、
該全平均値＋前記負偏差分布を減算モード(膜厚が薄い部位においてのみ膜厚平均からの偏差にゲインを乗じた値を全平均値に減算した値を修正加工量として出力)、
ならびに該全平均値＋該正偏差分布＋該負偏差分布を加減算モード(膜厚が厚い部位において膜厚平均からの偏差にゲインを乗じた値を全平均値に加算した値と、膜厚が薄い部位において膜厚平均からの偏差にゲインを乗じた値を全平均値に減算した値の両方を修正加工量として出力)
とする４モードを予め作成して、
一定時間毎に前記モードを切り替えて、修正するアクチュエータの位置および修正加工量を変更することで、修正するアクチュエータを常時作動するようにして、巻きこぶ及び凹みを１カ所に集中させずに分散させるように、
前記基本モードを必須として前記４つのモードの中のいずれかを選択し、切り替えることを特徴とするフィルムの製膜装置。
前記積算膜厚計測システムは、フィルムの巻形状を確認し所望の巻形状が得られない場合は、修正が必要とされる箇所に対して前記ゲインを変更して再度同様な処理を繰り返し前記基本モードを除く、加算モード、減算モード、加減算モードの新たな３モードを各々作成し、前記切り替えを行うことを特徴とする請求項３に記載のフィルムの製膜装置。