JP4634227B2 - Electronic component mounting apparatus and mounting method - Google Patents

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Description

この発明は薄くて可撓性を有する基板に電子部品を実装する電子部品の実装装置及び実装方法に関する。   The present invention relates to an electronic component mounting apparatus and mounting method for mounting an electronic component on a thin and flexible substrate.

電子機器の薄型化に伴い、この電子機器に用いられる電子部品としての半導体チップが実装される基板として厚さが100μm以下、たとえば40〜60μm程度の樹脂製の基板が採用されている。   Along with the reduction in thickness of electronic devices, resin substrates having a thickness of 100 μm or less, for example, about 40 to 60 μm, are adopted as substrates on which semiconductor chips as electronic components used in the electronic devices are mounted.

半導体チップを上記基板に実装する場合、熱と圧力とで金と錫とを共晶させて接合(実装)する方法、接合境界部に接着剤を介在させて接合する方法、熱と圧力とに超音波振動を併用して接合する方法などが知られている。   When mounting a semiconductor chip on the above substrate, a method of bonding (mounting) gold and tin by eutectic with heat and pressure, a method of bonding with an adhesive at the bonding boundary, and heat and pressure. A method of joining using ultrasonic vibration is known.

そのうち、超音波振動を併用して熱と圧力で接合する方法は、接合に要する時間が短いだけでなく、他の接合方法に比べて低温で接合することができるなどの利点がある。低温での接合は、実装精度に及ぼす熱膨張などによる熱影響が少ないため、今後の狭ピッチ化する半導体チップの実装には欠かせない技術となる。   Among them, the method of joining with ultrasonic vibration in combination with heat and pressure not only has a short time required for joining, but also has an advantage that it can be joined at a lower temperature than other joining methods. Bonding at a low temperature is indispensable for mounting a semiconductor chip with a narrower pitch in the future because it has little thermal effect due to thermal expansion or the like on mounting accuracy.

超音波振動を併用する実装装置では、実装ヘッドに設けられた超音波ホーンに吸着部を設け、この吸着部に半導体チップを吸着保持する。一方、基板に半導体チップを実装するとき、上記基板は実装ステージによって支持される。実装ステージの上面には実装時に基板がずれ動くのを防止するため、基板を吸着保持する吸着溝が形成されている。   In a mounting apparatus that also uses ultrasonic vibration, an adsorption portion is provided in an ultrasonic horn provided in a mounting head, and a semiconductor chip is adsorbed and held on the adsorption portion. On the other hand, when a semiconductor chip is mounted on a substrate, the substrate is supported by a mounting stage. A suction groove for sucking and holding the substrate is formed on the upper surface of the mounting stage to prevent the substrate from shifting during mounting.

そして、上記超音波ホーンの吸着部に保持された半導体チップを上記基板に実装する際、超音波ホーンの超音波振動は半導体チップと基板との接合界面に伝達される。それによって、基板と半導体チップとの互いに接触する金属部の固相拡散によって上記半導体チップが基板に実装されることになる。   Then, when the semiconductor chip held by the suction portion of the ultrasonic horn is mounted on the substrate, the ultrasonic vibration of the ultrasonic horn is transmitted to the bonding interface between the semiconductor chip and the substrate. As a result, the semiconductor chip is mounted on the substrate by solid phase diffusion of the metal parts in contact with each other between the substrate and the semiconductor chip.

このようにして半導体チップを基板に実装する際、薄くて可撓性を有する基板を実装ステージに吸着保持しても、基板に撓みが生じるなどして基板が実装ステージの上面に確実に密着しないということがある。   Thus, when a semiconductor chip is mounted on a substrate, even if the thin and flexible substrate is sucked and held on the mounting stage, the substrate is not securely adhered to the upper surface of the mounting stage due to bending of the substrate. There is.

そのような状態で、半導体チップを超音波ホーンによって超音波振動を与えながら基板に実装すると、超音波ホーンとともに超音波振動する半導体チップによって実装ステージに保持された基板も半導体チップと同位相で超音波振動してしまうということがある。つまり、基板が実装ステージ上で超音波振動する半導体チップとともにずれ動いてしまうということがある。   In such a state, when the semiconductor chip is mounted on the substrate while applying ultrasonic vibration by the ultrasonic horn, the substrate held on the mounting stage by the semiconductor chip that is ultrasonically vibrated together with the ultrasonic horn is also in the same phase as the semiconductor chip. It may cause sonic vibration. In other words, the substrate may move with the semiconductor chip that vibrates ultrasonically on the mounting stage.

基板が半導体チップとともに超音波振動すると、基板と半導体チップとの接合界面に超音波振動が作用し難くなる。そのため、上記半導体チップが上記基板に確実に実装されず、所望する接合強度が得られないということがある。   When the substrate is ultrasonically vibrated together with the semiconductor chip, the ultrasonic vibration is difficult to act on the bonding interface between the substrate and the semiconductor chip. For this reason, the semiconductor chip is not surely mounted on the substrate, and a desired bonding strength may not be obtained.

基板と半導体チップとの接合界面に十分な強度の超音波振動を作用させるためには超音波振動を強くする、つまり振動の振幅を大きくすることが考えられる。しかしながら、超音波振動を強くして接合強度を得るようにしたのでは、その振動によって半導体チップを損傷させることがあり、好ましくない。   In order to apply ultrasonic vibration having sufficient strength to the bonding interface between the substrate and the semiconductor chip, it is conceivable to increase the ultrasonic vibration, that is, increase the amplitude of the vibration. However, if the ultrasonic vibration is increased to obtain the bonding strength, the vibration may damage the semiconductor chip, which is not preferable.

この発明は超音波振動を強くせずに電子部品を基板に確実に接合させることができるようにした電子部品の実装装置及び実装方法を提供することにある。   SUMMARY OF THE INVENTION An object of the present invention is to provide an electronic component mounting apparatus and mounting method capable of reliably bonding an electronic component to a substrate without increasing ultrasonic vibration.

この発明は、可撓性の基板に電子部品を実装するための実装装置であって、
上記電子部品を保持するとともにこの電子部品に超音波振動を与える超音波ホーンを有する実装ヘッドと、
上記基板の少なくとも上記実装ヘッドによって上記電子部品が実装される部分を支持する凸部が設けられた実装ステージと、
上記基板を移動不能に挟持固定する一対の挟持部材を有し、上記実装ヘッドによって上記基板に上記電子部品を実装するときに、上記挟持部材によって挟持固定した上記基板の上記電子部品が実装される部分を上記凸部に圧接させて弾性変形させて上記基板を上記実装ステージに移動不能に機械的に保持する保持手段を具備し、
上記一対の挟持部材には上記凸部に対応する開口部が形成され、この一対の挟持部材によって上記基板の上下面を挟持固定した状態で、上記一対の挟持部材或いは上記実装ステージの少なくとも一方が駆動されて上記凸部が上記開口部内に入り込み、上記基板の電子部品が実装される部分を弾性変形させることを特徴とする電子部品の実装装置にある。
The present invention is a mounting apparatus for mounting an electronic component on a flexible substrate,
A mounting head having an ultrasonic horn for holding the electronic component and applying ultrasonic vibration to the electronic component;
A mounting stage provided with a convex portion for supporting a portion on which the electronic component is mounted by at least the mounting head of the substrate;
The board has a pair of holding members that hold and fix the board so that the board cannot move. When the electronic component is mounted on the board by the mounting head, the electronic parts of the board held and fixed by the holding member are mounted. A holding means for mechanically holding the substrate on the mounting stage so as to be elastically deformed by pressing the portion against the convex portion ;
An opening corresponding to the convex portion is formed in the pair of sandwiching members, and at least one of the pair of sandwiching members or the mounting stage is in a state where the upper and lower surfaces of the substrate are sandwiched and fixed by the pair of sandwiching members. The electronic component mounting apparatus is characterized in that when driven, the convex portion enters the opening, and elastically deforms the portion of the substrate on which the electronic component is mounted .

上記保持手段は、上記実装ステージに支持された上記基板を、上記実装ステージに押圧保持するクランプ部材であることが好ましい。   The holding means is preferably a clamp member that presses and holds the substrate supported by the mounting stage on the mounting stage.

この発明は、可撓性の基板に電子部品を実装するための実装方法であって、
上記基板の電子部品が実装される部分を支持する凸部を有する実装ステージに対して上記基板を位置決めする工程と、
上記電子部品に超音波振動を与えながら位置決めされた上記基板に上記電子部品を実装する工程と、
上記電子部品を上記基板に実装するときに上記基板を上記凸部に対応する開口部が形成された一対の挟持部材によって移動不能に保持するとともに、上記基板の上記電子部品が実装される部分を上記凸部に圧接させ、上記凸部を上記開口部内に入り込ませて上記基板の上記電子部品が実装される部分を弾性変形させて上記基板を上記実装ステージに移動不能に機械的に保持固定する工程と、
を具備したことを特徴とする電子部品の実装方法にある。
The present invention is a mounting method for mounting an electronic component on a flexible substrate,
Positioning the substrate with respect to a mounting stage having a convex portion that supports a portion on which the electronic component of the substrate is mounted ;
Mounting the electronic component on the substrate positioned while applying ultrasonic vibration to the electronic component;
When mounting the electronic component on the substrate, the substrate is held immovably by a pair of clamping members formed with openings corresponding to the convex portions, and a portion of the substrate on which the electronic component is mounted is mounted. The convex part is pressed into contact with the convex part, and the convex part enters the opening to elastically deform a portion of the substrate on which the electronic component is mounted, and the substrate is mechanically held and fixed to the mounting stage so as not to move. Process,
An electronic component mounting method characterized by comprising:

この発明によれば、電子部品に超音波振動を与えながら基板に実装するときに、この基板を実装ステージに対して機械的に移動不能に保持するため、基板に電子部品の超音波振動が伝達されても、この基板が電子部品とともに振動して実装ステージ上でずれ動くのを防止できる。それによって、電子部品を基板に確実に接合固定することが可能となる。   According to the present invention, when mounting the electronic component on the substrate while applying ultrasonic vibration to the electronic component, the ultrasonic vibration of the electronic component is transmitted to the substrate in order to hold the substrate mechanically immovable with respect to the mounting stage. In this case, it is possible to prevent the substrate from vibrating on the mounting stage due to vibration with the electronic component. As a result, the electronic component can be securely bonded to the substrate.

以下、この発明の実施の形態を図面を参照して説明する。   Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings.

図1乃至図5はこの発明の一実施の形態を示し、図1に示すフリップチップ方式の実装装置は部品供給部としてのウエハステージ1を備えている。このウエハステージ1は、ベース2上に順次設けられたXテーブル3、Yテーブル4及びθテーブル5を有し、θテーブル5上には半導体ウエハ7が後述するごとく保持されたウエハホルダ8が設けられている。つまり、ウエハホルダ8は水平方向に駆動可能に設けられている。上記半導体ウエハ7は、多数の正方形の電子部品である、半導体チップ6に分割されている。   1 to 5 show an embodiment of the present invention, and the flip chip type mounting apparatus shown in FIG. 1 includes a wafer stage 1 as a component supply unit. The wafer stage 1 has an X table 3, a Y table 4 and a θ table 5 sequentially provided on a base 2, and a wafer holder 8 on which a semiconductor wafer 7 is held as described later is provided on the θ table 5. ing. That is, the wafer holder 8 is provided so as to be driven in the horizontal direction. The semiconductor wafer 7 is divided into semiconductor chips 6 which are a large number of square electronic components.

上記半導体チップ6はピックアップ装置を構成するピックアップツール11によって取り出される。このピックアップツール11はL字状をなし、支軸12を支点として図1に鎖線で示す位置と実線で示す位置との180度の範囲で回転駆動させることができるとともに、先端部には半導体チップ6を真空吸着する吸着ノズル13が設けられている。さらに、ピックアップツール11は図示せぬ駆動手段によってX、Y方向(水平方向)及びZ方向(上下方向)に駆動可能となっている。   The semiconductor chip 6 is taken out by a pickup tool 11 constituting a pickup device. The pickup tool 11 is L-shaped and can be driven to rotate within a range of 180 degrees between a position indicated by a chain line and a position indicated by a solid line in FIG. A suction nozzle 13 that vacuum-sucks 6 is provided. Further, the pickup tool 11 can be driven in the X, Y direction (horizontal direction) and Z direction (vertical direction) by a driving means (not shown).

上記ベース2には、上記ウエハステージ1と対向する位置に支持体15が設けられている。この支持体15の上面には、一端部を支持体15に固定し、他端部を上記ウエハステージ1の方向に突出させた第1のベース16が水平に設けられている。この第1のベース16の他端部の上面にはステージテーブル17が設けられている。   The base 2 is provided with a support 15 at a position facing the wafer stage 1. On the upper surface of the support 15, a first base 16 having one end fixed to the support 15 and the other end protruding in the direction of the wafer stage 1 is provided horizontally. A stage table 17 is provided on the upper surface of the other end of the first base 16.

このステージテーブル17はYテーブル18と、このYテーブル18上に設けられ上記ウエハステージ1に対して接離するX方向に駆動されるXテーブル19及びこのXテーブル19上に設けられ上記X、Y方向に駆動される実装ステージ20を有する。この実装ステージ20は、図示せぬ駆動源によって上記X、Y方向がなす平面に対して直交するZ方向に駆動可能となっている。実装ステージ20には図示せぬヒータが設けられているとともに、上面には矩形状の凸部20aが設けられている。   The stage table 17 is provided with a Y table 18, an X table 19 provided on the Y table 18 and driven in the X direction to be in contact with and away from the wafer stage 1, and the X and Y provided on the X table 19. The mounting stage 20 is driven in the direction. The mounting stage 20 can be driven in a Z direction orthogonal to a plane formed by the X and Y directions by a driving source (not shown). The mounting stage 20 is provided with a heater (not shown), and a rectangular convex portion 20a is provided on the upper surface.

上記実装ステージ20の上方には搬送ガイド21が設けられている。この搬送ガイド21には、上記ピックアップツール11によって後述するごとくウエハホルダ8から取り出された半導体チップ6が実装される厚さが100μm以下、たとえば40〜50μmの厚さの基板22が所定方向に搬送されるようになっている。   A conveyance guide 21 is provided above the mounting stage 20. A substrate 22 having a thickness of 100 μm or less, for example, 40 to 50 μm, on which the semiconductor chip 6 taken out from the wafer holder 8 is mounted by the pickup tool 11 as will be described later is transported to the transport guide 21 in a predetermined direction. It has become so.

上記基板22は、たとえばポリイミドなどの可撓性を有する、厚さが100μm以下の薄い材料、つまり弾性的に変形可能な材料によって形成されている。基板22が所定の長さに切断されている場合にはピッチ送りされ、テープ状の場合にはローラ搬送される。   The substrate 22 is formed of a thin material having a thickness of 100 μm or less, that is, a material that is elastically deformable, such as polyimide. When the substrate 22 is cut to a predetermined length, the pitch is fed.

上記第1のベース16の一端部には第1のスペーサ24を介して第2のベース25が一端部を固定して水平に設けられている。この第2のベース25は上記第1のベース16よりも長さ寸法が短く、他端部は上記ウエハステージ1側に突出している。   A second base 25 is provided horizontally at one end of the first base 16 with a first spacer fixed via a first spacer 24. The second base 25 is shorter in length than the first base 16, and the other end protrudes toward the wafer stage 1.

上記第2のベース25の他端部の上面にはカメラテーブル26が設けられている。このカメラテーブル26はYテーブル27を有する。このYテーブル27上にはX方向に駆動されるXテーブル28が設けられている。このXテーブル28上には上記X、Y方向に駆動される取り付け部材29が設けられている。   A camera table 26 is provided on the upper surface of the other end of the second base 25. The camera table 26 has a Y table 27. On the Y table 27, an X table 28 driven in the X direction is provided. On the X table 28, an attachment member 29 driven in the X and Y directions is provided.

上記取り付け部材29にはカメラユニット31が設けられている。このカメラユニット31は、図2に示すように中空箱形状に形成されたケース31aを有し、このケース31a内には上記搬送ガイド21に沿って搬送される基板22を撮像する第1のカメラ32と、上記ピックアップツール11から後述する実装ツール50に受け渡された半導体チップ6を撮像する第2のカメラ33とが設けられている。各カメラ32,33はCCD(固体撮像素子)からなる。   The attachment member 29 is provided with a camera unit 31. The camera unit 31 has a case 31a formed in a hollow box shape as shown in FIG. 2, and a first camera that images the substrate 22 transported along the transport guide 21 in the case 31a. 32 and a second camera 33 that images the semiconductor chip 6 delivered from the pickup tool 11 to a mounting tool 50 described later. Each of the cameras 32 and 33 is composed of a CCD (solid state imaging device).

上記カメラユニット31の先端部の下面と上面とにはそれぞれ撮像窓36が形成されている。カメラユニット31の先端部内には上記撮像窓36に対して45度の角度で傾斜した2つの反射面37を有するミラー38が収容されている。下側の撮像窓36から入射して一方の反射面37で反射した光は上記第1のカメラ32に入射する。上側の撮像窓36から入射して他方の反射面37で反射した光は第2のカメラ33に入射する。   Imaging windows 36 are respectively formed on the lower surface and the upper surface of the tip of the camera unit 31. A mirror 38 having two reflecting surfaces 37 inclined at an angle of 45 degrees with respect to the imaging window 36 is accommodated in the distal end portion of the camera unit 31. Light incident from the lower imaging window 36 and reflected by one reflecting surface 37 enters the first camera 32. Light incident from the upper imaging window 36 and reflected by the other reflecting surface 37 enters the second camera 33.

図2に示すように、各カメラ32,33からの撮像信号は制御装置39に設けられた画像処理部(図示せず)に入力し、ここで処理されてデジタル信号に変換されるようになっている。なお、制御装置39は図1に示すように上記支持体15に設けられている。   As shown in FIG. 2, the image pickup signals from the cameras 32 and 33 are input to an image processing unit (not shown) provided in the control device 39, where they are processed and converted into digital signals. ing. The control device 39 is provided on the support 15 as shown in FIG.

図1に示すように、上記第2のベース25の一端部の上面には第3のスペーサ41が設けられている。この第3のスペーサ41には第4のベース42が一端部を固定して水平に設けられている。第4のベース42の他端部の上面にはヘッドテーブル43が設けられている。このヘッドテーブル43はYテーブル44を有する。このYテーブル44の上面にはX方向に駆動されるXテーブル45が設けられている。このXテーブル45の上面にはX、Y方向に駆動される取り付け体46が設けられている。   As shown in FIG. 1, a third spacer 41 is provided on the upper surface of one end of the second base 25. The third spacer 41 is provided with a fourth base 42 horizontally with one end fixed. A head table 43 is provided on the upper surface of the other end of the fourth base 42. The head table 43 has a Y table 44. An X table 45 driven in the X direction is provided on the upper surface of the Y table 44. An attachment body 46 that is driven in the X and Y directions is provided on the upper surface of the X table 45.

この取り付け体46の前端面にはZテーブル47が設けられ、このZテーブル47には上記X方向とY方向とがなす平面に対して直交するZ方向に駆動される実装ヘッド48が設けられている。この実装ヘッド48の先端にはθテーブル49が設けられ、このθテーブル49には吸着部51を有する超音波ホーン52からなる上記実装ツール50が設けられている。   A Z table 47 is provided on the front end surface of the mounting body 46, and a mounting head 48 driven in the Z direction perpendicular to the plane formed by the X direction and the Y direction is provided on the Z table 47. Yes. A θ table 49 is provided at the tip of the mounting head 48, and the mounting tool 50 including the ultrasonic horn 52 having the suction portion 51 is provided on the θ table 49.

上記ピックアップツール11が上記ウエハホルダ8から半導体チップ6をピックアップすると、このピックアップツール11は支軸12を中心にして図1に矢印で示す時計方向に約180度回転し、半導体チップ6を保持した吸着ノズル13を上方に向ける。つまり、半導体チップ6を上下面が逆になるよう反転させる。   When the pick-up tool 11 picks up the semiconductor chip 6 from the wafer holder 8, the pick-up tool 11 rotates about 180 degrees in the clockwise direction indicated by the arrow in FIG. The nozzle 13 is directed upward. That is, the semiconductor chip 6 is inverted so that the upper and lower surfaces are reversed.

その状態で、上記ヘッドテーブル43が作動して実装ヘッド48がピックアップツール11の吸着ノズル13の上方に位置決めされる。ついで、ピックアップツール11が上昇することで、この実装ヘッド48に設けられた超音波ホーン52の吸着部51が上記吸着ノズル13に吸着保持された半導体チップ6を受け取る。   In this state, the head table 43 operates to position the mounting head 48 above the suction nozzle 13 of the pickup tool 11. Next, when the pickup tool 11 is raised, the suction portion 51 of the ultrasonic horn 52 provided in the mounting head 48 receives the semiconductor chip 6 sucked and held by the suction nozzle 13.

上記ウエハステージ1、ピックアップツール11、実装ステージ20が設けられたステージテーブル17、カメラユニット31が設けられたカメラテーブル26及び実装ツール50が設けられたヘッドテーブル43は、上記制御装置39によって駆動が制御されるようになっている。   The wafer stage 1, the pickup tool 11, the stage table 17 provided with the mounting stage 20, the camera table 26 provided with the camera unit 31, and the head table 43 provided with the mounting tool 50 are driven by the control device 39. To be controlled.

上記ウエハホルダ8は上記θテーブル5に下端が取り付けられた支持体60の上面に水平に保持されている。このウエハホルダ8には粘着シートが張設されたウエハリング(ともに図示せず)が着脱可能に保持される。上記粘着シートの上面には矩形状の多数の半導体チップ6にダイシングされた上記半導体ウエハ7が貼着されている。   The wafer holder 8 is held horizontally on the upper surface of a support 60 whose lower end is attached to the θ table 5. A wafer ring (both not shown) on which an adhesive sheet is stretched is detachably held on the wafer holder 8. The semiconductor wafer 7 diced into a large number of rectangular semiconductor chips 6 is attached to the upper surface of the adhesive sheet.

上記粘着シートの下面側には、図示しない固定部に固定されたバックアップ体65が上記ウエハホルダ8の水平方向の動きに対して連動しない状態で配設されている。このバックアップ体65の中心部には軸方向に貫通した吸引孔64が穿設されている。この吸引孔64には吸引ポンプ66が接続されている。   On the lower surface side of the pressure-sensitive adhesive sheet, a backup body 65 fixed to a fixing portion (not shown) is arranged in a state not interlocking with the horizontal movement of the wafer holder 8. A suction hole 64 penetrating in the axial direction is formed in the central portion of the backup body 65. A suction pump 66 is connected to the suction hole 64.

上記ウエハホルダ8は、上記粘着シートの下面が上記バックアップ体65の上記吸引孔64が開口した上面に接触する高さに位置決めされる。さらに、粘着シートの上面に貼着された半導体チップ6はウエハホルダ8の上方に配置された撮像カメラ67によって撮像される。   The wafer holder 8 is positioned at a height where the lower surface of the adhesive sheet contacts the upper surface of the backup body 65 where the suction hole 64 is opened. Furthermore, the semiconductor chip 6 attached to the upper surface of the adhesive sheet is imaged by an imaging camera 67 disposed above the wafer holder 8.

上記制御装置39は、上記撮像カメラ67からの撮像信号に基づいて、上記吸着ノズル13によってピックアップされる半導体チップ6が上記バックアップ体65の吸引孔64に対応位置するよう、上記ウエハホルダ8を水平方向に駆動して位置決めする。   The control device 39 moves the wafer holder 8 in the horizontal direction so that the semiconductor chip 6 picked up by the suction nozzle 13 is positioned corresponding to the suction hole 64 of the backup body 65 based on the imaging signal from the imaging camera 67. To position.

位置決めされた半導体チップ6は上記吸着ノズル13によって吸着される。半導体チップ6を吸着した吸着ノズル13は図1に鎖線で示す状態から実線で示すように180度回転して上を向く。その状態で上記実装ヘッド48に設けられた超音波ホーン52の吸着部51の下端が上記吸着ノズル13に吸着保持された半導体チップ6に対向するよう位置決めされる。   The positioned semiconductor chip 6 is sucked by the suction nozzle 13. The suction nozzle 13 that sucks the semiconductor chip 6 rotates 180 degrees from the state shown by the chain line in FIG. 1 and turns upward. In this state, the lower end of the suction portion 51 of the ultrasonic horn 52 provided on the mounting head 48 is positioned so as to face the semiconductor chip 6 sucked and held by the suction nozzle 13.

位置決め後、若しくは位置決め時に実装ヘッド48は吸着部51の下端面が半導体チップ6に接触する位置まで下降し、その先端に上記半導体チップ6を吸着する。半導体チップ6を吸着した実装ヘッド48は上昇して基板22の上方へ戻ってから下降し、上記基板22の実装部位に上記半導体チップ6を後述するように実装することになる。   After positioning or at the time of positioning, the mounting head 48 descends to a position where the lower end surface of the suction portion 51 comes into contact with the semiconductor chip 6 and sucks the semiconductor chip 6 to the tip. The mounting head 48 adsorbing the semiconductor chip 6 rises and returns to above the substrate 22 and then descends, and the semiconductor chip 6 is mounted on the mounting portion of the substrate 22 as described later.

半導体チップ6を基板22に実装する際、この基板22は保持手段によって機械的に保持固定される。この保持手段は図3乃至図5に示すように平板状の一対の挟持部材71a,71bを有する。一対の挟持部材71a,71bは、搬送ガイド21に支持された基板22の上面と下面とに対向して配置されていて、開閉駆動機構72(図5に示す)によって上記基板22を図3に示すように挟持する状態と、図5に示すように挟持状態を開放する状態とに駆動されるようになっている。   When the semiconductor chip 6 is mounted on the substrate 22, the substrate 22 is mechanically held and fixed by holding means. As shown in FIGS. 3 to 5, the holding means has a pair of flat plate-like sandwiching members 71a and 71b. The pair of sandwiching members 71a and 71b are disposed so as to face the upper and lower surfaces of the substrate 22 supported by the transport guide 21, and the substrate 22 is shown in FIG. 3 by the opening / closing drive mechanism 72 (shown in FIG. 5). As shown in FIG. 5, the holding state is driven and the holding state is released as shown in FIG.

一対の挟持部材71a,71bにはそれぞれ矩形状の開口部73a,73bが形成されている。この開口部73a,73bは上記実装ステージ20の上面に突設された凸部20aが入り込む大きさに形成されている。つまり、一対の挟持部材71a,71bが基板22を挟持すると、上記実装ステージ20が上昇方向に駆動される。   Rectangular openings 73a and 73b are formed in the pair of clamping members 71a and 71b, respectively. The openings 73a and 73b are formed in such a size that the protrusion 20a protruding from the upper surface of the mounting stage 20 can enter. That is, when the pair of clamping members 71a and 71b clamp the substrate 22, the mounting stage 20 is driven in the upward direction.

それによって、上記凸部20aが図3に示すように下側の挟持部材71aの開口部73a及び上側の挟持部材71bの開口部73b内に入り込む。上側の挟持部材71bの開口部73bに入り込むと、可撓性の基板22は上記凸部20aによってこの凸部20aの上面側の形状に沿って弾性的に変形する。   As a result, the protrusion 20a enters the opening 73a of the lower holding member 71a and the opening 73b of the upper holding member 71b as shown in FIG. When entering the opening 73b of the upper clamping member 71b, the flexible substrate 22 is elastically deformed along the shape of the upper surface side of the convex portion 20a by the convex portion 20a.

図5に示すように、上記開閉駆動機構72は上記制御装置39によって駆動が制御される下部駆動源74と上部駆動源75を有する。各駆動源74,75には軸線方向に進退駆動される駆動軸74a,75aが設けられている。各駆動軸74a,75aの先端には45度の角度で傾斜した傾斜面を有するカム76,77がそれぞれの傾斜面を逆方向に傾斜させて設けられている。   As shown in FIG. 5, the opening / closing drive mechanism 72 has a lower drive source 74 and an upper drive source 75 whose drive is controlled by the control device 39. The drive sources 74 and 75 are provided with drive shafts 74a and 75a that are driven back and forth in the axial direction. Cams 76 and 77 having inclined surfaces inclined at an angle of 45 degrees are provided at the tips of the drive shafts 74a and 75a, respectively, with the inclined surfaces inclined in the opposite directions.

各カム76,77の傾斜面にはそれぞれ可動体78,79の一側に回転可能に設けられたカムフォロア81,82が転接している。一対の可動体78,79はリニアガイド83に沿って上下方向に移動可能に設けられている。下側の可動体78は図示せぬばねによって上昇方向に弾性的に付勢され、上側の可動体79は図示せぬばねによって下降方向に弾性的に付勢されている。つまり、各可動体78,79は各カムフォロア81,82がカム76,77の傾斜面に圧接する方向に付勢されている。   Cam followers 81 and 82, which are rotatably provided on one side of the movable bodies 78 and 79, are in rolling contact with the inclined surfaces of the cams 76 and 77, respectively. The pair of movable bodies 78 and 79 are provided so as to be movable in the vertical direction along the linear guide 83. The lower movable body 78 is elastically urged in the upward direction by a spring (not shown), and the upper movable body 79 is elastically urged in the downward direction by a spring (not shown). That is, the movable bodies 78 and 79 are biased in the direction in which the cam followers 81 and 82 are pressed against the inclined surfaces of the cams 76 and 77.

一対の可動体78,79の他側面には取付け部材84,85が一端を連結して設けられ、これら取付け部材84,85は基板22の幅方向に沿って延出されている。各取付け部材84,85にはそれぞれ上下一対の挟持部材71a,71bの幅方向一端部と他端部とが連結部材84a,85aを介して連結固定されている。   Attachment members 84 and 85 are connected to the other side surfaces of the pair of movable bodies 78 and 79 at one end, and these attachment members 84 and 85 extend along the width direction of the substrate 22. One end and the other end of the pair of upper and lower clamping members 71a and 71b are connected and fixed to the mounting members 84 and 85 via connecting members 84a and 85a, respectively.

したがって、上記一対の駆動源74,75によってそれぞれの駆動軸74a,74bが軸方向に進退駆動されれば、その駆動方向に応じて上下一対の挟持部材71a,71bが閉じる方向或いは開く方向に駆動されることになる。   Therefore, if the drive shafts 74a and 74b are driven forward and backward in the axial direction by the pair of drive sources 74 and 75, the pair of upper and lower clamping members 71a and 71b are driven in the closing direction or the opening direction depending on the driving direction. Will be.

このような構成の実装装置によって基板22に半導体チップ6を実装する場合、一対の挟持部材71a、71bが開いた状態で上記基板22が搬送ガイド21に沿って搬送される。基板22の半導体チップ6が実装される部分が実装ステージ20の凸部20aに対向する位置に搬送されると、基板22の搬送が停止されて一対の挟持部材71a、71bが閉じる方向に駆動される。それによって、上記基板22の実装ステージ20に対応する部分は図3に示すように一対の挟持部材71a、71bによって挟持固定される。   When the semiconductor chip 6 is mounted on the substrate 22 by the mounting apparatus having such a configuration, the substrate 22 is transported along the transport guide 21 with the pair of clamping members 71a and 71b being opened. When the portion of the substrate 22 on which the semiconductor chip 6 is mounted is transported to a position facing the convex portion 20a of the mounting stage 20, the transport of the substrate 22 is stopped and the pair of clamping members 71a and 71b are driven in the closing direction. The Thereby, the portion of the substrate 22 corresponding to the mounting stage 20 is clamped and fixed by a pair of clamping members 71a and 71b as shown in FIG.

基板22を一対の挟持部材71a、71bによって挟持したならば、実装ステージ20を上昇させ、その上面に設けられた凸部20aを下側の挟持部材71aの開口部73aから上側の挟持部材71bの開口部73bへ進入させる。それによって、基板22は上記凸部20aの上面を包むように弾性変形し、この凸部20aの上面に密着する。   If the substrate 22 is sandwiched between the pair of sandwiching members 71a and 71b, the mounting stage 20 is raised, and the convex portion 20a provided on the upper surface of the substrate 22 extends from the opening 73a of the lower sandwiching member 71a to the upper sandwiching member 71b. Enter the opening 73b. Accordingly, the substrate 22 is elastically deformed so as to wrap around the upper surface of the convex portion 20a, and is in close contact with the upper surface of the convex portion 20a.

実装ステージ20を上昇させたならば、実装ヘッド48の超音波ホーン52の吸着部51に吸着保持された半導体チップ6を上記実装ステージ20の凸部20aの上方に位置決めする。ついで、実装ヘッド48を下降させ、超音波ホーン52によって超音波振動させられた半導体チップ6を上記基板22の上記凸部20aに密着保持された部分に圧接させる。   When the mounting stage 20 is raised, the semiconductor chip 6 sucked and held by the suction portion 51 of the ultrasonic horn 52 of the mounting head 48 is positioned above the convex portion 20 a of the mounting stage 20. Next, the mounting head 48 is lowered, and the semiconductor chip 6 ultrasonically vibrated by the ultrasonic horn 52 is brought into pressure contact with the portion of the substrate 22 that is held in close contact with the convex portion 20a.

それによって、半導体チップ6は、実装ヘッド48による加圧力、実装ステージ20に設けられた図示しないヒータの熱及び超音波ホーン52による超音波振動によって上記基板22に接合、つまり実装されることになる。   As a result, the semiconductor chip 6 is bonded to the substrate 22, that is, mounted by the pressure applied by the mounting head 48, the heat of a heater (not shown) provided on the mounting stage 20, and the ultrasonic vibration by the ultrasonic horn 52. .

上記基板22は、一対の挟持部材71a,71bによって挟持されるとともに、実装ステージ20の凸部20aに押し付けられて弾性的に変形した状態で保持されている。つまり、基板22は実装ステージ20に対し、一対の挟持部材71a,71bによって機械的に保持されている。   The substrate 22 is held by a pair of holding members 71a and 71b, and is held in a state of being elastically deformed by being pressed against the convex portion 20a of the mounting stage 20. That is, the substrate 22 is mechanically held with respect to the mounting stage 20 by the pair of clamping members 71a and 71b.

そのため、半導体チップ6を基板22に実装する際、超音波ホーン52の超音波振動が上記基板22に伝達されても、基板22はその超音波振動によって上記凸部20aに対してずれ動くことがない。   For this reason, when the semiconductor chip 6 is mounted on the substrate 22, even if the ultrasonic vibration of the ultrasonic horn 52 is transmitted to the substrate 22, the substrate 22 is displaced with respect to the convex portion 20 a by the ultrasonic vibration. Absent.

そのため、超音波ホーン52で発生した超音波振動は基板22と半導体チップ6との接合界面に有効に作用するから、半導体チップ6を上記基板22に確実に実装することが可能となる。つまり、超音波ホーン52の出力を増大させずに、半導体チップ6を基板22に確実に接合することができるから、超音波振動のエネルギによって半導体チップ6を損傷させることもない。   Therefore, since the ultrasonic vibration generated by the ultrasonic horn 52 effectively acts on the bonding interface between the substrate 22 and the semiconductor chip 6, the semiconductor chip 6 can be reliably mounted on the substrate 22. That is, since the semiconductor chip 6 can be reliably bonded to the substrate 22 without increasing the output of the ultrasonic horn 52, the semiconductor chip 6 is not damaged by the energy of ultrasonic vibration.

基板22が弾性的に変形することで、基板22の一部、つまり半導体チップ6が実装される部分を凸部20aに密着させることができる。そのため、上記実装ステージ20の熱が上記凸部20aから基板22へ効率よく伝達されるから、そのことによっても半導体チップ6の実装を確実に行なうことができる。   Since the substrate 22 is elastically deformed, a part of the substrate 22, that is, a portion where the semiconductor chip 6 is mounted can be brought into close contact with the convex portion 20a. For this reason, the heat of the mounting stage 20 is efficiently transferred from the convex portion 20a to the substrate 22, so that the semiconductor chip 6 can also be mounted reliably.

また、基板22が凸部20aに密着することで弛みが生じないから、半導体チップ6の振動をレーザドップラで観察するとき、基板22がその観察の妨げになるようなこともない。   In addition, since the substrate 22 does not loosen due to the close contact with the convex portion 20a, the substrate 22 does not interfere with the observation when the vibration of the semiconductor chip 6 is observed with a laser Doppler.

上記一実施の形態では基板22を挟持する一対の挟持部材71a,71bを、実装ステージ20の凸部20aが入り込む開口部73a,73bを有する平板状としたが、一対の取付け部材84,85に基板22の幅方向両端部をそれぞれ挟持する一対の帯板状又は棒状の挟持部材を設け、これら挟持部材によって基板22の幅方向両端部を挟持固定するようにしてもよい。なお、挟持部材が一対の帯板状又は棒状の場合、基板22の幅方向だけでなく、幅方向と直交する方向に両端部も同時に挟持する構造であっても差し支えない。   In the above embodiment, the pair of sandwiching members 71a and 71b that sandwich the substrate 22 are formed in a flat plate shape having the openings 73a and 73b into which the convex portions 20a of the mounting stage 20 enter. A pair of band plate-like or bar-like holding members that respectively hold both ends of the substrate 22 in the width direction may be provided, and both ends of the substrate 22 in the width direction may be held and fixed by these holding members. In the case where the sandwiching member is a pair of strips or rods, not only the width direction of the substrate 22 but also the structure in which both ends are sandwiched simultaneously in the direction orthogonal to the width direction may be used.

また、実装ステージ20の凸部20aによって基板22を弾性変形させる場合、実装ステージ20を上昇方向に駆動したが、挟持部材を下降させてもよく、或いは実装ステージ20を上昇させるとともに挟持部材を下降させるようにしてもよい。要は上記凸部20aによって基板22を弾性変形させることができるよう、実装ステージ或いは挟持部材の少なくとも一方を駆動すればよい。   When the substrate 22 is elastically deformed by the convex portion 20a of the mounting stage 20, the mounting stage 20 is driven in the upward direction. However, the clamping member may be lowered, or the mounting stage 20 is raised and the clamping member is lowered. You may make it make it. In short, it is only necessary to drive at least one of the mounting stage and the clamping member so that the substrate 22 can be elastically deformed by the convex portion 20a.

図6はこの発明の他の実施の形態を示す。この実施の形態は実装ステージ20の上面には凸部20aが形成されておらず、それに代わって基板22の下面の幅方向両端部を吸着保持する一対の吸引溝86が形成されている。   FIG. 6 shows another embodiment of the present invention. In this embodiment, the convex portion 20a is not formed on the upper surface of the mounting stage 20, and instead, a pair of suction grooves 86 for adsorbing and holding both end portions in the width direction of the lower surface of the substrate 22 are formed.

上記実装ステージ20の上面側には中央部に開口部87が形成された平板状のクランプ部材88が配設されている。このクランプ部材88の幅方向両端部には、上下駆動源としての一対のシリンダ89のロッド89aがそれぞれ連結されている。したがって、各シリンダ89が作動すれば、上記クランプ部材88が上下駆動される。   On the upper surface side of the mounting stage 20, a flat clamp member 88 having an opening 87 formed in the center is disposed. Both ends of the clamp member 88 in the width direction are connected to rods 89a of a pair of cylinders 89 as vertical drive sources. Therefore, when each cylinder 89 operates, the clamp member 88 is driven up and down.

上記シリンダ89によって上記クランプ部材88を下降方向に駆動すれば、実装ステージ20の上面に位置決めされた基板22を、上記クランプ部材88によって上記実装ステージ20の上面に機械的に保持固定することができる。   When the clamp member 88 is driven in the downward direction by the cylinder 89, the substrate 22 positioned on the upper surface of the mounting stage 20 can be mechanically held and fixed on the upper surface of the mounting stage 20 by the clamp member 88. .

したがって、実装ヘッド48を下降させ、超音波ホーン52の吸着部51に吸着保持された半導体チップ6を上記基板22に接合する際、基板22をクランプ部材88で保持固定すれば、この基板22が超音波ホーン52からの超音波振動によって実装ステージ20上でずれ動くのが阻止される。つまり、基板22を吸引溝86だけによって実装ステージ20の上面に保持した場合に比べ、基板22が超音波振動によって実装ステージ20上でずれ動き難くなるから、半導体チップ6の接合を確実に行なうことが可能となる。   Therefore, when the mounting head 48 is lowered and the semiconductor chip 6 sucked and held by the suction portion 51 of the ultrasonic horn 52 is joined to the substrate 22, if the substrate 22 is held and fixed by the clamp member 88, the substrate 22 is The ultrasonic vibration from the ultrasonic horn 52 prevents the movement on the mounting stage 20. That is, compared to the case where the substrate 22 is held on the upper surface of the mounting stage 20 only by the suction groove 86, the substrate 22 is less likely to be displaced on the mounting stage 20 due to ultrasonic vibration, so that the semiconductor chip 6 is reliably bonded. Is possible.

なお、基板22をクランプ部材88によって実装ステージ20に機械的に強固に保持固定できれば、実装ステージ20の上面に吸引溝86が形成されていなくても差し支えない。   If the substrate 22 can be mechanically firmly held and fixed to the mounting stage 20 by the clamp member 88, the suction groove 86 may not be formed on the upper surface of the mounting stage 20.

また、クランプ部材を1枚の板状でなく、2つの帯板状に分割してそれぞれシリンダによって上下駆動可能とすることで、各クランプ部材によって基板の幅方向両端部を実装ステージ20の上面に保持固定するようにしてもよい。   In addition, the clamp member is divided into two strips instead of a single plate, and can be driven up and down by a cylinder, so that both end portions in the width direction of the substrate are placed on the upper surface of the mounting stage 20 by each clamp member. You may make it hold and fix.

この発明の一実施の形態を示す実装装置の概略的構成図。BRIEF DESCRIPTION OF THE DRAWINGS The schematic block diagram of the mounting apparatus which shows one embodiment of this invention. 上記実装装置に用いられるカメラユニットの断面図。Sectional drawing of the camera unit used for the said mounting apparatus. 実装ステージと一対の挟持部材を示す断面図。Sectional drawing which shows a mounting stage and a pair of clamping member. 実装ステージと一対の挟持部材を示す斜視図。The perspective view which shows a mounting stage and a pair of clamping member. 一対の挟持部材を開閉駆動する開閉駆動機構の概略的構成図。The schematic block diagram of the opening / closing drive mechanism which opens and closes a pair of clamping member. この発明の他の実施の形態を示す実装ステージとクランプ部材の断面図。Sectional drawing of the mounting stage and clamp member which show other embodiment of this invention.

符号の説明Explanation of symbols

6…半導体チップ(電子部品)、20…実装ステージ、20a…凸部、22…基板、48…実装ヘッド、52…超音波ホーン、71a,71b…挟持部材(保持手段)、73a,73b…開口部、74,75…駆動源、88…クランプ部材、87…開口部。   6 ... Semiconductor chip (electronic component), 20 ... Mounting stage, 20a ... Projection, 22 ... Substrate, 48 ... Mounting head, 52 ... Ultrasonic horn, 71a, 71b ... Nipping member (holding means), 73a, 73b ... Opening Part, 74,75 ... drive source, 88 ... clamp member, 87 ... opening.

Claims (3)

可撓性の基板に電子部品を実装するための実装装置であって、
上記電子部品を保持するとともにこの電子部品に超音波振動を与える超音波ホーンを有する実装ヘッドと、
上記基板の少なくとも上記実装ヘッドによって上記電子部品が実装される部分を支持する凸部が設けられた実装ステージと、
上記基板を移動不能に挟持固定する一対の挟持部材を有し、上記実装ヘッドによって上記基板に上記電子部品を実装するときに、上記挟持部材によって挟持固定した上記基板の上記電子部品が実装される部分を上記凸部に圧接させて弾性変形させて上記基板を上記実装ステージに移動不能に機械的に保持する保持手段を具備し、
上記一対の挟持部材には上記凸部に対応する開口部が形成され、この一対の挟持部材によって上記基板の上下面を挟持固定した状態で、上記一対の挟持部材或いは上記実装ステージの少なくとも一方が駆動されて上記凸部が上記開口部内に入り込み、上記基板の電子部品が実装される部分を弾性変形させることを特徴とする電子部品の実装装置。
A mounting device for mounting an electronic component on a flexible substrate,
A mounting head having an ultrasonic horn for holding the electronic component and applying ultrasonic vibration to the electronic component;
A mounting stage provided with a convex portion for supporting a portion on which the electronic component is mounted by at least the mounting head of the substrate;
The board has a pair of holding members that hold and fix the board so that the board cannot move. When the electronic component is mounted on the board by the mounting head, the electronic parts of the board held and fixed by the holding member are mounted. A holding means for mechanically holding the substrate on the mounting stage so as to be elastically deformed by pressing the portion against the convex portion ;
An opening corresponding to the convex portion is formed in the pair of sandwiching members, and at least one of the pair of sandwiching members or the mounting stage is in a state where the upper and lower surfaces of the substrate are sandwiched and fixed by the pair of sandwiching members. An apparatus for mounting an electronic component, wherein the device is driven to elastically deform a portion of the substrate on which the electronic component is mounted by being driven into the opening .
上記保持手段は、上記実装ステージに支持された上記基板を、上記実装ステージに押圧保持するクランプ部材であることを特徴とする請求項1記載の電子部品の実装装置。   2. The electronic component mounting apparatus according to claim 1, wherein the holding means is a clamp member that presses and holds the substrate supported by the mounting stage on the mounting stage. 可撓性の基板に電子部品を実装するための実装方法であって、
上記基板の電子部品が実装される部分を支持する凸部を有する実装ステージに対して上記基板を位置決めする工程と、
上記電子部品に超音波振動を与えながら位置決めされた上記基板に上記電子部品を実装する工程と、
上記電子部品を上記基板に実装するときに上記基板を上記凸部に対応する開口部が形成された一対の挟持部材によって移動不能に保持するとともに、上記基板の上記電子部品が実装される部分を上記凸部に圧接させ、上記凸部を上記開口部内に入り込ませて上記基板の上記電子部品が実装される部分を弾性変形させて上記基板を上記実装ステージに移動不能に機械的に保持固定する工程と、
を具備したことを特徴とする電子部品の実装方法。
A mounting method for mounting an electronic component on a flexible substrate,
Positioning the substrate with respect to a mounting stage having a convex portion that supports a portion on which the electronic component of the substrate is mounted ;
Mounting the electronic component on the substrate positioned while applying ultrasonic vibration to the electronic component;
When mounting the electronic component on the substrate, the substrate is held immovably by a pair of clamping members formed with openings corresponding to the convex portions, and a portion of the substrate on which the electronic component is mounted is mounted. The convex part is pressed into contact with the convex part, and the convex part enters the opening to elastically deform a portion of the substrate on which the electronic component is mounted, and the substrate is mechanically held and fixed to the mounting stage so as not to move. Process,
An electronic component mounting method comprising the steps of:
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