JP2004095747A - Bonding method - Google Patents

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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To vibrate and press-fit an electronic component such as an IC chip on a resin substrate such as a COF tape. <P>SOLUTION: Vibration is impressed not only to an IC chip 12 but also to a COF tape 11, and the IC chip 12 is pressurized to the COF tape 11 so that the IC chip 12 can be press-fit and bonded to the COF tape 11 while two vibration is impressed. The frequency of vibration to be impressed to the IC chip 11 is made larger than the frequency of vibration applied to the COF tape 11, and the former amplitude is made smaller than the latter amplitude. <P>COPYRIGHT: (C)2004,JPO

Description

【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、フレキシブルなプラスチック基板に電子部品を圧接接合するボンディング方法に関する。
【0002】
【従来の技術】
従来より、振動を印加して電子部品をセラミックス製の基板に接合する装置が、広く実用化されている。それらの装置に用いられる振動子は、通常は1個である。セラミックス製の基板は、材質が硬く、振動を受けても変形し難い。そのため、セラミックス製の基板が物理的に固定されていれば、電子部品の振動に追従して動くことはない。その結果、電子部品とセラミックス製の基板との間に相対運動が生じて良好な摩擦接合が可能となる。しかし、振動子が1つの場合、振動方向が1つとなるため、接合部の形状が、振動方向に長い楕円になる欠点がある。この欠点を解決しようとする技術として、振動子を2個用いて、振動方向を2方向とする技術が特開平11−284028号公報に開示されている。
【0003】
特開平11−284028号公報は、SAW素子などの電子部品をフリップチップ・ボンディングするためのボンディング方法とその装置に関し、セラミック基板に形成されている金バンプと、SAW素子などの電子部品に形成された金バンプを加熱しながら圧接する技術が開示している。その構成は、セラミックス基板に振動を印加する第1振動子と、電子部品に振動を印加する第2振動子とを有し、これら2つの振動子により複数方向から超音波を印加することにより、接合部の形状が細長くなるのを防止してより円形にすることを特徴としている。しかし、特開平11−284028号には、フレキシブルな樹脂基板に電子部品を接合する技術は開示されていない。
【0004】
一方、電子製品は、薄型化のために、パッケージを薄型とし易いTCP(TapeCarrier Package)が多用されている。TCPの製造方式として、TAB(TapeAutomated Bonding)方式とCOF(Chip On Flexible Circuit Board or Chip On Film)方式がある。中でも、COF方式は、フリップチップ実装に多用されている。しかし、ICチップを実装するフィルム(テープと同義)はフレキシブルなので、ICチップのような電子部品を圧接して接合することはできなかった。このため、COF方式でテープに電子部品を接合する方法は、はんだ付け、Au−Sn、ACF(anisotropic conductive film)、ACP(anisotropic conductive paste)やNCP(non conductive Paste)等の接着方式が慣用されている。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】
フレキシブルな樹脂基板は、軟らかい材質であるため、振動を与えると変形しやすいという問題を有している。すなわち、電子部品を樹脂基板に固定しようとする場合、樹脂基板が電子部品に接触している部分は、その周囲を押さえ機構により押さえられていたとしても、振動子の振動に追従して動いてしまう。そのため、電子部品の表面と、この電子部品に圧接される樹脂基板の表面との相対運動(摩擦)は半減する。特に、振動の周波数が高く、且つ振幅が数十ミクロン以下と小さい振動モードの場合、この傾向は、強くなる。
【0006】
このため、振動子が1個である従来の方法では、樹脂基板に電子部品を振動圧接しても、接着強度は極めて小さく、実用に供することはできない。また、振動子を2個使用し、電子部品と樹脂基板双方を振動させる方法は、振動子1個の場合と比較して圧接強度は高くなるが、バラツキが大きく実用にならない。このため、電子部品と樹脂基板とを圧接により接合する方法は、実用化されるに至らなかった。
【0007】
なお、上述した種々の接合方法は、圧接による接合と比較して、接着強度と品質の信頼性に劣るという問題がある。たとえば、Au−Sn接合方法では、固相拡散温度が高く、熱ストレスが大きいため、実装できる対象部品の組み合わせは、大きく制約される。このように、従来の振動を印加する圧接接合方法をCOF方式に適用すると、接合強度のバラツキに問題があり、実用できなかった。
【0008】
本発明者は、薄型化のためにフレキシブルな樹脂基板を用い、この樹脂基板に電子部品を圧接により固定しても、バラツキが生じない方法を探るべく、振動子を2個用いた場合の圧着強度のバラツキを、解析・研究した。その結果、圧接強度と2個の振動子のそれぞれ周波数との間に一定の法則があることを見出した。更に、圧着強度に関して、圧接強度と2個の振動子のそれぞれ振幅との間に一定の法則があることを見出した。本発明は、これの新たな知見に基づいてなされたものである。
【0009】
すなわち、本発明の目的は、上述の種々の問題点に鑑み、フレキシブルなテープまたはフレキシブルな基板にICチップ等の電子部品を高い接合強度で圧接接合する方法を提供することにある。
【0010】
【課題を解決するための手段】
上記目的を達成するために、本発明は、振動ヘッドに保持された電子部品を樹脂基板に圧接接合するボンディング方法において、振動ヘッドに電子部品を固定する工程と、電子部品を第1所定位置に移動する工程と、樹脂基板を第2所定位置に送る工程と、樹脂基板を基板搭載テーブルに保持する工程と、電子部品を樹脂基板に近接させる工程と、振動ヘッド用振動子の振動の周波数を基板用振動子の振動の周波数より大きい周波数とする条件で、振動ヘッド用振動子と基板用振動子とを励振させ電子部品と樹脂基板とを圧接する工程と、電子部品を振動ヘッドから離間させる工程と、基板搭載テーブルに固定されている樹脂基板を基板搭載テーブルから離間させる工程と、からなることを特徴とする。
【0011】
基板用振動子から樹脂基板に印加される振動は、その周波数が低くなると、樹脂基板と電子部品との圧接面まで効率よく到達する。一方、電子部品用振動ヘッドの振動は、限界はあるがその周波数が高くても、樹脂基板と電子部品との圧接面まで効率よく到達する。大きな振動エネルギーを樹脂基板と電子部品との圧接面に印加するためには、振動周波数を振動ヘッドの方を基板用振動子より高くすることが、極めて有効である。
【0012】
また、本発明は、振動ヘッドに保持された電子部品を樹脂基板に圧接接合するボンディング方法において、振動ヘッドに電子部品を保持する工程と、電子部品を第1所定位置に移動する工程と、樹脂基板を第2所定位置に送る工程と、樹脂基板を基板搭載テーブルに固定する工程と、電子部品を樹脂基板に近接させる工程と、基板用振動子の振動の振幅を振動ヘッド用振動子の振動の振幅より大きい振幅とする条件で励振させ電子部品と樹脂基板とを圧接する工程と、電子部品を振動ヘッドから離間させる工程と、基板搭載テーブルに吸着・固定されている樹脂基板を基板搭載テーブルから離間させる工程と、からなることを特徴とする。
【0013】
COFテープには、ポリイミド樹脂やPET樹脂が多用され、セラミックスと比較して、振動の減衰が著しく大きい。更に、樹脂は、変形し易いので、縦振動のみならず横振動でも伝達効率が悪い。振動の減衰が大きく且つ伝達効率の悪い樹脂を振動させる基板用振動子の振幅を、振動ヘッドより大きくすることにより、釣合の良い振動を、樹脂基板と振動ヘッドとの接合面に印加することができる。
【0014】
また、樹脂は、防振材の如く厚くなると振動が伝達されにくいが、樹脂基板の厚みを薄くすると振動はある程度良好に伝達される。樹脂基板の厚みを10から200ミクロンとすると、樹脂基板と電子部品との圧接面に振動が十分に伝達されるので、圧接強度を高くすることができる。また、基板押え板の開口の四角形の内辺と電子部品との距離を0.5〜5mmにすると、樹脂基板と電子部品との圧接面に振動が十分に伝達されるので、圧接強度を高くすることができる。
【0015】
さらに、樹脂基板にTABテープ又はCOFテープを採用することにより、TCPを製造することが可能となる。
【0016】
また、電子部品と樹脂基板の少なくとも一方を加熱することにより、電子部品と樹脂基板との圧接強度をより大きくすることができる。
【0017】
【発明の実施の形態】
以下、本発明になるボンディング方法の実施の形態を、図を参照しながら詳細に記述する。
【0018】
図1は、本発明のボンディング方法を実施するボンディング装置の主要な構成要素を示す図である。図中の符号1はボンディング装置、2は電子部品用振動ヘッド、2aは振動ホーン、2bは振動ヘッド圧接部、2cは振動ヘッド用振動子、3は基板用振動ヘッド、3aは基板用振動子、4は断熱層、5は基板加熱部、6は基板搭載テーブル、7はヒータ、8は温度センサ、9は真空吸着孔、10は真空パイプ、11はフレキシブルな樹脂基板となるCOFテープ、12は電子部品となるICチップ、13は基板押え板である。
【0019】
ボンディング装置1は、上下に設けられた振動ヘッドである電子部品用振動ヘッド2と、基板用振動子ヘッド3によりICチップ12とCOFテープ11とを圧接する構造となっている。電子部品用振動ヘッド2は、振動ホーン2aと、振動ホーン2aの先端部の底面に設けられた振動ヘッド圧接部2bと、圧電素子からなる振動ヘッド用振動子2cからなる。振動ヘッド圧接部2bは、超硬材料からなるが、特にこれに限定されるものではない。振動ヘッド圧接部2bの表面を、窒化チタンや炭素チタン等でコートすると、その基材には拘わらず、耐久性は、著しく向上するためである。
【0020】
振動ヘッド用振動子2cの振動は、振動ホーン2a中を伝播して振動ヘッド圧接部2bへ収斂する。振動ヘッド圧接部2bの振動の垂直成分をゼロにするために、振動ホーン2aは、水平面に対してある角度をもって取り付けられている。これにより、振動ヘッド圧接部2bは、COFテープ11に平行な水平方向にのみ振動することとなる。振動周波数は、10〜60KHzである。ICチップ12の吸着、位置合わせ、カメラユニット17からの逃げとCOFテープ11からの逃げのために、電子部品用振動ヘッド2を上下と左右に移動させる駆動機構が設けられている。
【0021】
振動ホーン圧接部2bには、基板搭載テーブル6に設けられた真空吸着孔9と同様に、ICチップ12を真空吸着するための直径が0.8mmの吸着孔が設けられている(図示省略)。更に、振動ホーン2aには、基板加熱部5と同様、ヒータを埋め込まれても良い。
【0022】
基板用振動ヘッド3は、基板用振動子3aで励振された振動をCOFテープ11に印加する機能の他に、COFテープ11を吸着・保持する機能と、COFテープ11を加熱する機能を備えている。基板用振動子3aには、外部から与えられた磁界に対応して伸縮する超磁歪素子を用いている。振動周波数は、10〜30KHzである。超磁歪材料は、熱に弱い。そのため、基板用振動子3aと加熱部5との間に、断熱層4を設けて、基板加熱部5で発生する熱による基板用振動子3aの過熱を防止している。なお、超磁歪素子は、圧電素子と同様に高周波振動を励振する素子で、圧電素子と比較して低い周波数領域で優れた特性を備えている。一方、電子部品のボンディング技術領域では、超磁歪素子を圧電素子で代用することも可能で、この逆も可能である。
【0023】
断熱層4は、主に多孔質セラミックスからなる。多孔質セラミックスは、他の材料と比較すると、耐高温特性と、振動の低減衰特性と比較的高い強度特性等の総合特性が優れた断熱材である。
【0024】
基板加熱部5は、断熱層4と基板搭載テーブル6の間に配設されている。そして、基板加熱部5には、ヒータ7と、温度センサ8と真空源へ連結する真空パイプ10が設けられている。この基板加熱部5からの熱は、基板搭載テーブル6以外には伝導し難いように設計されている。ヒータ7は、シースヒータであり、温度センサ8は、熱電対である。
【0025】
基板搭載テーブル6は、樹脂基板となるCOFテープ11を搭載し吸着・固定する機能の他に、圧接時の荷重を受ける機能と、COFテープ11へ熱を伝達する役割を担っている。
【0026】
真空吸着孔9は、ICチップ12を取囲むロの字形をしていて、図1では両サイドの2本の溝で表示されている。
【0027】
基板用振動ヘッド3は、COFテープ11を送る時に、基板搭載テーブル6とCOFテープ11とが接触しないように垂直方向に移動できるようになっている。
【0028】
図2に示すように、基板押え板13の中央部には、四角形の開口14が設けられている。この開口14は、電子部品用振動ヘッド2の先端部の底面と振動ヘッド圧接部2bが入るように設計されている。そして、開口14の外周は、基板振動ヘッド3との接触を防止するために、大きな面が取られている。
【0029】
また、基板押え板13は、COFテープ11を送る時、COFテープ11に形成されている電気接続端子部16(図3参照)と接触してそれらを損傷させないように、垂直方向に移動できる構造となっている。更に、基板押え板13でCOFテープ11を押圧し固定した時、COFテープ11に形成されている電気接続端子部16とCOFテープ11に圧接接合されたICチップ12を逃がす形状となっている。
【0030】
COFテープ11は、真空吸着孔9と基板押え板13によって、基板搭載テーブル6に固定されている。一方、COFテープ11の圧接面(図1では上面)は、COFテープ11の厚さ分だけ基板搭載テーブル6から離れている。COFテープ11はフレキシブルであり、基板押え板13でこのCOFテープ11を固定しても、硬いセラミックス製の基板のように、COFテープ11の圧接面を完全に固定することはできない。
【0031】
更に、COFテープ11において、圧接面の固定の程度は、上述のテープの厚みの他に基板押え板13とICチップ12との距離に大きく依存する。真空吸着孔9の機能は、主にCOFテープ11の固定にある。COFテープ11は、真空吸着孔9によっても吸着固定されているが、主に基板押え板13の押えが、COFテープ11を固定している。図1及び図2では、図を見やすくするために、基板押え板13とICチップ12との距離を大きく図示してあるが、この距離は、電子部品用振動ヘッド2と接触しない範囲で極力小さくすることが好ましい。開口14の端から圧接するICチップ12までの距離は1.5mmである。好ましくは、0.5〜5mmで、より好ましくは、0.8〜2mmである。
【0032】
また、振動ヘッド圧接部2bの振動方向と基板搭載テーブル6の振動方向は、直交している。直交すると、2つの振動が振幅を打ち消すことはなくなる。更に、振動の周波数を異ならせることにより、2つの振動の合成ベクトルは、一定の方向のみではなく、ランダムな方向をとるようになる。
【0033】
振動ヘッド用振動子2cの振動周波数を40KHzとした場合、振動ホーン2aの振幅は約3ミクロンで、ICチップ12の振幅は、1.8ミクロンで、振幅は、6割前後に減衰する。振動ヘッド用振動子2cの振動周波数を60KHzとした場合、振動ホーン2aの振幅は約1ミクロンで、ICチップ12の振幅は、0.2ミクロンで、振幅は、2割前後に減衰する。振動周波数が高くなると振動エネルギーは大きくなるが、伝達ロスが大きくなるので、振動周波数は、振動の減衰を勘案して決める。
【0034】
図2は、COFテープ11と基板押え板13の関係を平面図で示したものである。COFテープ11の両端には送りのためのパーフォレーションが削孔されており、中央部には、配線(図示略)と電気接続端子部16が形成されている。COFテープ11は、図2における矢印の方向に送られる。基板押え板13には、開口14が1個所、切り欠き15(開口の一辺が開放)が2箇所設けられている。開口14は、振動ヘッド圧接部2bが入るためのものであり、開口14の平面寸法は、ICチップ12の平面寸法に近い方が好ましい。更に、切り欠き15は、COFテープ11に設けられている電気接続端子部16とICチップ12と接触させないための逃げ部となっている。基板押え板13は、COFテープ11がフレキシブルなので、それを安定して押さえることができるように、圧接するICチップ12の周辺のみに限定せずに、ICチップ12の搭載ピッチの2〜7倍と広く押さえることのできる形状となっている。
【0035】
図3は、振動ヘッド圧接部2bに吸着された後、所定位置に移動させられたICチップ12と、所定位置に送られたCOFテープ11の電気接続端子部16とをカメラユニット17で撮像して位置合わせする工程を説明するために図示したものである。振動ホーン2aの先端部の底部に配設された振動ヘッド圧接部2bにICチップ12が吸着されている。
【0036】
カメラユニット17の開口14の周辺には、リング照明29(図8参照)が設けられていて、その光を受けてICチップ12がカメラユニット17に撮像される。このリング照明29を用いて、フラッシュ撮像を行うこともできる。同様に、COFテープ11上に設けられた未接合の電気接続端子部16もカメラユニット17に撮像される。なお、COFテープ11には、未接合の電気接続端子部16と圧接されたICチップ12とが示され、COFテープ11の送り方向として、矢印が示されている。
【0037】
図4は、カメラユニット17の構成を説明する図で、(a)は平面図、(b)は側面図、(c)は正面図である。カメラユニット17は、上下の画像を撮像できるように2個のカメラユニットから構成されている。カメラユニット17は、光学系18と撮像部19とからなる。更に、光学系18は、2系統に分かれ、その1つは、COFテープ11上の電気接続端子部16の画像をカメラ開口20から取り込み、プリズム21で90度屈折させ、更にミラー22で90度曲げてCCD23にインプットする。
【0038】
撮像部19では、CCD23にインプットされた画像を電気信号に変換し、その信号を画像処理装置32(図8参照)に伝送する。矢印は光の進行方向を示す。光学系18の他方は、同様に、振動ヘッド圧接部2bに吸着されたICチップ12の画像をカメラ開口20から取り込み、プリズム21で90度曲げ、更にミラー22で90度曲げてCCD24にインプットする。そして、撮像部19では、CCD24にインプットされた画像を電気信号に変換し、その信号を画像処理装置32に伝送する。図4(b)には、上下のカメラ開口20とプリズム21が図示されている。上と下の画像をそれぞれのカメラ開口20から取り込み、同一平面上に配設された光学系18で画像を伝送し、CCD(23,24)でデジタル信号に変換する。
【0039】
一方、電子部品用振動ヘッド2は、COFテープ11との位置合わせをし、カメラユニット17が退避した後に、COFテープ11を圧接するために降下する。なお、通常、電子部品用振動ヘッド2を、COFテープ11との位置合わせ後に、垂直方向に移動させると、位置合わせ精度が低下する。この位置合わせ精度の低下を防止するためには、移動距離を短くすることが有効であるために、本実施の形態では、カメラ開口20付近の厚さを薄くしている。カメラ開口20付近のカメラユニット17の厚さを薄くする手段としては、2つの光学系18を同一平面に配設すること、あるいは光学系18と撮像部19を区分して、光学系18を撮像部19より薄くすることが好ましい。
【0040】
なお、COFテープ11の位置合わせのための画像には、位置マーク(アライメント・マーク)を用いている。ICチップ12の位置合わせには、回路配線パターンを用いる。なお、ICチップ12の代わりに回路基板をCOFテープ11に接合する場合は、位置マークを用いる。位置マークの形状は、直径0.2mmの○印である。その他の形状として四角形、×印等でも良く、寸法は、0.1〜5mmが好ましい。
【0041】
図5は、電子部品(ここではICチップ12とする)と樹脂基板(ここではCOFテープ11とする)上の電気接続端子部16のアライメントに関するフローチャートである。
【0042】
まず、電子部品用振動ヘッド2にICチップ12を固定する工程を開始する。すなわち、ICチップ12が入れられているトレイ(図示略)上に電子部品用振動ヘッド2を移動させて、ICチップ12を振動ヘッド圧接部2bに吸着固定する(ステップ1)。なお、トレイは、テープで裏打ちされ、カットされたウエハー基板の場合もある。
【0043】
次に、ICチップ12を、第1所定位置に移動する工程に移る。すなわち、ICチップ12を、COFテープ11との圧接位置(第1所定位置)に移動させるため、ICチップ12が吸着固定された電子部品用振動ヘッド2を移動させる(ステップ2)。
【0044】
次に、COFテープ11を、第2所定位置に送る工程に移る。すなわち、COFテープ11を基板搭載テーブル6と基板押え板13から離間したフリーな状態にしてテープ送りをし、COFテープ11をICチップ12との圧接位置(第2所定位置)に移動させる(ステップ3)。
【0045】
次に、COFテープ11を基板搭載テーブル6に保持する工程に移る。すなわち、基板搭載テーブル6を上昇させ、COFテープ11を基板搭載テーブル6に真空吸着孔9を用いて吸着する(ステップ4)。加えて、基板押え板13を降下させて、COFテープ11を基板搭載テーブル6と基板押え板13の間に固定する(ステップ5)。これにより、COFテープ11が基板搭載テーブル6に保持される。
【0046】
次に、ICチップ12とCOFテープ11との位置合わせの工程に移る。まず、カメラユニット17を位置マークが撮像できる位置に移動する(ステップ6)。そして、COFテープ11の位置マークと、ICチップ12の位置マークの画像を同時に撮像してカメラユニット17に取り込む(ステップ7)。
【0047】
次に、COFテープ11の位置マークの座標と、ICチップ12の位置マークの座標を計算する(ステップ8)。COFテープ11の位置マーク又はICチップ12の位置マークに関する座標の誤差が所定範囲外の場合(ステップ9においてYES)、電子部品用振動ヘッド2を移動させて、位置合わせを行なう(ステップ10)。撮像された位置マークの座標の誤差が所定範囲内の場合(ステップ9においてNO)は、電子部品用振動ヘッド2の移動は行わずに、次工程に進む。
【0048】
この実施の形態では、COFテープ11上の位置マークの画像を直接(テープや透明基板を透過させないで)取り込んでいるので、透明基板の光学的歪みによる位置読込精度の低下を引き起こすことなく、マーク位置の検出位置精度を向上させることができる。
【0049】
また、2つの部品の位置合わせ精度は、2つの部品の座標を別々に測定すると、個々の原点からの座標の誤差が加算される。一方、上述の如く、2つの部品の位置を同時に測定すると、2つの測定位置の関係のみが必要で、2つの部品の原点からの座標の誤差は、関係がなくなる。換言すると、カメラユニット17が動いていても、精度よく2つの部品の位置合わせデータを取り込むことができる。このような同時撮像は、残留振動の検出を行っていない位置制御方式であるオープン制御に有効な方法である。
【0050】
カメラユニット17は、位置合わせ毎に、位置マークの撮像位置に移動して位置マークを撮像し、ICチップ12をCOFテープ11に圧接する時には、撮像位置から退避している。カメラユニット17は、短時間で完全に停止することは難しく、残留振動が残る。残留振動がある程度大きい場合、ICチップ12の位置マークとCOFテープ11上の位置マークを別々に撮像すると、測定され計算された位置マークの座標には残留振動の影響が含まれる。しかし、ICチップ12の位置合わせをCOFテープ11の位置マークを基準として同時撮像をすれば上記の問題は生じない。ICチップ12の位置マークとCOFテープ11上の位置マークを同一のカメラユニット17で同時に撮像すると、カメラユニット17の残留振動は、殆ど問題がなくなる。このように、本実施の形態の方法を採用すると、画像の位置合わせ精度が著しく向上する。また、上述のステップ6において、上下の画像を同時に取り込むことにより、画像取り込みのために残留振動の低下を待つ時間を短くでき、タクトの短縮をもたらす。
【0051】
図6は、ICチップ12のバンプ電極をCOFテープ11上の電気接続端子部16にボンディングする方法に関するフローチャートである。
【0052】
ステップ1〜10は、ICチップ12とCOFテープ11のアライメントに関するフローチャートとほぼ同じである。なお、この場合、ステップ6の同時撮像は、必須要件ではない。
【0053】
以下に、図6を用いて位置合わせ後の工程について説明する。
【0054】
まず、位置合わせ用のカメラユニット17を退避させる(ステップ11)。このとき、振動ホーン2aの温度は、300℃である。また、基板加熱部5の温度は、200℃である。なお、加熱は、基板加熱部5のみでもよい。
【0055】
次に、電子部品用振動ヘッド2を降下させることにより、ICチップ12をCOFテープ11に近接させる工程を行う(ステップ12)。
【0056】
次に、振動ヘッド用振動子2cの振動の周波数を基板用振動子3aの振動の周波数より大きい周波数とする条件で、振動ヘッド用振動子2cと基板用振動子3aとを励振させICチップ12とCOFテープ11とを圧接する工程を行う。より具体的には、振動ヘッド用振動子2cの周波数を40KHzとし、基板用振動子3aの周波数を18KHzとする条件で、振動ヘッド用振動子2cと基板用振動子3aを励振する(ステップ13)。このときの振動ヘッド圧接部2bの振幅は、8ミクロンで、基板搭載テーブル6の振幅は、14ミクロンである。さらに、ICチップ12をCOFテープ11の電気接続端子部16に0.5秒押圧する(ステップ14)。ICチップ12の寸法は、2×10mmで厚さが0.4mmで、端子(バンプ)数は40個である。圧接荷重は、大略100グラム/バンプで、全体では、40Nである。
【0057】
次に、ICチップ12を振動ヘッド2から離間させる工程を行う。具体的には、ICチップ12を吸着している真空をブレイクして、振動ヘッド圧接部2bをICチップ12から離す(ステップ15)。
【0058】
次に、基板搭載テーブル6に固定されているCOFテープ11を、基板搭載テーブル6から離間させる工程を行う。具体的には、COFテープ11を吸着している真空のブレイクと、基板押え板13の上昇を行い、COFテープ11をフリーにする(ステップ16)。加えて、ICチップ12をピックアップする位置に、電子部品用振動ヘッド2を移動する。
【0059】
次に、基板搭載テーブル6を降下させる(ステップ17)。次に、COFテープ11を1ピッチ送り、次のボンディング操作に入る(ステップ18)。
【0060】
この実施の形態では、振動ヘッド用振動子2cの周波数を、基板用振動子3aの周波数より高くしている。また、振動の振幅は、周波数とは逆で、基板用振動子3aの振幅を振動ヘッド用振動子2cの振幅より大きくしている。
【0061】
振動ヘッド用振動子2cの周波数は、基板用振動子3aの周波数より低くなると、エネルギー効率が悪くなるとともに、良好な圧接強度が得られ難くなる。これは、COFテープ11にあたえる周波数が高いほど、COFテープ11の圧接面に伝達されるのロスが益々大きくなるからである。一方、ICチップ12は、振幅の減衰が小さいので、周波数をある程度高くしてエネルギーを大きくする方が得策である。このようなことから、振動ヘッド用振動子2cの周波数は、基板用振動子3aの周波数の1.2〜4倍が良い。より好ましくは、1.5倍〜2.5倍である。
【0062】
本発明において、振動ヘッド用振動子2cの振幅を2〜12ミクロン、基板用振動子3aの振幅を3〜20ミクロンで実験を行った。振動ヘッド用振動子2cの振幅は、基板用振動子3aの振幅より大きくするためには、振動の周波数を低くする必要があり、エネルギー効率が悪くなるとともに良好な圧接強度が得られ難くなる。振動ヘッド用振動子2cの振幅は、基板用振動子3aの振幅の1/1.2〜1/4倍が好ましい。より好ましくは、1/1.5〜1/2.5倍である。
【0063】
振動ホーン2aの周波数を40kHzとした場合、振動ホーン2aの振幅は約3ミクロンであり、ICチップ12の振幅は、振動ホーン2aに対して約6〜7割程度に減衰した約1.8〜2ミクロンであった。一方、振動ホーン2aの周波数を60kHzとした場合、振動ホーン2aの振幅は約1ミクロンであり、ICチップ12の振幅は、振動ホーン2aに対して約2割程度に減衰した約0.2ミクロンであった。従って、振動ホーン2aの周波数を約40kHzとすると、振動ホーン2aの周波数を約60kHzとした場合に比べて、振動ホーン2aの振幅が大きく、かつICチップ12に伝わる振動の減衰も小さくなり、ICチップ12の接合部に与えられるエネルギーのロスが小さくなる。
【0064】
各振動子2c,3aの励振開始とICチップ12の押圧開始のタイミングは、各振動子2c,3aの励振開始がICチップ12の押圧開始より早くても遅くても良い。より好ましい条件は、各振動子2c,3aの励振開始とICチップ12の押圧開始が同時である。
【0065】
図7は、COFテープ11の厚さと実用性との関係を示す。使用したCOFテープ11は、厚さが40ミクロンのポリイミド樹脂である。圧接強度が実用に耐える程度に高い場合は○、低い場合は×で、中間の場合△で示してある。同様に、テープ強度が実用に耐える場合○、耐えない場合×で、中間の場合△で示してある。製品の評価は、製品として合格する場合○、不合格の場合×で、中間の場合△で示している。好ましいCOFテープ11の厚さは、10〜200ミクロンである。より好ましいCOFテープ11の厚さは、20〜70ミクロンである。
【0066】
図8は、ボンディング装置1における、電子部品用振動ヘッド2の先端部の底面に取り付けられたICチップ12を、COFテープ11に対して水平方向の位置決めするための位置合わせ機構25を構成する主な要素のブロック図である。
【0067】
図8に示すように、位置合わせ機構25は、X軸テーブル26と、Y軸テーブル27と、カメラユニット17と、リング照明29と、装置コントローラ30と、モータドライバ31と、画像処理装置32と、フラッシュ照明制御機構33とを有している。この位置合わせ機構25は、ICチップ12のCOFテープ11に対する位置合わせを行い、このICチップ12が吸着保持されている振動ホーン2aをX軸方向およびY軸方向に移動する。
【0068】
X軸テーブル26は、振動ホーン2aのX軸方向への駆動を制御するためのものであり、振動ホーン2aのX軸方向の位置を検出するエンコーダを有している。このX軸テーブル26は、振動ホーン2aのX軸方向における位置データを装置コントローラ30、モータドライバ31および画像処理装置32に常時送る。
【0069】
Y軸テーブル27は、振動ホーン2aのY軸方向への駆動を制御するためのものであり、振動ホーン2aをY軸方向の位置を検出するエンコーダを有している。このY軸テーブル27は、振動ホーン2aのY軸方向における位置データを装置コントローラ30、モータドライバ31および画像処理装置32に常時送る。
【0070】
装置コントローラ30は、X軸テーブル26、Y軸テーブル27、モータドライバ31、画像処理装置32、フラッシュ照明制御機構33の動作を制御する。装置コントローラ30は、X軸テーブル26およびY軸テーブル27から常時送られてくる位置データと、画像処理装置32から送られてくる画像データとに基づいて、モータドライバ31、画像処理装置32およびフラッシュ照明制御機構33の動作制御を行う。また、装置コントローラ30は、位置データを定期的にスキャンして間欠的に読み込んでも良い。
【0071】
装置コントローラ30は、X軸テーブル26およびY軸テーブル27からの位置データに基づき、ICチップ12がCOFテープ11の水平方向における所定位置の上方に接近したことを認識すると、画像処理装置32へ画像を取り込む旨の指令信号を送る。同時に、装置コントローラ30は、フラッシュ照明制御機構33に対して、フラッシュ照明を照射する旨の指令信号を送る。
【0072】
モータドライバ31は、装置コントローラ30の制御により、振動ホーン2aをX軸方向およびY軸方向に駆動させる。画像処理装置32は、装置コントローラ30の制御により、カメラユニット17で撮影している映像を画像処理する。この画像処理装置32は、カメラユニット17から画像データを受け取ると共に、X軸テーブル26およびY軸テーブル27から位置データを受け取る。そして、装置コントローラ30からの指令信号を受け取り、カメラユニット17の撮像動作を制御すると共に、同時のタイミングでフラッシュ照明制御機構33にフラッシュ照明動作を開始させる開始信号を送る。フラッシュ照明制御機構33は、画像処理装置32および装置コントローラ30から2つの指令信号を受け取ると、リング照明29を動作させてフラッシュ照明を行う。
【0073】
図5に記載した位置合わせ方法は、上述したICチップ12等の電子部品と、それを実装するCOFテープ11等の樹脂基板との位置合わせ精度の向上とタクト時間の短縮を可能とするものである。対象となる基板は、フレキシブルな樹脂基板に限定されず、剛性の高い樹脂テープ、樹脂基板及びセラミックス基板に適応できる。更に、図5において2つの振動子2c,3aを用いた例を示したが、図5に記載した位置合わせ方法は、振動子が1個の場合にも適用できることも自明である。
【0074】
また、図1と図8に記載された構成要素の一部からなるボンディング装置で、本発明のボンディング方法を用いる装置も本発明が適応できる。更に、本発明ななるボンディング方法は、この方法を用いて製造されたCOF製品やTCPにも適応ができることも明らかである。
【0075】
【発明の効果】
本発明のボンディング方法によれば、フレキシブルな樹脂基板にICチップ等の電子部品を高強度に圧接接合することができる。また、フレキシブルなCOFテープにICチップ等の電子部品を圧接接合を可能とし、信頼性の高いCOF実装方式により液晶モジュールを工業的に提供することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】ボンディング装置の主要構成要素の正面図である。
【図2】COFテープと基板押え板との関係を示す図である。
【図3】電子部品とCOFテープとを位置合わせする工程を説明するための図である。
【図4】カメラユニットの図で、(a)は、平面図で、(b)は側面図で、(c)は正面図である。
【図5】ICチップとCOFテープとの位置合わせ方法に関するフローチャート図である。
【図6】ICチップとCOFテープとを圧接接合する製造方法に関するフローチャート図である。
【図7】フレキシブル基板の厚さと、圧接強度とテープ強度と製品評価との関係を示した図である。
【図8】位置決め駆動機構のブロック図である。
【符号の説明】
1 ボンディング装置
2 電子部品用振動ヘッド
2a 振動ホーン
2b 振動ヘッド圧接部
2c 振動ヘッド用振動子
3 基板用振動ヘッド
3a 基板用振動子
4 断熱層
5 基板加熱部
6 基板搭載テーブル(基板搭載台)
7 ヒータ
8 温度センサ
9 真空吸着孔
10 真空パイプ
11 COFテープ(樹脂基板)
12 ICチップ(電子部品)
13 基板押え板
14 開口
15 切り欠き
16 電気接続端子部
17 カメラユニット
18 光学系
19 撮像部
20 カメラ開口
21 プリズム
22 ミラー
23,24 CCD
25 位置合わせ機構
26 Xテーブル
27 Yテーブル
29 リング照明
30 装置コントローラ
31 モータドライバ
32 画像処理装置
33 フラッシュ照明制御機構
[0001]
TECHNICAL FIELD OF THE INVENTION
The present invention relates to a bonding method for press-fitting an electronic component to a flexible plastic substrate.
[0002]
[Prior art]
2. Description of the Related Art Conventionally, devices that apply vibration to join electronic components to a ceramic substrate have been widely used. The number of transducers used in these devices is usually one. The ceramic substrate is hard and hardly deforms even when subjected to vibration. Therefore, if the ceramic substrate is physically fixed, it does not move following the vibration of the electronic component. As a result, relative movement occurs between the electronic component and the ceramic substrate, and good frictional joining can be achieved. However, when there is only one vibrator, the vibration direction becomes one, so that there is a disadvantage that the shape of the joint becomes an ellipse long in the vibration direction. As a technique for solving this drawback, a technique in which two vibrators are used to make the vibration directions two directions is disclosed in Japanese Patent Application Laid-Open No. H11-284028.
[0003]
Japanese Patent Application Laid-Open No. H11-284028 relates to a bonding method and an apparatus for flip-chip bonding an electronic component such as a SAW element, and relates to a gold bump formed on a ceramic substrate and an electronic component such as a SAW element. A technique is disclosed in which a pressed gold bump is pressed while being heated. The configuration has a first vibrator that applies vibration to the ceramic substrate and a second vibrator that applies vibration to the electronic component. By applying ultrasonic waves from a plurality of directions using these two vibrators, The present invention is characterized in that the shape of the joining portion is made to be more circular by preventing the shape from becoming elongated. However, JP-A-11-284028 does not disclose a technique for joining an electronic component to a flexible resin substrate.
[0004]
On the other hand, for electronic products, TCP (Tape Carrier Package), which is easy to make a package thin, is frequently used in order to reduce the thickness. As a TCP manufacturing method, there are a TAB (Tape Automated Bonding) method and a COF (Chip On Flexible Circuit Board or Chip On Film) method. Above all, the COF method is frequently used for flip chip mounting. However, since the film on which the IC chip is mounted (synonymous with tape) is flexible, it has not been possible to press and join electronic components such as IC chips. For this reason, the method of joining an electronic component to a tape by the COF method includes soldering, Au-Sn, anisotropic conductive film (ACF), anisotropic conductive paste (ACP), and an NCP (non-conductive paste) for NCP (non-conductive paste). ing.
[0005]
[Problems to be solved by the invention]
Since the flexible resin substrate is a soft material, it has a problem that it is easily deformed when subjected to vibration. In other words, when the electronic component is to be fixed to the resin substrate, the portion where the resin substrate is in contact with the electronic component moves following the vibration of the vibrator even if the periphery thereof is pressed by the pressing mechanism. I will. Therefore, the relative movement (friction) between the surface of the electronic component and the surface of the resin substrate pressed against the electronic component is reduced by half. In particular, in the case of a vibration mode in which the frequency of vibration is high and the amplitude is as small as several tens of microns or less, this tendency becomes strong.
[0006]
For this reason, in the conventional method having one vibrator, even if the electronic component is vibration-pressed to the resin substrate, the bonding strength is extremely low and cannot be put to practical use. Further, the method of using two vibrators and vibrating both the electronic component and the resin substrate has a higher pressure contact strength as compared with the case of one vibrator, but has large variations and is not practical. For this reason, the method of joining an electronic component and a resin substrate by pressure welding has not been put to practical use.
[0007]
In addition, the various bonding methods described above have a problem that the bonding strength and the reliability of the quality are inferior to the bonding by pressure welding. For example, in the Au-Sn junction method, the solid-phase diffusion temperature is high and the thermal stress is large, so that the combination of target components that can be mounted is greatly restricted. As described above, when the conventional pressure welding method of applying vibration is applied to the COF method, there is a problem in the variation of the bonding strength, and it has not been practical.
[0008]
The present inventor uses a flexible resin substrate for thinning, and in order to find a method that does not cause variation even when an electronic component is fixed to this resin substrate by pressure welding, pressure bonding when two vibrators are used. The variation in strength was analyzed and studied. As a result, they have found that there is a certain law between the press-contact strength and the frequencies of the two vibrators. Furthermore, it has been found that there is a certain law between the pressure contact strength and the amplitude of each of the two vibrators with respect to the crimp strength. The present invention has been made based on this new finding.
[0009]
That is, an object of the present invention is to provide a method for pressure-bonding an electronic component such as an IC chip to a flexible tape or a flexible substrate with high bonding strength in view of the various problems described above.
[0010]
[Means for Solving the Problems]
In order to achieve the above object, the present invention provides a bonding method for press-fitting an electronic component held by a vibrating head to a resin substrate, wherein the electronic component is fixed to the vibrating head, and the electronic component is moved to a first predetermined position. Moving the resin substrate to a second predetermined position, holding the resin substrate on a substrate mounting table, bringing the electronic component close to the resin substrate, and adjusting the frequency of vibration of the vibrating head vibrator. Exciting the vibrating head vibrator and the substrate vibrator to bring the electronic component into pressure contact with the resin substrate under the condition that the frequency is higher than the vibration frequency of the substrate vibrator, and separating the electronic component from the vibrating head. And a step of separating the resin substrate fixed to the substrate mounting table from the substrate mounting table.
[0011]
When the frequency of the vibration applied to the resin substrate from the substrate oscillator decreases, the vibration efficiently reaches the press-contact surface between the resin substrate and the electronic component. On the other hand, the vibration of the electronic component vibrating head has a limit, but even at a high frequency, efficiently reaches the pressure contact surface between the resin substrate and the electronic component. In order to apply a large vibration energy to the pressure contact surface between the resin substrate and the electronic component, it is extremely effective to make the vibration frequency of the vibration head higher than that of the substrate vibrator.
[0012]
Also, the present invention provides a bonding method for pressing and joining an electronic component held by a vibration head to a resin substrate, wherein the step of holding the electronic component on the vibration head, the step of moving the electronic component to a first predetermined position, Sending the board to the second predetermined position, fixing the resin board to the board mounting table, bringing the electronic component close to the resin board, and adjusting the amplitude of the vibration of the board vibrator to the vibration of the vibrating head vibrator A step of exciting the electronic component and the resin substrate by pressing under a condition that the amplitude is larger than the amplitude of the electronic component, a step of separating the electronic component from the vibration head, and a step of mounting the resin substrate adsorbed and fixed to the substrate mounting table. And a step of separating from the substrate.
[0013]
Polyimide resins and PET resins are frequently used for COF tapes, and the attenuation of vibration is significantly greater than that of ceramics. Further, since resin is easily deformed, transmission efficiency is poor not only in longitudinal vibration but also in horizontal vibration. Applying a well-balanced vibration to the joint surface between the resin substrate and the vibration head by making the amplitude of the substrate vibrator that vibrates resin with large vibration attenuation and poor transmission efficiency larger than that of the vibration head Can be.
[0014]
Also, when the resin is thick like a vibration isolator, vibration is difficult to be transmitted, but when the thickness of the resin substrate is reduced, the vibration is transmitted to some extent. When the thickness of the resin substrate is 10 to 200 microns, the vibration is sufficiently transmitted to the pressure contact surface between the resin substrate and the electronic component, so that the pressure contact strength can be increased. Further, when the distance between the inner side of the square of the opening of the board holding plate and the electronic component is 0.5 to 5 mm, the vibration is sufficiently transmitted to the press contact surface between the resin substrate and the electronic component, so that the press contact strength is increased. can do.
[0015]
Further, by employing a TAB tape or a COF tape for the resin substrate, it becomes possible to manufacture TCP.
[0016]
In addition, by heating at least one of the electronic component and the resin substrate, the pressure contact strength between the electronic component and the resin substrate can be further increased.
[0017]
BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION
Hereinafter, embodiments of a bonding method according to the present invention will be described in detail with reference to the drawings.
[0018]
FIG. 1 is a diagram showing main components of a bonding apparatus that performs the bonding method of the present invention. In the figure, reference numeral 1 denotes a bonding device, 2 denotes a vibration head for an electronic component, 2a denotes a vibration horn, 2b denotes a vibration head press-contact portion, 2c denotes a vibration head vibrator, 3 denotes a substrate vibration head, and 3a denotes a substrate vibrator. 4 is a heat insulating layer, 5 is a substrate heating unit, 6 is a substrate mounting table, 7 is a heater, 8 is a temperature sensor, 9 is a vacuum suction hole, 10 is a vacuum pipe, 11 is a COF tape which is a flexible resin substrate, 12 Denotes an IC chip serving as an electronic component, and 13 denotes a board holding plate.
[0019]
The bonding apparatus 1 has a structure in which an IC chip 12 and a COF tape 11 are pressed against each other by an electronic component vibrating head 2 which is a vibrating head provided vertically and a vibrator head 3 for a substrate. The electronic component vibrating head 2 includes a vibrating horn 2a, a vibrating head press-contact portion 2b provided on the bottom surface of the tip of the vibrating horn 2a, and a vibrating head vibrator 2c made of a piezoelectric element. The vibrating head press contact portion 2b is made of a super hard material, but is not particularly limited to this. This is because, when the surface of the vibrating head press contact portion 2b is coated with titanium nitride, carbon titanium, or the like, the durability is significantly improved regardless of the base material.
[0020]
The vibration of the vibrating head vibrator 2c propagates through the vibrating horn 2a and converges on the vibrating head pressing portion 2b. The vibration horn 2a is mounted at an angle with respect to the horizontal plane in order to make the vertical component of the vibration of the vibration head pressure contact portion 2b zero. As a result, the vibrating head press contact portion 2b vibrates only in the horizontal direction parallel to the COF tape 11. The vibration frequency is 10 to 60 KHz. A drive mechanism for moving the vibration head 2 for electronic components up and down, left and right is provided for suction and positioning of the IC chip 12, escape from the camera unit 17 and escape from the COF tape 11.
[0021]
Similarly to the vacuum suction holes 9 provided in the substrate mounting table 6, the vibration horn pressure contact portion 2b is provided with suction holes having a diameter of 0.8 mm for vacuum-sucking the IC chip 12 (not shown). . Further, a heater may be embedded in the vibration horn 2a as in the case of the substrate heating unit 5.
[0022]
The substrate vibration head 3 includes a function of applying the vibration excited by the substrate vibrator 3a to the COF tape 11, a function of adsorbing and holding the COF tape 11, and a function of heating the COF tape 11. I have. A giant magnetostrictive element that expands and contracts in response to an externally applied magnetic field is used as the substrate vibrator 3a. The vibration frequency is 10 to 30 KHz. Giant magnetostrictive materials are sensitive to heat. Therefore, the heat insulating layer 4 is provided between the substrate vibrator 3 a and the heating unit 5 to prevent the substrate vibrator 3 a from being overheated by the heat generated in the substrate heating unit 5. Note that a giant magnetostrictive element is an element that excites high-frequency vibrations like a piezoelectric element, and has excellent characteristics in a low frequency range as compared with a piezoelectric element. On the other hand, in the bonding technology area for electronic components, a giant magnetostrictive element can be replaced by a piezoelectric element, and vice versa.
[0023]
The heat insulating layer 4 is mainly made of a porous ceramic. Porous ceramics are heat insulating materials that are superior in overall characteristics such as high temperature resistance, low vibration damping characteristics and relatively high strength characteristics as compared with other materials.
[0024]
The substrate heating section 5 is provided between the heat insulating layer 4 and the substrate mounting table 6. The substrate heating section 5 is provided with a heater 7, a temperature sensor 8, and a vacuum pipe 10 connected to a vacuum source. The heat from the substrate heating section 5 is designed to be hardly conducted to portions other than the substrate mounting table 6. The heater 7 is a sheath heater, and the temperature sensor 8 is a thermocouple.
[0025]
The board mounting table 6 has a function of receiving a load at the time of pressing and a function of transmitting heat to the COF tape 11 in addition to a function of mounting and adsorbing and fixing the COF tape 11 serving as a resin substrate.
[0026]
The vacuum suction hole 9 has a square shape surrounding the IC chip 12, and is indicated by two grooves on both sides in FIG.
[0027]
The substrate vibration head 3 can be moved vertically so that the substrate mounting table 6 does not come into contact with the COF tape 11 when the COF tape 11 is fed.
[0028]
As shown in FIG. 2, a square opening 14 is provided in the center of the substrate holding plate 13. The opening 14 is designed so that the bottom surface of the distal end portion of the vibration head 2 for electronic components and the vibration head pressure contact portion 2b can enter. The outer periphery of the opening 14 has a large surface to prevent contact with the substrate vibration head 3.
[0029]
Further, when the COF tape 11 is fed, the board holding plate 13 can move in a vertical direction so as not to contact and damage the electrical connection terminal portions 16 (see FIG. 3) formed on the COF tape 11. It has become. Further, when the COF tape 11 is pressed and fixed by the substrate pressing plate 13, the electric connection terminal portion 16 formed on the COF tape 11 and the IC chip 12 pressed and joined to the COF tape 11 are released.
[0030]
The COF tape 11 is fixed to the substrate mounting table 6 by the vacuum suction holes 9 and the substrate holding plate 13. On the other hand, the press-contact surface (the upper surface in FIG. 1) of the COF tape 11 is separated from the substrate mounting table 6 by the thickness of the COF tape 11. The COF tape 11 is flexible, and even if the COF tape 11 is fixed by the substrate pressing plate 13, the press-contact surface of the COF tape 11 cannot be completely fixed like a hard ceramic substrate.
[0031]
Further, in the COF tape 11, the degree of fixing of the press contact surface largely depends on the distance between the substrate pressing plate 13 and the IC chip 12 in addition to the thickness of the tape. The function of the vacuum suction hole 9 is mainly to fix the COF tape 11. The COF tape 11 is also fixed by suction through the vacuum suction holes 9, but mainly the holding of the substrate holding plate 13 fixes the COF tape 11. 1 and 2, the distance between the substrate holding plate 13 and the IC chip 12 is shown large for easy viewing, but this distance is made as small as possible within a range not in contact with the vibration head 2 for electronic components. Is preferred. The distance from the end of the opening 14 to the IC chip 12 to be pressed is 1.5 mm. Preferably it is 0.5-5 mm, more preferably 0.8-2 mm.
[0032]
Further, the vibration direction of the vibrating head press contact portion 2b is orthogonal to the vibration direction of the substrate mounting table 6. When orthogonal, the two vibrations will not cancel the amplitude. Furthermore, by making the frequencies of the vibrations different, the combined vector of the two vibrations takes not only a fixed direction but also a random direction.
[0033]
When the vibration frequency of the vibrating head vibrator 2c is 40 KHz, the amplitude of the vibration horn 2a is about 3 microns, the amplitude of the IC chip 12 is 1.8 microns, and the amplitude attenuates to about 60%. When the vibration frequency of the vibrating head vibrator 2c is 60 KHz, the amplitude of the vibration horn 2a is about 1 micron, the amplitude of the IC chip 12 is 0.2 micron, and the amplitude attenuates to about 20%. As the vibration frequency increases, the vibration energy increases, but the transmission loss increases. Therefore, the vibration frequency is determined in consideration of vibration attenuation.
[0034]
FIG. 2 is a plan view showing the relationship between the COF tape 11 and the substrate holding plate 13. Perforations for feeding are drilled at both ends of the COF tape 11, and a wiring (not shown) and an electrical connection terminal 16 are formed at the center. The COF tape 11 is fed in the direction of the arrow in FIG. The substrate holding plate 13 is provided with one opening 14 and two notches 15 (one side of the opening is open). The opening 14 is for receiving the vibrating head press contact portion 2b, and the plane size of the opening 14 is preferably closer to the plane size of the IC chip 12. Further, the notch 15 is a relief portion for preventing the electric connection terminal portion 16 provided on the COF tape 11 from contacting the IC chip 12. Since the COF tape 11 is flexible, the substrate holding plate 13 is not limited to the periphery of the IC chip 12 to be pressed and is 2 to 7 times the mounting pitch of the IC chip 12 so that the COF tape 11 can be stably held down. It has a shape that can be widely held down.
[0035]
FIG. 3 shows a camera unit 17 that picks up an image of the IC chip 12 that has been moved to a predetermined position after being attracted to the vibrating head pressure contact portion 2b and the electric connection terminal portion 16 of the COF tape 11 that has been sent to the predetermined position. This is shown in order to explain the step of performing the positioning. The IC chip 12 is attracted to the vibration head press contact portion 2b disposed at the bottom of the tip of the vibration horn 2a.
[0036]
A ring illumination 29 (see FIG. 8) is provided around the opening 14 of the camera unit 17, and the IC chip 12 is imaged by the camera unit 17 by receiving the light. Flash imaging can be performed using the ring illumination 29. Similarly, the camera unit 17 captures an image of the unconnected electrical connection terminal 16 provided on the COF tape 11. The COF tape 11 shows the unconnected electrical connection terminals 16 and the IC chip 12 pressed into contact with the COF tape 11, and an arrow is shown as the feed direction of the COF tape 11.
[0037]
4A and 4B are diagrams illustrating the configuration of the camera unit 17, wherein FIG. 4A is a plan view, FIG. 4B is a side view, and FIG. 4C is a front view. The camera unit 17 is composed of two camera units so that upper and lower images can be taken. The camera unit 17 includes an optical system 18 and an imaging unit 19. Further, the optical system 18 is divided into two systems, one of which is obtained by capturing an image of the electric connection terminal section 16 on the COF tape 11 from the camera opening 20, refracting the image by 90 degrees by the prism 21, and further refracting the image by 90 degrees by the mirror 22. Bend and input to CCD23.
[0038]
The imaging unit 19 converts the image input to the CCD 23 into an electric signal, and transmits the signal to the image processing device 32 (see FIG. 8). Arrows indicate the traveling direction of light. Similarly, the other optical system 18 captures the image of the IC chip 12 adsorbed on the vibrating head press-contact portion 2 b from the camera opening 20, bends it 90 degrees by the prism 21, further bends it 90 degrees by the mirror 22, and inputs it to the CCD 24. . Then, the imaging section 19 converts the image input to the CCD 24 into an electric signal, and transmits the signal to the image processing device 32. FIG. 4B shows the upper and lower camera apertures 20 and the prism 21. The upper and lower images are fetched from the respective camera apertures 20, transmitted by the optical system 18 arranged on the same plane, and converted into digital signals by the CCDs (23, 24).
[0039]
On the other hand, the electronic component vibrating head 2 is aligned with the COF tape 11, and is lowered to press the COF tape 11 after the camera unit 17 is retracted. Normally, when the electronic component vibration head 2 is moved in the vertical direction after the positioning with the COF tape 11, the positioning accuracy is reduced. In order to prevent this reduction in alignment accuracy, it is effective to shorten the moving distance. In the present embodiment, the thickness near the camera opening 20 is reduced. As means for reducing the thickness of the camera unit 17 in the vicinity of the camera opening 20, two optical systems 18 may be arranged on the same plane, or the optical system 18 and the image pickup unit 19 may be separated so that the optical system 18 is imaged. It is preferable to make it thinner than the part 19.
[0040]
Note that a position mark (alignment mark) is used for an image for positioning the COF tape 11. A circuit wiring pattern is used for positioning the IC chip 12. When a circuit board is bonded to the COF tape 11 instead of the IC chip 12, a position mark is used. The shape of the position mark is a circle having a diameter of 0.2 mm. Other shapes such as a square and an X mark may be used, and the dimension is preferably 0.1 to 5 mm.
[0041]
FIG. 5 is a flowchart relating to the alignment between the electronic component (here, the IC chip 12) and the electrical connection terminal portion 16 on the resin substrate (here, the COF tape 11).
[0042]
First, the step of fixing the IC chip 12 to the electronic component vibration head 2 is started. That is, the electronic component vibrating head 2 is moved onto a tray (not shown) in which the IC chip 12 is placed, and the IC chip 12 is suction-fixed to the vibrating head press-contact portion 2b (step 1). The tray may be a wafer substrate backed by a tape and cut.
[0043]
Next, the process proceeds to a step of moving the IC chip 12 to the first predetermined position. That is, in order to move the IC chip 12 to the pressure contact position (first predetermined position) with the COF tape 11, the electronic component vibration head 2 to which the IC chip 12 is fixed by suction is moved (step 2).
[0044]
Next, the process proceeds to the step of feeding the COF tape 11 to the second predetermined position. That is, the COF tape 11 is fed in a free state where the COF tape 11 is separated from the substrate mounting table 6 and the substrate holding plate 13, and the COF tape 11 is moved to a pressure contact position (second predetermined position) with the IC chip 12 (step). 3).
[0045]
Next, the process proceeds to a step of holding the COF tape 11 on the substrate mounting table 6. That is, the substrate mounting table 6 is raised, and the COF tape 11 is sucked to the substrate mounting table 6 using the vacuum suction holes 9 (step 4). In addition, the board holding plate 13 is lowered to fix the COF tape 11 between the board mounting table 6 and the board holding plate 13 (step 5). Thereby, the COF tape 11 is held on the substrate mounting table 6.
[0046]
Next, the process proceeds to the step of aligning the IC chip 12 and the COF tape 11. First, the camera unit 17 is moved to a position where the position mark can be imaged (step 6). Then, an image of the position mark of the COF tape 11 and an image of the position mark of the IC chip 12 are simultaneously picked up and taken into the camera unit 17 (step 7).
[0047]
Next, the coordinates of the position mark on the COF tape 11 and the coordinates of the position mark on the IC chip 12 are calculated (step 8). If the error of the coordinates related to the position mark of the COF tape 11 or the position mark of the IC chip 12 is out of the predetermined range (YES in Step 9), the electronic component vibrating head 2 is moved to perform the alignment (Step 10). If the error in the coordinates of the captured position mark is within the predetermined range (NO in step 9), the electronic component vibrating head 2 is not moved, and the process proceeds to the next step.
[0048]
In this embodiment, since the image of the position mark on the COF tape 11 is directly captured (without passing through the tape or the transparent substrate), the position reading accuracy is not reduced due to the optical distortion of the transparent substrate. Position detection position accuracy can be improved.
[0049]
When the coordinates of the two components are measured separately, the errors in the coordinates from the respective origins are added to the alignment accuracy of the two components. On the other hand, as described above, if the positions of two components are measured at the same time, only the relationship between the two measurement positions is necessary, and the error of the coordinates from the origin of the two components has no relationship. In other words, even when the camera unit 17 is moving, the alignment data of the two parts can be taken in with high accuracy. Such simultaneous imaging is an effective method for open control, which is a position control method that does not detect residual vibration.
[0050]
The camera unit 17 moves to the imaging position of the position mark for each alignment and images the position mark. When the IC chip 12 is pressed against the COF tape 11, the camera unit 17 is retracted from the imaging position. It is difficult to completely stop the camera unit 17 in a short time, and residual vibration remains. When the residual vibration is somewhat large, if the position mark of the IC chip 12 and the position mark on the COF tape 11 are separately imaged, the coordinates of the measured and calculated position mark include the influence of the residual vibration. However, the above-described problem does not occur if the IC chip 12 is simultaneously imaged with reference to the position mark of the COF tape 11. When the position mark on the IC chip 12 and the position mark on the COF tape 11 are simultaneously imaged by the same camera unit 17, the residual vibration of the camera unit 17 has almost no problem. As described above, when the method according to the present embodiment is employed, the accuracy of image alignment is significantly improved. Also, in step 6 described above, by simultaneously capturing the upper and lower images, the time for waiting for a decrease in residual vibration for capturing the image can be shortened, resulting in a reduction in tact time.
[0051]
FIG. 6 is a flowchart relating to a method of bonding the bump electrodes of the IC chip 12 to the electric connection terminals 16 on the COF tape 11.
[0052]
Steps 1 to 10 are almost the same as the flowchart relating to the alignment between the IC chip 12 and the COF tape 11. In this case, the simultaneous imaging in step 6 is not an essential requirement.
[0053]
Hereinafter, the steps after the alignment will be described with reference to FIG.
[0054]
First, the camera unit 17 for positioning is retracted (step 11). At this time, the temperature of the vibration horn 2a is 300 ° C. The temperature of the substrate heating section 5 is 200 ° C. In addition, heating may be performed only by the substrate heating unit 5.
[0055]
Next, a step of lowering the electronic component vibration head 2 to bring the IC chip 12 close to the COF tape 11 is performed (step 12).
[0056]
Next, under the condition that the vibration frequency of the vibrating head vibrator 2c is higher than the vibration frequency of the substrate vibrator 3a, the vibrating head vibrator 2c and the substrate vibrator 3a are excited to cause the IC chip 12 to vibrate. And pressing the COF tape 11 against the COF tape 11. More specifically, under the condition that the frequency of the vibrating head vibrator 2c is 40 KHz and the frequency of the substrate vibrator 3a is 18 KHz, the vibrating head vibrator 2c and the substrate vibrator 3a are excited (step 13). ). At this time, the amplitude of the vibrating head press contact portion 2b is 8 microns, and the amplitude of the substrate mounting table 6 is 14 microns. Further, the IC chip 12 is pressed against the electric connection terminal 16 of the COF tape 11 for 0.5 seconds (step 14). The dimensions of the IC chip 12 are 2 × 10 mm, the thickness is 0.4 mm, and the number of terminals (bumps) is 40. The pressure contact load is approximately 100 grams / bump, and the total is 40N.
[0057]
Next, a step of separating the IC chip 12 from the vibration head 2 is performed. Specifically, the vacuum holding the IC chip 12 is broken to separate the vibrating head press-contact portion 2b from the IC chip 12 (step 15).
[0058]
Next, a step of separating the COF tape 11 fixed to the substrate mounting table 6 from the substrate mounting table 6 is performed. More specifically, the vacuum break sucking the COF tape 11 and the lifting of the substrate holding plate 13 are performed to make the COF tape 11 free (step 16). In addition, the electronic component vibrating head 2 is moved to a position where the IC chip 12 is picked up.
[0059]
Next, the substrate mounting table 6 is lowered (step 17). Next, the COF tape 11 is fed by one pitch, and the next bonding operation is started (step 18).
[0060]
In this embodiment, the frequency of the vibrating head vibrator 2c is higher than the frequency of the substrate vibrator 3a. The amplitude of the vibration is opposite to the frequency, and the amplitude of the substrate oscillator 3a is larger than the amplitude of the oscillation head oscillator 2c.
[0061]
When the frequency of the vibrating head vibrator 2c is lower than the frequency of the substrate vibrator 3a, the energy efficiency is deteriorated and it is difficult to obtain a good pressure contact strength. This is because the higher the frequency applied to the COF tape 11, the greater the loss transmitted to the press-contact surface of the COF tape 11. On the other hand, since the amplitude of the IC chip 12 is small, it is better to increase the energy by increasing the frequency to some extent. For this reason, the frequency of the vibrating head vibrator 2c is preferably 1.2 to 4 times the frequency of the substrate vibrator 3a. More preferably, it is 1.5 to 2.5 times.
[0062]
In the present invention, experiments were performed with the vibration head vibrator 2c having an amplitude of 2 to 12 microns and the substrate vibrator 3a having an amplitude of 3 to 20 microns. In order to make the amplitude of the vibrating head vibrator 2c larger than the amplitude of the substrate vibrator 3a, it is necessary to lower the frequency of the vibration, which degrades energy efficiency and makes it difficult to obtain good pressure contact strength. The amplitude of the vibrating head vibrator 2c is preferably 1 / 1.2 to 1/4 times the amplitude of the substrate vibrator 3a. More preferably, it is 1 / 1.5 to 1 / 2.5.
[0063]
When the frequency of the vibration horn 2a is 40 kHz, the amplitude of the vibration horn 2a is about 3 microns, and the amplitude of the IC chip 12 is about 1.8 to 70%, which is attenuated to about 60 to 70% of the vibration horn 2a. 2 microns. On the other hand, when the frequency of the vibration horn 2a is 60 kHz, the amplitude of the vibration horn 2a is about 1 micron, and the amplitude of the IC chip 12 is about 0.2 micron which is attenuated by about 20% with respect to the vibration horn 2a. Met. Accordingly, when the frequency of the vibration horn 2a is about 40 kHz, the amplitude of the vibration horn 2a is larger and the attenuation of the vibration transmitted to the IC chip 12 is smaller than when the frequency of the vibration horn 2a is about 60 kHz. The energy loss applied to the junction of the chip 12 is reduced.
[0064]
The timing of the start of the excitation of the vibrators 2c and 3a and the start of the pressing of the IC chip 12 may be earlier or later than the start of the excitation of the vibrators 2c and 3a. More preferably, the start of excitation of each of the vibrators 2c and 3a and the start of pressing of the IC chip 12 are simultaneous.
[0065]
FIG. 7 shows the relationship between the thickness of the COF tape 11 and practicality. The used COF tape 11 is a polyimide resin having a thickness of 40 microns. When the pressure contact strength is high enough to withstand practical use, it is indicated by ○, when it is low, it is indicated by x, and when it is intermediate, it is indicated by △. Similarly, when the tape strength can withstand practical use, it is indicated by ○, when the tape strength cannot be endured, ×, and when the tape strength is intermediate, Δ is indicated. The evaluation of the product is indicated by ○ when the product passes, × when the product fails, and Δ when the product is intermediate. The preferred thickness of the COF tape 11 is 10 to 200 microns. A more preferred thickness of the COF tape 11 is 20 to 70 microns.
[0066]
FIG. 8 mainly shows a positioning mechanism 25 for horizontally positioning the IC chip 12 attached to the bottom surface of the tip of the electronic component vibration head 2 with respect to the COF tape 11 in the bonding apparatus 1. FIG. 4 is a block diagram of various elements.
[0067]
As shown in FIG. 8, the positioning mechanism 25 includes an X-axis table 26, a Y-axis table 27, a camera unit 17, a ring illumination 29, a device controller 30, a motor driver 31, and an image processing device 32. , A flash illumination control mechanism 33. The positioning mechanism 25 positions the IC chip 12 with respect to the COF tape 11, and moves the vibration horn 2a on which the IC chip 12 is sucked and held in the X-axis direction and the Y-axis direction.
[0068]
The X-axis table 26 is for controlling the driving of the vibration horn 2a in the X-axis direction, and has an encoder for detecting the position of the vibration horn 2a in the X-axis direction. The X-axis table 26 constantly sends position data of the vibration horn 2a in the X-axis direction to the device controller 30, the motor driver 31, and the image processing device 32.
[0069]
The Y-axis table 27 is for controlling the driving of the vibration horn 2a in the Y-axis direction, and has an encoder for detecting the position of the vibration horn 2a in the Y-axis direction. The Y-axis table 27 constantly sends position data of the vibration horn 2a in the Y-axis direction to the device controller 30, the motor driver 31, and the image processing device 32.
[0070]
The device controller 30 controls the operations of the X-axis table 26, the Y-axis table 27, the motor driver 31, the image processing device 32, and the flash illumination control mechanism 33. The device controller 30 controls the motor driver 31, the image processing device 32, and the flash based on the position data constantly transmitted from the X-axis table 26 and the Y-axis table 27 and the image data transmitted from the image processing device 32. The operation of the illumination control mechanism 33 is controlled. Further, the device controller 30 may periodically scan the position data and read the data intermittently.
[0071]
When the device controller 30 recognizes that the IC chip 12 has approached above a predetermined position in the horizontal direction of the COF tape 11 based on the position data from the X-axis table 26 and the Y-axis table 27, the device controller 30 sends an image to the image processing device 32. Send a command signal to capture At the same time, the device controller 30 sends a command signal to the flash illumination control mechanism 33 to irradiate the flash illumination.
[0072]
The motor driver 31 drives the vibration horn 2a in the X-axis direction and the Y-axis direction under the control of the device controller 30. The image processing device 32 performs image processing on a video image captured by the camera unit 17 under the control of the device controller 30. The image processing device 32 receives image data from the camera unit 17 and receives position data from the X-axis table 26 and the Y-axis table 27. Then, it receives a command signal from the device controller 30, controls the imaging operation of the camera unit 17, and sends a start signal to the flash illumination control mechanism 33 to start the flash illumination operation at the same time. Upon receiving two command signals from the image processing device 32 and the device controller 30, the flash illumination control mechanism 33 operates the ring illumination 29 to perform flash illumination.
[0073]
The positioning method described in FIG. 5 enables the improvement of the positioning accuracy of the electronic component such as the above-described IC chip 12 and the resin substrate such as the COF tape 11 on which the electronic component is mounted, and the shortening of the tact time. is there. The target substrate is not limited to a flexible resin substrate, but can be applied to a highly rigid resin tape, a resin substrate, and a ceramic substrate. Further, FIG. 5 shows an example in which two vibrators 2c and 3a are used, but it is obvious that the alignment method described in FIG. 5 can be applied to a case where there is only one vibrator.
[0074]
The present invention is also applicable to an apparatus using the bonding method of the present invention, which is a bonding apparatus including a part of the components shown in FIGS. Further, it is clear that the bonding method according to the present invention can be applied to COF products and TCP manufactured using this method.
[0075]
【The invention's effect】
According to the bonding method of the present invention, an electronic component such as an IC chip can be pressure-bonded to a flexible resin substrate with high strength. In addition, an electronic component such as an IC chip can be press-welded to a flexible COF tape, and a liquid crystal module can be industrially provided by a highly reliable COF mounting method.
[Brief description of the drawings]
FIG. 1 is a front view of main components of a bonding apparatus.
FIG. 2 is a diagram showing a relationship between a COF tape and a substrate holding plate.
FIG. 3 is a view for explaining a step of aligning an electronic component and a COF tape.
4 (a) is a plan view, FIG. 4 (b) is a side view, and FIG. 4 (c) is a front view.
FIG. 5 is a flowchart illustrating a method for aligning an IC chip and a COF tape.
FIG. 6 is a flowchart illustrating a manufacturing method for press-bonding an IC chip and a COF tape.
FIG. 7 is a diagram showing a relationship among a thickness of a flexible substrate, a press contact strength, a tape strength, and a product evaluation.
FIG. 8 is a block diagram of a positioning drive mechanism.
[Explanation of symbols]
1 Bonding equipment
2 Vibration head for electronic parts
2a Vibrating horn
2b Vibration head pressure contact part
2c Vibrator for vibrating head
3 Vibration head for substrate
3a Substrate vibrator
4 Thermal insulation layer
5 Substrate heating section
6 Board mounting table (board mounting table)
7 heater
8 Temperature sensor
9 Vacuum suction holes
10 Vacuum pipe
11 COF tape (resin substrate)
12 IC chip (electronic parts)
13 Board holding plate
14 opening
15 Notch
16 Electrical connection terminals
17 Camera unit
18 Optical system
19 Imaging unit
20 Camera opening
21 Prism
22 mirror
23, 24 CCD
25 Positioning mechanism
26 X table
27 Y table
29 Ring Light
30 Equipment controller
31 Motor driver
32 Image processing device
33 Flash illumination control mechanism

Claims (5)

振動ヘッドに保持された電子部品を樹脂基板に圧接接合するボンディング方法において、
上記振動ヘッドに上記電子部品を固定する工程と、
上記電子部品を第1所定位置に移動する工程と、
上記樹脂基板を第2所定位置に送る工程と、
上記樹脂基板を基板搭載テーブルに保持する工程と、
上記電子部品を上記樹脂基板に近接させる工程と、
振動ヘッド用振動子の振動の周波数を基板用振動子の振動の周波数より大きい周波数とする条件で、上記振動ヘッド用振動子と基板用振動子とを励振させ上記電子部品と上記樹脂基板とを圧接する工程と、
上記電子部品を上記振動ヘッドから離間させる工程と、
上記基板搭載テーブルに固定されている上記樹脂基板を上記基板搭載テーブルから離間させる工程と
からなることを特徴とするボンディング方法。
In a bonding method of pressing and joining an electronic component held by a vibration head to a resin substrate,
Fixing the electronic component to the vibrating head,
Moving the electronic component to a first predetermined position;
Sending the resin substrate to a second predetermined position;
A step of holding the resin substrate on a substrate mounting table,
Bringing the electronic component close to the resin substrate,
Under the condition that the vibration frequency of the vibration head vibrator is higher than the vibration frequency of the substrate vibrator, the vibrating head vibrator and the substrate vibrator are excited and the electronic component and the resin substrate are separated from each other. Pressure contacting,
A step of separating the electronic component from the vibration head,
Separating the resin substrate fixed to the substrate mounting table from the substrate mounting table.
振動ヘッドに保持された電子部品を樹脂基板に圧接接合するボンディング方法において、
上記振動ヘッドに上記電子部品を保持する工程と、
上記電子部品を第1所定位置に移動する工程と、
上記樹脂基板を第2所定位置に送る工程と、
上記樹脂基板を基板搭載テーブルに固定する工程と、
上記電子部品を上記樹脂基板に近接させる工程と、
基板用振動子の振動の振幅を上記振動ヘッド用振動子の振動の振幅より大きい振幅とする条件で励振させ上記電子部品と上記樹脂基板とを圧接する工程と、
上記電子部品を上記振動ヘッドから離間させる工程と、
上記基板搭載テーブルに吸着・固定されている樹脂基板を上記基板搭載テーブルから離間させる工程と、
からなることを特徴とするボンディング方法。
In a bonding method of pressing and joining an electronic component held by a vibration head to a resin substrate,
Holding the electronic component on the vibrating head,
Moving the electronic component to a first predetermined position;
Sending the resin substrate to a second predetermined position;
Fixing the resin substrate to a substrate mounting table;
Bringing the electronic component close to the resin substrate,
A step of pressing the electronic component and the resin substrate to be excited under the condition that the amplitude of the vibration of the substrate vibrator is larger than the amplitude of the vibration of the vibration head vibrator,
A step of separating the electronic component from the vibration head,
A step of separating the resin substrate adsorbed and fixed to the substrate mounting table from the substrate mounting table,
A bonding method comprising:
前記樹脂基板は、厚みが10から200ミクロンであることを特徴とする請求項1または2記載のボンディング方法。The bonding method according to claim 1, wherein the resin substrate has a thickness of 10 to 200 μm. 前記樹脂基板は、COFテープ又はTABテープであることを特徴とする請求項1から3のいずれか1項記載のボンディング方法。4. The bonding method according to claim 1, wherein the resin substrate is a COF tape or a TAB tape. 5. 前記電子部品と前記樹脂基板の少なくとも1つは、加熱されることを特徴とする請求項1から4のいずれか1項記載のボンディング方法。The bonding method according to claim 1, wherein at least one of the electronic component and the resin substrate is heated.
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2011108362A (en) * 2009-11-12 2011-06-02 Kobe Steel Ltd Negative electrode for lithium ion secondary battery, method for manufacturing the same, and the lithium ion secondary battery
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