JP4628230B2 - 荷電粒子線偏向装置 - Google Patents

荷電粒子線偏向装置 Download PDF

Info

Publication number
JP4628230B2
JP4628230B2 JP2005270367A JP2005270367A JP4628230B2 JP 4628230 B2 JP4628230 B2 JP 4628230B2 JP 2005270367 A JP2005270367 A JP 2005270367A JP 2005270367 A JP2005270367 A JP 2005270367A JP 4628230 B2 JP4628230 B2 JP 4628230B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
coil
deflection
charged particle
detector
adjustment
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP2005270367A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2007080785A (ja
Inventor
隆光 新保
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Jeol Ltd
Original Assignee
Jeol Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Jeol Ltd filed Critical Jeol Ltd
Priority to JP2005270367A priority Critical patent/JP4628230B2/ja
Publication of JP2007080785A publication Critical patent/JP2007080785A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP4628230B2 publication Critical patent/JP4628230B2/ja
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Landscapes

  • Electron Tubes For Measurement (AREA)

Description

本発明は荷電粒子線偏向装置に関する。
質量分析装置等においては、質量の大きさに応じてその軌道が曲げられることから、分子或いは原子の質量を検出することが行われている。図11は荷電粒子線偏向装置の構成とコイルの接続関係を示す図である。図において、(a)は荷電粒子線偏向装置を、(b)はコイルの接続関係を示している。(a)において、A,B,C,Dは偏向コイル、1aは偏向コイルAのコイルを、1bは偏向コイルBのコイルを、1cは偏向コイルCのコイルを、1dは偏向コイルDのコイルをそれぞれ示している。
この構成では、全てのコイルが(b)に示すように直列接続されている。従って、偏向コイルA〜D単独で調整することはできず、4つのコイルA〜Dのコイルの機械的位置と向きを調整することにより、荷電粒子の軌道を修正するようになっている。
従来のこの種の装置としては、基盤に固定されるレンズ13を有するエネルギーフィルタであって、前記レンズは、磁極となる2つのポールピース14,15の間に通路16が形成されるように、2つのスペーサ17,18が挟着され、取り付けネジ19で固定されたものが知られている(例えば特許文献1参照)。また、スリットの開口部中央から電子線がずれた場合、試料等から発生する2次電子の強度変化を基に、そのずれを高精度に補正する技術が知られている(例えば特許文献2参照)
特開平10−125267号公報(段落0006〜0010、図1) 特開2004−171801号公報(段落0028〜0034、図1)
前述した従来の技術では、コイルが直列に接続された荷電粒子軌道偏向装置(図11参照)では、各コイルに流れる電流は個別に制御することはできない。従って、機械的誤差によりずれた軌道を正確に修正しきれない場合がある。荷電粒子軌道偏向装置の一例として図11に示すような4つの偏向用コイルが直列接続された場合について説明する。この装置において、荷電粒子軌道をΩ字状に曲げるためには、複数個の偏向コイルが必要になる。もし、機械的誤差により粒子の軌道がずれたとしてもコイル個々の電流を調整できないので、電気的に軌道修正できないという問題があった。
本発明はこのような課題に鑑みてなされたものであって、個々の偏向コイルを個別に軌道修正することができる荷電粒子線偏向装置を提供することを目的としている。
(1)請求項1記載の発明は、複数の偏向コイルを組み合わせて荷電粒子の軌道を曲げることが可能となるように構成された荷電粒子線偏向装置において、
それぞれの偏向コイルをパスさせめためのスイッチと、パスされた偏向コイルのインピーダンスを等しくした疑似負荷と、偏向方向を微調整することが可能な調整コイルを設け、これら偏向コイルから出射したビームが直進する方向にビーム検出器を設け、このビーム検出器の検出出力が最大値となるように、前記調整コイルを調整することを特徴とする。
(2)請求項2記載の発明は、前記偏向コイルを、先ず最初の第1の偏向コイルの通過ビームが最大値をとるように前記調整コイルを調整し、次に第1の偏向コイルの出力が入射された第2の偏向コイルの出力が最大となるように調整コイルを調整する動作を偏向コイルの数だけ実行することを特徴とする。
(3)請求項3記載の発明は、前記ビーム検出器は3分割されており、これら3分割検出素子の出力からビーム位置を検出することを特徴とする。
(4)請求項4記載の発明は、前記調整コイルの調整用電源に交流信号を印加するようにしたことを特徴とする。
(1)請求項1記載の発明によれば、個々の偏向コイルを個別に調整することができる荷電粒子線偏向コイルを提供することができる。
(2)請求項2記載の発明によれば、個々の偏向コイルを個別に調整することが可能となる。
(3)請求項3記載の発明によれば、ビーム検出器の出力により、ビームがどちら方向にずれているかを判断することができるので、ビーム調整を速やかに行なうことが可能となる。
(4)請求項4記載の発明によれば、荷電粒子軌道の位置検出を広範囲で行なうことができる。
以下、図面を参照して本発明の実施の形態例を詳細に説明する。図1はコイルを単独動作させた時の荷電粒子軌道を示す図である。図11と同一のものは、同一の符号を付して示す。図において、A〜Dはそれぞれ個別に配置された偏向コイルである。2aは偏向コイルAの軌道修正用検出器であり、2bは偏向コイルBの軌道修正用検出器であり、2図2cは偏向コイルCの軌道修正用検出器である。図2は本発明によるコイル接続構成を示す図である。各偏向コイルA〜Dはスイッチを介して個別に接続されるようになっている。4a〜4cは切り替えスイッチである。例えば、スイッチ4aの共通接点cがa接点側に接続されたら、疑似負荷5aに接続されたことになり、b接点側に接続されたら偏向コイルB側に接続されることになる。
このようにして、パスされる偏向コイルに対しては疑似負荷を接続することによって、回路状態が変わらないようにしている。3a〜3dは各コイルの偏向調整を行なう荷電粒子位置調整用コイル(以下、調整用コイルという)である。
5a〜5cはそれぞれ偏向コイルの疑似負荷である。例えば、5aはコイルBの疑似負荷であり、5bはコイルCの疑似負荷、5cはコイルDの疑似負荷である。このようにして、接続されない偏向コイルに対しては、疑似負荷を接続することで等価回路を構成するようになっている。コイルBの疑似負荷は、スイッチ4aにより切り替え制御され、コイルCの疑似負荷5bはスイッチ4bにより切り替え制御され、コイルDの疑似負荷5cはスイッチ4cにより切り替え制御される。
このように構成された装置の動作を説明すれば、以下の通りである。
先ず、偏向コイルAの軌道修正動作について、説明する。この時、残りの偏向コイルB〜Dのコイル接続関係は、図3に示すようなものとなる。図3の太い実線が接続状態を示している。即ち、偏向コイルAのみが接続され、その他の偏向コイルは疑似負荷に接続されている。具体的には、スイッチ4aの共通接点cが接点aに接続され、残りの偏向コイルB〜Dの、スイッチは共通接点cが疑似負荷側を選択するように制御される。
この状態で偏向コイルAから出射されたビームは、直進して検出器2aに照射される。検出器2aは、図4に示すような構成をとり、それぞれ3つの検出素子1D〜3Dから構成されている。検出器としては、例えばCCD等の光電変換素子が用いられる。(a)に示すようにビームが上側にずれている場合には、上側の検出素子1Dの出力が最大となる。一方、丁度真ん中の検出素子2Dによりたくさん照射されている時は、ユニット2Dの出力が最大となる。一方、ビームが丁度真ん中の検出素子2Dの出力が最大となる。このことより、調整用コイル3aを調整することで、ビームの照射点が真ん中の検出素子2D上になるように調整することができる。
図5は各コイル個別調整手順の説明図である。図1と同一のものは、同一の符号を付して示す。(a)は偏向コイルAだけをビーム調整する場合を、(b)は偏向コイルAに加えて偏向コイルBをビーム調整する場合を、(c)は偏向コイルA,Bに加えて偏向コイルCのビームを調整する場合を、(d)は全ての偏向コイルを作動させた状態を示している。(c)に基づいて全ての偏向コイルの調整用コイル3a〜3cが調整された状態が(d)である。
例えば、偏向コイルBを調整する時には、図1に示すように偏向コイルBを通過したビームが検出器2bに照射されるように、図2のスイッチ4a〜4cを調整して、偏向コイルBの出力が検出器2bに照射されるようにする。この場合において、検出器2bの真ん中の検出素子2Dに照射されるように調整用コイル3bを調整する。以上のような調整を残りの検出器2cについても繰り返すと、全ての偏向コイルの調整が終了したことになり、個々の偏向コイルを独立に軌道修正することができる荷電粒子線偏向装置を提供することができる。このように、本発明によれば、個々の偏向コイルを個別に軌道修正することができる荷電粒子線偏向装置を提供することができる。
図6は本発明による自動制御回路の構成例を示す図である。図1,図2と同一のものは、同一の符号を付して示す。図において、3Aは偏向コイルAの調整用コイルを制御する電源、2aはビームを検出する検出器、20は該検出器2aの出力をディジタルデータに変換するA/D変換器、21は該A/D変換器20の出力を受けて、軌道修正動作を行なうパソコン(PC)である。以上、偏向コイルAについて示したが、残りの偏向コイルB〜Dについても同様に動作する。このように構成された装置の動作を説明すれば、以下の通りである。
先ず、図5の(a)に示す状態で検出器2aにビームを照射する。該検出器2aのそれぞれの検出素子1D〜3Dで検出された信号は、続くA/D変換器20によりディジタルデータに変換される。このA/D変換器20の出力は、PC21に与えられる。該PC21は、検出素子2Dの出力が最大となるように、電源3Aにより調整用コイル3aを調整する。このようなフィードバック制御を行なうことにより、ビーム中心が軌道の真ん中にくるように調整することができる。
図7は本発明の動作フローを示す図である。先ず、出力が最大の検出器がどれであるかどうかチェックする(S1)。若し、最大出力の検出素子が1Dであった場合には、PC21は検出素子2の方へ移動させるように制御させ(S2)、コイル調整動作を行なう(S3)。最大出力の検出素子が3Dであった場合には、PC21は検出素子1の方へ移動させるように制御させ(S4)、コイル調整動作を行なう(S5)。若し、最大出力の検出素子が2Dであった場合には、他の2つの検出素子(センサ)の出力値がどのようになっているか調べる(S6)。そして、値に差がある場合には、PC21は値が少なくなる方向へ移動させる(S7)。そして、残り2個の検出素子1D、3Dの出力が等しいか0になったら、調整処理を終了する(S8)。
以上の調整は、先ずコイルAのみに電流を流し、荷電粒子の軌道位置を検出する。検出処理は図7に示す通りである。次に、コイルAを調整後、次のコイルBにも電流を流してコイルAと同様の調整を行なう。この作業をコイルDでも行なうことにより、荷電粒子軌道の微調整が可能となる。この一連の作業は、調整用コイル3a〜3dをPC21により制御して行なう。
図8は本発明による自動制御回路の他の構成例を示す図である。図6と同一のものは、同一の符号を付して示す。図において、25は交流信号を発生させる発振器である。3Aは調整用コイル3aを調整する調整用電源、2aは偏向コイルAを通過した荷電粒子ビームを検出する検出器、26は発振器25の出力と電源出力とを加算する加算器、27は該検出器2aの出力を受けるロックインアンプである。該ロックインアンプ27は、信号の強度と位相を検出するものである。
20は該ロックインアンプ27の出力をディジタルデータに変換するA/D変換器、21は該A/D変換器20の出力を受けて、ビームの位置調整を行なうパソコン(PC)である。該PC21の出力は、電源3Aにフィードバックされ、検出素子1D〜3Dへのビーム位置調整を行なう。28は発振器25の出力を受けて所定の信号を作成する信号作成回路であり、この信号作成回路28で作成された信号(周波数×2,θ=T/4:Tは周期)は、ロックインアンプ27の基準入力(REF)に入力されている。以上の構成は、残りの偏向コイルについても全く同様である。このように構成された回路の動作を説明すれば、以下の通りである。
調整用コイル3aの電源3Aに発振器25から特定周波数の正弦波信号を印加し、検出器2aの出力のうち、ロックインアンプ27により、入力側の交流信号と同じ周波数の同じ周波数成分を検出する。図9のように、検出器出力は、入力側の正弦波信号により時間的に変化し、振動している軌道の中心がずれている場合は、等間隔のピークにならない。図9は検出器の出力と軌道位置の関係を示す図である。(a)は検出器2の出力、(b)は入力側正弦波信号である。横軸は何れも時間である。ここでは、実線の波形を軌道1(中心にある)、破線の波形を軌道2(中心からずれている)とする。検出器1は検出素子1は、検出器2は検出素子2、検出器3は検出素子3である。そこで、検出素子2の出力情報から軌道位置を割り出し、等間隔のピークになるように修正を行なう。
調整用コイル3aに交流信号を印加することにより、図10に示すように、荷電粒子軌道位置を検出できる範囲が広くなり、軌道が検出器の外側までずれていた場合でも、容易に位置を探し出すことが可能である。図10は荷電粒子軌道が検出器からずれている場合の説明図である。図において、30はビームスポットである。(a)は交流信号がない場合の状態、(b)は交流信号が有る場合の状態をそれぞれ示す。(a)に示す場合には、ビームがどちらにずれているか判断することができない。これに対して、(b)に示すように交流信号を用いると、図(b)に示すようにビームスポットがLの範囲内であれば、荷電粒子軌道位置を検出することが可能となり、検出器に近づけることができる。
以上、詳細に説明したように、本発明によれば、4コイル直列型の荷電粒子軌道偏向装置において、各コイルを個別に調整できるような機構にして、更にビームの位置の検出器を設置することにより、機械的な誤差の微調整を電気的に行なうことが可能となる。また、荷電粒子軌道の位置検出器を分割することにより、高精度で荷電粒子の位置を制御することができる。また、荷電粒子軌道の位置調整をパソコンを用いて自動化することにより、短時間で最適な状態にすることができる。更に、調整用コイル電源に交流信号を印加することにより、荷電粒子軌道の位置検出を広範囲で行なうことができる。
コイルを単独動作させた時の荷電粒子軌道を示す図である。 本発明によるコイル接続構成例を示す図である。 本発明によるコイル接続構成例を示す図である。 検出器の動作説明図である。 各コイル個別調整手順の説明図である。 本発明による自動制御回路の構成例を示す図である。 本発明の動作フローを示す図である。 本発明による自動制御回路の他の構成例を示す図である。 検出器の出力と軌道位置の関係を示す図である。 荷電粒子軌道が検出器から外れている場合の説明図である。 荷電粒子線偏向装置の構成とコイルの接続関係を示す図である。
符号の説明
A〜D 偏向コイル
3a〜3d 調整コイル
4a〜4c スイッチ
5a〜5c 疑似負荷

Claims (4)

  1. 複数の偏向コイルを組み合わせて荷電粒子の軌道を曲げることが可能となるように構成された荷電粒子線偏向装置において、
    それぞれの偏向コイルをパスさせめためのスイッチと、パスされた偏向コイルのインピーダンスを等しくした疑似負荷と、偏向方向を微調整することが可能な調整コイルを設け、
    これら偏向コイルから出射したビームが直進する方向にビーム検出器を設け、このビーム検出器の検出出力が最大値となるように、前記調整コイルを調整することを特徴とする荷電粒子線偏向装置。
  2. 前記偏向コイルを、先ず最初の第1の偏向コイルの通過ビームが最大値をとるように前記調整コイルを調整し、次に第1の偏向コイルの出力が入射された第2の偏向コイルの出力が最大となるように調整コイルを調整する動作を偏向コイルの数だけ実行することを特徴とする請求項1記載の荷電粒子線偏向装置。
  3. 前記ビーム検出器は、3分割されており、これら3分割検出器の出力から、ビーム位置を検出することを特徴とする請求項1又は2記載の荷電粒子線偏向装置。
  4. 前記調整コイルの調整用電源に交流信号を印加するようにしたことを特徴とする請求項1乃至3の何れかに記載の荷電粒子線偏向装置。
JP2005270367A 2005-09-16 2005-09-16 荷電粒子線偏向装置 Expired - Fee Related JP4628230B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2005270367A JP4628230B2 (ja) 2005-09-16 2005-09-16 荷電粒子線偏向装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2005270367A JP4628230B2 (ja) 2005-09-16 2005-09-16 荷電粒子線偏向装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2007080785A JP2007080785A (ja) 2007-03-29
JP4628230B2 true JP4628230B2 (ja) 2011-02-09

Family

ID=37940846

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2005270367A Expired - Fee Related JP4628230B2 (ja) 2005-09-16 2005-09-16 荷電粒子線偏向装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP4628230B2 (ja)

Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2007317478A (ja) * 2006-05-25 2007-12-06 Jeol Ltd オメガ型エネルギーフィルタ
GB0809950D0 (en) * 2008-05-30 2008-07-09 Thermo Fisher Scient Bremen Mass spectrometer

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5767912A (en) * 1980-10-14 1982-04-24 Toshiba Corp Axis aligning method of electronic optical lens barrel
JPH04294044A (ja) * 1990-12-22 1992-10-19 Carl Zeiss:Fa 電子エネルギフィルタ
JP2000348670A (ja) * 1999-06-08 2000-12-15 Ricoh Co Ltd 電子線分光装置および電子顕微鏡
JP2002117794A (ja) * 2000-10-10 2002-04-19 Hitachi Ltd 電子顕微鏡
JP2003319685A (ja) * 2002-04-24 2003-11-07 Toyoda Mach Works Ltd 電動パワーステアリング制御装置及び電動パワーステアリング制御装置の電動機電流演算方法

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5767912A (en) * 1980-10-14 1982-04-24 Toshiba Corp Axis aligning method of electronic optical lens barrel
JPH04294044A (ja) * 1990-12-22 1992-10-19 Carl Zeiss:Fa 電子エネルギフィルタ
JP2000348670A (ja) * 1999-06-08 2000-12-15 Ricoh Co Ltd 電子線分光装置および電子顕微鏡
JP2002117794A (ja) * 2000-10-10 2002-04-19 Hitachi Ltd 電子顕微鏡
JP2003319685A (ja) * 2002-04-24 2003-11-07 Toyoda Mach Works Ltd 電動パワーステアリング制御装置及び電動パワーステアリング制御装置の電動機電流演算方法

Also Published As

Publication number Publication date
JP2007080785A (ja) 2007-03-29

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP4665970B2 (ja) 四重極型質量分析装置
US10685826B2 (en) Control of magnetic sector mass spectrometer magnet
WO2017002243A1 (ja) 収差補正方法、収差補正システムおよび荷電粒子線装置
JP2005502174A (ja) イオン注入器を調整する方法および装置
JP4628230B2 (ja) 荷電粒子線偏向装置
JP4299195B2 (ja) 荷電粒子線装置及びその光軸調整方法
CA2744626A1 (en) Forward and reverse scanning for a beam instrument
CN102922127B (zh) 操作激光扫描器的方法和具有激光扫描器的加工系统
EP0097016A2 (en) Electron beam exposure apparatus
US5764605A (en) G factor alignment
JP2002175968A (ja) 電子ビーム露光装置及び電子レンズ
JPH01113926A (ja) データ再生装置
JPH0542106B2 (ja)
CN111971774A (zh) 带电粒子束装置
JPS61168852A (ja) 透過形電子顕微鏡の焦点合せ装置
JP2002033075A (ja) 質量分析装置
Galimberti et al. Photon Beam Position Monitors suitable for a Local Feedback System at ELETTRA'
WO2020183551A1 (ja) 荷電粒子ビーム装置
JP4928816B2 (ja) 半導体製造装置
JP2009176542A (ja) 電磁レンズ
CN114397018B (zh) 可调的光谱纠正系统及方法
JP2958035B2 (ja) ビーム位置制御装置
JP2012044051A (ja) Dacアンプ診断装置、荷電粒子ビーム描画装置及びdacアンプ診断方法
JP2007087459A (ja) 受光装置およびそれを備える光ディスク装置
JP2002190437A (ja) 電子ビーム露光装置及び校正方法

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20080403

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20100729

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20100803

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20100930

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20101026

A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20101109

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20131119

Year of fee payment: 3

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 4628230

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees