JPH0542106B2 - - Google Patents
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- JPH0542106B2 JPH0542106B2 JP63245574A JP24557488A JPH0542106B2 JP H0542106 B2 JPH0542106 B2 JP H0542106B2 JP 63245574 A JP63245574 A JP 63245574A JP 24557488 A JP24557488 A JP 24557488A JP H0542106 B2 JPH0542106 B2 JP H0542106B2
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- power supply
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- 150000002500 ions Chemical class 0.000 claims description 11
- 230000005684 electric field Effects 0.000 claims description 2
- 238000004949 mass spectrometry Methods 0.000 claims description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 6
- 238000004458 analytical method Methods 0.000 description 3
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 3
- 230000006866 deterioration Effects 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 description 1
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- 238000002290 gas chromatography-mass spectrometry Methods 0.000 description 1
- 238000001819 mass spectrum Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J49/00—Particle spectrometers or separator tubes
- H01J49/26—Mass spectrometers or separator tubes
- H01J49/34—Dynamic spectrometers
- H01J49/42—Stability-of-path spectrometers, e.g. monopole, quadrupole, multipole, farvitrons
- H01J49/426—Methods for controlling ions
- H01J49/427—Ejection and selection methods
Landscapes
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Other Investigation Or Analysis Of Materials By Electrical Means (AREA)
- Electron Tubes For Measurement (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
(産業上の利用分野)
本発明は四重極電極の入口側にイオン源を設
け、四重極電極の出口側に検出器を設け、電源部
から四重極電極に高周波電圧と直流電圧の重畳電
圧を印加し、四重極電極が形成する電場内にイオ
ン源からイオンを入射させて質量分析を行なう四
重極質量分析装置に関するものである。
け、四重極電極の出口側に検出器を設け、電源部
から四重極電極に高周波電圧と直流電圧の重畳電
圧を印加し、四重極電極が形成する電場内にイオ
ン源からイオンを入射させて質量分析を行なう四
重極質量分析装置に関するものである。
(従来の技術)
四重極質量分析装置では、四重極電極に印加す
る高周波電圧の周波数を一定とし、高周波電圧と
直流電圧の比を一定に保ちながら高周波電圧を変
えていくことによつて検出器で検出されるイオン
の質量数が走査されていく。
る高周波電圧の周波数を一定とし、高周波電圧と
直流電圧の比を一定に保ちながら高周波電圧を変
えていくことによつて検出器で検出されるイオン
の質量数が走査されていく。
従来の四重極質量分析装置では、比較的低速の
走査条件で質量数を較正し、分解能を調整してい
る。
走査条件で質量数を較正し、分解能を調整してい
る。
四重極質量分析装置は、例えばGC/MS(ガス
クロマトグラフ・質量分析装置)システムで使用
される。ガスクロマトグラフではキヤピラリカラ
ムを用いたキヤピラリGCが普及したことから、
鋭いクロマトピークを精度よく検出するために、
質量分析装置の高速走査の要求が高まつている。
クロマトグラフ・質量分析装置)システムで使用
される。ガスクロマトグラフではキヤピラリカラ
ムを用いたキヤピラリGCが普及したことから、
鋭いクロマトピークを精度よく検出するために、
質量分析装置の高速走査の要求が高まつている。
(発明が解決しようとする課題)
従来のように低速走査の条件で質量数較正や分
解能調整を行ない、その条件で例えば2000amu/
秒以上というような高速走査を行なうと、質量数
のずれが生じると同時に分解能が悪化して隣接し
た小ピークを検出できなくなり、分析精度が著し
く悪化する問題が生じてくる。
解能調整を行ない、その条件で例えば2000amu/
秒以上というような高速走査を行なうと、質量数
のずれが生じると同時に分解能が悪化して隣接し
た小ピークを検出できなくなり、分析精度が著し
く悪化する問題が生じてくる。
第3図は質量ピークを示したものであり、横軸
は質量数(m/z)である。例えばピーク9は低
速スキヤン時に検出された質量数mのピークであ
るが、これが高速スキヤン時にはピーク10で示
されるようにシフトし、また、隣接質量数(m+
1)のピークとの分解能も悪化する。
は質量数(m/z)である。例えばピーク9は低
速スキヤン時に検出された質量数mのピークであ
るが、これが高速スキヤン時にはピーク10で示
されるようにシフトし、また、隣接質量数(m+
1)のピークとの分解能も悪化する。
本発明は四重極電極への印加電圧を高速走査時
に補正することによつて質量数較正や分解能を適
正に保ち、分析精度を向上させることを目的とす
るものである。
に補正することによつて質量数較正や分解能を適
正に保ち、分析精度を向上させることを目的とす
るものである。
(課題を解決するための手段)
本発明では、四重極電極に印加する高周波電圧
と直流電圧の少なくとも一方を走査速度に応じて
補正する。
と直流電圧の少なくとも一方を走査速度に応じて
補正する。
(作用)
高速走査時は低速走査時に設定された質量数か
らずれ、分解能が悪くなつてくるが、その程度は
走査速度が高速になるほど大きくなる。厳密には
質量数が大きくなる程ずれや分解能悪化の程度も
大きくなるが、事実上質量数によらず一定であ
り、走査速度に比例するとみなしてもよい。そこ
で、例えば走査速度に比例した補正電圧によつて
四重極電極に印加される電圧を補正する。
らずれ、分解能が悪くなつてくるが、その程度は
走査速度が高速になるほど大きくなる。厳密には
質量数が大きくなる程ずれや分解能悪化の程度も
大きくなるが、事実上質量数によらず一定であ
り、走査速度に比例するとみなしてもよい。そこ
で、例えば走査速度に比例した補正電圧によつて
四重極電極に印加される電圧を補正する。
高周波電圧と直流電圧の比を一定に保つたまま
で電圧だけを補正すれば質量ピークのシフトを補
正することができる。分解能は高周波電圧と直流
電圧の比によつて定まるので、補正電圧によつて
その比を補正すれば分解能を向上させることがで
きる。
で電圧だけを補正すれば質量ピークのシフトを補
正することができる。分解能は高周波電圧と直流
電圧の比によつて定まるので、補正電圧によつて
その比を補正すれば分解能を向上させることがで
きる。
(実施例)
第1図は一実施例を概略的に表わしたものであ
る。
る。
2は四重極電極であり、その入口側にはイオン
源1が設けられ、出口側にはイオン検出器3が設
けられている。4は走査電圧発生器、5は高周波
電源部であり、走査電圧発生器4から出力される
走査電圧にしたがつて高周波電源部5からコンデ
ンサを経て四重極電極2に高周波電圧が印加され
る。
源1が設けられ、出口側にはイオン検出器3が設
けられている。4は走査電圧発生器、5は高周波
電源部であり、走査電圧発生器4から出力される
走査電圧にしたがつて高周波電源部5からコンデ
ンサを経て四重極電極2に高周波電圧が印加され
る。
6は直流電源部である。高周波電源部5には検
波回路が設けられており、高周波電源部5からの
高周波電圧は検波されて直流電源部6に入力さ
れ、直流電源部6から四重極電極2に対しては高
周波電圧に比例した直流電圧がコイルを介して印
加される。
波回路が設けられており、高周波電源部5からの
高周波電圧は検波されて直流電源部6に入力さ
れ、直流電源部6から四重極電極2に対しては高
周波電圧に比例した直流電圧がコイルを介して印
加される。
7は走査速度設定器であり、任意の走査速度を
設定することができ、その設定された走査速度に
応じて走査電圧発生器4から走査電圧が出力され
て質量スペクトルが採取される。
設定することができ、その設定された走査速度に
応じて走査電圧発生器4から走査電圧が出力され
て質量スペクトルが採取される。
以上の構成は従来の四重極質量分析装置にも備
えられているものである。
えられているものである。
本実施例においては、走査速度設定器7は走査
速度に応じて予め設定された補正電圧を出力する
機能を備えている。補正電圧は高周波電源部5と
直流電源部6に印加される。
速度に応じて予め設定された補正電圧を出力する
機能を備えている。補正電圧は高周波電源部5と
直流電源部6に印加される。
補正電圧が高周波電源部5に印加されると、四
重極電極2に印加される高周波電圧が補正され、
同時に直流電源部6からの直流電圧も補正され
る。これは質量ピークの質量数シフトを補正する
ことに寄与する。
重極電極2に印加される高周波電圧が補正され、
同時に直流電源部6からの直流電圧も補正され
る。これは質量ピークの質量数シフトを補正する
ことに寄与する。
補正電圧が直流電源部6に印加されると、四重
極電極に印加される高周波電圧と直流電圧の比が
補正され、これは分解能を補正することに寄与す
る。
極電極に印加される高周波電圧と直流電圧の比が
補正され、これは分解能を補正することに寄与す
る。
第2図に第1図の実施例における高周波電源部
5と直流電源部6を具体的に示す。
5と直流電源部6を具体的に示す。
高周波電源部5は高周波電源51が発振器52
からの信号を入力し、エラーアンプ53から走査
電圧を入力して高周波電圧をエキサイタ54に出
力する。高周波電源部には検波回路55が設けら
れ、エキサイタ54かあ四重極電極に印加される
高周波電圧こが検波されてエラーアンプ53の一
方の入力端子に入力される。エラーアンプ53の
他方の入力端子には走査電圧とともに補正電圧が
入力されることにより、エキサイタ54からの高
周波電圧が走査電圧と補正電圧の和になるように
制御されて四重極電極に印加される。
からの信号を入力し、エラーアンプ53から走査
電圧を入力して高周波電圧をエキサイタ54に出
力する。高周波電源部には検波回路55が設けら
れ、エキサイタ54かあ四重極電極に印加される
高周波電圧こが検波されてエラーアンプ53の一
方の入力端子に入力される。エラーアンプ53の
他方の入力端子には走査電圧とともに補正電圧が
入力されることにより、エキサイタ54からの高
周波電圧が走査電圧と補正電圧の和になるように
制御されて四重極電極に印加される。
直流電源部6には高圧アンプ61,62が設け
られ、検波回路55からの検波電圧と補正電圧が
高圧アンプ61に直接に、高圧アンプ62にはイ
ンバータ63を介して極性が反転されて入力され
る。高圧アンプ61,62の出力電圧がそれぞれ
直流電圧としてコイルを経て四重極電極に印加さ
れる。
られ、検波回路55からの検波電圧と補正電圧が
高圧アンプ61に直接に、高圧アンプ62にはイ
ンバータ63を介して極性が反転されて入力され
る。高圧アンプ61,62の出力電圧がそれぞれ
直流電圧としてコイルを経て四重極電極に印加さ
れる。
本実施例において、高周波電源部5に補正電圧
が印加されることにより、四重極電極に印加され
る高周波電圧と直流電圧が補正され、高速走査時
に従来であれば第3図に記号10で示されるよう
にシフトした質量ピークが記号11で示されるよ
うに質量数が補正されて質量数の変化がなくな
る。直流電源部6に補正電圧が印加されることに
よつて高周波電圧と直流電圧の比が補正されて分
解能が向上し、隣接した小ピークも検出すること
ができるようになる。
が印加されることにより、四重極電極に印加され
る高周波電圧と直流電圧が補正され、高速走査時
に従来であれば第3図に記号10で示されるよう
にシフトした質量ピークが記号11で示されるよ
うに質量数が補正されて質量数の変化がなくな
る。直流電源部6に補正電圧が印加されることに
よつて高周波電圧と直流電圧の比が補正されて分
解能が向上し、隣接した小ピークも検出すること
ができるようになる。
補正電圧は走査速度設定器7で、例えば低速走
査時と高速走査時の2点の補正電圧を決定し、そ
の間の走査速度に対しては2点の補正電圧間を比
例分配すればよい。
査時と高速走査時の2点の補正電圧を決定し、そ
の間の走査速度に対しては2点の補正電圧間を比
例分配すればよい。
第4図は他の実施例を表わす。
第1図の実施例では補正電圧は走査速度設定器
7で予め設定されているが、第4図では補正電圧
を発生するために走査速度検出器8を設ける。
7で予め設定されているが、第4図では補正電圧
を発生するために走査速度検出器8を設ける。
走査速度検出器8は走査電圧発生器4から走査
電圧を入力し、補正電圧を出力する。
電圧を入力し、補正電圧を出力する。
走査速度検出器8は、例えば微分器又は関数発
生器によつて実現することができる。
生器によつて実現することができる。
走査速度検出器8の一例として、第5図に示さ
れるような簡単な微分器によつても実用的な効果
を得ることができる。
れるような簡単な微分器によつても実用的な効果
を得ることができる。
第6図はさらに他の実施例を表わす。
第1図における走査速度設定器7で設定された
補正電圧は質量ピークの質量数のシフトを補正す
るために高周波電源部5にのみ印加するように
し、分解能を補正するための補正電圧を直流電源
部6に印加するために、補正電圧発生器12を設
ける。補正電圧発生器12は高周波電源部5から
の検波電圧を入力し、それを基に補正電圧を発生
して直流電源部6に印加する。これにより、補正
電圧発生器12の補正電圧は高周波電圧に忠実に
追随することができるようになる。
補正電圧は質量ピークの質量数のシフトを補正す
るために高周波電源部5にのみ印加するように
し、分解能を補正するための補正電圧を直流電源
部6に印加するために、補正電圧発生器12を設
ける。補正電圧発生器12は高周波電源部5から
の検波電圧を入力し、それを基に補正電圧を発生
して直流電源部6に印加する。これにより、補正
電圧発生器12の補正電圧は高周波電圧に忠実に
追随することができるようになる。
実施例では高周波電源部5と直流電源部6にと
もに補正電圧を入力してピークシフトと分解能を
ともに補正しているが、いずれか一方のみを補正
するようにしてもよい。
もに補正電圧を入力してピークシフトと分解能を
ともに補正しているが、いずれか一方のみを補正
するようにしてもよい。
(発明の効果)
本発明は四重極電極に印加する高周波電圧と直
流電圧の少なくとも一方を走査速度に応じて補正
するようにしたので、高速走査時に質量数のずれ
や分解能悪化が生じることを防ぐことができ、高
精度な分析を行なうことができる。
流電圧の少なくとも一方を走査速度に応じて補正
するようにしたので、高速走査時に質量数のずれ
や分解能悪化が生じることを防ぐことができ、高
精度な分析を行なうことができる。
第1図は一実施例を示すブロツク図、第2図は
第1図の高周波電源部と直流電源部を示すブロツ
ク図、第3図は本発明の動作を示す波形図、第4
図は他の実施例を示すブロツク図、第5図は第4
図の走査速度検出器の一例を示す回路図、第6図
はさらに他の実施例を示すブロツク図である。 1……イオン源、2……四重極電極、3……イ
オン検出器、4……走査電圧発生器、5……高周
波電源部、6……直流電源部、7……走査速度設
定器、8……走査速度検出器、12……補正電圧
発生器。
第1図の高周波電源部と直流電源部を示すブロツ
ク図、第3図は本発明の動作を示す波形図、第4
図は他の実施例を示すブロツク図、第5図は第4
図の走査速度検出器の一例を示す回路図、第6図
はさらに他の実施例を示すブロツク図である。 1……イオン源、2……四重極電極、3……イ
オン検出器、4……走査電圧発生器、5……高周
波電源部、6……直流電源部、7……走査速度設
定器、8……走査速度検出器、12……補正電圧
発生器。
Claims (1)
- 1 四重極電極の入口側にイオン源を設け、四重
極電極の出口側に検出器を設け、電源部から四重
極電極に高周波電圧と直流電圧の重畳電圧を印加
し、四重極電極が形成する電場内にイオン源から
イオンを入射させて質量分析を行なう四重極質量
分析装置において、前記電源部には四重極電極に
印加する高周波電圧と直流電圧の少なくとも一方
を走査速度に応じて補正する補正手段を備えてい
ることを特徴とする四重極質量分析装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP63245574A JPH0294242A (ja) | 1988-09-28 | 1988-09-28 | 四重極質量分析装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP63245574A JPH0294242A (ja) | 1988-09-28 | 1988-09-28 | 四重極質量分析装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0294242A JPH0294242A (ja) | 1990-04-05 |
JPH0542106B2 true JPH0542106B2 (ja) | 1993-06-25 |
Family
ID=17135747
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP63245574A Granted JPH0294242A (ja) | 1988-09-28 | 1988-09-28 | 四重極質量分析装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0294242A (ja) |
Families Citing this family (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2616637B2 (ja) * | 1992-05-26 | 1997-06-04 | 株式会社島津製作所 | 質量分析方法 |
KR19990043626A (ko) * | 1997-11-29 | 1999-06-15 | 김영남 | 플라즈마 표시소자의 배기관 |
JP4505959B2 (ja) * | 2000-07-13 | 2010-07-21 | 株式会社島津製作所 | 四重極質量分析装置 |
US7078686B2 (en) * | 2004-07-23 | 2006-07-18 | Agilent Technologies, Inc. | Apparatus and method for electronically driving a quadrupole mass spectrometer to improve signal performance at fast scan rates |
JP4636943B2 (ja) * | 2005-06-06 | 2011-02-23 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | 質量分析装置 |
JP4957602B2 (ja) * | 2008-03-24 | 2012-06-20 | 株式会社島津製作所 | 質量分析装置 |
EP2290674B1 (en) | 2008-05-22 | 2017-03-01 | Shimadzu Corporation | Quadrupole mass spectrometer |
JP5454484B2 (ja) * | 2011-01-31 | 2014-03-26 | 株式会社島津製作所 | 三連四重極型質量分析装置 |
JP5664368B2 (ja) * | 2011-03-15 | 2015-02-04 | 株式会社島津製作所 | 四重極型質量分析装置 |
-
1988
- 1988-09-28 JP JP63245574A patent/JPH0294242A/ja active Granted
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH0294242A (ja) | 1990-04-05 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |