JP4620551B2 - 電解質測定装置 - Google Patents
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Description
E=E0+2.303×RT/nF×log(f×Ci)……(1)
E:起電力
E0:測定系により定まる一定電位
R:気体定数
T:絶対温度
F:ファラデー定数
f:活量係数
Ci:イオン(i)の濃度
N:イオン(i)の電荷数
試料濃度は、内部標準液と試料溶液の起電力の差とあらかじめ作成しておいた検量線から算出する。測定が終了した試料や内部標準液は、廃液吐出用二方電磁弁14の開閉により、廃液流路から装置外に排出される。なお、内部標準液および希釈液は吐出用二方電磁弁15,17を通過後、内部標準液用ヒーター23および希釈液用ヒーター24により、温められる。また、希釈槽3およびイオン選択電極4,5,6および比較電極7は希釈槽用ヒーター25、イオン選択電極用ヒーター26、および比較電極用ヒーター27により温度制御されている。
希釈槽3に吐出された内部標準液は、シッパーシリンジ8、シッパーシリンジ吸引用二方電磁弁13、ピンチバルブ11により、シッパーノズル22からイオン選択電極4,5,6まで任意設定量、例えば350μLが吸引され、起電力が測定される。希釈槽3に残った100μLの内部標準液は、従来であれば、廃液吐出用二方電磁弁14の開閉により、廃液流路から装置外へ排出されていた。しかし本発明では残った内部標準液を排出せずに、シッパーノズル22を希釈槽3に降下させることによりシッパーノズル22を内部標準液に浸漬させる。
Claims (4)
- 試料または内部標準液を吐出された希釈液により希釈する希釈槽と、
前記内部標準液を希釈槽に分注するための内部標準液ノズルと、
前記希釈液を前記希釈槽に分注するための希釈ノズルと、
測定のために希釈された前記試料または内部標準液を吸引するシッパーノズルと、
希釈された試料又は内部標準液中のイオン濃度を、比較電極とイオン選択電極との間の起電力に基づいて、定量分析する電解質測定部と、
前記希釈槽と該希釈槽内の前記試料または内部標準液及び電解質測定部をヒータにより恒温制御する恒温制御手段とを備え、
試薬流路内の古い試薬を排出し、新しい試薬を吸引する動作を終了後から電解質の測定が始まるまでの間、前記希釈槽に吐出された溶液にシッパーノズルを降下させて浸漬し前記恒温制御手段により、シッパーノズルを恒温制御することを特徴とする電解質測定装置。 - 前記シッパーノズルで前記内部標準液を吸引した後、前記電解質測定部での分析依頼が無い場合は、前記シッパーノズルを前記希釈槽に降下させ、前記希釈槽中の内部標準液に浸漬してシッパーノズルを恒温制御することを特徴とする請求項1記載の電解質測定装置。
- 試料または内部標準液を吐出された希釈液により希釈する希釈槽と、
前記内部標準液を希釈槽に分注するための内部標準液ノズルと、
前記希釈液を前記希釈槽に分注するための希釈ノズルと、
測定のために希釈された前記試料または内部標準液を吸引するシッパーノズルと、
希釈された試料又は内部標準液中のイオン濃度を、比較電極とイオン選択電極との間の起電力に基づいて、定量分析する電解質測定部と、
前記希釈槽と該希釈槽内の前記試料または内部標準液及び電解質測定部をヒータにより恒温制御する恒温制御手段とを備え、
電解質測定が予め設定した時間内に実施されない場合、前記希釈槽に吐出された溶液にシッパーノズルを降下させて浸漬し、前記恒温制御手段によりシッパーノズルを恒温制御することを特徴とする電解質測定装置。 - 請求項1記載の電解質測定装置において、
前記希釈槽中の内部標準液を前記シッパーノズルで吸引する動作を複数回実施した後、前記内部標準液ノズルにより前記希釈槽に内部標準液を分注し、次いで前記シッパーノズルで内部標準液を吸引した後、前記電解質測定部での分析依頼が無い場合は、前記シッパーノズルを前記希釈槽に降下させ、前記希釈槽中の内部標準液に浸漬するように前記シッパーノズルを恒温制御することを特徴とする電解質測定装置。
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Applications Claiming Priority (1)
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JP2007057367A JP2007057367A (ja) | 2007-03-08 |
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Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS62294959A (ja) * | 1986-06-16 | 1987-12-22 | Toshiba Corp | イオン活量測定方法 |
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- 2005-08-24 JP JP2005242709A patent/JP4620551B2/ja active Active
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---|---|---|---|---|
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JPH04161846A (ja) * | 1990-10-26 | 1992-06-05 | Hitachi Ltd | イオン選択電極の洗浄方法および洗浄液 |
JPH05232073A (ja) * | 1992-02-21 | 1993-09-07 | Analytical Instr:Kk | 電解質測定装置 |
JPH08220050A (ja) * | 1995-02-08 | 1996-08-30 | Hitachi Ltd | 電解質分析装置 |
JPH08220062A (ja) * | 1995-02-08 | 1996-08-30 | A & T:Kk | 電解質溶液の測定方法および電解質測定装置 |
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