JP4619315B2 - プラズマ処理装置 - Google Patents
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Description
一方、被処理物は、ガラスなどの誘電体で構成されることが多い。そこで、誘電体製被処理物をステージの固体誘電体層として代用することにすれば、ステージの金属表面自体に固体誘電体層を設ける必要が無くなる。その場合、アーク放電の防止のために、被処理物でステージの金属表面を完全に覆い、被処理物の周縁部をステージの金属表面より少し突出させるのが望ましい。
しかし、そうすると、電極が被処理物の周縁部及びそれより外側に位置している時は放電が起きず、電極が被処理物の周縁部より内側に移動してステージの金属表面の端部上に来た時、いきなりプラズマ放電が起き、処理が開始される。そのため、処理開始地点(被処理物の周縁部とそこより内側の主部分との境部分(主部分の端部))等の放電状態が不安定になり、処理不良になったり損傷を受けたりしてしまう。
露出された第1金属表面(金属にて構成された主設置面)を有する第1ステージ部(主設置部)と、固体誘電体層(側辺誘電部)で被覆された第2金属表面(側辺金属部)を有して前記第1ステージ部の外周部に設けられた第2ステージ部(側辺部)とを含み、前記第1ステージ部の第1金属表面上に、前記被処理物が周縁部を前記第2ステージ部の側へ突出させるようにして設置されるステージと、
前記ステージに対し、前記第1ステージ部と対向して前記プラズマ放電を形成する第1移動範囲(第1位置)と、前記第2ステージ部と対向する第2移動範囲(第2位置)、この第2移動範囲より前記第1移動範囲側とは反対側の第3移動範囲とを含む範囲で相対移動される電極と、
前記電極が前記第3移動範囲から第2移動範囲を経て第1移動範囲へ向かうとき、前記電極が前記第2移動範囲と第3移動範囲とに跨る位置と前記第1移動範囲の直近に在る位置との間における所定の位置に達した時点で前記電極に前記プラズマ放電のための電圧供給を開始する電源回路と、
を備えたことを特徴とする。
これによって、被処理物をステージの第1金属表面の固体誘電体層として代用でき、第1金属表面に溶射膜やセラミック板の固体誘電体層を設ける必要がなく、製造コストを低く抑えることができ、ステージの大型化が容易になる。第2移動範囲の電極と第2ステージ部の間にも電界が印加されるようにすることができ、これによって、電極が第1移動範囲に入るのに先立って助走的な放電を起こして正規のプラズマ処理の準備をしておくことができる。この結果、被処理物の周縁部とそれより内側の主部分との境での正規のプラズマ放電開始時における放電状態を安定させることができ、被処理物の主部分の端部等の損傷防止や処理の良好性確保を図ることができる。
しかも、電極が第3移動範囲と第2移動範囲とに跨る位置と前記第1移動範囲の直近に在る位置までの間における所定位置に位置した段階で電圧供給を開始することにより、電圧供給開始時の電極からの電界方向を第2金属に確実に向かわせることができ、電極から異常放電が発生するのを防止することができる。また、電極からの電界が第2金属の外端部等に局所的に集中するのを回避でき、第2ステージ部の固体誘電体層等が損傷するのを防止することができる。
約3割以上とすることによって、電圧供給開始時の異常放電を確実に防止できるとともに、第2金属の外端部等への電界集中を確実に回避できる。約7割以下とすることによって第2ステージ部の幅を必要以上に大きくする必要がない。
これによって、電極からの異常放電発生を確実に防止できるとともに、第2金属の外端部等への電界集中を確実に回避することができる。
前記所定位置は、前記第2移動範囲と第3移動範囲とに跨る位置から少なくとも前記第1移動範囲に入る前までの間で設定されていればよい。
前記電極の幅が前記第2ステージ部より大きい場合等は、前記所定位置が、前記第2移動範囲と第3移動範囲とに跨り、且つ、前記第1移動範囲の直近に在る位置であってもよい。
前記電極の幅が前記第2ステージ部より小さい場合は、前記所定位置が、前記第2移動範囲と第3移動範囲とに跨る位置を越えて、前記電極の幅方向の全体が前記第2移動範囲内に在る位置であってもよい。
これによって、電極を第3ステージ部上に待機させることができる。第2ステージ部の外側にも電極と第3ステージ部との間に処理ガスの通路が形成されるようにすることができる。
第3ステージ部の表面は、第2ステージ部の固体誘電体層の表面と面一であるのが好ましい。
これによって、電極が第1移動範囲に入る前の助走放電を確実に起こすことができ、被処理物の主部分の端部での放電状態を確実に安定させることができる。
前記内側誘電部と外側誘電部のうち少なくとも外側誘電部が、前記第2金属表面に対応して配置され、第2金属表面を覆っていることが好ましい。
前記内側誘電部と外側誘電部のうち少なくとも外側誘電部が、前記第2金属表面に対応して配置され、第2金属表面を覆っていることが好ましい。
これによって、助走放電が被処理物の周縁部より外側に形成されるようにすることができる。
これによって、助走放電が被処理物の周縁部より外側の外側誘電部上で形成されるようにすることができる。
これによって、外側誘電部上の助走放電の状態を被処理物の主部分上での正規の放電状態と同様のレベルにすることができる。
これによって、被処理物の主部分を第1金属表面に確実に接触させるとともに被処理物の周縁部を内側誘電部に確実に接触させることができ、被処理物の裏面とステージの間に隙間が出来るのを防止することができる。
前記外側誘電部の表面が、前記第1金属表面より前記被処理物の厚さと略同じ大きさだけ前記電極の側に突出されていることが好ましい。
これによって、助走放電時の電極と第2ステージ部の間のプロセスガスの流通状態を、正規のプラズマ放電時の電極と被処理物の間の流通状態と略同じになるようにすることができる。
外側誘電部の誘電率が、前記被処理物の誘電率より小さい場合は、前記第2金属部と固体誘電体層の接合面が、前記第1金属表面より前記電極の側に突出されているのが好ましい。
露出された第1金属表面を有する第1ステージ部と、固体誘電体層で被覆された第2金属表面を有して前記第1ステージ部の外周部に設けられた第2ステージ部とを含み、前記第1ステージ部の第1金属表面上に、前記被処理物が周縁部を前記第2ステージ部の側へ突出させるようにして設置されるステージと、
前記ステージに対し、前記第1ステージ部と対向する第1移動範囲と、前記第2ステージ部と対向する第2移動範囲と、この第2移動範囲より前記第1移動範囲側とは反対側の第3移動範囲とを含む範囲で相対移動される第1電極と、
この第1電極の前記第3移動範囲側に配置され、第1電極と一体になって、前記ステージに対し、前記第1移動範囲と前記第2移動範囲と前記第3移動範囲とを含むように相対移動される第2電極と、
前記第1、第2電極が前記第3移動範囲から第2移動範囲を経て第1移動範囲へ向かう入移動のとき、前記第1電極が前記第2移動範囲と第3移動範囲とに跨る位置と前記第1移動範囲の直近に在る位置との間における所定の位置に達した時点で前記第1電極に前記プラズマ放電のための電圧供給を開始する第1電源回路と、
前記入移動のとき、前記第2電極が前記第2移動範囲と第3移動範囲とに跨る位置と前記第1移動範囲の直近に在る位置との間における所定位置に達した時点で前記第2電極に前記プラズマ放電のための電圧供給を開始する第2電源回路と、
を備えたことを特徴とする。
これによって、被処理物をステージの第1金属表面の固体誘電体層として代用でき、第1金属表面に溶射膜やセラミック板の固体誘電体層を設ける必要がなく、製造コストを低く抑えることができ、ステージの大型化が容易になる。第2移動範囲の電極と第2ステージ部の間にも電界が印加されるようにすることができ、これによって、電極が第1移動範囲に入るのに先立って助走的な放電を起こして正規のプラズマ処理の準備をしておくことができる。この結果、被処理物の周縁部とそれより内側の主部分との境での正規のプラズマ放電開始時における放電状態を安定させることができ、被処理物の主部分の端部等の損傷防止や処理の良好性確保を図ることができる。
しかも、第1電極が所定位置に達した時点で第1電極に対し電圧供給を開始することにより、第1電極からの電界方向を第2金属に確実に向かわせることができ、その後、第2電極が所定位置に達した時点で第2電極に対し電圧供給を開始することにより、第2電極からの電界方向を第2金属に確実に向かわせることができる。このように、第1、第2電極に対し電圧供給開始を順次行なうことにより、電圧供給開始時に異常放電や電界集中が起きるのを防止することができる。
これによって、電極が第2移動範囲から第1移動範囲へ移るとき、電界が被処理物の主部分の端部上だけでなく外側誘電部上にも存続しているようにすることができ、被処理物の主部分の端部上に電界集中が起きるのを防止でき、被処理物の主部分の端部の処理の良好性を確実に確保することができる。
前記電極の前記相対移動方向に沿う幅は、少なくとも前記内側誘電部の前記相対移動方向に沿う幅より大きいのが好ましい。
前記第1金属表面が、前記被処理物より僅かに小面積であるのが好ましい。これにより、前記被処理物の主部分によって、前記第1金属表面の全体を覆うことができる。前記被処理物の周縁部は、前記第2ステージ部に設置されるようになっているのが好ましい。
これにより、内側誘電部とその上に設置された被処理物の周縁部とを合わせた全体の誘電率が、第1ステージ部の側に向かうにしたがって被処理物単独の誘電率に近づくようにすることができる。よって、被処理物の周縁部上の助走放電部分でのプラズマ放電状態を、正規放電部に近づくにしたがって正規放電部でのプラズマ放電状態に近づけ、被処理物の周縁部と主部分の端部の境界での放電状態が不連続になるのを防止することができる。
これによって、内側誘電部と外側誘電部との境において第2金属部が露出しないようにすることができ、内側誘電部と外側誘電部との境を通して第2金属部に沿面放電等が落ちるのを防止することができる。
前記内側誘電部と外側誘電部とが、別体になっていてもよい。
前記内側誘電部と外側誘電部との間に段差が形成されていることが好ましい。この段差に被処理物の端面が宛がうことができ、被処理物を確実に位置決めすることができる。
これによって、電極が第2移動範囲から第1移動範囲に跨るとき、プラズマ放電の助走部と正規のプラズマ放電部が連続するようにでき、被処理物の主部分の端部の処理の良好性を一層確実に確保することができる。
しかも、電極が第3移動範囲と第2移動範囲とに跨る所定位置より第1移動範囲側に位置した段階で電圧供給を開始することができる。これにより、電圧供給開始時の電極からの電界方向を第2金属に確実に向かわせることができ、電極から異常放電が発生するのを防止することができる。また、電極からの電界が第2金属の外端部等に局所的に集中するのを回避でき、第2ステージ部の固体誘電体層等が損傷するのを防止することができる。
図1は、常圧プラズマ処理装置Mの概略構成を示したものである。常圧プラズマ処理装置Mは、処理ユニット10と、ステージ20を備えている。処理ユニット10には、3つ(複数)の高圧電極11,11,11が設けられている。以下、これら3つの電極11,11,11を互いに区別するときは、右側の電極の符号を11Aとし、中央の電極の符号を11Bとし、左側の電極の符号を11Cとする(図2〜図6参照)。
左右に隣り合う電極11,11どうし間のギャップは、処理ユニット10の下面とステージ20の間の実際のギャップよりも大きい。
第1ステージ部21の上面21a(第1金属表面)は、水平になっている。第1金属表面21a上には固体誘電体層が設けられておらず、該金属表面21aが露出されている。
金属製第1ステージ部21は、電気的に接地されている。第1ステージ部21は、高圧電極11に対する接地電極としての役目を兼ねている。
第2金属24は、第1ステージ部21を介して電気的に接地されているが、第1ステージ部21を介さずに第2金属24に接地線を直接接続してもよい。
内側誘電部26の上面に基板Wの周縁部Wbが設置されるようになっている。内側誘電部26の左右方向の幅(基板周縁部Wbの幅)は、各電極11の左右方向の幅より小さい。
外側誘電部27と内側誘電部26の間の段差面に基板Wの周端面が宛がわれるようになっている。外側誘電部27と内側誘電部26との間の段差の高さは、基板Wの厚さと略同じになっている。したがって、外側誘電部27の上面と基板Wの上面とは略面一になるようになっている。
外側誘電部27は、基板Wより外側に位置されることになる。外側誘電部27の左右方向の幅は、各電極11の左右方向の幅より大きく、左端電極11Cの左端部と右端電極11Aの右端部の間の距離より小さい。
これら第2金属24と固体誘電体層25の外側面に、外枠としての第3ステージ部23が添えられている。第3ステージ部23は、樹脂等の絶縁体で構成されている。
処理ユニット10ひいては電極11が固定される一方、移動機構40がステージ20に接続され、ステージ20が左右に往復移動されるようになっていてもよい。
すると、図3に示すように、やがて右端の電極11Aが、第2ステージ部22に対応する第2移動範囲R2と第3ステージ部23に対応する第3移動範囲R3とに跨る所定位置に位置するようになる。この所定位置において、電極11Aの約3〜7割の部分が第2移動範囲R2に在り、残部が第3移動範囲R3に在る。好ましくは、電極11Aの約5割の部分が第2移動範囲R2に在り、残部が第3移動範囲R3に在る。この時、スイッチ部31Aをオンし、電源回路30から右端電極11Aへの電圧供給を開始する。これによって、右端電極11Aと第2ステージ部22の第2金属24との間に電界を印加することができる。右端電極11Aの約3割以上の部分、好ましくは約5割の部分が第2金属24と対向しているので、電極11Aからの電界方向を第2金属24に確実に向かわせることができ、電極11Aから周辺の金属部材に異常放電が起きるのを防止することができる。電極11Aの全体が第2移動範囲R2の外側に在るときは勿論、一部が第2移動範囲R2内に入って来ても上記所定位置より左側に位置している間は、電圧供給を停止し、上記所定位置に達した時はじめて電圧供給を行なうので、電極11Aからの電界が第2金属24の外端部に局所的に集中するのを回避できる。これにより、固体誘電体層25等が損傷するのを防止することができる。
電極11Aの約7割以下の部分が第2移動範囲R2内に位置していれば助走放電D2が開始されるので、第2ステージ部22の幅を必要以上に大きく必要がない。
なお、基板周縁部Wbと内側誘電部26を合わせた誘電率は、外側誘電部27単独の誘電率や基板主部Wa単独の誘電率と多少異なり、放電D2bの状態が外側誘電部27上での助走放電D2や基板主部Wa上での正規のプラズマ放電D1と若干異なることになるが、基板周縁部Wbは製品の品質とは無関係な部分であるため支障はない。
続いて、この中央電極11Bの全体が第1移動範囲R1に入るとともに、左端電極11Cが第2移動範囲R2から第1移動範囲R1に跨るようになり、左端電極11Cと基板周縁部Wbとの間にプラズマ放電D2bが形成され、さらには左端電極11Cと基板主部分の端部Waeとの間にもプラズマ放電D1が形成されるようになる。
なお、反対側端部における電圧オフのタイミングは、各電極11が第1移動範囲R1と第2移動範囲R2に跨る所定位置になった時点に設定してもよい。
すべての電極11がステージ20の反対側の端部に達することにより、基板Wの全体をプラズマ処理することができる。
必要に応じて処理ユニット10を左右に往復させることにしてもよい。
処理の終了後は、処理ユニット10をステージ20の外側に退避させ、基板Wをピックアップする。
図7に示すように、上記の各電極11の左右の幅寸法は、第2ステージ部22の左右の幅より小さく、ひいては第2移動範囲R2の左右の幅より小さい。したがって、電極11の幅方向の全体が第2移動範囲R2内に納まる区間が存在する。そこで、電圧供給タイミングとなる「所定位置」を、電極11が第2移動範囲R2と第3移動範囲R3に跨る位置よりも第1移動範囲R1側へずらし、電極11の幅方向の全体が第2移動範囲R2内に在る位置に設定してもよい。すなわち、各電極11の幅方向の全体が第2移動範囲R2内に入っている時、当該電極11への電圧供給及び助走放電D2の形成を開始する。
これによって、電圧供給開始時の電極11からの電界方向を一層確実に第2ステージ部22の第2金属24に向かわせることができ、電極11から異常放電が発生するのを一層確実に防止することができるとともに、第2金属の外端部等への電界集中を一層確実に回避することができる。
電源回路30にはスイッチ部31が1つだけ設けられており、このスイッチ部31を介して電極11が電源回路30に接続されている。
さらに好ましくは、図9に示すように、上記所定位置を、幅広電極11が第1移動範囲R1の直近に在る位置に設定し、幅広電極11がこの所定位置に達した時、電圧供給を開始する。これにより、幅広電極11からの異常放電の発生や第2金属24の外端部への電界集中を一層確実に防止でき、安全性を一層高めることができる。
その後、幅広電極11が上記所定位置よりも第1移動範囲R1側に位置している期間は電圧供給を継続する。これにより、基板Wをプラズマ表面処理することができる。
例えば、第1ステージ部21は、露出された金属表面を有していればよく、金属表面の全体が露出されている必要はなく、金属表面の一部分が固体誘電体層や、固体誘電体層としては機能しない絶縁体(例えばテープや塗料や半導体分野で使用される絶縁薄膜)等で被覆されていてもよい。ここで、固体誘電体層とは、電極の金属本体に被覆されてアーク放電等の異常放電を防ぎ良好なグロー放電を得る機能を果たす固体誘電体を言う。
電極の数は、1つ又は3つに限られず、2つでもよく、4つ以上でもよい。2以上の電極は、ステージに対する相対移動方向に沿って並べられるのが好ましい。2以上の電極のうちの1つを「第1電極」とすると、それより上記移動方向の後側(第3移動範囲側)に配置された他の1つの電極が「第2電極」となる。
電源回路30は、複数の電極の各々に対し別々に設けられていてもよい。上記第1電極に対応する電源回路が「第1電源回路」を構成し、第2電極に対応する電源回路が「第2電源回路」を構成する。勿論、第1実施形態(図1)のように第1電源回路と第2電源回路が共通の電源回路にて構成されていてもよい。
第2ステージ部22の第2金属24は、外側誘電部27の裏側(下面)にだけ設けられていればよく、内側誘電部26の裏側(下面)には設けられていなくてもよい。
内側誘電部26と外側誘電部27は、互いに別体になっていてもよく、誘電率が互いに異なっていてもよい。
第1ステージ部21を構成する第1金属と第2ステージ部22の第2金属24とが、一体に連なっていてもよい。ステージ20がアルミニウム等の金属からなるステージ本体を備え、このステージ本体の中央部(周縁部より内側の部分)が、表面の露出された第1金属21(第1ステージ部)となり、ステージ本体の周縁部が、固体誘電体層25で覆われた第2金属24になっていてもよい。
10 処理ユニット
11(11A,11B,11C) 電極
20 ステージ
21 第1ステージ部
21a 第1金属表面
22 第2ステージ部
23 第3ステージ部
24 第2金属部
24a 第2金属表面
25 固体誘電体層
26 内側誘電部
27 外側誘電部
30 電源
31(31A,31B) 電源回路
40 移動機構
D1 正規のプラズマ放電部
D2,D2b プラズマ放電の助走部
R1 第1移動範囲
R2 第2移動範囲
R3 第3移動範囲
W 基板(被処理物)
Wa 基板の主部分
Wae 基板の主部分の端部
Wb 基板の周縁部
Claims (10)
- 誘電体からなる被処理物を大気圧近傍のプラズマ放電に晒して表面処理するプラズマ処理装置において、
露出された第1金属表面を有する第1ステージ部と、固体誘電体層で被覆された第2金属表面を有して前記第1ステージ部の外周部に設けられた第2ステージ部とを含み、前記第1ステージ部の第1金属表面上に、前記被処理物が周縁部を前記第2ステージ部の側へ突出させるようにして設置されるステージと、
前記ステージに対し、前記第1ステージ部と対向する第1移動範囲と、前記第2ステージ部と対向する第2移動範囲と、この第2移動範囲より前記第1移動範囲側とは反対側の第3移動範囲とを含む範囲で相対移動される電極と、
前記電極が前記第3移動範囲から第2移動範囲を経て第1移動範囲へ向かうとき、前記電極が前記第2移動範囲と第3移動範囲とに跨る位置と前記第1移動範囲の直近に在る位置との間における所定の位置に達した時点で、前記電極に前記プラズマ放電のための電圧供給を開始する電源回路と、
を備えたことを特徴とするプラズマ処理装置。 - 前記所定位置において、前記電極の約3〜7割の部分が、前記第2移動範囲に在り、残部が前記第3移動範囲に在ることを特徴とする請求項1に記載のプラズマ処理装置。
- 前記所定位置において、前記電極の約5割の部分が、前記第2移動範囲に在り、残部が前記第3移動範囲に在ることを特徴とする請求項1に記載のプラズマ処理装置。
- 前記電極の前記相対移動方向に沿う幅が、前記第2ステージ部の前記相対移動方向に沿う幅より小さく、
前記所定位置が、前記電極の幅方向の全体が前記第2移動範囲内に在る位置であることを特徴とする請求項1に記載のプラズマ処理装置。 - 前記ステージが、前記第2ステージ部の第1ステージ部側とは反対側に設けられた絶縁性の第3ステージ部を更に有し、前記第3移動範囲において、前記電極と前記第3ステージ部とが対向することを特徴とする請求項1〜4の何れかに記載のプラズマ処理装置。
- 前記第2ステージ部の固体誘電体層が、前記被処理物の周縁部が設置されるべき内側誘電部と、この内側誘電部より外側に配置され、前記被処理物の周縁部の外側に沿在する外側誘電部とを有し、
前記内側誘電部と外側誘電部のうち少なくとも外側誘電部が、前記第2金属表面に対応して配置され、第2金属表面を覆っていることを特徴とする請求項1〜5の何れかに記載のプラズマ処理装置。 - 前記第2移動範囲において、前記電極と前記外側誘電部との間にプラズマ放電が形成されるように、前記外側誘電部の厚さ及び誘電率が設定されていることを特徴とする請求項6に記載のプラズマ処理装置。
- 前記外側誘電部の厚さと誘電率の比が、前記被処理物の厚さと誘電率の比と略同じであることを特徴とする請求項6に記載のプラズマ処理装置。
- 前記第1金属表面と前記内側誘電部の表面とが面一になり、
前記外側誘電部の表面が、前記第1金属表面より前記被処理物の厚さと略同じ大きさだけ前記電極の側に突出されていることを特徴とする請求項6〜8の何れかに記載のプラズマ処理装置。 - 誘電体からなる被処理物を大気圧近傍のプラズマ放電に晒して表面処理するプラズマ処理装置において、
露出された第1金属表面を有する第1ステージ部と、固体誘電体層で被覆された第2金属表面を有して前記第1ステージ部の外周部に設けられた第2ステージ部とを含み、前記第1ステージ部の第1金属表面上に、前記被処理物が周縁部を前記第2ステージ部の側へ突出させるようにして設置されるステージと、
前記ステージに対し、前記第1ステージ部と対向する第1移動範囲と、前記第2ステージ部と対向する第2移動範囲と、この第2移動範囲より前記第1移動範囲側とは反対側の第3移動範囲とを含む範囲で相対移動される第1電極と、
この第1電極の前記第3移動範囲側に配置され、第1電極と一体になって、前記ステージに対し、前記第1移動範囲と前記第2移動範囲と前記第3移動範囲とを含むように相対移動される第2電極と、
前記第1、第2電極が前記第3移動範囲から第2移動範囲を経て第1移動範囲へ向かう入移動のとき、前記第1電極が前記第2移動範囲と第3移動範囲とに跨る位置と前記第1移動範囲の直近に在る位置との間における所定の位置に達した時点で前記第1電極に前記プラズマ放電のための電圧供給を開始する第1電源回路と、
前記入移動のとき、前記第2電極が前記第2移動範囲と第3移動範囲とに跨る位置と前記第1移動範囲の直近に在る位置との間における所定位置に達した時点で前記第2電極に前記プラズマ放電のための電圧供給を開始する第2電源回路と、
を備えたことを特徴とするプラズマ処理装置。
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JP2003133291A (ja) * | 2001-10-26 | 2003-05-09 | Sekisui Chem Co Ltd | 放電プラズマ処理装置及びそれを用いる放電プラズマ処理方法 |
JP2003257948A (ja) * | 2002-03-05 | 2003-09-12 | Seiko Epson Corp | 表面処理方法及び処理装置、有機el装置の製造方法及び製造装置、有機el装置、電子機器 |
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