JP4603036B2 - マクロカンチレバーのような複数のマイクロ及びナノメカニカル要素の変位を検出するためのシステム及び方法 - Google Patents
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Description
光源は、アレイの次の要素間の距離よりも小さい直径を有する光ビームを供給するように配置することができる。
2 アレイ
4 光ビーム
7 走査手段
Claims (14)
- アレイ(2)の一部を形成する複数の要素(1)の撓み、傾斜などの変位を検出するためのシステムであって、
光ビーム(4)をアレイ(2)に向けて放出するように配置された光源(3)と、
該アレイにより反射された光ビームを受光するように配置され、反射された光ビームの入射位置を示す第1の出力を供給するように配置された光学位置検出器であって、該入射位置が、対応する要素の変位によって判断される光学位置検出器と、
光ビームが、アレイ(2)に含まれる個々の要素(1)により位置検出器(5)に向けて順番に反射されるように、該アレイ(2)に含まれる複数の要素(1)の配列方向に沿って該光ビーム(4)を変位させるための走査手段(7)と、
前記光ビームが要素によって反射された時を検出するための反射検出手段(11)とを含んでおり、
前記光ビームが要素によって反射されたことを前記反射検出手段(11)が検出した時に、対応する第1の出力が該要素の変位の指示として取り出されるように配置されており、
そして、前記反射検出手段(11)は、
前記位置検出器によって受光された光の強度を検出するための手段(111)と、
前記強度の変動を検出するための手段(112)と、
を含み、
前記強度の変動から、前記強度が要素による前記光ビームの反射に対応する時を判断できるよう配置されている、
ことを特徴とするシステム。 - 前記強度の変動を検出するための前記手段(112)は、該強度のピークを検出するように配置されており、
前記強度のピークの検出が、要素による前記光ビームの反射の検出となるように配置されている、
ことを特徴とする請求項1に記載のシステム。 - 前記強度に検出された前記変動に従って、前記第1の出力を前記アレイに沿った特定の要素に関連付けるためのデータ処理手段(12)を更に含むことを特徴とする請求項1及び請求項2のいずれか1項に記載のシステム。
- 前記走査手段(7)は、
少なくとも1つの走査要素(72)を第1の位置から第2の位置に移動することにより、該第1の位置から該第2の位置への該走査要素(72)の移動中に前記光ビーム(4)が前記アレイに沿って前記個々の要素によって順番に反射されるように、該アレイに沿って該光ビームを連続的に変位させることによって該アレイの第1の連続的走査を実施するための手段(71)と、
前記反射検出手段によって反射が検出された位置に対応する前記走査要素の選択された位置を前記第1の走査中に記録するための手段(73)と、
1つの選択位置から次の選択位置まで段階的に前記走査要素(72)を変位させることによって前記アレイの次の走査を実施するための手段(74)と、
を含む、
ことを特徴とする請求項1から請求項3のいずれか1項に記載のシステム。 - 前記位置検出器(5)は、光検知器アレイであることを特徴とする請求項1から請求項4のいずれか1項に記載のシステム。
- 前記位置検出器(5)は、連続位置感知検出器であることを特徴とする請求項1から請求項4のいずれか1項に記載のシステム。
- 前記光源(3)は、レーザ光源であることを特徴とする請求項1から請求項6のいずれか1項に記載のシステム。
- 前記光源(3)は、前記アレイの次に続く要素(1)間の距離よりも小さな直径を有する光ビームを供給するように配置されていることを特徴とする請求項1から請求項7のいずれか1項に記載のシステム。
- 前記要素は、マイクロ又はナノメカニカル要素であることを特徴とする請求項1から請求項8のいずれか1項に記載のシステム。
- 前記要素は、カンチレバーであることを特徴とする請求項9に記載のシステム。
- アレイの一部を形成する複数の要素の撓み又は傾斜のような変位を検出し、このようなアレイの一部を形成する複数のマイクロ又はナノメカニカル要素の変位を検出する方法であって、
光ビーム(4)をアレイ(2)の方向に向ける段階と、該アレイによる該光ビームの反射時に光学位置検出器を使用して該光ビームを受光し、該位置検出器から第1の出力を供給する段階とを含み、該第1の出力が、該位置検出器上への該反射された光ビームの入射位置を示し、ここで該入射位置が、対応する要素の変位によって判断され、
さらに、
アレイ(2)に含まれる個々の要素(1)により、位置検出器(5)に向けて光ビーム(4)が順番に反射されるように、該光ビームを該アレイ(2)に含まれる各要素の配列方向に沿って走査する段階と、
前記光ビームが要素によって反射される時を検出する段階と、
前記光ビームが要素によって反射されたことを検出した時に、対応する第1の出力を該要素の変位の指示として取り出す段階と、を含み、
前記光ビームが要素によって反射された時を検出する段階は、
前記位置検出器によって受光された光の強度を検出する段階と、
前記強度の変動を検出する段階と、
前記強度の変動から、前記強度が要素による前記光ビームの反射に対応する時を判断する段階と、
を含む、
ことを特徴とする方法。 - 前記強度の変動を検出する前記段階は、該強度のピークを検出する段階を含み、
前記判断する段階は、前記強度のピークの検出時に、該ピークが要素による前記光ビームの反射に対応すると判断する段階を含む、
ことを特徴とする請求項11に記載の方法。 - 前記位置検出器によって受光された前記光ビームの前記強度の変動に従って、データ処理手段を使用して前記第1の出力を前記アレイに沿った特定の要素に関連付ける段階を更に含むことを特徴とする請求項11及び請求項12のいずれか1項に記載の方法。
- 前記光ビームを走査する前記段階は、
少なくとも1つの走査要素(72)を第1の位置から第2の位置に移動することにより、該第1の位置から該第2の位置への該走査要素(72)の移動中に前記光ビーム(4)が前記アレイに沿って前記個々の要素によって順番に反射されるように、該光ビームを該アレイに沿って連続的に変位させることによって該アレイの第1の連続走査を実施する段階と、
前記走査要素による前記光ビームの反射が検出された位置に対応する該要素の選択された位置を前記第1の走査中に記録する段階と、
1つの選択位置から次の選択位置まで段階的に前記走査要素(71)を変位させることによって前記アレイの次の走査を実施する段階と、
を含む、
ことを特徴とする請求項11から請求項13のいずれか1項に記載の方法。
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