JP4579164B2 - 半導体装置収納用トレイ及びicテスタ - Google Patents
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Description
1a リード端子
1b 位置合せ用孔
1c リードフレーム
1d ダイパッド
1e チップ
2 トレイ台
2a 収納部
2b、3b リブ
3 トレイ蓋
4 接触ピン貫通孔
5 ジグ貫通孔
5a 第1開口
5b 第2開口
10 テストヘッド
11 接触ピン
12 ピン保持部
13 バネ
14、15 位置合せジグ
14a、15a 半導体装置合せ部
14b、15b トレイ蓋合せ部
20 半導体装置収納用トレイ
Claims (3)
- 上面に半導体装置を収納する収納部を備えるトレイ台と、
前記半導体装置を収納したトレイ台を蓋するトレイ蓋と、
前記半導体装置のリード端子直上の前記トレイ蓋に開設され、前記リード端子に接触してICテスタのテストヘッドと前記半導体装置の間で信号を伝達する前記テストヘッドに設けられた接触ピンを挿通する接触ピン貫通孔とを有し、
前記トレイ蓋は、前記テストヘッドに設けられた位置合せジグが嵌挿されて前記トレイ蓋を位置合せするジグ貫通孔を有することを特徴とする半導体装置収納用トレイ。 - 前記ジグ貫通孔は、第1の前記位置合せジグが嵌挿される前記半導体装置上に位置する第1開口と、第2の前記位置合せジグが嵌挿される前記半導体装置の2辺にそれぞれ平行な2辺を有する第2開口とからなることを特徴とする請求項1記載の半導体装置収納用トレイ。
- トレイ台上に収納された半導体装置のリード端子に接触して信号を伝達する接触ピンが下面に設けられた昇降可能なテストヘッドを有するICテスタにおいて、
前記テストヘッドの下面に設けられた位置合せジグと、
前記位置合せジグの下部に形成され、前記半導体装置の水平位置合せをするための半導体装置合せ部と、
前記位置合せジグの前記半導体装置合せ部より上部に形成され、前記半導体装置上を蓋するトレイ蓋に開設されたジグ貫通孔に嵌挿されて前記トレイ蓋の水平位置合せをするためのトレイ蓋合せ部とを有するICテスタ。
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Citations (6)
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---|---|---|---|---|
JPH02122644A (ja) * | 1988-11-01 | 1990-05-10 | Nec Kyushu Ltd | マガジン |
JPH06180345A (ja) * | 1992-12-14 | 1994-06-28 | Fujitsu Ltd | 半導体装置収納用トレイ及び半導体装置の試験装置,試験方法 |
JPH07140190A (ja) * | 1993-11-15 | 1995-06-02 | Nec Kyushu Ltd | 電気的特性試験実施可能なic搬送用トレーおよびそれを用いた電気的特性試験の方法 |
JPH08172140A (ja) * | 1994-12-16 | 1996-07-02 | Oki Electric Ind Co Ltd | 半導体装置とそれに用いるリードフレームおよびその搬送方法並びにその測定方法 |
JPH1098083A (ja) * | 1996-09-19 | 1998-04-14 | Hitachi Ltd | 検査ソケットおよび電気特性検査装置 |
JP2001004699A (ja) * | 1999-06-24 | 2001-01-12 | Hitachi Ltd | 半導体装置の製造方法及び検査用治具 |
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- 2006-01-23 JP JP2006014403A patent/JP4579164B2/ja not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH02122644A (ja) * | 1988-11-01 | 1990-05-10 | Nec Kyushu Ltd | マガジン |
JPH06180345A (ja) * | 1992-12-14 | 1994-06-28 | Fujitsu Ltd | 半導体装置収納用トレイ及び半導体装置の試験装置,試験方法 |
JPH07140190A (ja) * | 1993-11-15 | 1995-06-02 | Nec Kyushu Ltd | 電気的特性試験実施可能なic搬送用トレーおよびそれを用いた電気的特性試験の方法 |
JPH08172140A (ja) * | 1994-12-16 | 1996-07-02 | Oki Electric Ind Co Ltd | 半導体装置とそれに用いるリードフレームおよびその搬送方法並びにその測定方法 |
JPH1098083A (ja) * | 1996-09-19 | 1998-04-14 | Hitachi Ltd | 検査ソケットおよび電気特性検査装置 |
JP2001004699A (ja) * | 1999-06-24 | 2001-01-12 | Hitachi Ltd | 半導体装置の製造方法及び検査用治具 |
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