JP4575446B2 - アナログ入力装置 - Google Patents
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Description
図1は、本発明の実施の形態1におけるアナログ入力装置1の構成図である。図1に示すように、アナログ入力装置1は、熱電対10等のセンサから出力されるアナログ信号9を収集するためのスキャナ回路3と、スキャナ回路3に接続された増幅器5と、増幅器5に接続されたチャンネル選択器6と、チャネル選択器6に接続されたA/D変換器7と、A/D変換器7に接続された制御回路8とを備える。スキャナ回路3は、熱電対10から出力されるアナログ信号9を絶縁するための第1の絶縁トランスT1と、アナログ信号のスキャンのタイミングを制御するスイッチング素子S1と、ドライブパルス41が出力されている期間のみ導通状態になる整流素子31とを含んでいる。さらに、アナログ入力装置1は、ゲート素子411,421と、第2の絶縁トランスT2とが設けられている。第2の絶縁トランスT2は、制御回路8からゲート素子411,421を介してドライブパルス41及び電源パルス42が入力されて、それらを絶縁して伝送するものである。さらに、アナログ入力装置1は、熱電対10の断線あるいは接触不良等の異常を検出するための試験電圧を生成する電源部2が設けられている。なお、電源部2は、試験電圧を充電するための平滑回路20と、試験電圧を熱電対10のインターフェース(図示省略)に印加するための抵抗21とを備えている。なお、平滑回路20は、電源パルス42が出力されている期間のみ導通状態となる整流素子201と、熱電対10の断線検出に使用する試験電圧を充電するためのキャパシタ202とを備えている。本実施の形態においては、第2の絶縁トランスT2は、スキャナ回路3と電源部2との両方に接続されている。
図4に、本発明の実施の形態2におけるアナログ入力装置1の構成図を示す。図4において、第2の絶縁トランスT2の2次側は、直列に接続された、2つの巻き線T21、T22で構成されている。第1の巻き線T21は、スキャナ回路3のスイッチングを行うドライブパルス41の絶縁伝送を行う。また、第2の巻き線T22は、電源部2への給電を行う電源パルス42の絶縁伝送を行う。他の構成および動作については、実施の形態1と同様であるため、ここでは、その説明を省略する。
Claims (6)
- 外部装置から出力されるアナログ信号が入力されて、それを収集するアナログ入力装置であって、
入力されたアナログ信号を絶縁する第1の絶縁トランスを含むスキャナ回路と、
前記外部装置の断線検査に使用するための試験電圧の充電を行う電源部と、
前記スキャナ回路と前記電源部とが互いに並列に接続されている第2の絶縁トランスと、
前記第2の絶縁トランスに入力するパルス信号を出力する制御手段と
を備え、
前記第2の絶縁トランスは、前記スキャナ回路のスイッチングを行うためのドライブパルスが前記制御手段から入力されて、それを絶縁して前記スキャナ回路に伝送するとともに、前記電源部への給電を行うための電源パルスが前記制御手段から入力されて、それを絶縁して前記電源部に伝送し、
前記制御手段は、前記ドライブパルスと前記電源パルスとを同時に出力しないようにタイミングの制御を行って、それらを出力し、
前記電源部は、
前記外部装置の断線検査に使用する前記試験電圧を充電するためのキャパシタと、
前記電源パルスが前記制御手段から出力されている期間のみ導通状態となって、前記キャパシタに前記電源パルスを供給する整流素子と
を備え、
前記スキャナ回路は、前記ドライブパルスが前記制御手段から出力されている期間のみ導通状態となる整流素子を備えている
ことを特徴とするアナログ入力装置。 - 前記電源部の前記整流素子は、ダイオードから構成されており、
当該ダイオードのアノード端子が、前記電源部の前記キャパシタの高電位端子に接続されていることを特徴とする請求項1に記載のアナログ入力装置。 - 前記スキャナ回路は、前記スイッチングを行うための少なくとも1つのスイッチング素子を含み、
前記スイッチング素子はトランジスタから構成されている
ことを特徴とする請求項1または2に記載のアナログ入力装置。 - 前記スイッチング素子を構成している前記トランジスタは、電界効果トランジスタであることを特徴とする請求項3に記載のアナログ入力装置。
- 前記スキャナ回路の前記整流素子はダイオードから構成されており、
当該ダイオードのカソード端子が、前記スキャナ回路の前記スイッチング素子の高電位端子に接続されていることを特徴とする請求項1ないし4のいずれか1項に記載のアナログ入力装置。 - 前記第2の絶縁トランスの2次側が、
前記スキャナ回路の前記スイッチングを行う前記ドライブパルスの絶縁伝送を行う第1の巻き線と、
前記電源部への給電を行う前記電源パルスの絶縁伝送を行う第2の巻き線と、
の直列に接続された2つの巻き線にて構成されている
ことを特徴とする請求項1ないし5のいずれか1項に記載のアナログ入力装置。
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Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH04156270A (ja) * | 1990-10-17 | 1992-05-28 | Yokogawa Electric Corp | 直流安定化電源装置 |
JPH07244561A (ja) * | 1994-03-07 | 1995-09-19 | Mitsubishi Electric Corp | アナログ入力装置 |
Family Cites Families (7)
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---|---|---|---|---|
US3281539A (en) * | 1963-07-16 | 1966-10-25 | Bell Telephone Labor Inc | Control system for communication switching systems |
US3990002A (en) * | 1975-05-07 | 1976-11-02 | Sencore, Inc. | Method and apparatus for testing television yokes and flyback windings |
NL7802422A (nl) * | 1978-03-06 | 1979-09-10 | Philips Nv | Inrichting voor het meten van de lijnconditie van een abonneelijnstroomloop met behulp van een meetweerstand. |
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JPH04156270A (ja) * | 1990-10-17 | 1992-05-28 | Yokogawa Electric Corp | 直流安定化電源装置 |
JPH07244561A (ja) * | 1994-03-07 | 1995-09-19 | Mitsubishi Electric Corp | アナログ入力装置 |
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