JP4561096B2 - Display device - Google Patents

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Description

本発明は、ディスプレイ装置に関し、例えば有機EL(Electro Luminescence)素子によるディスプレイ装置に適用することができる。本発明は、信号レベル保持用のコンデンサの端子間電圧によるゲートソース電圧によりソースフォロワ回路構成によるトランジスタで発光素子を駆動する構成において、このトランジスタのゲート電極をソース側に偏らせることにより、信号レベル保持用のコンデンサの端子間電圧によるゲートソース電圧によりソースフォロワ回路構成によるトランジスタで発光素子を駆動する構成において、輝度レベルの低下を防止して確実に発光素子の経時変化を補正することができるようにする。   The present invention relates to a display device, and can be applied to, for example, a display device using an organic EL (Electro Luminescence) element. In the configuration in which a light emitting element is driven by a transistor having a source follower circuit configuration by a gate source voltage based on a voltage between terminals of a signal level holding capacitor, the present invention biases the gate electrode of the transistor toward the source side, thereby In a configuration in which a light emitting element is driven by a transistor having a source follower circuit configuration by a gate source voltage based on a voltage between terminals of a holding capacitor, it is possible to prevent a decrease in luminance level and reliably correct a change with time of the light emitting element. To.

従来、有機ELの表示装置においては、例えばUSP5,684,365、特開平8−234683号公報等にディスプレイ装置への応用が種々に提案されるようになされている。   Conventionally, in organic EL display devices, various applications to display devices have been proposed, for example, in US Pat. No. 5,684,365 and JP-A-8-234683.

すなわち図9に示すように、この種のディスプレイ装置1において、画素部2は、マトリックス状に配置されてなる画素(PX)3に対して、走査線SCNがライン単位で水平方向に設けられ、またこの走査線SCNと直交するように信号線SIGが各列毎に垂直方向に設けられる。このようにして形成されてなる画素部2に対して、ディスプレイ装置1は、垂直駆動回路4により走査線SCNを駆動して順次ライン単位で画素部2の画素3を駆動すると共に、この画素3の駆動に対応するように水平駆動回路5により信号線SIGを駆動して各画素3の階調を設定するようになされている。   That is, as shown in FIG. 9, in this type of display device 1, the pixel unit 2 has scanning lines SCN provided in a horizontal direction in units of lines with respect to pixels (PX) 3 arranged in a matrix. A signal line SIG is provided in the vertical direction for each column so as to be orthogonal to the scanning line SCN. For the pixel unit 2 formed in this way, the display device 1 drives the scanning lines SCN by the vertical drive circuit 4 to sequentially drive the pixels 3 of the pixel unit 2 in units of lines. The gray level of each pixel 3 is set by driving the signal line SIG by the horizontal drive circuit 5 so as to correspond to the above driving.

有機ELのディスプレイ装置においては、このようにして駆動される各画素3が、電流駆動による自発光型の素子である有機EL素子と、この有機EL素子を駆動する各画素の駆動回路(以下、画素回路と呼ぶ)とにより形成されるようになされている。   In the organic EL display device, each pixel 3 driven in this manner includes an organic EL element that is a self-luminous element driven by current driving, and a driving circuit (hereinafter referred to as a pixel driving circuit) that drives the organic EL element. (Referred to as a pixel circuit).

このため垂直駆動回路4は、ライトスキャン回路(WSCN)4Aにより、各画素3への書き込みをライン単位で順次指示する書き込み信号wsを生成し、この書き込み信号wsを走査線SCNに出力して各画素3における階調の設定を制御するようになされている。また水平駆動回路5は、各画素3の階調を指示する階調データD1に応じて駆動信号を生成し、この駆動信号を水平セレクタ(HSEL)5Aにより各信号線SIGに振り分けて出力し、これらによりディスプレイ装置1は、ライン単位で各画素3の階調を設定するようになされている。   For this reason, the vertical drive circuit 4 generates a write signal ws for sequentially instructing writing to each pixel 3 in line units by the write scan circuit (WSCN) 4A, and outputs the write signal ws to the scan line SCN. The setting of gradation in the pixel 3 is controlled. The horizontal drive circuit 5 generates a drive signal in accordance with the gradation data D1 indicating the gradation of each pixel 3, distributes this drive signal to each signal line SIG by the horizontal selector (HSEL) 5A, and outputs it. Thus, the display device 1 is configured to set the gradation of each pixel 3 in line units.

しかしてこのようにして形成されるディスプレイ装置においては、nチャンネルMOS型のTFT(Thin Film Transistor)により各画素回路を形成することにより、また有機EL素子のアノードをトランジスタに接続してこのトランジスタにより電流駆動することにより、アモルファスシリコンのプロセスを適用して有機EL素子と画素回路とをガラス基板上に一体に形成することができ、これにより図10に示すように、ソースフォロワ回路構成により有機EL素子12を駆動することが考えられる。   In the display device thus formed, each pixel circuit is formed by an n-channel MOS type TFT (Thin Film Transistor), and the anode of the organic EL element is connected to the transistor. By driving with current, an organic EL element and a pixel circuit can be integrally formed on a glass substrate by applying an amorphous silicon process. As a result, as shown in FIG. It is conceivable to drive the element 12.

すなわちこの図10に示すディスプレイ装置11は、各画素3において、有機EL素子12のアノードにソースを接続してなるソースフォロワ回路構成のトランジスタTR2により有機EL素子12を電流駆動するように形成され、このトランジスタTR2のゲートに信号レベル保持用のコンデンサC1が設けられる。ここでこの信号レベル保持用のコンデンサC1は、一端がトランジスタTR2のゲートに接続され、他端が所定の基準電圧に設定され、この図10に示す例では、この基準電圧が電源電圧Vccに設定される。ディスプレイ装置11は、垂直駆動回路4に設けたライトスキャン回路4Aから書き込み信号wsを出力するようにして、この書き込み信号wsによりオン動作するトランジスタTR1によるスイッチ回路により、この信号レベル保持用のコンデンサC1が信号線SIGに接続され、これにより書き込み信号wsに応動して信号線SIGに出力される駆動信号の信号レベルによりトランジスタTR2のゲート電圧Vgが設定される。これによりこのディスプレイ装置11は、このように設定されたゲート電圧Vgに応じた電流により有機EL素子12を駆動し、階調データD1に応じた階調により各画素3の有機EL素子12を発光させて所望の画像を表示できるようになされている。   That is, the display device 11 shown in FIG. 10 is formed in each pixel 3 so that the organic EL element 12 is current-driven by the transistor TR2 having a source follower circuit configuration in which the source is connected to the anode of the organic EL element 12. A signal level holding capacitor C1 is provided at the gate of the transistor TR2. The signal level holding capacitor C1 has one end connected to the gate of the transistor TR2 and the other end set to a predetermined reference voltage. In the example shown in FIG. 10, this reference voltage is set to the power supply voltage Vcc. Is done. The display device 11 outputs the write signal ws from the write scan circuit 4A provided in the vertical drive circuit 4, and this signal level holding capacitor C1 by the switch circuit by the transistor TR1 that is turned on by the write signal ws. Is connected to the signal line SIG, whereby the gate voltage Vg of the transistor TR2 is set according to the signal level of the drive signal output to the signal line SIG in response to the write signal ws. As a result, the display device 11 drives the organic EL element 12 with a current corresponding to the gate voltage Vg set in this way, and emits the organic EL element 12 of each pixel 3 with a gradation corresponding to the gradation data D1. Thus, a desired image can be displayed.

しかしながら有機EL素子においては、図11に示すように、使用により電流が流れ難くなる方向に電流電圧特性が変化する。なおこの図11及び図12において、符号L1が初期の特性を示し、符号L2が経時変化による特性を示すものである。これに対して図10について上述したソーフフォロワ回路による駆動においては、図12に示すように、トランジスタTR2のドレインソース間電圧Vds−ドレインソース電流Idsの特性曲線に対して、負荷による特性曲線が交差してなる交点が動作点となる。これにより有機EL素子において、電圧電流特性が変化すると、その分、有機EL素子に流れる電流が減少し、これらにより各画素の輝度が徐々に低下する問題がある。   However, in an organic EL element, as shown in FIG. 11, the current-voltage characteristics change in a direction in which current hardly flows by use. In FIG. 11 and FIG. 12, the symbol L1 indicates the initial characteristics, and the symbol L2 indicates the characteristics due to changes over time. On the other hand, in the driving by the sofa follower circuit described above with reference to FIG. 10, the characteristic curve due to the load intersects the characteristic curve of the drain-source voltage Vds−drain source current Ids of the transistor TR2, as shown in FIG. The intersecting point becomes the operating point. Accordingly, in the organic EL element, when the voltage-current characteristic is changed, the current flowing through the organic EL element is reduced correspondingly, thereby causing a problem that the luminance of each pixel is gradually lowered.

この問題を解決する1つの方法として、このような単なるゲート電圧Vgによる階調の設定に代えてゲートソース間電圧Vgsによる階調の設定により有機EL素子12の駆動電流を制御する方法が考えられる。すなわちTFTのドレイン電流Idsにおいては、次式により表され、これによりゲートソース間電圧Vgsによる階調の設定により経時変化による駆動電流の変化を防止することができる。ここでμはキャリアの移動度、Wはゲート幅、Lはゲート長、Coxは単位面積当たりのゲート容量、Vthはしきい値電圧である。   As one method for solving this problem, a method of controlling the drive current of the organic EL element 12 by setting the gradation by the gate-source voltage Vgs instead of such a simple gradation setting by the gate voltage Vg can be considered. . In other words, the drain current Ids of the TFT is expressed by the following equation, whereby it is possible to prevent a change in drive current due to a change with time by setting a gradation by the gate-source voltage Vgs. Here, μ is the carrier mobility, W is the gate width, L is the gate length, Cox is the gate capacitance per unit area, and Vth is the threshold voltage.

Figure 0004561096
これにより図10との対比により図13に示すように、各画素23において、トランジスタTR2のゲートに対する信号レベル保持用のコンデンサC1の配置に代えて、このトランジスタTR2のゲートソース間に信号レベル保持用のコンデンサC2を配置し、この信号レベル保持用のコンデンサC2に信号線SIGの信号レベルを設定する。またドライブスキャン信号ds1によりオン動作するトランジスタTR3をトランジスタTR2のソースに接続し、信号レベル保持用のコンデンサC2に信号線SIGの信号レベルを設定する期間の間、このトランジスタTR3によりトランジスタTR2のソース電位を一定電位に設定する。これにより画素23においては、発光素子である有機EL素子12の発光、非発光を制御する発光制御用のスイッチ回路をトランジスタTR3により構成する。なお図13においては、この一定電位がアース電位の場合である。
Figure 0004561096
Accordingly, as shown in FIG. 13 in comparison with FIG. 10, in each pixel 23, instead of disposing the signal level holding capacitor C1 with respect to the gate of the transistor TR2, a signal level holding signal is provided between the gate and source of the transistor TR2. The capacitor C2 is disposed, and the signal level of the signal line SIG is set in the signal level holding capacitor C2. Further, the transistor TR3 that is turned on by the drive scan signal ds1 is connected to the source of the transistor TR2, and during the period in which the signal level of the signal line SIG is set in the signal level holding capacitor C2, the transistor TR3 causes the source potential of the transistor TR2 to be set. Is set to a constant potential. Accordingly, in the pixel 23, a switch circuit for light emission control for controlling light emission and non-light emission of the organic EL element 12 which is a light emitting element is configured by the transistor TR3. In FIG. 13, this constant potential is a ground potential.

またこのような画素23による画素部22の構成に対応して、垂直駆動回路24においては、ライトスキャン回路24Aに加えて、このライトスキャン回路24Aによる書き込み信号wsの出力に同期してドライブスキャン信号ds1を出力するドライブスキャン回路(DSCN)24Bを設け、また水平駆動回路25においては、各画素の階調を指示する階調データD1に応じて駆動信号を生成し、水平セレクタ25Aより出力する。   Corresponding to the configuration of the pixel portion 22 by such pixels 23, in the vertical drive circuit 24, in addition to the write scan circuit 24A, a drive scan signal is synchronized with the output of the write signal ws by the write scan circuit 24A. A drive scan circuit (DSCN) 24B for outputting ds1 is provided, and in the horizontal drive circuit 25, a drive signal is generated in accordance with gradation data D1 indicating the gradation of each pixel, and is output from the horizontal selector 25A.

これらにより図14及び図15に示すように、ディスプレイ装置21では、信号レベル保持用のコンデンサC2の端子間電圧によるゲートソース間電圧VgsによりトランジスタTR2で有機EL素子12を駆動して、ドライブスキャン信号ds1によるトランジスタTR3のオンオフ動作により有機EL素子12の発光、非発光を制御する。またこのトランジスタTR3により信号レベル保持用のコンデンサC2のソース側端をアース電位に設定した状態で、トランジスタTR1により信号レベル保持用のコンデンサC2のゲート側端を信号線SIGの信号レベルVinに設定する。なお図15(A)〜(D)は、それぞれ図14における期間TA〜TDに対応する画素23の接続である。   As a result, as shown in FIGS. 14 and 15, in the display device 21, the organic EL element 12 is driven by the transistor TR2 by the gate-source voltage Vgs based on the voltage across the terminals of the signal level holding capacitor C2, and the drive scan signal Light emission and non-light emission of the organic EL element 12 are controlled by the on / off operation of the transistor TR3 by ds1. The transistor TR3 sets the gate side end of the signal level holding capacitor C2 to the signal level Vin of the signal line SIG while the transistor TR3 sets the source side end of the signal level holding capacitor C2 to the ground potential. . 15A to 15D show connections of the pixels 23 corresponding to the periods TA to TD in FIG.

このようにしてゲートソース間電圧Vgsによる階調の設定により有機EL素子12の駆動電流を制御すれば、有機EL素子12の特性が変化した場合であっても、階調データにより決まる一定電流により駆動し得、これにより経時変化による画質の劣化等を有効に回避することができる。これによりアモルファスシリコンによるTFTにより画素部を作成して高品位の画像を表示することができる。   In this way, if the drive current of the organic EL element 12 is controlled by setting the gradation based on the gate-source voltage Vgs, even if the characteristics of the organic EL element 12 change, the constant current determined by the gradation data is used. Accordingly, it is possible to effectively avoid degradation of image quality due to changes over time. As a result, a pixel portion can be created by a TFT made of amorphous silicon and a high-quality image can be displayed.

これに対してアモルファスシリコンによるTFTにおいては、ボトムゲート方式が広く適用され、このボトムゲート方式にあっては、チャンネルエッチ型とチャンネルストッパー型との2種類のデバイス構造が広く適用されるようになされている。   On the other hand, in the TFT made of amorphous silicon, the bottom gate method is widely applied, and in this bottom gate method, two kinds of device structures of a channel etch type and a channel stopper type are widely applied. ing.

ここでチャンネルエッチ型のTFTは、ソースドレインを横切る方向に断面を取って図16に示すように、基板41上に、例えば長方形形状によりゲート電極42が形成され、このゲート電極42を覆うようにゲート酸化膜43が形成される。さらにこのゲート酸化膜43上に、アモルファスシリコン膜44、n型不純物をドープしたアモルファスシリコン膜45が順次堆積され、ドレイン電極46、ソース電極47が形成される。チャンネルエッチ型のTFTは、これらドレイン電極46、ソース電極47が所定の間隔を隔てて形成され、これによりこれらドレイン電極46、ソース電極47の間に、チャンネル領域が形成される。またこのソースドレインを横切る方向については、ゲート電極42の中央が、このチャンネル領域の中央となるように、ドレイン電極46、ソース電極47が形成され、これによりドレイン電極46とゲート電極42とが重なり合う部位の面積と、ソース電極47とゲート電極42とが重なり合う部位の面積にあっては、ほぼ等しくなるように形成されるようになされている。   Here, in the channel etch type TFT, a cross section is taken in a direction crossing the source and drain, and as shown in FIG. 16, a gate electrode 42 is formed in a rectangular shape on the substrate 41, for example, and covers the gate electrode 42. A gate oxide film 43 is formed. Further, on this gate oxide film 43, an amorphous silicon film 44 and an amorphous silicon film 45 doped with n-type impurities are sequentially deposited to form a drain electrode 46 and a source electrode 47. In the channel etch type TFT, the drain electrode 46 and the source electrode 47 are formed at a predetermined interval, and a channel region is formed between the drain electrode 46 and the source electrode 47. Further, in the direction crossing the source / drain, the drain electrode 46 and the source electrode 47 are formed so that the center of the gate electrode 42 becomes the center of the channel region, whereby the drain electrode 46 and the gate electrode 42 overlap each other. The area of the part and the area of the part where the source electrode 47 and the gate electrode 42 overlap are formed so as to be substantially equal.

これに対してチャンネルストッパー型のTFTは、図16との対比により図17に示すように、同様に基板41上に、ゲート電極42、ゲート酸化膜43、アモルファスシリコン膜44、n型不純物をドープしたアモルファスシリコン膜45が順次堆積された後、チャンネル領域に絶縁層48が形成され、その後、ドレイン電極46、ソース電極47が形成される。チャンネルエッチ型のTFTにおいても、ソースドレインを横切る方向については、ゲート電極42の中央が、このチャンネル領域の中央となるように、ドレイン電極46、ソース電極47が形成され、これによりドレイン電極46とゲート電極42とが重なり合う部位の面積と、ソース電極47とゲート電極42とが重なり合う部位の面積にあっては、ほぼ等しくなるように形成されるようになされている。   On the other hand, the channel stopper type TFT is similarly doped with a gate electrode 42, a gate oxide film 43, an amorphous silicon film 44, and an n-type impurity on the substrate 41 as shown in FIG. 17 in comparison with FIG. After the amorphous silicon films 45 are sequentially deposited, an insulating layer 48 is formed in the channel region, and then a drain electrode 46 and a source electrode 47 are formed. Also in the channel etch type TFT, the drain electrode 46 and the source electrode 47 are formed so that the center of the gate electrode 42 becomes the center of the channel region in the direction crossing the source / drain. The area of the portion where the gate electrode 42 overlaps and the area of the portion where the source electrode 47 and the gate electrode 42 overlap are formed to be substantially equal.

ところで図13について上述した画素23においては、図14との対比により図18に示すように、トランジスタTR3をオフ状態に設定すると、信号レベル保持用のコンデンサC2に設定された端子間電圧によるゲートソース電圧VgsによりトランジスタTR2が有機EL素子12を駆動し、これにより例えばこの有機EL素子12の駆動に供する階調が有機EL素子12を発光させる階調の場合、トランジスタTR2のソース電圧Vsにおいては徐々に上昇する。またこのソース電圧Vsの上昇に連動してトランジスタTR2のゲート電圧も上昇し、これによりトランジスタTR2のゲートソース間電圧Vgsにおいては、信号線SIGの信号レベルにより設定された電圧に保持されるはずである。   By the way, in the pixel 23 described above with reference to FIG. 13, when the transistor TR3 is set to the OFF state as shown in FIG. 18 in comparison with FIG. 14, the gate source by the inter-terminal voltage set in the signal level holding capacitor C2 is set. When the transistor TR2 drives the organic EL element 12 by the voltage Vgs and, for example, the gradation used for driving the organic EL element 12 is a gradation that causes the organic EL element 12 to emit light, the source voltage Vs of the transistor TR2 gradually increases. To rise. Further, the gate voltage of the transistor TR2 also rises in conjunction with the rise of the source voltage Vs, whereby the gate-source voltage Vgs of the transistor TR2 should be held at a voltage set by the signal level of the signal line SIG. is there.

しかしながら実際上、トランジスタTR1、TR2の寄生容量により、トランジスタTR2のゲートソース間電圧Vgsにおいては、有機EL素子12の駆動電流が増大してソース電圧Vsが増大すればする程、当初設定されたゲートソース間電圧Vgsより低下することになる。すなわち図19に示すように、この図13の構成に係るトランジスタT2においては、トランジスタTR2のゲートソース間の寄生容量Cpgs、トランジスタTR2のゲートドレイン間の寄生容量Cpgd、トランジスタTR1のゲートソース間の寄生容量CpwsがトランジスタTR2のゲートラインに介在することにより、ソース電圧Vsの電圧上昇分ΔVsに対して、ゲート電圧Vgの電圧上昇分ΔVgは、次式により示すように、これらの寄生容量Cpgs、Cpgd、Cpws、信号保持用のコンデンサC2の容量Csによる容量分割により表されることになる。   However, in practice, due to the parasitic capacitances of the transistors TR1 and TR2, the gate-source voltage Vgs of the transistor TR2 increases as the drive current of the organic EL element 12 increases and the source voltage Vs increases. It will be lower than the source-to-source voltage Vgs. That is, as shown in FIG. 19, in the transistor T2 according to the configuration of FIG. 13, the parasitic capacitance Cpgs between the gate and source of the transistor TR2, the parasitic capacitance Cpgd between the gate and drain of the transistor TR2, and the parasitic between the gate and source of the transistor TR1. Since the capacitance Cpws is interposed in the gate line of the transistor TR2, the voltage increase ΔVg of the gate voltage Vg with respect to the voltage increase ΔVs of the source voltage Vs is equal to the parasitic capacitances Cpgs and Cpgd as shown by the following equation. , Cpws, and capacitance division by the capacitance Cs of the signal holding capacitor C2.

Figure 0004561096
この(3)式を整理すると、次式により表すことができる。
Figure 0004561096
If this formula (3) is arranged, it can be expressed by the following formula.

Figure 0004561096
ここで信号レベル保持用のコンデンサC2への信号線SIGの信号レベルVinの設定時にあっては、ソース間電圧Vgsを次式により表すことができる。
Figure 0004561096
Here, when the signal level Vin of the signal line SIG is set to the signal level holding capacitor C2, the source-to-source voltage Vgs can be expressed by the following equation.

Figure 0004561096
これに対して有機EL素子12の駆動を開始した後のゲート電圧V’gにあっては、(3)式の利得gを用いてg・ΔVsにより表し得ることにより、このときのゲートソース間電圧V’gsは、次式により表すことができる。
Figure 0004561096
On the other hand, the gate voltage V′g after the driving of the organic EL element 12 is started can be expressed by g · ΔVs using the gain g of the equation (3). The voltage V′gs can be expressed by the following equation.

Figure 0004561096
これにより図13に係る構成においては、ソース電圧Vsの電圧上昇に対してゲート電圧Vgの電圧上昇が十分に追従できないことが判る。
Figure 0004561096
Accordingly, it can be seen that the increase in the gate voltage Vg cannot sufficiently follow the increase in the source voltage Vs in the configuration according to FIG.

これに対して図13に示す構成において、信号線用のトランジスタTR1においては、リーク電流を小さくすることが必要なことにより、一般に、小型に作成することになり、これによりこのトランジスタTR1の寄生容量Cpwsにあっては、このようなソース電圧Vsの上昇によるゲートソース間電圧Vgsの低下に対して、影響が小さいものとなる。しかしながらトランジスタTR2においては、有機EL素子12を電流駆動することが必要なことにより、形状も大型になり、これにより寄生容量Cpgs、Cpgdも大きくなり、このようなソース電圧Vsの上昇によるゲートソース間電圧Vgsの低下に対して、大きな影響を与えることになる。   On the other hand, in the configuration shown in FIG. 13, in the signal line transistor TR1, since it is necessary to reduce the leakage current, the transistor TR1 is generally made small, whereby the parasitic capacitance of the transistor TR1. In Cpws, the influence on the decrease in the gate-source voltage Vgs due to the increase in the source voltage Vs is small. However, in the transistor TR2, since the organic EL element 12 needs to be driven by current, the shape becomes large, thereby increasing the parasitic capacitances Cpgs and Cpgd. This greatly affects the decrease in the voltage Vgs.

このようにソース電圧Vsの上昇によりトランジスタTR2のゲートソース電圧Vgsが低下すると、結局、ディスプレイ装置においては、画素の輝度レベルが低下することになる。   Thus, when the gate source voltage Vgs of the transistor TR2 decreases due to the increase in the source voltage Vs, the luminance level of the pixel in the display device eventually decreases.

また有機EL素子12においては、図11について上述したように電流が流れ難くなる方向に経時変化することにより、信号レベル保持用のコンデンサC2の端子電圧を同一の信号レベルVinにより設定した場合でも、経時変化により電流が流れ難くなっている場合には、その分、ソース電圧Vsの電圧上昇ΔVsが大きくなる。このようにソース電圧Vsの電圧上昇ΔVsが大きくなると、その分、(5)式よりトランジスタTR2のゲートソース電圧Vgsが小さくなり、これにより有機EL素子12の駆動電流が減少し、十分に有機EL素子12の経時変化を補正できなくなる。
USP5,684,365 特開平8−234683号
Further, in the organic EL element 12, even when the terminal voltage of the signal level holding capacitor C2 is set by the same signal level Vin by changing with time in a direction in which the current hardly flows as described above with reference to FIG. In the case where it is difficult for the current to flow due to the change over time, the voltage increase ΔVs of the source voltage Vs increases accordingly. Thus, when the voltage increase ΔVs of the source voltage Vs is increased, the gate-source voltage Vgs of the transistor TR2 is decreased by the corresponding amount from the equation (5), thereby reducing the driving current of the organic EL element 12 and sufficiently organic EL. The change with time of the element 12 cannot be corrected.
USP 5,684,365 JP-A-8-234683

本発明は以上の点を考慮してなされたもので、信号レベル保持用のコンデンサの端子間電圧によるゲートソース電圧によりソースフォロワ回路構成によるトランジスタで発光素子を駆動する構成において、輝度レベルの低下を防止して確実に発光素子の経時変化を補正することができるディスプレイ装置を提案しようとするものである。   The present invention has been made in consideration of the above points. In a configuration in which a light emitting element is driven by a transistor having a source follower circuit configuration by a gate source voltage by a voltage between terminals of a signal level holding capacitor, the luminance level is reduced. An object of the present invention is to propose a display device that can prevent and surely correct a change with time of a light emitting element.

かかる課題を解決するため請求項1の発明においては、電流駆動による画素をマトリックス状に配置してなる画素部と、画素部を駆動する駆動回路とを有するディスプレイ装置に適用して、画素は、発光素子と、ゲートソース間に信号レベル保持用のコンデンサを保持し、信号レベル保持用のコンデンサの端子間電圧によるゲートソース間電圧により発光素子を駆動するソースフォロワ回路による駆動用のトランジスタと、駆動用のトランジスタのゲートを信号線に接続する信号線用のトランジスタと、発光素子の発光を停止させる発光制御用のスイッチ回路とを有し、駆動回路は、発光制御用のスイッチ回路により発光素子の発光を停止させた後、信号用のトランジスタの駆動により、信号線の信号レベルにより信号レベル保持用のコンデンサの端子間電圧を設定し、駆動用のトランジスタは、ゲート電極がソース電極側に偏って形成されてなるようにする。   In order to solve such a problem, in the invention of claim 1, the pixel is applied to a display device having a pixel portion in which pixels driven by current drive are arranged in a matrix and a drive circuit for driving the pixel portion. A driving transistor by a source follower circuit that holds a signal level holding capacitor between a light emitting element and a gate source and drives the light emitting element by a gate-source voltage by a voltage between terminals of the signal level holding capacitor, and driving A signal line transistor for connecting the gate of the transistor for the signal line to the signal line, and a light emission control switch circuit for stopping the light emission of the light emitting element, and the drive circuit of the light emitting element by the light emission control switch circuit After the light emission is stopped, the signal level holding capacitor is driven by the signal level of the signal line by driving the signal transistor. Set the terminal voltage of the sub, the transistor for driving, so that the gate electrode is formed deviated to the source electrode side.

また請求項5の発明においては、電流駆動による画素をマトリックス状に配置してなるディスプレイ装置において、画素は、発光素子と、ゲートソース間に信号レベル保持用のコンデンサを保持し、信号レベル保持用のコンデンサの端子間電圧によるゲートソース間電圧により発光素子を駆動するソースフォロワ回路による駆動用のトランジスタと、駆動用のトランジスタのゲートを信号線に接続し、信号レベル保持用のコンデンサの端子間電圧を信号線の信号レベルにより設定する信号線用のトランジスタと、信号線用のトランジスタにより信号レベル保持用のコンデンサの端子電圧を設定している期間の間、発光素子の発光を停止させる発光制御用のスイッチ回路とを有し、駆動用のトランジスタは、ゲート電極がソース電極側に偏って形成されてなるようにする。   According to a fifth aspect of the present invention, in a display device in which pixels driven by current are arranged in a matrix, the pixel holds a signal level holding capacitor between the light emitting element and the gate source, and the signal level holding The transistor for driving by the source follower circuit that drives the light emitting element by the voltage between the gate and the source due to the voltage between the terminals of the capacitor and the gate of the transistor for driving are connected to the signal line, and the voltage between the terminals of the capacitor for holding the signal level For light emission control that stops light emission of the light emitting element during the period when the terminal voltage of the signal level transistor is set by the signal line transistor and the signal line holding capacitor is set by the signal line signal level. The switching transistor has a gate electrode biased toward the source electrode side. Made is set to be in.

また請求項8の発明においては、有機EL素子による画素をマトリックス状に配置してなるディスプレイ装置に適用して、画素は、有機EL素子と、ゲートソース間に信号レベル保持用のコンデンサを保持し、信号レベル保持用のコンデンサの端子間電圧によるゲートソース間電圧により有機EL素子を駆動するソースフォロワ回路による駆動用のトランジスタと、駆動用のトランジスタのゲートを信号線に接続し、信号レベル保持用のコンデンサの端子間電圧を信号線の信号レベルにより設定する信号線用のトランジスタと、信号線用のトランジスタにより信号レベル保持用のコンデンサの端子電圧を設定している期間の間、有機EL素子の発光を停止させる発光制御用のスイッチ回路とを備え、駆動用のトランジスタは、ゲート電極がソース電極側に偏って形成されてなるようにする。   In the invention of claim 8, the pixel is applied to a display device in which pixels of organic EL elements are arranged in a matrix, and the pixel holds a signal level holding capacitor between the organic EL element and the gate source. A transistor for driving by a source follower circuit for driving an organic EL element by a gate-source voltage by a voltage between terminals of a signal level holding capacitor and a gate of the driving transistor are connected to a signal line to hold the signal level. The signal line transistor for setting the voltage between the terminals of the capacitor according to the signal level of the signal line, and the period for which the terminal voltage of the signal level holding capacitor is set by the signal line transistor A light emission control switch circuit that stops light emission. It formed deviated to scan electrode side set to be in.

請求項1の構成により、電流駆動による画素をマトリックス状に配置してなる画素部と、画素部を駆動する駆動回路とを有するディスプレイ装置に適用して、画素は、発光素子と、ゲートソース間に信号レベル保持用のコンデンサを保持し、信号レベル保持用のコンデンサの端子間電圧によるゲートソース間電圧により発光素子を駆動するソースフォロワ回路による駆動用のトランジスタと、駆動用のトランジスタのゲートを信号線に接続する信号線用のトランジスタと、発光素子の発光を停止させる発光制御用のスイッチ回路とを有し、駆動回路は、発光制御用のスイッチ回路により発光素子の発光を停止させた後、信号線用のトランジスタの駆動により、信号線の信号レベルにより信号レベル保持用のコンデンサの端子間電圧を設定し、駆動用のトランジスタは、ゲート電極がソース電極側に偏って形成されてなるようにすれば、発光素子の発光を停止して信号レベル保持用のコンデンサを信号線の信号レベルにより設定した後、発光素子の発光を開始してソース電圧を立ち上がる駆動用のトランジスタについて、このソース電圧の立ち上がりに応じたゲート電圧の立ち上がりを害する寄生容量を低減し、又は信号レベル保持用のコンデンサの容量を増大させたと同様にしてソース電圧の立ち上がりに応じたゲート電圧の立ち上がりを図ることができる。これにより信号レベル保持用のコンデンサの端子間電圧によるゲートソース電圧によりソースフォロワ回路構成によるトランジスタで発光素子を駆動する構成において、輝度レベルの低下を防止して確実に発光素子の経時変化を補正することができる。   According to the configuration of claim 1, the pixel is applied between a light emitting element and a gate source when applied to a display device having a pixel portion in which pixels driven by current are arranged in a matrix and a driving circuit for driving the pixel portion. The signal level holding capacitor is held in the gate, and the driving transistor by the source follower circuit that drives the light emitting element by the gate-source voltage by the voltage between the terminals of the signal level holding capacitor and the gate of the driving transistor is signaled. A signal line transistor connected to the line, and a light emission control switch circuit for stopping light emission of the light emitting element, the drive circuit after stopping light emission of the light emitting element by the light emission control switch circuit, By driving the transistor for the signal line, the voltage between the terminals of the capacitor for holding the signal level is set according to the signal level of the signal line, If the gate electrode is formed so as to be biased toward the source electrode side, the light emitting element stops the light emission of the light emitting element and sets the signal level holding capacitor according to the signal level of the signal line. As for the driving transistor that starts emitting light and raises the source voltage, the parasitic capacitance that impairs the rise of the gate voltage according to the rise of the source voltage is reduced, or the capacitance of the signal level holding capacitor is increased. Thus, the rise of the gate voltage according to the rise of the source voltage can be achieved. As a result, in the configuration in which the light emitting element is driven by the transistor having the source follower circuit configuration by the gate source voltage based on the voltage between the terminals of the signal level holding capacitor, the luminance level is prevented from being lowered and the temporal change of the light emitting element is reliably corrected. be able to.

これにより請求項5、請求項8の構成によれば、信号レベル保持用のコンデンサの端子間電圧によるゲートソース電圧によりソースフォロワ回路構成によるトランジスタで発光素子、有機EL素子を駆動する構成において、輝度レベルの低下を防止して確実に発光素子、有機EL素子の経時変化を補正することができるディスプレイ装置を提供することができる
Thus, according to the configurations of claims 5 and 8, in the configuration in which the light emitting element and the organic EL element are driven by the transistor having the source follower circuit configuration by the gate source voltage by the voltage between the terminals of the signal level holding capacitor, It is possible to provide a display device that can prevent a decrease in level and reliably correct a change with time of a light emitting element and an organic EL element .

本発明によれば、信号レベル保持用のコンデンサの端子間電圧によるゲートソース電圧によりソースフォロワ回路構成によるトランジスタで発光素子、有機EL素子を駆動する構成において、輝度レベルの低下を防止して確実に発光素子、有機EL素子の経時変化を補正することができる。   According to the present invention, in a configuration in which a light-emitting element and an organic EL element are driven by a transistor having a source follower circuit configuration by a gate-source voltage based on a voltage between terminals of a signal level holding capacitor, a reduction in luminance level is reliably prevented. A change with time of the light emitting element and the organic EL element can be corrected.

以下、適宜図面を参照しながら本発明の実施例を詳述する。   Hereinafter, embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the drawings as appropriate.

(1)実施例の構成
図1は、図16との対比により本発明の実施例に係るディスプレイ装置に適用されるトランジスタを示す断面図である。この実施例に係るディスプレイ装置においては、有機EL素子の駆動に係るトランジスタTR2、このトランジスタTR2のゲートを信号線SIGに接続するトランジスタTR1が、この図1に示す構成により作成される点を除いて、図13について上述したディスプレイ装置21と同一に構成されることにより、以下においては、図13の構成を流用して説明し、重複した説明は省略する。
(1) Configuration of Embodiment FIG. 1 is a cross-sectional view showing a transistor applied to a display device according to an embodiment of the present invention in comparison with FIG. In the display device according to this embodiment, except that the transistor TR2 related to driving of the organic EL element and the transistor TR1 connecting the gate of the transistor TR2 to the signal line SIG are formed by the configuration shown in FIG. The same configuration as that of the display device 21 described above with reference to FIG. 13 will be described below by using the configuration of FIG. 13, and a duplicate description will be omitted.

このディスプレイ装置においては、有機EL素子12を駆動するトランジスタTR2のゲート電極42がソース電極47側にシフトして形成され、これによりゲート電極42がソース電極47側に偏って形成されるようになされている。これによりこのトランジスタTR2は、このようにゲート電極42をソース電極47側に偏らせた分、従来に比してゲートソース間の寄生容量Cpgsが増大し、またこれとは逆にゲートドレイン間の寄生容量Cpgdが減少するようになされている。これによりこのディスプレイ装置では、(3)式、右辺の分子の値が従来に比して増大し、またこの分母の値が従来に比して減少し、その分、従来に比してソース電圧の上昇に十分に追従させてゲート電圧を立ち上げ、ゲートソース間電圧Vgsの変化を低減できるようになされている。   In this display device, the gate electrode 42 of the transistor TR2 that drives the organic EL element 12 is formed by shifting to the source electrode 47 side, whereby the gate electrode 42 is formed biased toward the source electrode 47 side. ing. As a result, in this transistor TR2, the parasitic capacitance Cpgs between the gate and the source is increased as compared with the conventional case by the amount of biasing the gate electrode 42 toward the source electrode 47, and conversely, between the gate and drain. The parasitic capacitance Cpgd is reduced. As a result, in this display device, the value of the numerator on the right side of equation (3) increases compared to the conventional value, and the denominator value decreases compared to the conventional value. The gate voltage is raised by sufficiently following the rise of the gate voltage, and the change in the gate-source voltage Vgs can be reduced.

またこのディスプレイ装置においては、この有機EL素子12を駆動するトランジスタTR2のゲートを信号線SIGに接続するトランジスタTR1について、ゲート電極42がトランジスタTR2のゲート側とは逆側の電極47側にシフトして形成され、これによりゲート電極42がトランジスタTR2のゲート側とは逆側の電極47側に偏って形成されるようになされている。これによりこの信号線用のトランジスタTR1においては、トランジスタTR2のゲートに付加される寄生容量Cpwsが従来に比して小さくなるように設定され、これによっても従来に比してソース電圧の上昇に十分に追従させてゲート電圧を立ち上げ、ゲートソース間電圧Vgsの変化を低減できるようになされている。   In this display device, the gate electrode 42 of the transistor TR1 that connects the gate of the transistor TR2 that drives the organic EL element 12 to the signal line SIG is shifted to the electrode 47 side opposite to the gate side of the transistor TR2. Thus, the gate electrode 42 is formed so as to be biased toward the electrode 47 side opposite to the gate side of the transistor TR2. As a result, in the signal line transistor TR1, the parasitic capacitance Cpws added to the gate of the transistor TR2 is set to be smaller than that of the conventional one, and this is sufficient to increase the source voltage as compared with the conventional one. The gate voltage is raised by following the above and the change in the gate-source voltage Vgs can be reduced.

なお、このようなゲート電極42のシフトは、それぞれトランジスタTR1、TR2がトランジスタとしての機能を損なわない範囲で実行し得、ドレイン電極46側においては、ドレイン電極46のチャンネル領域側端と、ゲート電極42のドレイン電極46側端とがほぼ重なり合う程度までシフトさせることができる。   Note that such a shift of the gate electrode 42 can be performed within a range in which the transistors TR1 and TR2 do not impair the functions of the transistors, respectively, and on the drain electrode 46 side, the channel region side end of the drain electrode 46 and the gate electrode It is possible to shift to the extent that the end of the drain electrode 46 side of 42 substantially overlaps.

(2)実施例の動作
以上の構成において、このディスプレイ装置21は(図13)、垂直駆動回路24による走査線SCN、SCN1の駆動により順次ライン単位で画素部22の画素23に信号線SIGの信号レベルが設定され、この各画素23に設定した信号レベルにより各画素23が発光して所望の画像が表示される。
(2) Operation of Embodiment In the above configuration, the display device 21 (FIG. 13) is configured to apply the signal line SIG to the pixels 23 of the pixel unit 22 in units of lines sequentially by driving the scanning lines SCN and SCN1 by the vertical drive circuit 24. A signal level is set, and each pixel 23 emits light according to the signal level set for each pixel 23 to display a desired image.

ディスプレイ装置21では、各画素23において、有機EL素子12を駆動するソースフォロワ回路構成のトランジスタTR2のゲートソース間に信号レベル保持用のコンデンサC2が設けられ(図13)、トランジスタTR3によるスイッチ回路によりこのトランジスタTR2のソースを基準電圧であるアース電位に設定し、またトランジスタTR1によるスイッチ回路によりトランジスタTR2のゲートを信号線SIGに接続することにより、信号線SIGの信号レベルがこの信号レベル保持用のコンデンサC2に設定される。またこのようにして設定した信号レベル保持用のコンデンサC2によるゲートソース間電圧VgsによりトランジスタTR2で有機EL素子12が電流駆動される。   In the display device 21, in each pixel 23, a signal level holding capacitor C2 is provided between the gate and source of the transistor TR2 having a source follower circuit configuration for driving the organic EL element 12 (FIG. 13). The source of the transistor TR2 is set to the ground potential which is a reference voltage, and the gate of the transistor TR2 is connected to the signal line SIG by the switch circuit by the transistor TR1, so that the signal level of the signal line SIG is for holding the signal level. Set to capacitor C2. Further, the organic EL element 12 is driven by the transistor TR2 by the gate-source voltage Vgs by the signal level holding capacitor C2 set in this way.

これによりこのディスプレイ装置21では、有機EL素子12の特性が経時変化した場合でも、階調データD1に応じた電流駆動により有機EL素子12を駆動することができる。またnチャンネルMOS型によるTFTを用いたソースフォロワ回路により有機EL素子12をアノード側より電流駆動することができる。   Thereby, in this display device 21, even when the characteristics of the organic EL element 12 change with time, the organic EL element 12 can be driven by current driving according to the gradation data D1. Further, the organic EL element 12 can be driven from the anode side by a source follower circuit using an n-channel MOS type TFT.

すなわち各画素23においては、このようにして信号線SIGの信号レベルにより信号レベル保持用のコンデンサC2の端子電圧を設定すると、トランジスタTR1による信号線とトランジスタTR2のゲートとの接続が絶たれ、続いてトランジスタTR3がオフ状態に切り換わり、これによりトランジスタTR2のソースがアースから切り離される。これにより各画素23においては、信号レベル保持用のコンデンサC2の端子間電圧によるゲートソース電圧VgsによりトランジスタTR2で有機EL素子12の駆動が開始され、トランジスタTR2のソース電圧Vsが上昇する。また信号レベル保持用のコンデンサC2にゲートソース間電圧Vgsが保持されていることにより、このソース電圧Vsの上昇と連動して、トランジスタTR2のゲート電圧Vgも上昇する。   That is, in each pixel 23, when the terminal voltage of the signal level holding capacitor C2 is set according to the signal level of the signal line SIG in this way, the connection between the signal line by the transistor TR1 and the gate of the transistor TR2 is disconnected. As a result, the transistor TR3 is switched to the OFF state, whereby the source of the transistor TR2 is disconnected from the ground. As a result, in each pixel 23, driving of the organic EL element 12 by the transistor TR2 is started by the gate source voltage Vgs due to the voltage across the terminals of the signal level holding capacitor C2, and the source voltage Vs of the transistor TR2 rises. Since the gate-source voltage Vgs is held in the signal level holding capacitor C2, the gate voltage Vg of the transistor TR2 also rises in conjunction with the rise in the source voltage Vs.

しかしながらこのようにトランジスタTR2のソース電圧Vsの上昇によりゲート電圧Vgが上昇すると、その分、信号レベル保持用のコンデンサC2に保持されている電荷により、トランジスタTR2のゲートドレイン間の寄生容量Cpgd、信号線側のトランジスタTR1のゲート電極とトランジスタTR2側電極との間の寄生容量Cpwsを充電することが必要になる。これにより(3)式に示すように、ソース電圧Vsの電圧上昇ΔVsに対してゲート電圧Vgの電圧上昇ΔVgが小さくなる。   However, when the gate voltage Vg rises due to the rise in the source voltage Vs of the transistor TR2, the parasitic capacitance Cpgd between the gate and drain of the transistor TR2 and the signal are accordingly increased by the charge held in the signal level holding capacitor C2. It is necessary to charge the parasitic capacitance Cpws between the gate electrode of the transistor TR1 on the line side and the transistor TR2 side electrode. As a result, as shown in the equation (3), the voltage increase ΔVg of the gate voltage Vg becomes smaller than the voltage increase ΔVs of the source voltage Vs.

しかしながらこの実施例においては、トランジスタTR2において、ゲート電極42がソース電極47側に偏って形成されていることにより、ゲート電極42とドレイン電極46との間の寄生容量Cpgdにあっては、通常のこの種のトランジスタに比して大きくなるように設定され、これによりこのようなソース電圧Vsの上昇によって信号レベル保持用のコンデンサC2により充電する電荷の量を低減し得、その分、ソース電圧Vsの上昇に精度良く追従させてゲート電圧Vgを上昇させることができ、その分、トランジスタTR2のゲートソース電圧Vgsの変化を低減することができる。   However, in this embodiment, in the transistor TR2, the gate electrode 42 is formed to be biased toward the source electrode 47, so that the parasitic capacitance Cpgd between the gate electrode 42 and the drain electrode 46 is normal. By setting the source voltage Vs to be larger than that of this type of transistor, the amount of charge charged by the signal level holding capacitor C2 can be reduced by the increase of the source voltage Vs. Thus, the gate voltage Vg can be raised with high accuracy and the change in the gate source voltage Vgs of the transistor TR2 can be reduced accordingly.

またこのようにゲート電極42がソース電極47側に偏って形成されていることにより、ゲート電極42とソース電極47との間の寄生容量Cpgsにあっては、この種の通常のトランジスタに比して大きくなるように設定され、これにより信号レベル保持用のコンデンサC2の容量を増大させたと同様の効果を得ることができ、これによってもソース電圧Vsの上昇に精度良く追従させてゲート電圧Vgを上昇させることができ、その分、トランジスタTR2のゲートソース電圧Vgsの変化を低減することができる。   Further, since the gate electrode 42 is formed so as to be biased toward the source electrode 47 in this way, the parasitic capacitance Cpgs between the gate electrode 42 and the source electrode 47 is smaller than that of this type of normal transistor. Thus, it is possible to obtain the same effect as when the capacitance of the signal level holding capacitor C2 is increased, thereby causing the gate voltage Vg to accurately follow the increase in the source voltage Vs. Therefore, the change in the gate-source voltage Vgs of the transistor TR2 can be reduced accordingly.

また同様のゲート電極42を偏らせる構成が信号線SIGをトランジスタTR2のゲートに接続するトランジスタTR1にも適用されて、トランジスタTR2のゲートと書き込み信号wsの走査線SCNとの間の寄生容量Cpwsについて、同種のトランジスタに比して小さくなるように設定され、これによってもソース電圧Vsの上昇に精度良く追従させてゲート電圧Vgを上昇させることができ、その分、トランジスタTR2のゲートソース電圧Vgsの変化を低減することができる。   A similar configuration in which the gate electrode 42 is biased is also applied to the transistor TR1 that connects the signal line SIG to the gate of the transistor TR2, and the parasitic capacitance Cpws between the gate of the transistor TR2 and the scanning line SCN for the write signal ws. The gate voltage Vg can be increased by accurately following the increase of the source voltage Vs, and the gate voltage Vgs of the transistor TR2 can be increased accordingly. Changes can be reduced.

これらによりこのディスプレイ装置では、信号レベル保持用のコンデンサの端子間電圧によるゲートソース電圧によりソースフォロワ回路構成によるトランジスタで発光素子を駆動する構成において、輝度レベルの低下を防止して確実に発光素子の経時変化を補正することができる。   Thus, in this display device, in the configuration in which the light emitting element is driven by the transistor having the source follower circuit configuration by the gate source voltage by the voltage between the terminals of the signal level holding capacitor, the luminance level is prevented from being lowered and the light emitting element is reliably A change with time can be corrected.

(3)実施例の効果
以上の構成によれば、信号レベル保持用のコンデンサの端子間電圧によるゲートソース電圧によりソースフォロワ回路構成によるトランジスタで発光素子を駆動する構成において、このトランジスタのゲート電極をソース側に偏らせることにより、輝度レベルの低下を防止して確実に発光素子の経時変化を補正することができる。
(3) Effects of the embodiment According to the above configuration, in the configuration in which the light emitting element is driven by the transistor having the source follower circuit configuration by the gate source voltage by the voltage between the terminals of the signal level holding capacitor, the gate electrode of this transistor is By biasing toward the source side, it is possible to prevent the luminance level from being lowered and reliably correct the temporal change of the light emitting element.

さらにトランジスタTR2のゲートに信号線を接続するトランジスタについて、ゲート電極を信号線側の電極側に偏って形成したことにより、さらに一段と輝度レベルの低下を防止して確実に発光素子の経時変化を補正することができる。   Furthermore, for the transistor that connects the signal line to the gate of the transistor TR2, the gate electrode is formed to be biased toward the electrode on the signal line side, thereby further preventing the luminance level from decreasing further and reliably correcting the temporal change of the light emitting element. can do.

図2は、図1との対比により本発明の実施例2に係るディスプレイ装置に適用されるトランジスタを示す断面図である。この実施例に係るディスプレイ装置においては、有機EL素子の駆動に係るトランジスタTR2、このトランジスタTR2のゲートを信号線SIGに接続するトランジスタTR1が、この図2に示す構成により作成される点を除いて、図13について上述したディスプレイ装置21と同一に構成されることにより、以下においては、図13の構成を流用して説明し、重複した説明は省略する。   FIG. 2 is a cross-sectional view showing a transistor applied to the display device according to the second embodiment of the present invention in comparison with FIG. In the display device according to this embodiment, the transistor TR2 for driving the organic EL element and the transistor TR1 for connecting the gate of the transistor TR2 to the signal line SIG are formed by the configuration shown in FIG. The same configuration as that of the display device 21 described above with reference to FIG. 13 will be described below by using the configuration of FIG. 13, and a duplicate description will be omitted.

このディスプレイ装置において、有機EL素子12を駆動するトランジスタTR2のゲート電極42は、この種の通常のトランジスタに比して、ドレイン電極46側が短く形成される。これによりこのトランジスタTR2は、チャンネル長方向に、ドレイン電極46側でゲート長を短くして、ゲート電極42がソース電極47側に偏って形成される。これによりこの実施例に係るディスプレイ装置では、その分、従来に比してゲートドレイン間の寄生容量Cpgdが減少するようになされ、(3)式、右辺の分母の値を従来に比して小さくして、ソース電圧Vsの上昇に精度良く追従させてゲート電圧を立ち上げ、ゲートソース間電圧Vgsの変化を低減するようになされている。   In this display device, the gate electrode 42 of the transistor TR2 for driving the organic EL element 12 is formed shorter on the drain electrode 46 side than this type of normal transistor. As a result, the transistor TR2 is formed such that the gate length is shortened on the drain electrode 46 side and the gate electrode 42 is biased toward the source electrode 47 side in the channel length direction. Accordingly, in the display device according to this embodiment, the parasitic capacitance Cpgd between the gate and the drain is reduced by that amount, and the value of the denominator on the right side of equation (3) is made smaller than that in the conventional case. Thus, the gate voltage is raised while accurately following the increase in the source voltage Vs, and the change in the gate-source voltage Vgs is reduced.

またこのディスプレイ装置においては、この有機EL素子12を駆動するトランジスタTR2のゲートを信号線SIGに接続するトランジスタTR1についても、同様にして、ゲート電極42がトランジスタTR2のゲート側とは逆側の電極47側に偏って形成されるようになされる。これによりこの信号線用のトランジスタTR1においては、トランジスタTR2のゲートに付加される寄生容量Cpwsが従来に比して小さくなるように設定され、これによっても従来に比してソース電圧の上昇に十分に追従させてゲート電圧を立ち上げ、ゲートソース間電圧Vgsの変化を低減できるようになされている。   In this display device, the gate electrode 42 of the transistor TR2 that drives the organic EL element 12 is connected to the signal line SIG in the same manner. It is formed so as to be biased toward the 47 side. As a result, in the signal line transistor TR1, the parasitic capacitance Cpws added to the gate of the transistor TR2 is set to be smaller than that of the conventional one, and this is sufficient to increase the source voltage as compared with the conventional one. The gate voltage is raised by following the above and the change in the gate-source voltage Vgs can be reduced.

この実施例のように、チャンネル長方向に、ゲート長を短くすることにより、ゲート電極を偏らせるようにしても、実施例1と同様の効果を得ることができる。   Even if the gate electrode is biased by shortening the gate length in the channel length direction as in this embodiment, the same effect as in the first embodiment can be obtained.

図3は、図1との対比により本発明の実施例3に係るディスプレイ装置に適用されるトランジスタを示す断面図である。この実施例に係るディスプレイ装置においては、有機EL素子の駆動に係るトランジスタTR2が、この図3に示す構成により作成される点を除いて、図13について上述したディスプレイ装置21と同一に構成されることにより、以下においては、図13の構成を流用して説明し、重複した説明は省略する。   FIG. 3 is a cross-sectional view showing a transistor applied to the display device according to the third embodiment of the present invention in comparison with FIG. In the display device according to this embodiment, the transistor TR2 for driving the organic EL element is configured in the same manner as the display device 21 described above with reference to FIG. 13 except that the transistor TR2 is formed by the configuration shown in FIG. Accordingly, in the following description, the configuration of FIG. 13 is used, and redundant description is omitted.

このディスプレイ装置において、有機EL素子12を駆動するトランジスタTR2のゲート電極42は、この種の通常のトランジスタに比して、ソース電極47側が外側に延長するように形成され、またゲート電極42の形状に対応するように、ゲート酸化膜43、アモルファスシリコン膜44、45、ソース電極47が外側に延長するように形成される。これによりこのトランジスタTR2は、チャンネル長方向に、ソース電極47側でゲート長を長くして、ゲート電極42がソース電極47側に偏って形成されるようになされ、その分、従来に比してゲートソース間の寄生容量Cpgsを増大するようになされ、(3)式、右辺の分子の値を従来に比して大きくして、ソース電圧Vsの上昇に十分に追従させてゲート電圧を立ち上げて、ゲートソース間電圧Vgsの変化を低減できるようになされている。   In this display device, the gate electrode 42 of the transistor TR2 for driving the organic EL element 12 is formed so that the source electrode 47 side extends outward as compared with this type of normal transistor, and the shape of the gate electrode 42 is The gate oxide film 43, the amorphous silicon films 44 and 45, and the source electrode 47 are formed so as to extend outward. As a result, the transistor TR2 is formed so that the gate length is increased on the source electrode 47 side in the channel length direction, and the gate electrode 42 is formed biased toward the source electrode 47 side. The parasitic capacitance Cpgs between the gate and the source is increased, and the value of the numerator on the right side of equation (3) is increased as compared with the conventional one, and the gate voltage is raised by sufficiently following the increase of the source voltage Vs. Thus, changes in the gate-source voltage Vgs can be reduced.

この実施例のように、チャンネル長方向に、ゲート長を長くすることにより、ゲート電極を偏らせるようにしても、実施例1と同様の効果を得ることができる。   Even if the gate electrode is biased by increasing the gate length in the channel length direction as in this embodiment, the same effect as in the first embodiment can be obtained.

図4は、図13との対比により本発明の実施例4に係るディスプレイ装置を示す接続図である。このディスプレイ装置51において、画素部52は、画素53がマトリックス状に配置されて形成され、これらの画素53に対して、走査線SCN、SCN1、SCN2がライン単位で水平方向に設けられる。またこれらの走査線SCN、SCN1、SCN2と直交するように信号線SIGが各列毎に垂直方向に設けられる。このようにして形成されてなる画素部52に対して、ディスプレイ装置51は、垂直駆動回路54により走査線SCN、SCN1、SCN2を駆動して順次ライン単位で画素53に設けられた画素回路の動作を制御すると共に、この画素回路の制御に対応するように水平駆動回路55により信号線SIGを駆動して各画素53の階調を設定する。   FIG. 4 is a connection diagram illustrating a display apparatus according to a fourth embodiment of the present invention in comparison with FIG. In the display device 51, the pixel unit 52 is formed by arranging pixels 53 in a matrix, and the scanning lines SCN, SCN1, and SCN2 are provided in the horizontal direction for these pixels 53 in line units. Further, a signal line SIG is provided in the vertical direction for each column so as to be orthogonal to these scanning lines SCN, SCN1, and SCN2. The display device 51 drives the scanning lines SCN, SCN1, and SCN2 by the vertical drive circuit 54 with respect to the pixel portion 52 formed in this manner, and the operation of the pixel circuit provided in the pixel 53 sequentially in line units. And the signal line SIG is driven by the horizontal drive circuit 55 so as to correspond to the control of the pixel circuit, and the gradation of each pixel 53 is set.

このため垂直駆動回路54は、各画素53への書き込みをライン単位で順次指示する書き込み信号wsをライトスキャン回路(WSCN)54Aにより生成し、またこの書き込み信号wsに同期して信号レベルが変化するドライブスキャン信号ds1、ds2をドライブスキャン回路(DSCN)54B、ドライブスキャン回路(DSCN2)54Cにより生成し、これら書き込み信号ws、ドライブスキャン信号ds1、ds2を走査線SCN、SCN1、SCN2に出力するようになされている。水平駆動回路55においては、各画素53の階調を指示する階調データD1に応じて駆動信号を生成し、この駆動信号を水平セレクタ(HSEL)55Aにより各信号線SIGに振り分けて出力するようになされている。   Therefore, the vertical drive circuit 54 generates a write signal ws for sequentially instructing writing to each pixel 53 line by line by the write scan circuit (WSCN) 54A, and the signal level changes in synchronization with the write signal ws. The drive scan signals ds1 and ds2 are generated by the drive scan circuit (DSCN) 54B and the drive scan circuit (DSCN2) 54C, and the write signal ws and the drive scan signals ds1 and ds2 are output to the scan lines SCN, SCN1 and SCN2. Has been made. In the horizontal drive circuit 55, a drive signal is generated according to the gradation data D1 indicating the gradation of each pixel 53, and this drive signal is distributed to each signal line SIG by the horizontal selector (HSEL) 55A and output. Has been made.

画素53は、図5に示すように、信号レベル保持用のコンデンサC2をトランジスタTR2のゲートソースに接続して、この信号レベル保持用のコンデンサC2に設定された端子間電圧によりゲートソース間電圧VgsによりトランジスタTR2で有機EL素子12を駆動する。またこのトランジスタTR2のドレインに設けられたトランジスタTR4のオンオフ制御により、このトランジスタTR2への電源Vccの供給を制御し、これにより有機EL素子12の発光、非発光を制御する。これによりこの実施例では、このトランジスタTR4により、発光素子である有機EL素子12の発光、非発光を制御する発光制御用のスイッチ回路を構成する。また有機EL素子12を非発光としている期間で、トランジスタTR3により信号レベル保持用のコンデンサC2のソース側端を基準電圧であるアース電位に設定し、この状態でトランジスタTR1により信号レベル保持用のコンデンサC2のゲート側端を信号線SIGに接続し、これにより信号レベル保持用のコンデンサC2に信号線SIGの信号レベルVinを設定する。   As shown in FIG. 5, in the pixel 53, a signal level holding capacitor C2 is connected to the gate source of the transistor TR2, and a gate-source voltage Vgs is set by the inter-terminal voltage set in the signal level holding capacitor C2. Thus, the organic EL element 12 is driven by the transistor TR2. Further, on / off control of the transistor TR4 provided at the drain of the transistor TR2 controls the supply of the power source Vcc to the transistor TR2, thereby controlling the light emission and non-light emission of the organic EL element 12. Thus, in this embodiment, the transistor TR4 constitutes a light emission control switch circuit for controlling light emission and non-light emission of the organic EL element 12 as a light emitting element. Further, during the period when the organic EL element 12 is not emitting light, the transistor TR3 sets the source side end of the signal level holding capacitor C2 to the ground potential as the reference voltage, and in this state, the transistor TR1 sets the signal level holding capacitor. The gate side end of C2 is connected to the signal line SIG, thereby setting the signal level Vin of the signal line SIG in the signal level holding capacitor C2.

このディスプレイ装置51では、この有機EL素子12の駆動用のトランジスタTR2が、上述した実施例1〜3に係るディスプレイ装置のトランジスタTR2と同一に形成される。さらに信号線SIGをトランジスタTR2のゲートに接続するトランジスタTR1が、上述の実施例1又は2に係るディスプレイ装置のトランジスタTR1と同一に形成される。   In the display device 51, the driving transistor TR2 of the organic EL element 12 is formed in the same manner as the transistor TR2 of the display device according to the first to third embodiments. Further, the transistor TR1 that connects the signal line SIG to the gate of the transistor TR2 is formed in the same manner as the transistor TR1 of the display device according to the first or second embodiment.

これによりこの実施例においても、信号レベル保持用のコンデンサの端子間電圧によるゲートソース電圧によりソースフォロワ回路構成によるトランジスタで発光素子を駆動する構成において、有機EL素子12の駆動用のトランジスタTR2の電源を制御して発光、非発光を制御するようにして、実施例1と同様の効果を得ることができるようになされている。   Thus, also in this embodiment, in the configuration in which the light emitting element is driven by the transistor having the source follower circuit configuration by the gate source voltage by the voltage between the terminals of the signal level holding capacitor, the power supply of the transistor TR2 for driving the organic EL element 12 is used. By controlling the light emission and non-light emission, the same effect as in the first embodiment can be obtained.

図6は、図13との対比により本発明の実施例4に係るディスプレイ装置を示す接続図である。このディスプレイ装置61において、画素部62は、マトリックス状に配置してなる画素63に対して、走査線SCN、SCN1、SCN2、SCN3がライン単位で水平方向に設けられる。またこれらの走査線SCN、SCN1、SCN2、SCN3と直交するように信号線SIGが各列毎に垂直方向に設けられる。このようにして形成されてなる画素部62に対して、ディスプレイ装置61は、垂直駆動回路64、水平駆動回路65により順次ライン単位で各画素63の階調を設定する。   FIG. 6 is a connection diagram showing a display apparatus according to the fourth embodiment of the present invention in comparison with FIG. In the display device 61, the pixel unit 62 is provided with scanning lines SCN, SCN1, SCN2, and SCN3 in the horizontal direction in units of lines with respect to the pixels 63 arranged in a matrix. A signal line SIG is provided in the vertical direction for each column so as to be orthogonal to the scanning lines SCN, SCN1, SCN2, and SCN3. With respect to the pixel portion 62 formed in this way, the display device 61 sets the gradation of each pixel 63 sequentially in line units by the vertical drive circuit 64 and the horizontal drive circuit 65.

このため垂直駆動回路64は、書き込み信号ws、ドライブスキャン信号ds1、ds2をライトスキャン回路(WSCN)64A、ドライブスキャン回路(DSCN)64B、ドライブスキャン回路(DSCN2)64Cにより生成して走査線SCN、SCN1、SCN2に出力するようになされ、また水平駆動回路65においては、駆動信号を水平セレクタ(HSEL)65Aにより各信号線SIGに出力するようになされている。   Therefore, the vertical drive circuit 64 generates the write signal ws and the drive scan signals ds1 and ds2 by the write scan circuit (WSCN) 64A, the drive scan circuit (DSCN) 64B, and the drive scan circuit (DSCN2) 64C to generate the scan line SCN, The signal is output to SCN1 and SCN2, and in the horizontal drive circuit 65, a drive signal is output to each signal line SIG by a horizontal selector (HSEL) 65A.

このディスプレイ装置61において、垂直駆動回路64は、さらにトランジスタTR2のしきい値電圧Vthの補正を指示する制御信号azをオートゼロ回路(ZERO)64Dで生成して走査線SCN3に出力するようになされている。   In the display device 61, the vertical drive circuit 64 further generates a control signal az instructing correction of the threshold voltage Vth of the transistor TR2 by the auto zero circuit (ZERO) 64D and outputs it to the scanning line SCN3. Yes.

すなわち上述した構成により有機EL素子12の経時変化による画質劣化を防止するようにしても、上述した(1)式により判るように、トランジスタTR2のしきい値電圧Vthがばらついた場合には、その分、各画素23における駆動電流がばらつくようになり、これにより画質が劣化する。このためこのディスプレイ装置61では、信号レベル保持用のコンデンサCs2に信号線SIGの信号レベルVinを設定する際に、事前に、トランジスタTR2のしきい値電圧Vthをこの信号レベル保持用のコンデンサCs2にセットすることによりしきい値電圧Vthのばらつきを補正する。   That is, even if the above-described configuration prevents the deterioration of the image quality due to the aging of the organic EL element 12, if the threshold voltage Vth of the transistor TR2 varies, as can be seen from the above equation (1), Accordingly, the driving current in each pixel 23 varies, and the image quality deteriorates. Therefore, in the display device 61, when the signal level Vin of the signal line SIG is set in the signal level holding capacitor Cs2, the threshold voltage Vth of the transistor TR2 is set in advance to the signal level holding capacitor Cs2. By setting, the variation in threshold voltage Vth is corrected.

すなわち画素63においては、トランジスタTR2のゲートソースに信号レベル保持用のコンデンサCs2を設け、この信号レベル保持用のコンデンサCs2の端子間電圧によるゲートソース電圧VgsによりトランジスタTR2で有機EL素子12を駆動する。またこのトランジスタTR2のドレインに設けたトランジスタTR4のオンオフ制御によりトランジスタTR2への電源Vccの供給を制御して、有機EL素子12の発光、非発光を制御する。   That is, in the pixel 63, the signal level holding capacitor Cs2 is provided at the gate source of the transistor TR2, and the organic EL element 12 is driven by the transistor TR2 by the gate source voltage Vgs based on the voltage across the terminals of the signal level holding capacitor Cs2. . Further, the supply of the power source Vcc to the transistor TR2 is controlled by the on / off control of the transistor TR4 provided at the drain of the transistor TR2, thereby controlling the light emission and non-light emission of the organic EL element 12.

画素63は、この信号レベル保持用のコンデンサCs2に対して、コンデンサCs1を介してトランジスタTR1により信号線SIGの信号レベルを設定するようにして、トランジスタTR2のゲートソース間を短絡させてトランジスタTR2をダイオード接続に切り換えるトランジスタTR5によるスイッチ回路、コンデンサCs1の信号線側端を基準電位に設定するトランジスタTR6によるスイッチ回路が設けられる。これによりこのディスプレイ装置61では、トランジスタTR1によりコンデンサCs1を介して信号線SIGの信号レベルVinにより信号レベル保持用のコンデンサCs2の端子電圧を設定する。この場合、コンデンサCs1を介した信号線SIGへの接続により信号レベル保持用のコンデンサCs2の端子間電圧は、次式により示すように、信号線SIGの信号レベルVinをコンデンサCs1、Cs2により分圧した電圧ΔVinだけ上昇することになる。これによりこの関係式を考慮して、水平駆動回路35により信号線SIGが駆動される。   In the pixel 63, the signal level of the signal line SIG is set by the transistor TR1 via the capacitor Cs1 with respect to the signal level holding capacitor Cs2, and the transistor TR2 is short-circuited between the gate and source of the transistor TR2. A switch circuit by a transistor TR5 that switches to diode connection and a switch circuit by a transistor TR6 that sets the signal line side end of the capacitor Cs1 to a reference potential are provided. Thus, in the display device 61, the terminal voltage of the signal level holding capacitor Cs2 is set by the transistor TR1 through the capacitor Cs1 and the signal level Vin of the signal line SIG. In this case, the voltage between the terminals of the signal level holding capacitor Cs2 due to the connection to the signal line SIG via the capacitor Cs1 is divided by the capacitors Cs1 and Cs2 as shown in the following equation. The voltage ΔVin is increased. Accordingly, the signal line SIG is driven by the horizontal drive circuit 35 in consideration of this relational expression.

Figure 0004561096
これにより図7及び図8に示すように、この場合も、画素63においては、信号レベル保持用のコンデンサCs2に設定された電圧によるゲートソース間電圧VgsによりトランジスタTR2で有機EL素子12を駆動して、有機EL素子12の経時変化による画質劣化が防止される。
Figure 0004561096
As a result, as shown in FIGS. 7 and 8, in this case as well, in the pixel 63, the organic EL element 12 is driven by the transistor TR2 by the gate-source voltage Vgs based on the voltage set in the signal level holding capacitor Cs2. Thus, image quality deterioration due to a change with time of the organic EL element 12 is prevented.

このように信号線SIGの信号レベルVinにより信号レベル保持用のコンデンサCs2の端子電圧を設定する直前で、このディスプレイ装置61は、制御信号azによりトランジスタTR5をオン状態に設定してトランジスタTR2をダイオード接続すると共に、カップリング用のコンデンサCs1の信号線側端を所定の基準電位に保持し、その後、ドライブスキャン信号ds1、ds2の切り換えにより、トランジスタTR2のソースを基準電位に設定すると共に、トランジスタTR2への電源の供給を停止する。   Thus, immediately before setting the terminal voltage of the capacitor Cs2 for holding the signal level by the signal level Vin of the signal line SIG, the display device 61 sets the transistor TR5 to the ON state by the control signal az and makes the transistor TR2 a diode. At the same time, the signal line side end of the coupling capacitor Cs1 is held at a predetermined reference potential, and then the source of the transistor TR2 is set to the reference potential by switching the drive scan signals ds1 and ds2, and the transistor TR2 Stop supplying power to the unit.

これらによりトランジスタTR2においては、一時的に立ち上がったゲート電圧Vgが徐々に低下し、ゲートソース間電圧Vgsがしきい値電圧Vthになると、ゲート電圧Vgの低下が停止し、これにより信号レベル保持用のコンデンサCs2にトランジスタTR2のしきい値電圧Vthが設定される。   As a result, in the transistor TR2, the gate voltage Vg that has risen temporarily decreases gradually, and when the gate-source voltage Vgs reaches the threshold voltage Vth, the decrease in the gate voltage Vg is stopped, thereby maintaining the signal level. The threshold voltage Vth of the transistor TR2 is set in the capacitor Cs2.

これにより制御信号azを切り換えてカップリング用コンデンサCs1の信号線側端を基準電圧より切り離すと共に、トランジスタTR2のダイオード接続を中止した後、書き込み信号wsを立ち上げ、コンデンサCs1を介して信号線SIGの信号レベルVinにより信号レベル保持用のコンデンサCs2の端子電圧を設定する。これにより信号レベル保持用のコンデンサCs2においては、トランジスタTR2のしきい値電圧Vthにより補正されて信号線SIGの信号レベルに対応する電圧が設定され、トランジスタTR2においては、このコンデンサCs2に設定された電圧によるゲートソース間電圧Vgsにより有機EL素子12を電流駆動し、トランジスタTR2のしきい値電圧によるばらつきを防止することができる。なお図8(A)〜(E)は、それぞれ図7における期間TA〜TEに対応するトランジスタの接続である。   As a result, the control signal az is switched to disconnect the signal line side end of the coupling capacitor Cs1 from the reference voltage, and after the diode connection of the transistor TR2 is stopped, the write signal ws is raised and the signal line SIG is passed through the capacitor Cs1. The terminal voltage of the signal level holding capacitor Cs2 is set by the signal level Vin. As a result, the signal level holding capacitor Cs2 is corrected by the threshold voltage Vth of the transistor TR2, and a voltage corresponding to the signal level of the signal line SIG is set. In the transistor TR2, the capacitor Cs2 is set. The organic EL element 12 is current-driven by the gate-source voltage Vgs due to the voltage, and variations due to the threshold voltage of the transistor TR2 can be prevented. 8A to 8E show connection of transistors corresponding to periods TA to TE in FIG. 7, respectively.

画素63は、有機EL素子12の駆動用のトランジスタTR2が、上述した実施例1〜3に係るディスプレイ装置のトランジスタTR2と同一に形成される。さらに信号線SIGをカップリング用のコンデンサCs1に接続するトランジスタTR1、このカップリング用のコンデンサCs1の信号線側端を基準電圧に接続するトランジスタTR6、トランジスタTR2のゲートドレインを短絡させるトランジスタTR5が、上述の実施例1又は2に係るディスプレイ装置のトランジスタTR1と同様にして、駆動用のトランジスタTR2のゲート側とは逆側の電極側に、ゲート電極が偏って形成されるようになされている。   In the pixel 63, the driving transistor TR2 of the organic EL element 12 is formed in the same manner as the transistor TR2 of the display device according to the first to third embodiments. Further, a transistor TR1 that connects the signal line SIG to the coupling capacitor Cs1, a transistor TR6 that connects the signal line side end of the coupling capacitor Cs1 to the reference voltage, and a transistor TR5 that short-circuits the gate drain of the transistor TR2; Similarly to the transistor TR1 of the display device according to the first or second embodiment described above, the gate electrode is formed so as to be biased on the electrode side opposite to the gate side of the driving transistor TR2.

すなわちこのようにしてしきい値電圧Vthを信号レベル保持用のコンデンサCs2に設定した後、信号レベル保持用のコンデンサCs2の端子間電圧を信号線SIGの信号レベルVinに設定する場合にあっても、トランジスタTR2への電源Vccの供給を開始して有機EL素子12の駆動を開始すると、トランジスタTR2のソース電圧Vsが立ち上がり、このソース電圧Vsの立ち上がりに精度良く追従させてトランジスタTR2のゲート電圧Vgを立ち上げることが必要になり、図13について上述したと同様にして、トランジスタTR2等の寄生容量がこのゲート電圧Vgの立ち上がりを害することになる。   That is, even when the threshold voltage Vth is set to the signal level holding capacitor Cs2 in this way, the voltage across the terminals of the signal level holding capacitor Cs2 is set to the signal level Vin of the signal line SIG. When the supply of the power source Vcc to the transistor TR2 is started and the driving of the organic EL element 12 is started, the source voltage Vs of the transistor TR2 rises, and the gate voltage Vg of the transistor TR2 is made to accurately follow the rise of the source voltage Vs. In the same way as described above with reference to FIG. 13, parasitic capacitance such as the transistor TR2 impairs the rise of the gate voltage Vg.

しかしながらこの実施例のように、トランジスタTR2のゲート電極をソース側に偏らせるようにすれば、ゲート電圧Vgの立ち上がりを害する寄生容量Cpgdを小さくし得、また信号レベル保持用のコンデンサCs2の容量Cpgdを等化的に増大させて、ゲート電圧Vgの立ち上がりを図ることができる。またトランジスタTR1、TR5、TR6についても、トランジスタTR2のゲート側とは逆側の電極側にゲート電極を偏らせるようにすれば、ゲート電圧Vgの立ち上がりを害する寄生容量を小さくすることができ、これらにより実施例1と同様の効果を得ることができる。   However, if the gate electrode of the transistor TR2 is biased to the source side as in this embodiment, the parasitic capacitance Cpgd that impairs the rise of the gate voltage Vg can be reduced, and the capacitance Cpgd of the capacitor Cs2 for holding the signal level. Can be increased equally to increase the gate voltage Vg. Also, for the transistors TR1, TR5, TR6, if the gate electrode is biased to the electrode side opposite to the gate side of the transistor TR2, the parasitic capacitance that impairs the rise of the gate voltage Vg can be reduced. Thus, the same effect as in the first embodiment can be obtained.

なお上述の実施例においては、トランジスタTR3により信号レベル保持用のソース側端を基準電圧に設定して信号レベル保持用のコンデンサC2、Cs2の端子電圧を設定することにより、信号線の信号レベルにより信号レベル保持用のコンデンサC2、Cs2の端子間電圧を設定する場合について述べたが、本発明はこれに限らず、有機EL素子のしきい値電圧をこの信号レベル保持用のソース側端の電圧設定基準に適用するようにしてもよい。なおこの場合、駆動用のトランジスタTR2への電源の供給を停止して一定の時間経過により信号レベル保持用のソース側端を有機EL素子のしきい値電圧に設定することができる。   In the above embodiment, the transistor TR3 sets the source side end for holding the signal level to the reference voltage and sets the terminal voltages of the capacitors C2 and Cs2 for holding the signal level. Although the case where the voltage between the terminals of the signal level holding capacitors C2 and Cs2 is set is described, the present invention is not limited to this, and the threshold voltage of the organic EL element is set to the voltage at the source side end for holding the signal level. You may make it apply to a setting reference | standard. In this case, the supply of power to the driving transistor TR2 is stopped, and the source side end for holding the signal level can be set to the threshold voltage of the organic EL element after a certain time has passed.

また上述の実施例においては、チャンネルエッチ型のTFTにより各画素を構成する場合について述べたが、本発明はこれに限らず、チャンネルストッパー型のTFTにより各画素を作成する場合、さらにはトップゲート方式によるTFTにより各画素を構成する場合等にも広く適用することができる。   Further, in the above-described embodiments, the case where each pixel is configured by a channel etch type TFT has been described. However, the present invention is not limited to this, and when each pixel is formed by a channel stopper type TFT, the top gate is further formed. The present invention can be widely applied to the case where each pixel is constituted by TFTs based on the method.

また上述の実施例においては、アモルファスシリコンのプロセスを適用して有機EL素子と画素回路とをガラス基板上に作成する場合について述べたが、本発明はこれに限らず、ポリシリコンによりトランジスタを作成する場合、さらには画素部と別体にシリコン基板により駆動回路を作成した後、画素部と接続して一体化する場合等にも広く適用することができる。   In the above-described embodiment, the case where the organic EL element and the pixel circuit are formed on the glass substrate by applying the amorphous silicon process has been described. However, the present invention is not limited thereto, and the transistor is formed using polysilicon. In this case, the present invention can be widely applied to a case where a driver circuit is formed separately from the pixel portion using a silicon substrate and then connected to the pixel portion to be integrated.

また上述の実施例においては、有機EL素子による発光素子を電流駆動する場合について述べたが、本発明はこれに限らず、電流駆動に係る種々の発光素子によるディスプレイ装置に広く適用することができる。   In the above-described embodiments, the case where the light emitting element by the organic EL element is current-driven has been described. However, the present invention is not limited to this, and can be widely applied to display devices using various light-emitting elements related to current driving. .

本発明は、ディスプレイ装置に関し、例えば有機EL素子によるディスプレイ装置に適用することができる。   The present invention relates to a display device, and can be applied to a display device using an organic EL element, for example.

本発明の実施例1に係るディスプレイ装置に適用されるトランジスタを示す断面図である。It is sectional drawing which shows the transistor applied to the display apparatus which concerns on Example 1 of this invention. 本発明の実施例2に係るディスプレイ装置に適用されるトランジスタを示す断面図である。It is sectional drawing which shows the transistor applied to the display apparatus which concerns on Example 2 of this invention. 本発明の実施例3に係るディスプレイ装置に適用されるトランジスタを示す断面図である。It is sectional drawing which shows the transistor applied to the display apparatus which concerns on Example 3 of this invention. 本発明の実施例4に係るディスプレイ装置を示す接続図である。It is a connection diagram which shows the display apparatus which concerns on Example 4 of this invention. 図4のディスプレイ装置の動作の説明に供するタイムチャートである。5 is a time chart for explaining the operation of the display device of FIG. 4. 本発明の実施例5に係るディスプレイ装置を示す接続図である。It is a connection diagram which shows the display apparatus which concerns on Example 5 of this invention. 図6のディスプレイ装置の動作の説明に供するタイムチャートである。It is a time chart with which it uses for description of operation | movement of the display apparatus of FIG. 図7のタイムチャートの説明に供する接続図である。FIG. 8 is a connection diagram for explaining the time chart of FIG. 7. ディスプレイ装置の構成を示すブロック図である。It is a block diagram which shows the structure of a display apparatus. 有機EL素子によるディスプレイ装置の構成を示す接続図である。It is a connection diagram which shows the structure of the display apparatus by an organic EL element. 有機EL素子の特性を示す特性曲線図である。It is a characteristic curve figure which shows the characteristic of an organic EL element. 有機EL素子の動作点の変化の説明に供する特性曲線図である。It is a characteristic curve figure with which it uses for description of the change of the operating point of an organic EL element. ソースフォロワ回路構成による画素回路を周辺構成と共に示す接続図である。FIG. 3 is a connection diagram illustrating a pixel circuit having a source follower circuit configuration along with a peripheral configuration. 図13の画素回路の動作の説明に供するタイムチャートである。14 is a time chart for explaining the operation of the pixel circuit of FIG. 13. 図14のタイムチャートの説明に供する接続図である。FIG. 15 is a connection diagram for explaining the time chart of FIG. 14. チャンネルエッチ型のTFTを示す断面図である。It is sectional drawing which shows a channel etch type TFT. チャンネルストッパー型のTFTを示す断面図である。It is sectional drawing which shows a channel stopper type TFT. 寄生容量による影響の説明に供するタイムチャートである。It is a time chart used for description of the influence by parasitic capacitance. 寄生容量を示す接続図である。It is a connection diagram which shows a parasitic capacitance.

符号の説明Explanation of symbols

1、11、21、51、61……ディスプレイ装置、2、22、52、62……画素部、3、23、53、63……画素、4、24、54、64……垂直駆動回路、4A、24A、54A、64A……ライトスキャン回路、5、25、55、65……水平駆動回路、12……有機EL素子、24B、54B、54C、64B、64C……ドライブスキャン回路、64D……オートゼロ回路、42……ゲート電極、46……ドレイン電極、47……ソース電極、C1、C2 、Cs1、Cs2……コンデンサ、TR1〜TR6……トランジスタ




1, 11, 21, 51, 61 ... Display device, 2, 22, 52, 62 ... Pixel unit, 3, 23, 53, 63 ... Pixel, 4, 24, 54, 64 ... Vertical drive circuit, 4A, 24A, 54A, 64A ... write scan circuit, 5, 25, 55, 65 ... horizontal drive circuit, 12 ... organic EL element, 24B, 54B, 54C, 64B, 64C ... drive scan circuit, 64D ... ... Auto-zero circuit, 42 ... Gate electrode, 46 ... Drain electrode, 47 ... Source electrode, C1, C2, Cs1, Cs2 ... Capacitor, TR1 to TR6 ... Transistor




Claims (9)

電流駆動による画素をマトリックス状に配置してなる画素部と、前記画素部を駆動する駆動回路とを有するディスプレイ装置において、
前記画素は、
発光素子と、
ゲートソース間に信号レベル保持用のコンデンサを保持し、前記信号レベル保持用のコンデンサの端子間電圧によるゲートソース間電圧により前記発光素子を駆動するソースフォロワ回路による駆動用のトランジスタと、
前記駆動用のトランジスタのゲートを信号線に接続する信号線用のトランジスタと、
前記発光素子の発光を停止させる発光制御用のスイッチ回路とを有し、
前記駆動回路は、
前記発光制御用のスイッチ回路により前記発光素子の発光を停止させた後、前記信号線用のトランジスタの駆動により、前記信号線の信号レベルにより前記信号レベル保持用のコンデンサの端子間電圧を設定し、
前記駆動用のトランジスタは、
ゲート電極がソース電極側に偏って形成された
ディスプレイ装置。
In a display device having a pixel portion in which pixels driven by current are arranged in a matrix and a drive circuit for driving the pixel portion,
The pixel is
A light emitting element;
A transistor for driving by a source follower circuit that holds a signal level holding capacitor between the gate and source, and drives the light emitting element by a gate-source voltage by a voltage between terminals of the signal level holding capacitor;
A signal line transistor for connecting a gate of the driving transistor to a signal line;
A light emission control switch circuit for stopping light emission of the light emitting element,
The drive circuit is
After stopping the light emission of the light emitting element by the switch circuit for light emission control, the voltage between the terminals of the signal level holding capacitor is set by the signal level of the signal line by driving the transistor for the signal line. ,
The driving transistor is:
A display device in which the gate electrode is formed biased toward the source electrode.
前記信号線用のトランジスタは、
ゲート電極が、前記信号線側の電極側に偏って形成された
請求項1に記載のディスプレイ装置。
The transistor for the signal line is
The display device according to claim 1, wherein the gate electrode is formed so as to be biased toward the electrode side on the signal line side.
前記発光制御用のスイッチ回路が、
前記駆動用のトランジスタを電源に接続する電源用のスイッチ回路であり、
前記画素は、
前記駆動用のトランジスタのソースをソース側の基準電圧に接続するソース側のスイッチ回路とを有し、
前記駆動回路は、
前記電源用のスイッチ回路のオンオフ制御により前記発光素子の発光、非発光を制御し、
前記発光素子を非発光とした状態で、前記ソース側のスイッチ回路の駆動により、前記信号レベル保持用のコンデンサの一端を前記ソース側の基準電圧に設定すると共に、前記信号線用のトランジスタの駆動により、前記信号線の信号レベルにより前記信号レベル保持用のコンデンサの他端の電圧を設定することにより、
前記信号線の信号レベルにより前記信号レベル保持用のコンデンサの端子間電圧を設定する
請求項1に記載のディスプレイ装置。
The switch circuit for light emission control,
A switch circuit for a power supply for connecting the driving transistor to a power supply;
The pixel is
A source-side switch circuit for connecting a source of the driving transistor to a source-side reference voltage;
The drive circuit is
The light emission and non-light emission of the light emitting element are controlled by on / off control of the power switch circuit,
While the light emitting element is not emitting light, driving the source side switch circuit sets one end of the signal level holding capacitor to the source side reference voltage and driving the signal line transistor. By setting the voltage at the other end of the signal level holding capacitor according to the signal level of the signal line,
The display device according to claim 1, wherein a voltage between terminals of the signal level holding capacitor is set according to a signal level of the signal line.
前記発光制御用のスイッチ回路が、
前記駆動用のトランジスタを電源に接続する電源用のスイッチ回路であり、
前記画素は、
前記信号線用のトランジスタと前記駆動用のトランジスタのゲートとの間に配置されて、前記信号線用のトランジスタによる前記駆動用のトランジスタのゲートへの前記信号線の接続を仲介するカップリング用のコンデンサと、
前記駆動用のトランジスタのゲートドレインを短絡させる短絡用のトランジスタと、
前記カップリング用のコンデンサの前記信号線側端をコンデンサ側の基準電圧に接続するコンデンサ側のトランジスタとを有し、
前記駆動回路は、
前記コンデンサ側のトランジスタ、前記短絡用のトランジスタをオン状態に設定すると共に、前記電源用のスイッチ回路をオフ状態に設定することにより、前記信号レベル保持用のコンデンサの端子間電圧を前記駆動用のトランジスタのしきい値電圧に設定した後、
前記信号線用のトランジスタの駆動により、前記信号線の信号レベルにより前記信号レベル保持用のコンデンサの端子間電圧を設定し、
前記コンデンサ側のトランジスタ、前記信号線用のトランジスタ、前記短絡用のトランジスタは、
前記駆動用のトランジスタのゲート側とは逆側の電極側に、ゲート電極が偏って形成された
請求項1に記載のディスプレイ装置。
The switch circuit for light emission control,
A switch circuit for a power supply for connecting the driving transistor to a power supply;
The pixel is
The coupling is disposed between the signal line transistor and the gate of the driving transistor, and mediates connection of the signal line to the gate of the driving transistor by the signal line transistor. A capacitor,
A short-circuit transistor that short-circuits the gate and drain of the driving transistor;
A capacitor side transistor that connects the signal line side end of the coupling capacitor to a reference voltage on the capacitor side;
The drive circuit is
The capacitor-side transistor and the short-circuiting transistor are set to an on state, and the power supply switch circuit is set to an off state, whereby the voltage between terminals of the signal level holding capacitor is set to the driving voltage. After setting the threshold voltage of the transistor,
By driving the signal line transistor, the signal level holding capacitor voltage is set according to the signal level of the signal line,
The capacitor side transistor, the signal line transistor, the short circuit transistor,
The display device according to claim 1, wherein a gate electrode is formed to be biased on an electrode side opposite to a gate side of the driving transistor.
電流駆動による画素をマトリックス状に配置してなるディスプレイ装置において、
前記画素は、
発光素子と、
ゲートソース間に信号レベル保持用のコンデンサを保持し、前記信号レベル保持用のコンデンサの端子間電圧によるゲートソース間電圧により前記発光素子を駆動するソースフォロワ回路による駆動用のトランジスタと、
前記駆動用のトランジスタのゲートを信号線に接続し、前記信号レベル保持用のコンデンサの端子間電圧を前記信号線の信号レベルにより設定する信号線用のトランジスタと、
前記信号線用のトランジスタにより前記信号レベル保持用のコンデンサの端子間電圧を設定している期間の間、前記発光素子の発光を停止させる発光制御用のスイッチ回路とを有し、
前記駆動用のトランジスタは、
ゲート電極がソース電極側に偏って形成された
ディスプレイ装置。
In a display device in which pixels driven by current are arranged in a matrix,
The pixel is
A light emitting element;
A transistor for driving by a source follower circuit that holds a signal level holding capacitor between the gate and source, and drives the light emitting element by a gate-source voltage by a voltage between terminals of the signal level holding capacitor;
A signal line transistor for connecting a gate of the driving transistor to a signal line, and setting a voltage between terminals of the signal level holding capacitor according to a signal level of the signal line;
A switch circuit for light emission control for stopping light emission of the light emitting element during a period in which the voltage between the terminals of the signal level holding capacitor is set by the transistor for the signal line,
The driving transistor is:
A display device in which the gate electrode is formed biased toward the source electrode.
前記信号線用のトランジスタは、
ゲート電極が、前記信号線側の電極側に偏って形成された
請求項5に記載のディスプレイ装置。
The transistor for the signal line is
The display device according to claim 5, wherein the gate electrode is formed so as to be biased toward the electrode side on the signal line side.
前記発光制御用のスイッチ回路が、
少なくとも前記信号線用のトランジスタにより前記駆動用のトランジスタを前記信号線に接続している期間の間、前記駆動用のトランジスタへの電源の供給を停止する電源用のスイッチ回路であり、
前記画素は、
少なくとも前記信号線用のトランジスタにより前記駆動用のトランジスタを前記信号線に接続している期間の間、前記駆動用のトランジスタのソースをソース側の基準電圧に接続するソース用のスイッチ回路と、
前記信号線用のトランジスタと前記駆動用のトランジスタのゲートとの間に配置されて、前記信号線用のトランジスタによる前記駆動用のトランジスタのゲートへの前記信号線の接続を仲介するカップリング用のコンデンサと、
前記信号線用のトランジスタにより前記駆動用のトランジスタのゲートを前記信号線に接続する前の所定期間の間、前記駆動用のトランジスタのゲートドレインを短絡させる短絡用のトランジスタと、
前記短絡用のトランジスタにより前記駆動用のトランジスタのゲートドレインを短絡させている期間の間、前記カップリング用コンデンサの前記信号線側端をコンデンサ側の基準電圧に接続するコンデンサ側のトランジスタとを有し、
前記コンデンサ側のトランジスタ、前記信号線用のトランジスタ、前記短絡用のトランジスタは、
前記駆動用のトランジスタのゲート側とは逆側の電極側に、ゲート電極が偏って形成された
請求項5に記載のディスプレイ装置。
The switch circuit for light emission control,
A switch circuit for power supply that stops supply of power to the drive transistor during at least a period in which the drive transistor is connected to the signal line by the signal line transistor;
The pixel is
A source switch circuit for connecting a source of the driving transistor to a reference voltage on a source side at least during a period in which the driving transistor is connected to the signal line by the signal line transistor;
The coupling is disposed between the signal line transistor and the gate of the driving transistor, and mediates connection of the signal line to the gate of the driving transistor by the signal line transistor. A capacitor,
A shorting transistor that short-circuits the gate drain of the driving transistor during a predetermined period before the gate of the driving transistor is connected to the signal line by the transistor for the signal line;
A capacitor-side transistor that connects the signal line side end of the coupling capacitor to a reference voltage on the capacitor side during a period in which the gate drain of the driving transistor is short-circuited by the short-circuit transistor. And
The capacitor side transistor, the signal line transistor, the short circuit transistor,
The display device according to claim 5, wherein a gate electrode is formed so as to be biased on an electrode side opposite to a gate side of the driving transistor.
有機EL素子による画素をマトリックス状に配置してなるディスプレイ装置において、
前記画素は、
前記有機EL素子と、
ゲートソース間に信号レベル保持用のコンデンサを保持し、前記信号レベル保持用のコンデンサの端子間電圧によるゲートソース間電圧により前記有機EL素子を駆動するソースフォロワ回路による駆動用のトランジスタと、
前記駆動用のトランジスタのゲートを信号線に接続し、前記信号レベル保持用のコンデンサの端子間電圧を前記信号線の信号レベルにより設定する信号線用のトランジスタと、
前記信号線用のトランジスタにより前記信号レベル保持用のコンデンサの端子間電圧を設定している期間の間、有機EL素子の発光を停止させる発光制御用のスイッチ回路とを備え、
前記駆動用のトランジスタは、
ゲート電極がソース電極側に偏って形成された
ディスプレイ装置。
In a display device in which pixels by organic EL elements are arranged in a matrix,
The pixel is
The organic EL element;
A transistor for driving by a source follower circuit that holds a capacitor for holding a signal level between the gate and source, and drives the organic EL element by a gate-source voltage by a voltage between terminals of the capacitor for holding the signal level;
A signal line transistor for connecting a gate of the driving transistor to a signal line, and setting a voltage between terminals of the signal level holding capacitor according to a signal level of the signal line;
A switch circuit for light emission control for stopping light emission of the organic EL element during a period in which the voltage between the terminals of the signal level holding capacitor is set by the signal line transistor;
The driving transistor is:
A display device in which the gate electrode is formed biased toward the source electrode.
前記信号線用のトランジスタは、
ゲート電極が、前記信号線側の電極側に偏って形成された
請求項8に記載のディスプレイ装置
The transistor for the signal line is
The display device according to claim 8, wherein the gate electrode is formed to be biased toward the electrode on the signal line side .
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Families Citing this family (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2007035964A (en) * 2005-07-27 2007-02-08 Sony Corp Thin film transistor and manufacturing method thereof, and display device
JP2007108378A (en) * 2005-10-13 2007-04-26 Sony Corp Driving method of display device and display device
JP5130664B2 (en) * 2006-05-19 2013-01-30 吉宏 関野 Switching power supply
JP5008412B2 (en) * 2007-02-01 2012-08-22 エルジー ディスプレイ カンパニー リミテッド Image display device and driving method of image display device
KR100911978B1 (en) * 2008-03-10 2009-08-13 삼성모바일디스플레이주식회사 Pixel and organic light emitting display using the same
JP4697270B2 (en) * 2008-07-14 2011-06-08 ソニー株式会社 Electronic device and manufacturing method thereof
US9466618B2 (en) * 2011-05-13 2016-10-11 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Semiconductor device including two thin film transistors and method of manufacturing the same
JP2012243971A (en) * 2011-05-20 2012-12-10 Sony Corp Bootstrap circuit, inverter circuit, scanning circuit, display device, and electronic apparatus
JP2014086705A (en) * 2012-10-26 2014-05-12 Nippon Hoso Kyokai <Nhk> Thin film transistor manufacturing method and thin film device

Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH03185491A (en) * 1989-12-15 1991-08-13 Fuji Xerox Co Ltd El driving circuit
JPH0486891A (en) * 1990-07-31 1992-03-19 Fuji Xerox Co Ltd El light emission device
JP2003208127A (en) * 2001-11-09 2003-07-25 Sanyo Electric Co Ltd Display device
JP2003216110A (en) * 2001-11-13 2003-07-30 Semiconductor Energy Lab Co Ltd Display device
JP2003330412A (en) * 2002-05-10 2003-11-19 Canon Inc Active matrix type display and switching circuit
JP2004096100A (en) * 2002-07-11 2004-03-25 Lg Phillips Lcd Co Ltd Thin film transistor for active matrix type organic field electroluminescent element

Family Cites Families (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3972359B2 (en) * 2002-06-07 2007-09-05 カシオ計算機株式会社 Display device

Patent Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH03185491A (en) * 1989-12-15 1991-08-13 Fuji Xerox Co Ltd El driving circuit
JPH0486891A (en) * 1990-07-31 1992-03-19 Fuji Xerox Co Ltd El light emission device
JP2003208127A (en) * 2001-11-09 2003-07-25 Sanyo Electric Co Ltd Display device
JP2003216110A (en) * 2001-11-13 2003-07-30 Semiconductor Energy Lab Co Ltd Display device
JP2003330412A (en) * 2002-05-10 2003-11-19 Canon Inc Active matrix type display and switching circuit
JP2004096100A (en) * 2002-07-11 2004-03-25 Lg Phillips Lcd Co Ltd Thin film transistor for active matrix type organic field electroluminescent element

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