JP4558421B2 - 半導体センサ - Google Patents
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この図8に示すように、フローメータFMは、上記構成からなるフローセンサFSと、同フローセンサFSの感知結果に基づき電気信号を生成する信号生成回路SGとを備えて構成されている。
矩形状からなる薄膜構造部に抵抗体を備え、該抵抗体を用いて所定の物理量を測定する半導体センサとして、前記薄膜構造部の周縁部を構成する各辺の隣接する2辺の端から同2辺の長さの「1/4」にまで跨る態様で、前記薄膜構造部の四隅に補強部材を形成することとした。
また、上記補強部材を、前記薄膜構造部の周縁部を構成する各辺の隣接する2辺の端から同2辺の長さの「1/4」にまで跨る態様で形成することが有効である。
発明者による実験の結果、スクリーニング時に上記薄膜構造部に加わる応力のうち、スクリーニングの効果が期待できない応力となる領域が各辺の端から「1/4」の長さまでであることが確認されている。このため、上記薄膜構造部の各辺における端から「1/4」の長さまでの領域に補強部材を設けることにより、必要且つ十分な補強部材をもって破壊耐量の低下を抑制することができるようになる。
また、請求項1に記載の半導体センサにおいて、例えば請求項4に記載の発明によるように、前記補強部材を、前記抵抗体を構成する配線の一部により形成されてなるものと、同抵抗体を構成する配線とは電気的に分離されたダミー配線として形成されてなるものとの組み合わせからなるようにしてもよい。
まず、上記半導体基板10上に、例えば化学気相成長法(CVD法)によりシリコン窒化膜若しくはシリコン酸化膜、あるいはこれらの複合膜等からなる絶縁膜を積層して、下地膜となる上記下部絶縁膜30を形成する。
(1)薄膜構造部MBの四隅領域に、同薄膜構造部MBの周縁部を構成する各辺の隣接する2辺に跨る態様で導体膜20の一部を形成することとした。このため、上記導体膜20によって四隅領域における薄膜構造部MBの膜厚が向上され、もって薄膜構造部MBの四隅近傍における剛性が高められる。すなわち、スクリーニングにより選別できない上記四隅領域の欠陥がある場合であれ、この四隅領域に形成された上記導体膜20による剛性をもって破壊耐量の低下が補われることとなる。一方、上記導体膜20が形成されない上記四隅領域を除いた部分の欠陥に関しては、スクリーニング時に破壊されて的確に選別されるため問題ない。したがって、欠陥が入る位置がいかなる場合であれ、その欠陥に起因する薄膜構造部MBの破壊耐量の低下を抑制することができるようになる。
・上記実施の形態では、上記薄膜構造部MBの四隅領域のみを上記導体膜20の一部により補強する場合について示したが、例えば、図4に示すように、測定対象である流体の流通方向に沿って延びる2辺に関しては、上記上流側ヒータRha及び下流側ヒータRhbを形成するうえで導体膜20をエッチングする必要がないため、これら2辺については導体膜20を用いて補強してもよい。要は、薄膜構造部MBの四隅領域に、この薄膜構造部MBの周縁部を構成する各辺の隣接する2辺に跨る態様で導体膜20が形成される構成であればよい。
Claims (6)
- 半導体基板上に形成された矩形状からなる薄膜構造部に抵抗体を備え、該抵抗体を用いて所定の物理量を測定する半導体センサにおいて、
前記薄膜構造部の周縁部を構成する各辺の隣接する2辺の端から同2辺の長さの「1/4」にまで跨る態様で、前記薄膜構造部の四隅に補強部材が形成されてなる
ことを特徴とする半導体センサ。 - 前記補強部材が、前記抵抗体を構成する配線の一部により形成されてなる
請求項1に記載の半導体センサ。 - 前記補強部材が、前記抵抗体を構成する配線とは電気的に分離されたダミー配線として形成されてなる
請求項1に記載の半導体センサ。 - 前記補強部材が、前記抵抗体を構成する配線の一部により形成されてなるものと、同抵抗体を構成する配線とは電気的に分離されたダミー配線として形成されてなるものとの組み合わせからなる
請求項1に記載の半導体センサ。 - 前記補強部材が、前記抵抗体と同じ材料で且つ、同じ層に形成されてなる
請求項3又は4に記載の半導体センサ。 - 前記抵抗体が発熱体および該発熱体近傍の温度を感知する感温体として前記薄膜構造部に形成されたフローセンサとして構成される
請求項1〜5のいずれか一項に記載の半導体センサ。
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