JP4548051B2 - 光ディスク評価装置、光ディスク記録再生装置および光ディスク記録装置 - Google Patents

Description

本発明は、光ディスクの信号特性を評価する光ディスク評価装置、光ディスクにデータを記録して再生する光ディスク記録再生装置および光ディスクにデータを記録する光ディスク記録装置に関する。

一般にデータの記録が可能な光ディスクには、あらかじめ物理アドレスが記録されている。物理アドレスは、高い記録密度を確保するため、線方向に等間隔に記録されている場合が多い。従来の光ディスク記録再生装置では、光ディスクに記録された物理アドレスに基づいてデータをアクセスする。また、データの記録が可能な光ディスクには、試し書き領域が設けられている。従来の光ディスク記録再生装置では、この試し書き領域に信号を記録し、記録した信号を再生し、記録および再生された信号に基づいてユーザ領域にアクセスする信号のパワーを調整する。これにより、光ディスクの記録膜の感度のばらつきや半導体レーザの波長のばらつきに応じてアクセスする信号のパワーを最適に調整している（例えば、特許文献１および２参照）。

一方、データの記録が可能な光ディスクの信号特性を評価するための光ディスク評価装置が光ディスクの製造者により使用されている。従来の光ディスク評価装置では、光ディスクを回転させるスピンドルの回転に同期して１回転に１波の信号を生成して光ディスクに信号を記録し、記録された信号を再生し、記録および再生された信号に基づいて光ディスクの信号特性を評価していた。
特開平９−１３８９４６号公報 特開２００１−２９７４３８号公報

しかしながら、従来の光ディスク記録再生装置では、図６に示すように、信号のクロストークを避けるために試し書き領域のある物理アドレスにデータＡを記録する前にその隣接するトラックのデータを消去する場合には、内周側に隣接するトラックのデータＤ１、Ｄ２および外周側に隣接するトラックのデータＤ３、Ｄ４の４つ物理領域のデータを消去する必要があった。このため、消去領域が大きくなるといった問題があった。また、データの記録および消去を繰り返すと、光ディスクに記録される信号が劣化するため、データの書き込み回数が制限されている場合には、試し書き領域のデータの書き換えが行えないために、ユーザ領域のデータの書き換えが行えない場合があった。

一方、従来の光ディスク評価装置では、光ディスクにおける所望の位置を検出する検出手段を有しない。このため、光ディスクを評価装置から取り外した場合には、評価に使用された部分の正確な位置がわからなくなるため、光ディスクの同じ位置で繰り返しテストを行うことができないといった問題があった。また、ディフェクト等の影響により動作中にトラッキングサーボが不安定になった場合には、光ディスクにおける位置がわからなくなり、リカバーが困難になるといった問題があった。

本発明は、このような事情に鑑みなされたものであり、その目的は、光ディスクに記録されたアドレス情報に基づいて信号を記録および再生する位置を演算により求めることにより簡単な構成で光ディスクの同じ位置のテストを繰り返し行うことができる光ディスク評価装置を提供するにある。
また、本発明の目的は、光ディスクに記録されたアドレス情報に基づいて試し書き領域の任意の位置にデータをアクセスし、これによりデータの記録領域を小さくし、試し書き領域の寿命を長くすることができる光ディスク記録再生装置を提供するにある。

上記目的を達成するため、本発明の光ディスク評価装置は、データをアクセスするためのアドレス情報が記録された複数のトラックを有する光ディスクにデータを記録し、記録されたデータを再生して前記光ディスクの信号特性を評価する光ディスク評価装置であって、前記トラック上に記録された前記アドレス情報を読み出す読み出し手段と、前記読み出し手段により読み出されたアドレス情報が記録された前記トラック上の位置を検出する検出手段と、前記検出手段により検出された位置を基準にアクセスすべきデータの前記トラック上の先頭位置を演算する演算手段とを備え、前記アドレス情報は、前記トラックの線方向に第１の長さで等間隔に記録され、前記複数のトラックは、１または複数の連続する前記アドレス情報に対応する前記トラックの線方向の第２の長さを単位としてデータが記録される物理セクタにより区画され、前記演算手段により演算される前記先頭位置は、前記光ディスクの半径方向に揃うように設定され、前記演算手段は、前記第２の長さ、前記光ディスクの半径方向のトラック位置およびトラックピッチに基づいて前記先頭位置を演算し、前記演算された先頭位置から前記データをアクセスすることを特徴とする。
また、本発明の光ディスク記録再生装置は、データをアクセスするためのアドレス情報が記録された複数のトラックを有し、前記複数のトラックは、ユーザ領域と試し書き領域とを有する光ディスクに信号を記録し、記録された信号を再生する記録再生手段と、前記記録再生手段により前記試し書き領域に記録および再生された信号に基づいて前記ユーザ領域にアクセスする信号のパワーを調整するパワー調整手段とを備え、前記記録再生手段は、前記パワー調整手段により調整されたパワーで前記ユーザ領域に信号をアクセスする光ディスク記録再生装置であって、前記試し書き領域に記録された前記アドレス情報を読み出す読み出し手段と、前記読み出し手段により読み出された前記アドレス情報の前記トラック上の位置を検出する検出手段と、前記検出手段により検出された位置を基準にアクセスすべきデータの前記試し領域のトラック上の先頭位置を演算する演算手段とを備え、前記アドレス情報は、前記トラックの線方向に第１の長さで等間隔に記録され、前記複数のトラックは、１または複数の連続する前記アドレス情報に対応する前記トラックの線方向の第２の長さを単位としてデータが記録される物理セクタにより区画され、前記演算手段により演算される前記先頭位置は、前記光ディスクの半径方向に揃うように設定され、前記演算手段は、前記第２の長さ、前記光ディスクの半径方向のトラック位置およびトラックピッチに基づいて前記先頭位置を演算し、前記記録再生手段は、前記試し書き領域にデータをアクセスするとき、前記演算手段により演算された先頭位置から信号をアクセスすることを特徴とする。

本発明の光ディスク評価装置によれば、前記読み出し手段により前記トラック上に記録された前記アドレス情報を読み出し、前記検出手段により前記読み出し手段により読み出されたアドレス情報が記録された前記トラック上の位置を検出し、前記演算手段により前記検出手段により検出された位置を基準にアクセスすべきデータの前記トラック上の先頭位置を演算し、前記演算手段により演算された先頭位置から前記データをアクセスする。
このため、アドレス情報に基づいてデータのアクセス位置を演算により求め、データをアクセスすることができるので、光ディスクの同じ位置で繰り返し信号特性の評価を行うことができる。したがって、信頼性の高い信号特性の評価を行うことができる。
また、演算によりデータのアクセス位置を求めるので、比較的簡単な構成により光ディスク評価装置を構成することができる。

また、本発明の光ディスク記録再生装置によれば、読み出し手段により前記試し書き領域に記録された前記アドレス情報を読み出し、前記記録再生手段により前記読み出し手段により読み出された前記アドレス情報に基づいて前記物理領域に関係なく前記試し書き領域にデータを記録し、記録されたデータを再生する。
このため、前記試し書き領域では、前記物理領域に関係なくデータを記録し、記録されたデータを再生することができるので、小さな記憶領域を設定することができる。したがって、試し書き領域におけるデータの書き換え回数を増やすことができるので、光ディスクの書き換え寿命を延ばすことが可能となる。
また、本発明の光ディスク記録再生装置によれば、前記読み出し手段により前記試し書き領域に記録された前記アドレス情報を読み出し、前記検出手段により前記読み出し手段により読み出された前記アドレス情報の前記トラック上の位置を検出し、前記演算手段により前記検出手段により検出された位置を基準にアクセスすべきデータの前記試し領域のトラック上の先頭位置を演算する。そして、前記記録再生手段により前記試し書き領域にデータをアクセスするときには、前記演算手段により演算された先頭位置から信号をアクセスする。
このため、前記試し書き領域では、前記演算手段により演算された位置からデータを記録し、記録されたデータを再生することができるので、小さな記憶領域を設定することができる。したがって、試し書き領域におけるデータの書き換え回数を増やすことができるので、光ディスクの書き換え寿命を延ばすことが可能となる。

また、本発明の光ディスク記録装置によれば、前記読み出し手段により前記トラック上に記録された前記アドレス情報を読み出し、前記検出手段により前記読み出し手段により読み出されたアドレス情報が記録された前記トラック上の位置を検出し、前記演算手段により前記検出手段により検出された位置を基準に記録すべきデータの前記トラック上の先頭位置を演算し、前記演算手段により演算された先頭位置から前記データを記録する。
このため、アドレス情報に基づいてデータの記録位置を演算により求め、データを記録することができるので、光ディスクの任意の位置にデータを記録することができる。
また、演算によりデータの記録位置を求めるので、比較的簡単な構成により光ディスク記録装置を構成することができる。

上記目的を達成するため、光ディスクに記録されたアドレス情報を読み出し、読み出されたアドレス情報が記録されたトラック上の位置を検出し、検出された位置を基準にアクセスすべきデータのトラック上の先頭位置を演算するように光ディスク評価装置を構成する。
また、上記目的を達成するため、光ディスクの試し書き領域に記録されたアドレス情報を読み出し、読み出されたアドレス情報のトラック上の位置を基準にアクセスすべきデータの試し領域のトラック上の先頭位置を演算するように光ディスク記録再生装置を構成する。

以下、本発明の実施例１の光ディスク評価装置について図面を参照して説明する。
図１は、実施例１の光ディスク評価装置の要部を示す図である。
図１に示すように、実施例１の光ディスク評価装置は、光ディスク１０にデータを記録し、記録されたデータを再生して光ディスク１０の信号特性を評価するものであり、レーザ１１、レーザ制御回路１２、光検出器１３、マトリックス回路１４、位置演算回路１５、信号評価回路１６、信号生成回路１７、位置制御回路１８、入力部２１および表示部２２を備える。

レーザ１１は、レーザ制御回路１２からの駆動信号（電気信号）を光に変換し、変換された光を発光し、図示しないスピンドル機構により回転する光ディスク１０に照射する。レーザ制御回路１２は、信号生成回路１７からの信号に基づいてレーザ１１を駆動する。光検出器１３は、レーザ１１により照射され光ディスク１０により反射された光を検出し、検出された光を電気信号に変換して出力し、光ディスク１０に記録された信号を読み出す。マトリックス回路１４は、光検出器１３により出力された信号から光ディスク１０に記録されたアドレス情報を取り出し、位置演算回路１５に出力し、光検出器１３により出力された信号から光ディスク１０に記録されたテスト信号を取り出し、信号評価回路１６に出力する。

位置演算回路１５は、マトリックス回路１４からのアドレス情報と入力部２１により入力されたアドレス情報とを比較し、両者が一致したとき、一致したアドレス情報に対応する光ディスク１０のトラック上の位置を演算により求め、求められた位置を基点とし、テスト信号をアクセスする光ディスクのトラック上の位置を演算する。位置演算回路１５は、一致したアドレス情報および演算された基点を含む位置情報を位置制御回路１８および表示部２２に出力する。
表示部２２は、位置演算回路１５からのアドレス情報および位置情報を表示する。入力部２１は、光ディスク１０のアドレス情報を入力し、位置演算回路１５に出力する。

信号評価回路１６は、マトリックス回路１４からのテスト信号を位置制御回路１８からの再生タイミング信号に従って再生し、再生されたテスト信号の評価を行う。信号生成回路１７は、位置制御回路１８からの記録タイミング信号および再生タイミング信号に従ってテスト信号を生成し、生成されたテスト信号をレーザ制御回路１２に出力する。位置制御回路１８は、位置演算回路１５からの基点を含む位置情報に基づいてテスト信号を記録および再生するためのタイミング信号を生成する。

図２は、実施例１の光ディスク評価装置の記録動作を示すフローチャートである。
入力部２１によりアドレス情報が入力されると（ステップＳ１）、レーザ１１により光ディスク１０に光を照射し、光検出器１３により光ディスク１０に記録されたアドレス情報が読み出され、読み出されたアドレス情報がマトリックス回路１４を介して位置演算回路１５に入力され、位置演算回路１５によりマトリックス回路１４からの光ディスク１０のアドレス情報が入力部２１により入力されたアドレス情報と比較される（ステップＳ２）。

ステップＳ２で、位置演算回路１５によりマトリックス回路１４からの光ディスク１０のアドレス情報と入力部２１により入力されたアドレス情報とが一致したときには、位置演算回路１５により一致したアドレス情報に対応する光ディスク１０上の位置が演算され、演算された位置を基点とし、テスト信号をアクセスする光ディスク１０上の位置が演算され、アドレス情報および基点を含む位置情報が出力され（ステップＳ３）、出力されたアドレス情報および位置情報が表示部２２により表示され、位置制御回路１８に入力される（ステップＳ４）。

次に、位置制御回路１８により位置演算回路１５からの位置情報に基づいて記録タイミング信号が生成され（ステップＳ５）、信号生成回路１７により位置制御回路１８からの記録タイミング信号に従ってテスト信号が生成される（ステップＳ６）。そして、レーザ制御回路１２により信号生成回路１７からのテスト信号に従って駆動信号が出力され、レーザ１１が駆動信号に従って発光し、光ディスク１０にテスト信号が記録される（ステップＳ７）。

図３は、実施例１の光ディスク評価装置の再生動作を示すフローチャートである。
入力部２１によりアドレス情報が入力されると（ステップＳ１１）、レーザ１１により光ディスク１０に光を照射し、光検出器１３により光ディスク１０に記録されたアドレス情報が読み出され、読み出されたアドレス情報がマトリックス回路１４を介して位置演算回路１５に入力され、位置演算回路１５によりマトリックス回路１４からの光ディスク１０のアドレス情報が入力部２１により入力されたアドレス情報と比較される（ステップＳ１２）。

ステップＳ１２で、位置演算回路１５によりマトリックス回路１４からの光ディスク１０のアドレス情報と入力部２１により入力されたアドレス情報とが一致したときには、位置演算回路１５により一致したアドレス情報に対応する光ディスク１０上の位置が演算され、演算された位置を基点とし、テスト信号をアクセスする光ディスク上の位置が演算され、アドレス情報および基点を含む位置情報が出力され（ステップＳ１３）、出力されたアドレス情報および位置情報が表示部２２により表示され、位置制御回路１８に入力される（ステップＳ１４）。

次に、位置制御回路１８により位置演算回路１５からの位置情報に基づいて再生タイミング信号が生成され（ステップＳ１５）、信号生成回路１７により位置制御回路１８からの再生タイミング信号に従ってテスト信号が生成される（ステップＳ１６）。そして、再生タイミング信号に基づいてレーザ１１のトラッキング位置が制御され、レーザ制御回路１２により信号生成回路１７からのテスト信号に従って駆動信号が出力され、レーザ１１が駆動信号に従って発光する（ステップＳ１７）

次に、光ディスク１０に記録されたテスト信号が光検出器１３により読み出され、読み出されたテスト信号がマトリックス回路１４を介して信号評価回路１６に入力され、信号評価回路１６によりテスト信号の評価が行われる（ステップＳ１８）。

図４は、図１に示される位置演算回路１５により位置情報を演算する方法の一例を示す図である。
この例では、光ディスク評価装置は、アドレス情報に対応する光ディスク１０上のトラックから外周側に１トラック毎にテスト信号を記録するが、記録の際には、光ディスク１０の半径方向にテスト信号の記録開始位置を揃えるものとする。
また、光ディスク１０をＤＶＤ＋ＲＷ（４．７ＧＢ）とする。物理アドレスは、トラックの線方向に対し蛇行したウォブル信号により記録されている。物理アドレスは、（２９７６チャネル×５２）周期（チャネル長を０．１３３μｍとして、２０．５８ｍｍ周期）で割り当てられている。アドレスが連続する４つの物理アドレスの領域を１つの物理セクタとして取り扱い、これが最小記録単位（Recording_Unit）になっている。Recording_Unitの長さは、ru_len＝８２．３３ｍｍとなる。

まず、所望の光ディスク１０のアドレス情報が検出されると、検出されたアドレス情報に対応する１番目のRecording_Unit（図中、ｍ１）の先頭位置ru_pos（０）が基点
ru_pos（０）＝０
とされる。
２番目のRecording_Unit（図中、ｍ２）の先頭位置ru_pos（１）は、
ru_pos（１）＝ru_len
となり、
（ｎ＋１）番目のRecording_Unitの先頭位置ru_pos（ｎ）は、
ru_pos（ｎ）＝ｎ×ru_len
となる。

一方、１番目のRecording_Unitの先頭位置ru_pos（０）を１番目のトラックの先頭位置をtrk_pos（０）とし、外周側に隣接する２番目のトラックの先頭位置をtrk_pos（１）とし、（ｍ＋１）番目のトラックの先頭位置をtrk_pos（ｍ）とすると、（ｍ＋１）番目のトラックの先頭位置trk_pos（ｍ）は、
trk_pos（ｍ）＝２π×｛r0×ｍ＋（１／２）×tp×ｍ^２｝
となる。ここで、
r0：１番目のトラックの半径、
tp：トラックピッチ。

そして、（ｍ＋１）番目のトラックの先頭位置trk_pos（ｍ）をru_pos（ｎ）を用いて表すと、
trk_pos（ｍ）＝ru_pos（RU_NUM（m））＋△pos（m）
となる。ここで、
RU_NUM（m）＝｛trk_pos（ｍ）−remain （trk_pos（ｍ），ru_len）｝／ru_len、
△pos（m）＝remain （trk_pos（ｍ），ru_len）
remain （trk_pos（ｍ），ru_len）は、（trk_pos（ｍ）／ru_len）の余り。

したがって、（ｍ＋１）番目のトラックに信号を記録する場合には、ru_pos（RU_NUM（m））の位置から△pos（m）分後方にずらした位置に記録すれば、１番目の信号の記録開始位置を通る半径方向の延長線上から信号を記録することができる。再生の場合にも光ディスク１０に記録された信号の開始位置を同様の演算により求め、信号を再生することができる。

このように実施例１の光ディスク評価装置によれば、位置演算回路１５によりアドレス情報に対応する光ディスク１０の位置を演算により求め、求められた位置を基点にアクセスすべき信号の先頭位置を演算する。
したがって、光ディスク１０の同じ位置で繰り返し信号特性の評価を行うことができる。したがって、信頼性の高い信号特性の評価を行うことができる。演算によりデータのアクセス位置を求めるので、比較的簡単な構成により光ディスク評価装置を構成することができる。

また、光ディスク１０のアドレス情報をトラックの線方向に等間隔に記録し、１または複数の連続するアドレス情報に対応する固定長の物理セクタによりトラックが区画された光ディスクを用いれば、アドレス情報に基づいて位置を求める演算と、この演算結果を基点とし、テスト信号の先頭位置を求める演算とが簡単になる。

また、位置演算回路１５により物理セクタの長さru_len、光ディスク１０の半径方向のトラック位置roおよびトラックピッチtpに基づいて光ディスク１０上の先頭位置を演算するので、正確な先頭位置を演算することができる。

また、光ディスク１０の半径方向に先頭位置を揃えることができるので、テスト信号の記録領域を小さくすることができる。また、光ディスク１０の半径方向に先頭位置を揃え、隣接または近接する複数のトラックに信号を記録および消去することができるので、信号のクロストーク（クロスライト、クロスイレース等も含む）のテストを容易に行うことができる。

また、入力部２１により光ディスク１０のアドレス情報を入力することができるので、使用者は光ディスク１０の任意の位置を容易に選択することができる。また、演算された先頭位置およびアドレス情報を表示部２２に表示するので、使用者は先頭位置およびアドレス情報を確認しながらテスト信号の評価を行うことができる。なお、光ディスク１０のアドレス情報を記憶しておき、記憶されたアドレス情報を読み出して使用するように光ディスク評価装置を構成してもよい。

なお、実施例１では、位置演算回路１５によりテスト信号の記録開始位置を揃える例を説明したが、テスト方法は、この例に限るものではない。例えば、信号のクロスークを評価する場合には、信号を短く記録し、この信号の記録の前に消去する両隣のトラックの信号の消去領域を小さくすることができる。

実施例１の光ディスク評価装置では、信号の記録が可能であれば光ディスク１０のどの位置でテスト信号を記録してもよい。これに対し、実施例２の光ディスク記録再生装置では、光ディスク１０の試し書き領域にテスト信号が記録される。そして、試し書き領域に記録されたテスト信号を再生し評価することにより、ユーザ領域にアクセスする信号のパワーを調整する。
図５は、実施例２の光ディスク記録再生装置の要部を示す図である。
図５において、図１に示される実施例１の光ディスク評価再生装置の構成要素と同一のものには同一符号を付しその説明を省略し、ここでは、実施例１の光ディスク評価装置と異なる部分を説明する。

アドレス情報選択部３１は、試し書き領域に記録された複数のアドレス情報の中からテスト信号を記録するためのアドレス情報を選択し、選択されたアドレス情報を位置演算回路１５に出力する。アドレス情報選択部３１は、試し書き領域の同じ位置が連続的に繰り返し使用されないように、言い換えれば、試し書き領域がランダムに使用されるようにアドレス情報を選択する。ＯＰＣ（Optimum Power Control）回路３２は、信号評価回路１６の評価結果に基づいて光ディスク１０のユーザ領域にデータをアクセスする信号のパワーを調整する。信号生成回路１７は、ＯＰＣ回路３２により調整されたパワーでユーザ領域にアクセスする信号を生成する。

実施例２の光ディスク記録再生装置では、ＯＰＣ回路３２により調整されたパワーでユーザ領域のデータをアクセスする。したがって、ユーザ領域のデータを信頼性高くアクセスすることができる。
また、アドレス情報選択部３１により試し書き領域の同じ位置が連続的に繰り返し使用されないように、言い換えれば、試し書き領域がランダムに使用されるようにアドレス情報を選択する。したがって、試し書き領域を有効利用し、試し書き領域の寿命を長くすることが可能となる。

また、実施例１のように信号の先頭位置を光ディスク１０の半径方向に揃えることができるので、信号の記録面積を小さくすることができる。したがって、試し書き領域の寿命を長くすることが可能となる。

実施例１の光ディスク評価装置の要部を示す図である。 実施例１の光ディスク評価装置の記録動作を示すフローチャートである。 実施例１の光ディスク評価装置の再生動作を示すフローチャートである。 図１に示される位置演算回路１５により位置情報を演算する方法の一例を示す図である。 実施例２の光ディスク記録再生装置の要部を示す図である。 データを記録する前に消去されるデータを示す図である。

符号の説明

１０……光ディスク、１１……レーザ、１２……レーザ制御回路、１３……光検出器、１４……マトリックス回路、１５……位置演算回路、１６……信号評価回路、１７……信号生成回路、１８……位置制御回路、２１……入力部、２２……表示部。

Claims (6)

1. データをアクセスするためのアドレス情報が記録された複数のトラックを有する光ディスクにデータを記録し、記録されたデータを再生して前記光ディスクの信号特性を評価する光ディスク評価装置であって、
   前記トラック上に記録された前記アドレス情報を読み出す読み出し手段と、
   前記読み出し手段により読み出されたアドレス情報が記録された前記トラック上の位置を検出する検出手段と、
   前記検出手段により検出された位置を基準にアクセスすべきデータの前記トラック上の先頭位置を演算する演算手段と
   を備え、
   前記アドレス情報は、前記トラックの線方向に第１の長さで等間隔に記録され、
   前記複数のトラックは、１または複数の連続する前記アドレス情報に対応する前記トラックの線方向の第２の長さを単位としてデータが記録される物理セクタにより区画され、
   前記演算手段により演算される前記先頭位置は、前記光ディスクの半径方向に揃うように設定され、
   前記演算手段は、前記第２の長さ、前記光ディスクの半径方向のトラック位置およびトラックピッチに基づいて前記先頭位置を演算し、
   前記演算された先頭位置から前記データをアクセスする
   光ディスク評価装置。
2. 前記読み出し手段により読み出されるアドレス情報を入力する入力手段を有し、
   前記読み出し手段は、前記入力手段により入力されたアドレス情報を前記トラックから読み出すことを特徴とする請求項１記載の光ディスク評価装置。
3. 前記演算手段により演算された前記先頭位置を出力する出力手段を有することを特徴とする請求項１記載の光ディスク評価装置。
4. 前記読み出し手段により読み出されたアドレス情報を出力する出力手段を有することを特徴とする請求項１記載の光ディスク評価装置。
5. データをアクセスするためのアドレス情報が記録された複数のトラックを有し、前記複数のトラックは、ユーザ領域と試し書き領域とを有する光ディスクに信号を記録し、記録された信号を再生する記録再生手段と、前記記録再生手段により前記試し書き領域に記録および再生された信号に基づいて前記ユーザ領域にアクセスする信号のパワーを調整するパワー調整手段とを備え、前記記録再生手段は、前記パワー調整手段により調整されたパワーで前記ユーザ領域に信号をアクセスする光ディスク記録再生装置であって、
   前記試し書き領域に記録された前記アドレス情報を読み出す読み出し手段と、
   前記読み出し手段により読み出された前記アドレス情報の前記トラック上の位置を検出する検出手段と、
   前記検出手段により検出された位置を基準にアクセスすべきデータの前記試し領域のトラック上の先頭位置を演算する演算手段と
   を備え、
   前記アドレス情報は、前記トラックの線方向に第１の長さで等間隔に記録され、
   前記複数のトラックは、１または複数の連続する前記アドレス情報に対応する前記トラックの線方向の第２の長さを単位としてデータが記録される物理セクタにより区画され、
   前記演算手段により演算される前記先頭位置は、前記光ディスクの半径方向に揃うように設定され、
   前記演算手段は、前記第２の長さ、前記光ディスクの半径方向のトラック位置およびトラックピッチに基づいて前記先頭位置を演算し、
   前記記録再生手段は、前記試し書き領域にデータをアクセスするとき、前記演算手段により演算された先頭位置から信号をアクセスする
   光ディスク記録再生装置。
6. 前記試し書き領域がランダムに使用されるように前記試し書き領域に記憶された前記アドレス情報を選択する選択手段を有し、
   前記読み出し手段は、前記選択手段により選択されたアドレス情報を前記試し書き領域から読み出すことを特徴とする請求項５記載の光ディスク記録再生装置。

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