JP4537111B2 - 電子ビームを用いた検査方法及び検査装置 - Google Patents
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- 試料を保持した試料ステージを停止させ、電子ビームを前記試料に照射させ2次元走査して、この試料の検査の基準となる基準画像を作成する第1の工程と、前記試料ステージを移動させながら前記電子ビームを前記試料に照射させ1次元走査して、検査の対象となる検査画像を取得する第2の工程と、前記検査画像の画像パラメータを前記基準画像のパラメータに応じて調整する第3の工程と、第3の工程で調整された検査画像と前記基準画像とを比較して欠陥がある場合にその欠陥を抽出する第4の工程とを有し、前記第2の工程は、前記電子ビームを前記試料に照射させるための集束レンズ又は対物レンズのレンズ電源を制御してフォーカスを調整し、前記対物レンズと前記試料との間に設けられた前記試料の帯電を制御する電極へ印加する電圧を調整して前記試料の帯電電位を制御して前記検査画像を取得することを特徴とする電子ビームを用いた検査方法。
- 試料を保持した試料ステージを停止させ、電子ビームを前記試料に照射させ2次元走査させて検査の基準となる基準画像を取得する第1の工程と、前記試料ステージを移動させながら電子ビームを前記試料に1次元に走査させて検査の対象となる検査画像を取得する第2の工程と、前記検査画像の画像パラメータを前記基準画像の画像パラメータに応じて調整する第3の工程と、第3の工程で調整された検査画像と前記基準画像とを比較して前記試料に欠陥がある場合にその欠陥を抽出する第4の工程とを有し、前記第2の工程は、前記電子ビームを前記試料に照射させるための集束レンズ又は対物レンズのレンズ電源を制御してフォーカスを調整し、前記対物レンズと前記試料との間に設けられた前記試料の帯電を制御する電極へ印加する電圧を調整して前記試料の帯電電位を制御して前記検査画像を取得することを特徴とする電子ビームを用いた検査方法。
- 前記第1の工程は、前記基準画像の画像パラメータを所定の値となるように調整する工程を含むことを特徴とする請求項1又は2記載の電子ビームを用いた検査方法。
- 前記基準画像および前記検査画像の画像パラメータは、画像取得時のフォーカス、画像の明るさ、画像のコントラストのうちの少なくともひとつであることを特徴とする請求項1又は2記載の電子ビームを用いた検査方法。
- 前記第3の工程は、前記電子ビームを前記試料に照射させるための集束レンズ又は対物レンズのレンズ電源を制御してフォーカスを調整し、前記対物レンズと前記試料との間に設けられた電極の印加電圧を調整して前記試料の帯電電位を制御して明るさとコントラストを調整するとともに、前記試料へのリターディング電圧を制御してコントラストを調整することを特徴とする請求項1又は2記載の電子ビームを用いた検査方法。
- 前記試料の帯電を制御する電極へ印加する電圧、前記電子ビームを前記試料の手前で減速させるために該試料に印加する電圧のうち少なくともひとつの印加電圧を制御し、前記検査画像の画像パラメータを調整することを特徴とする請求項1又は2記載の電子ビームを用いた検査方法。
- 試料を保持した試料ステージを停止させ、電子ビームを前記試料に照射させ2次元走査させて取得した該試料の検査の基準となる基準画像を記憶する基準画像記憶手段と、前記基準画像の画像パラメータを記憶する基準画像パラメータ記憶手段と、前記試料ステージを移動させながら前記電子ビームを前記試料に照射させ1次元走査させて取得した検査の対象となる検査画像を記憶する検査画像記憶手段と、前記検査画像の画像パラメータを記憶する検査画像パラメータ記憶手段と、該検査画像パラメータ記憶手段に記憶された検査画像の画像パラメータを前記基準画像パラメータに記憶された基準画像の画像パラメータに応じて調整する検査画像パラメータ調整手段と、該検査画像パラメータ調整手段でその画像パラメータが調整された検査画像と、前記基準画像記憶手段に記憶された基準画像とを比較し前記試料に欠陥がある場合にその欠陥を抽出する比較手段とを有し、前記検査画像は、前記電子ビームを前記試料に照射させるための集束レンズ又は対物レンズのレンズ電源を制御してフォーカスを調整し、前記対物レンズと前記試料との間に設けられた前記試料の帯電を制御する電極へ印加する電圧を調整して前記試料の帯電電位を制御して前記検査画像を取得することを特徴とする電子ビームを用いた検査装置。
- 試料を保持した試料ステージを停止させ、電子ビームを前記試料に照射させ2次元走査させて取得した検査の基準となる基準画像を記憶する基準画像記憶手段と、前記基準画像の画像パラメータを記憶する基準画像パラメータ記憶手段と、前記試料ステージを移動させながら前記電子ビームを前記試料に1次元に走査させて取得した検査の対象となる検査画像を記憶する検査画像記憶手段と、前記検査画像の画像パラメータを記憶する検査画像パラメータ記憶手段と、該検査画像パラメータ記憶手段に記憶された検査画像の画像パラメータを前記基準画像パラメータに記憶された基準画像の画像パラメータに応じて調整する検査画像パラメータ調整手段と、該検査画像パラメータ調整手段でその画像パラメータが調整された検査画像と、前記基準画像記憶手段に記憶された基準画像とを比較し前記試料に欠陥がある場合にその欠陥を抽出する比較手段とを有し、前記検査画像は、前記電子ビームを前記試料に照射させるための集束レンズ又は対物レンズのレンズ電源を制御してフォーカスを調整し、前記対物レンズと前記試料との間に設けられた前記試料の帯電を制御する電極へ印加する電圧を調整して前記試料の帯電電位を制御して前記検査画像を取得することを特徴とする電子ビームを用いた検査装置。
- 前記基準画像の画像パラメータを所定の値となるように調整する基準画像パラメータ調整手段を有することを特徴とする請求項7又は8記載の電子ビームを用いた検査装置。
- 前記基準画像および前記検査画像の画像パラメータは、画像取得時のフォーカス、画像の明るさを示す階調値、画像のコントラストのうちの少なくともひとつであることを特徴とする請求項7又は8記載の電子ビームを用いた検査装置。
- 前記検査画像パラメータ調整手段は、前記電子ビームを前記試料に照射させるための集束レンズ又は対物レンズのレンズ電源を制御してフォーカスを調整し、前記対物レンズと前記試料との間に設けられた電極の印加電圧を調整して前記試料の帯電電位を制御して明るさとコントラストを調整するとともに、前記試料へのリターディング電圧を制御してコントラストを調整することを特徴とする請求項7又は8記載の電子ビームを用いた検査装置。
- 前記検査画像パラメータ調整手段は、前記試料の帯電を制御する電極に印加する電圧、前記電子ビームを前記試料の手前で減速させるために該試料に印加する電圧のうち少なくともひとつの印加電圧を制御して前記検査画像の画像パラメータを調整することを含むことを特徴とする請求項7又は8記載の電子ビームを用いた検査装置。
- 前記検査画像パラメータ調整手段は、前記検査画像とそれに対応する画像パラメータと、前記基準画像とそれに対応する画像パラメータとをモニタへ同時に表示させることを特徴とする請求項7又は8記載の電子ビームを用いた検査装置。
- 前記検査画像パラメータ調整手段は、複数の検査画像から指定された検査画像とそれに対応する画像パラメータとをモニタへ表示させることを特徴とする請求項7又は8記載の電子ビームを用いた検査装置。
- 前記画像パラメータは、前記検査画像の階調値と頻度の関係図であることを特徴とする請求項14記載の電子ビームを用いた検査装置。
- 電子ビームを発生させる電子源と、その発生した電子ビームを試料に集束させて照射する電子レンズと、その集束された電子ビームが前記試料を走査するように前記電子ビームを偏向する電子ビーム偏向手段と、前記電子ビームの照射によって前記試料から発生する情報信号を検出する情報信号検出手段と、前記情報信号を基準画像信号と検査画像信号として記憶する画像信号記憶手段と、前記基準画像信号と前記検査画像とを比較し差を抽出する画像比較手段と、この画像比較手段の結果に基づいて前記試料の欠陥を抽出する欠陥抽出手段とを備えた電子ビームを用いた検査装置において、前記画像信号記憶手段に記憶された前記基準画像信号は、前記試料を保持した試料ステージを停止させ、前記電子ビームを前記試料に照射させ2次元走査させて取得され、前記検査画像信号は、前記試料ステージを移動させながら前記電子ビームを前記試料に1次元走査させて取得され、夫々の画像の階調値とその頻度の関係を抽出する階調値抽出手段と、この階調値抽出手段で抽出された基準画像信号の階調値とその頻度の関係と検査画像信号の階調値とその頻度の関係とを比較する階調値比較手段と、この階調値比較手段で比較した結果に基づいて前記検査画像信号の階調値とその頻度の関係を調整する調整手段とを備え、前記画像比較手段は前記基準画像信号と前記調整手段で階調値とその頻度の関係が調整された検査画像信号とを比較するように構成し、前記電子レンズと前記試料との間に設けられた前記試料の帯電を制御する電極へ印加する電圧を調整して前記試料の帯電電位を制御して前記検査画像を取得することを特徴とする電子ビームを用いた検査装置。
- 前記調整手段は、前記電子レンズと前記試料間に設置され前記試料の帯電電圧を制御する電極であることを特徴とする請求項16記載の電子ビームを用いた検査装置。
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