JP4522848B2 - ロッドレンズアレイの光学性能評価方法 - Google Patents
ロッドレンズアレイの光学性能評価方法 Download PDFInfo
- Publication number
- JP4522848B2 JP4522848B2 JP2004380450A JP2004380450A JP4522848B2 JP 4522848 B2 JP4522848 B2 JP 4522848B2 JP 2004380450 A JP2004380450 A JP 2004380450A JP 2004380450 A JP2004380450 A JP 2004380450A JP 4522848 B2 JP4522848 B2 JP 4522848B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- rod lens
- lens array
- lattice pattern
- light
- test chart
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
Images
Landscapes
- Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)
Description
なお、本発明において、格子パターンの周期方向とは、テストチャート面内で、格子パターンのストライプに直交する方向をいう。
これにより、一つのテストチャートを、ロッドレンズの配列方向の長さの異なる種々のロッドレンズアレイの光学性能評価に使用することができる。
なお、照射部分を順次にずらすにあたっては、ロッドレンズをテストチャートに対して相対的に移動させるとよい。例えば、ロッドレンズを移動させてもよいし、テストチャートや受光装置を移動させてもよい。
なお、ロッドレンズの配列ピッチは、ロッドレンズを互いに接して並べている場合、ロッドレンズの直径と実質的に等しい。
これにより、基準波形成分の位相及び波形成分の位相から結像位置ずれ量を容易に求めることができる。
これにより、位相差が格子パターンの一周期を越える場合においても、位置ずれ量を正確に求めることができる。
これにより、位置ずれ量とMTFを同時に測定することができる。
これにより、ロッドレンズアレイのレンズの配向方向に平行な主走査方向の位置ずれ量を容易に測定することができる。
これにより、ロッドレンズアレイのレンズの配向方向に垂直な副走査方向の位置ずれ量を容易に測定することができる。
光源11は、実機に組み込まれたロッドレンズアレイを実際に照射するLED等と同一波長の光を発するものが望ましい。そのため、光源11を、例えば、白色光源11aと光線フィルタ11bとにより構成するのがよい。実施例1では、白色光源11aとして、ハロゲンランプを使用し、光線フィルタ11bとして、干渉フィルタを使用する。この干渉フィルタは、ピーク透過波長λ0=739.8nm、最大透過率TMAX=87.5%、半値幅9.9nmという特性を有する。
なお、光源として、実機と同一波長のLEDを使用する場合には、光線フィルタ11bは必要ない。
なお、照明装置1に拡散板12を挿入する代わりに、テストチャート2の照明装置1側表面に、拡散機能を有するような加工を施してもよい。
なお、図2に例示するテストチャートは、6Lp/mmの格子パターンを有し、その周期は167μmである。
対物レンズ31は、格子パターン像を拡大して、受光装置3の分解能を高めるために設けられている。ここでは、対物レンズ31によって、格子パターン像が20倍に拡大される。また、実施例1では、対物レンズ31とテストチャート2との間の距離を、対物レンズ31の焦点距離fと等しくしている。
なお、受光素子32として、例えば、CMOSやフォトダイオードのラインセンサを使用してもよい。
(a)まず、ロッドレンズアレイを挿入しないで、図1に示した配置において、照明装置1からテストチャート2に検査光を照射して、テストチャート2を透過した検査光による基準格子パターン像を生成する。
ここで、図3の(A)に、テストチャート2の格子パターンと、基準格子パターン像の光量分布との対応を示す。図3の(A)に折れ線Iで示すように、基準格子パターン像の光量分布は、テストチャート2の格子のパターンを再現した矩形波となる。
実施例1では、基準格子パターン像のうち、検査対象のロッドレンズアレイのロッドレンズの配列ピッチよりも狭い範囲内で基準格子パターン部分の光量分布を測定する。これは、隣り合ったロッドレンズ同士に向きの異なる配列の乱れがあった場合に、相殺されて正確な測定の妨げになることを防ぐためである。
以下、便宜的に、格子パターン像の位置を、ラインセンサの端から数えた素子の番号で表す。例えば、端から450番目の素子の位置を「座標450」と表記する。そして、光量データのサンプリングの始点である座標450の位置N0を「仮の格子基準位置」N0とする。図3の(A)に、模式的に示したラインセンサ32上の座標450の位置をN0で、また、座標649の位置をE0でそれぞれ示す。
なお、実施例1では、コンピュータによりフーリエ変換処理を行うため、光量データとして、2のべき乗となる光強度の値をサンプリングする。
実施例1では、サンプリングした光量データxを、下記の(1)式によりフーリエ変換して周波数分解し、格子パターンの空間周波数12Lp/mmに対応した周波数k0成分のみを抽出する。
θd=tan-1(an/bn) ・・・(2)
ここでは、仮の格子基準位置N0における位相θd0の平均値が−86.42°であった。この位相θd0を距離に換算すると、格子パターンの一周期分の長さ83μmが位相360°に相当するので、−20.01μmとなる。さらに、この距離をラインセンサ32上の素子数に換算すると、分解能が20倍に拡大されて1.25μmであるので、−16素子となる。したがって、格子基準位置N1の座標は、仮の格子基準位置の座標450に16を加えた座標466となる。図3の(A)に、座標466の位置をN1で示す。
図5は、ロッドレンズアレイを挿入した場合の配置図である。図5に示すように、照明装置1、テストチャート2、ロッドレンズアレイ4及び受光装置3が直線上に配置されている。そして、テストチャート2と対物レンズ31とを、(a)工程に対して相対的にロットレンズアレイ4の共役長Tcと等しい距離Tcだけ更に離す。すなわち、テストチャート2から対物レンズ31まで距離を、対物レンズ31の焦点距離fとロッドレンズアレイ4の共役長Tcとの和とする。そして、ロッドレンズアレイ4からテストチャート2までの距離をL1とし、ロッドレンズアレイ4から対物レンズ31までの距離L2をロッドレンズアレイ4からテストチャート2までの距離L1と前記対物レンズの焦点距離fとの和と等しくする。
ここで、図3の(B)に、テストチャート2の格子パターンと、格子パターン像の光量分布との対応を示す。図3の(B)に曲線IIで示すように、基準格子パターン像の光量分布は、テストチャート2の格子のパターンに対応した波形となる。
実施例1では、格子パターン像のうち、基準格子パターン部分に対応する部分であって、ロッドレンズの配列ピッチよりも狭い幅の格子パターン部分の光量分布を測定する。
そのため、座標466の格子基準位置N1をデータサンプリング始点として、座標665の位置までの200素子のデータのうち128個のデータをサンプリングする。図3の(B)に、模式的に示したラインセンサ32上の座標665の位置をE1で示す。
上述の(c)工程と同様にして求めた、波形成分の座標466の、格子基準位置N1における位相θd2は10.80°であった。
具体的には、以下のようにして、基準波形成分及び波形成分の位相がそれぞれ0となる、ラインセンサ上の格子基準位置N1の座標位置と新たな格子基準位置N2の座標位置との差として結像位置ずれ量を求める。
サンプリング始点である新たな格子基準位置N2の座標位置464と、格子基準位置N1の座標466との差が結像位置のずれ量になる。したがって、結像位置のずれ量は、−2(=464―466)素子分の距離、即ち、−2.5μmになる。
なお、図5には、ロッドレンズアレイを相対的に移動させる機構は図示されていないが、任意好適な機構を使用することができる。
具体的には、直前の結像位置ずれ量を位相補正値として、格子基準位置を更新してサンプリング始点とし、格子パターン像の光量分布データをサンプリングし、結像位置のずれ量を求める。フーリエ変換により求められる位相は格子の1周期分までなので、前記位相補正値を設定することにより、測定が進行するにつれて結像位置ずれが格子の1周期分以上になる場合でも正確な測定が可能となる。
このようにして求めた主走査方向の結像位置ずれ量の測定結果を図7に示す。図7のグラフに示すように、結像位置のずれの最大値は79.8μm、最小値は−4.6μmであった。
MTFは、各測定点おいて空間像の光量分布データの極大値(imax)、極小値(imin)から下記の(3)式により求める。
MTF(%)=[(imax−imin)/(imax+imin)]*100 ・・・(3)
実施例1では、MTF=72.5%であった。
このようにした求めた副走査方向の結像位置のずれ量の測定結果を図9に示す。図9のグラフに示すように、結像位置のずれ量の最大値は−2.3μm、最小値は―36.0μmであった。
さらに、上述の実施例1と同様にして求めた副走査のMTFは、73.5%であった。
2 テストチャート
3 受光装置
4 ロッドレンズアレイ
11 光源
11a 白色光源
11b 光線フィルタ
12 拡散板
31 対物レンズ
32 受光素子、ラインセンサ
41 基板
42 ロッドレンズ
43 レンズ面
Claims (2)
- ロッドレンズアレイの結像位置ずれ量を求める光学性能評価方法であって、
(a)一定周期の格子パターンを有するテストチャートに検査光を照射して、前記テストチャートを透過した検査光による基準格子パターン像を生成する工程と、
(b)前記基準格子パターン像の、前記格子パターンの周期方向に沿った光量分布を測定する工程と、
(c)前記基準格子パターン像の光量分布をフーリエ変換して、前記格子パターンの周期と同一周期の基準波形成分を抽出して、該基準波形成分の位相を求める工程と、
(d)検査対象のロッドレンズアレイを、そのレンズ面を前記テストチャートに対向させて配置する工程と、
(e)検査光を、前記テストチャートを介して、前記ロッドレンズアレイのレンズ面に照射し、前記ロッドレンズアレイを伝搬した検査光による格子パターン像を生成する工程と、
(f)前記格子パターン像の、前記周期方向に沿った光量分布を測定する工程と、
(g)前記格子パターン像の光量分布をフーリエ変換して、前記格子パターンの周期と同一周期の波形成分を抽出して、該波形成分の位相を求める工程と、
(h)前記基準波形成分の位相及び前記波形成分の位相からロッドレンズアレイの結像位置ずれ量を求める工程と、
を含むことを特徴とする、ロッドレンズアレイの光学性能評価方法。 - 前記(e)乃至(h)工程を、前記レンズ面のうちの前記検査光の照射部分をロッドレンズの配列方向に沿って順次にずらして繰り返す、ことを特徴とする請求項1記載のロッドレンズアレイの光学性能評価方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2004380450A JP4522848B2 (ja) | 2004-01-21 | 2004-12-28 | ロッドレンズアレイの光学性能評価方法 |
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2004012803 | 2004-01-21 | ||
JP2004380450A JP4522848B2 (ja) | 2004-01-21 | 2004-12-28 | ロッドレンズアレイの光学性能評価方法 |
Publications (3)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2005233937A JP2005233937A (ja) | 2005-09-02 |
JP2005233937A5 JP2005233937A5 (ja) | 2008-02-14 |
JP4522848B2 true JP4522848B2 (ja) | 2010-08-11 |
Family
ID=35017018
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2004380450A Expired - Fee Related JP4522848B2 (ja) | 2004-01-21 | 2004-12-28 | ロッドレンズアレイの光学性能評価方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP4522848B2 (ja) |
Families Citing this family (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP4742890B2 (ja) * | 2006-01-30 | 2011-08-10 | 大日本印刷株式会社 | マイクロレンズ評価基板 |
JP5198820B2 (ja) * | 2006-09-26 | 2013-05-15 | 三菱レイヨン株式会社 | キャピラリー・アレイ・シート検査装置及び検査方法 |
JP5641170B2 (ja) * | 2008-11-06 | 2014-12-17 | 三菱レイヨン株式会社 | キャピラリー・アレイ・シート検査装置及び検査方法 |
JP2011075315A (ja) * | 2009-09-29 | 2011-04-14 | Mitsubishi Rayon Co Ltd | ロッドレンズアレイのmtf測定装置 |
CN110929828A (zh) * | 2019-12-06 | 2020-03-27 | 北京金衡融创网络科技有限公司 | 防伪标签及其识别方法、印刷品 |
Citations (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS61137013A (ja) * | 1984-09-29 | 1986-06-24 | Satoru Toyooka | 光学的微小変位測定方法 |
JPH04128627A (ja) * | 1990-09-20 | 1992-04-30 | Mitsubishi Rayon Co Ltd | レンズアレイ性能測定装置 |
JPH04307347A (ja) * | 1991-04-04 | 1992-10-29 | Nippon Sheet Glass Co Ltd | 光集束性レンズアレイの光学特性評価方法 |
JPH0755428A (ja) * | 1993-08-13 | 1995-03-03 | Ricoh Co Ltd | 位置および特徴量検出方法とその装置 |
JP2000346745A (ja) * | 1999-06-08 | 2000-12-15 | Mitsubishi Rayon Co Ltd | 2次元配列レンズアレイのmtf測定方法及び測定装置 |
JP2001083044A (ja) * | 1999-07-14 | 2001-03-30 | Canon Inc | レンズアレイの検査方法及び検査システム |
JP2001255230A (ja) * | 2000-03-09 | 2001-09-21 | Nippon Sheet Glass Co Ltd | レンズアレイの結像位置ずれ評価方法 |
-
2004
- 2004-12-28 JP JP2004380450A patent/JP4522848B2/ja not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS61137013A (ja) * | 1984-09-29 | 1986-06-24 | Satoru Toyooka | 光学的微小変位測定方法 |
JPH04128627A (ja) * | 1990-09-20 | 1992-04-30 | Mitsubishi Rayon Co Ltd | レンズアレイ性能測定装置 |
JPH04307347A (ja) * | 1991-04-04 | 1992-10-29 | Nippon Sheet Glass Co Ltd | 光集束性レンズアレイの光学特性評価方法 |
JPH0755428A (ja) * | 1993-08-13 | 1995-03-03 | Ricoh Co Ltd | 位置および特徴量検出方法とその装置 |
JP2000346745A (ja) * | 1999-06-08 | 2000-12-15 | Mitsubishi Rayon Co Ltd | 2次元配列レンズアレイのmtf測定方法及び測定装置 |
JP2001083044A (ja) * | 1999-07-14 | 2001-03-30 | Canon Inc | レンズアレイの検査方法及び検査システム |
JP2001255230A (ja) * | 2000-03-09 | 2001-09-21 | Nippon Sheet Glass Co Ltd | レンズアレイの結像位置ずれ評価方法 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2005233937A (ja) | 2005-09-02 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
CN101680749B (zh) | 具有深度鉴别的光学再现的方法和装置 | |
CN1308651C (zh) | 对单一特征的光学度量 | |
JP5880053B2 (ja) | 分光特性取得装置及び画像形成装置 | |
JP5884347B2 (ja) | 分光特性取得装置及び分光特性取得方法、画像評価装置、並びに画像形成装置 | |
JP2008268387A (ja) | 共焦点顕微鏡 | |
JP5172040B2 (ja) | 表面形状測定方法及び表面形状測定装置 | |
KR101216803B1 (ko) | 패턴 검사 방법, 패턴 검사 장치, 포토마스크 제조 방법, 및 패턴 전사 방법 | |
US9213001B2 (en) | Focal position adjustment method and inspection method | |
CN102575928A (zh) | 用于对对象进行三维测量的方法以及测量装置 | |
JP2008275612A (ja) | 半導体製造用のサブストレート上の構造体を測定する高解像度を備えた装置及び測定装置におけるアパーチャの使用 | |
JP2011080980A (ja) | 分光特性取得装置 | |
US20160220104A1 (en) | Measuring head of an endoscopic device and process for inspecting and measuring an object | |
WO2016181206A1 (en) | The measurement setup for determining position of focal plane and effective focal length of an optical system and the method of determining position of focal plane and effective focal length of an optical system | |
CN105070201B (zh) | 用于光刻设备的莫尔条纹的对准装置 | |
JP2009128098A (ja) | 透明板状体の形状測定装置及び板ガラスの製造方法 | |
JP4522848B2 (ja) | ロッドレンズアレイの光学性能評価方法 | |
TWI276794B (en) | Method of inspecting unevenness defect of pattern and device thereof | |
JPWO2013114524A1 (ja) | 分光測定装置及び画像部分抽出装置 | |
CN111649693B (zh) | 一种样品形貌测量装置及方法 | |
JP2019052934A (ja) | 変位センサ | |
WO2017149689A1 (ja) | 欠陥検査装置、パターンチップ及び欠陥検査方法 | |
JP2009156687A (ja) | フォトマスクの欠陥検査装置、フォトマスクの欠陥検査方法及びフォトマスクの製造方法 | |
JP3921432B2 (ja) | モアレ光学系を用いた形状測定装置及び形状測定方法 | |
JP5394095B2 (ja) | 光伝送体の検査装置及び光伝送体の検査方法 | |
JP2014044150A (ja) | 周期性パターンの欠陥検査方法 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20071226 |
|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20071226 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20100512 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20100517 |
|
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20100526 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130604 Year of fee payment: 3 |
|
S531 | Written request for registration of change of domicile |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313531 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130604 Year of fee payment: 3 |
|
R350 | Written notification of registration of transfer |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130604 Year of fee payment: 3 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130604 Year of fee payment: 3 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |