JP4513061B2 - 特定サンプルスペクトルの変換を用いた多変量解析検量線の作成方法 - Google Patents
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Description
アウトライヤの判定基準には、マハラノビス距離、RMSSR(Root Mean Square Spectral Residual)、NND(Nearest Neighbor Distance)等幾つかがあるが、通常検量線作成時にアウトライヤが検知されると、検量線作成のサンプルセットから除外するのが普通である。
1)測定が出来ないサンプルがある。
2)検量線作成のためのサンプルが少なくなって場合によっては測定レンジが狭くなる。
などの問題点があった。
近赤外分光器で測定される複数の試料スペクトルをもとに検量線を作成する検量線作成方法であって、
1)複数試料のスペクトルを測定する工程と
2)前記測定したスペクトルを解析する工程と
3)前記解析したスペクトルをファクター/スコア解析しプロットする工程と、
4)プロットした複数のサンプルスペクトルのうち集団から外れているサンプルスペクトルをスコアプロット上で同一集団と見なせるように所定の方法で変換させる工程と、
5)前記変換させた状態でのスペクトルと同一集団に属する変換しないサンプルスペクトルをもとに検量線を作成する工程と、
6)作成した検量線を評価する工程と、
7)前記検量線の評価結果に応じて前記測定したスペクトルを解析する工程に戻る工程、
を含むことを特徴とする。
前記サンプルスペクトルを所定の方法で変換させる工程は、波長シフト、差スペクトル、スケール変換、オフセット、微分を含み、スペクトル前処理の1種又は複数を特定のサンプルスペクトルの変換に用いることを特徴とする。
請求項1、2に記載の発明によれば、
複数試料のスペクトルを測定する工程と
前記測定したスペクトルを解析する工程と
前記解析したスペクトルをファクター/スコア解析しプロットする工程と、
プロットした複数のサンプルスペクトルのうち集団から外れているサンプルスペクトルをスコアプロット上で同一集団と見なせるように所定の方法で変換させる工程と、
前記変換させた状態でのスペクトルと同一集団に属する変換しないサンプルスペクトルをもとに検量線を作成する工程と、
作成した検量線を評価する工程と、
前記検量線の評価結果に応じて前記測定したスペクトルを解析する工程に戻る工程、
を含んでいるので、検量線の精度を向上させることができる。
工程1において、スペクトル測定工程によりスペクトルを検出する。
工程2において、測定したスペクトルの解析を行う。
工程3において、スペクトル解析を行ったスペクトルをファクター/スコア解析しプロットする。
工程4において、スペクトルの変換(ここでは波長シフト)を行う。
工程5において、スペクトルの変換を行ったものと行わないものを含めて検量線を作成する。
工程6において、検量線の評価を行う。即ち、作成した検量線に対してSECやSECVが小さいかどうかを評価する。評価した検量線においてSECやSECVが大きかった場合は工程2に戻って同様の工程を繰り返す
工程7において、SECやSECVが小さい場合、検量線として使用する。
図2は本発明の実験に用いたEVAのサンプル(Sample No.S1〜S9)を示し、VA(w/w%)はポリエチレンに対する酢酸ビニルの重量比を示している。ここではサンプル1として最小w/w%=0からサンプル9として最大w/w%=41.1までの間の9種類のサンプルを使用した。
図4は図3のスペクトルの※部分を拡大して示すもので、EVA中のVA含有量によりスペクトルのピーク高さが変化していることを示している。4679cm−1のピークではEVA中のVA含有量が低いほどピークが小さくなりVA含有量が高いほどピークが大きくなっている。
スペクトルのピークはそれぞれ化学の官能基に帰属するが、●印はCH2、○印はCH3,C=O、CHとC=O結合音等に帰属されるピークを示している。図によれば、ピークの帰属により波長のシフトが変わることが判る。
図8は図7のスコア分析結果をもとにS1が大きくずれた状態でこのS1を含めて作成した検量線である。図中a〜dを付した○印については後述する。
波長シフトにより集合体(クラスター)の位置が変化したことが判る。
図10は波長シフト前後のスペクトル5500〜4500cm−1の範囲の一部(※部分)を右下に拡大して示すもので、(リ)で示すスペクトルは(チ)で示すオリジナルのスペクトルを−8cm−1シフトさせた状態を示している。
以上説明したように、本発明によれば検量線作成用のサンプルセット中検量線に影響を与えているサンプルを見つけ、波長をシフトさせることにより検量線の精度を改善することができる。
Claims (2)
- 近赤外分光器で測定される複数の試料スペクトルをもとに検量線を作成する検量線作成方法であって、
1)複数試料のスペクトルを測定する工程と
2)前記測定したスペクトルを解析する工程と
3)前記解析したスペクトルをファクター/スコア解析しプロットする工程と、
4)プロットした複数のサンプルスペクトルのうち集団から外れているサンプルスペクトルをスコアプロット上で同一集団と見なせるように所定の方法で変換させる工程と、
5)前記変換させた状態でのスペクトルと同一集団に属する変換しないサンプルスペクトルをもとに検量線を作成する工程と、
6)作成した検量線を評価する工程と、
7)前記検量線の評価結果に応じて前記測定したスペクトルを解析する工程に戻る工程、
を含むことを特徴とする特定サンプルスペクトルの変換を用いた多変量解析検量線の作成方法。 - 前記サンプルスペクトルを所定の方法で変換させる工程は、波長シフト、差スペクトル、スケール変換、オフセット、微分を含み、スペクトル前処理の1種又は複数を特定のサンプルスペクトルの変換に用いることを特徴とする請求項1に記載の特定サンプルスペクトルの変換を用いた多変量解析検量線の作成方法。
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JPH063264A (ja) * | 1992-06-19 | 1994-01-11 | Iseki & Co Ltd | 近赤外分析法における検量線の作成方法 |
JP2004526938A (ja) * | 2000-09-18 | 2004-09-02 | センシス メディカル インク | スペクトロメータ機器を特徴付けし、かつ機器較差を補正する校正モデルを提供する方法 |
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