JP4512330B2 - 複合光学素子、及び光トランシーバー - Google Patents

複合光学素子、及び光トランシーバー Download PDF

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【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、複合光学素子、及び光トランシーバーに関する。
【0002】
【従来の技術】
近年、面発光レーザは並列光インターコネクションのキーデバイスとしてその有用性が高まっている。その実用化においては、従来の電気配線と異なり、高い実装精度が要求されている。そこで、半導体プロセスなどを駆使して非常に高精度に加工された部材を利用し、その部材の面を基準面にして光学素子を実装する方法が検討されている。この高精度に加工された部材をMOB(Micro-Optical Bench)と呼び、このMOBを用いた実装法(MOB実装法)は、様々な要求を満足する上で、非常に重要な技術である。また、このMOB実装法は、2次元マイクロレンズアレイなどの実装においても、大きな役割を担っている。しかし、このようなMOB実装法においては、その製造コストの面で大きな課題を残しており、特に、面発光レーザの電気接続やマイクロレンズとの光結合などでは最も大きな課題の一つとなっている。
【0003】
そこで、マイクロレンズなどの素子をMOBの利用なしで、直接、面発光レーザの基板に貼り付ける方法も検討されている(例えば、特許文献1参照)。
【0004】
【特許文献1】
特開2002−31747公報
【0005】
【発明が解決しようとする課題】
しかし、面発光レーザの基板の表面側には、面発光レーザを形成する際のエッチング部分等の絶縁性を図るためにポリイミドなどの絶縁樹脂をスピンコートなどで塗布しており、絶縁樹脂を塗布した面の凹凸は数μmに達する。このため、この絶縁樹脂の塗布面に直接光学素子を実装しても、高い実装精度は得られない。
【0006】
また、面発光レーザの基板と素子を設けた素子基板とを固定する方法として、基板と素子基板との間に接着剤を挟む方法も考えられるが、接着剤の厚みのバラツキにより高さ方向の精度を出しにくい。バンプなどを利用した固定方法も同様にその精度が数μmであり、課題が残っている。
【0007】
本発明の目的は、面発光レーザの基板に各種の素子を実装する場合、その実装精度を簡単な構成で高めることである。
【0008】
本発明の別の目的は、素子基板に対する光ファイバー等の光伝達部品の接合を簡単な構成で高精度に行うことである。
【0009】
【課題を解決するための手段】
請求項1記載の発明は、面発光レーザの基板に素子を実装した複合光学素子において、前記基板の第1当接面と、前記素子が設けられた素子基板の基板面であって前記第1当接面に当接された第2当接面と、前記第1当接面と前記第2当接面との当接した面内の少なくとも一方に形成された接着剤溝と、前記接着剤溝に注入されて前記第1当接面と前記第2当接面とを当接位置に位置づけして前記基板と前記素子基板とを接着固定した接着剤と、を有し、前記素子基板における前記基板に対向する面に電極用溝が形成され、この電極溝の位置でダイシングされたことを特徴とする。
【0010】
ここで、“素子”としては、電気的、機械的、光学的な諸機能を持った素子が含まれ、特に、面発光レーザに実装して有用性が高いものを指す。例えば、電気配線や、面発光レーザの固定や保護用のカバーや、レンズ機能を持つ部材などが該当する。
【0011】
“接着剤溝”は、第1当接面と第2当接面とのいずれか一方のみに形成してもよく、或いは、両方に形成してもよい。
【0012】
したがって、面発光レーザの基板への素子の実装は、面発光レーザの基板の基板面の一部である第1当接面と、素子基板の基板面の一部である第2当接面とを当接させ、接着剤溝に接着剤を注入して面発光レーザの基板と素子基板とを固定することにより行う。これにより、面発光レーザの基板と素子基板とを、面発光レーザの第1当接面と素子基板の第2当接面とを当接させた状態を維持したまま固定することができ、面発光レーザの基板への素子の実装を、面発光レーザの基板の基板面を被覆した絶縁樹脂層の厚みや接着剤の厚みなどの誤差要因を除去して精度良く、しかも、簡単な構造で行うことができる。特に、面発光レーザを有する基板と素子を設けた素子基板とを接着固定した後にダイシングを行うことにより電極用溝が露出され、この電極用溝でワイヤボンディング等を行うことができる。このダイシングに際して、基板と素子基板との端面がずれたようにダイシングする場合には、このダイシングの停止位置を電極用溝の高さ寸法内とすればよく、高精度のダイシング停止位置が要求されず、ダイシング作業の作業性が向上する。
【0013】
請求項2記載の発明は、請求項1記載の複合光学素子において、前記第1当接面はエピタキシャル面であり、前記第2当接面は研磨面であることを特徴とする。
【0014】
ここで、“エピタキシャル面”は、化学気相成長法により形成された面であり、高精度に平滑に形成されている。“研磨面”も高精度に平滑に形成されている。
【0015】
したがって、第1当接面と第2当接面とがともに高精度に平滑に形成されているので、固定された面発光レーザの基板と素子基板とは高い平行度を維持され、面発光レーザの基板への素子の実装精度がより高くなる。
【0016】
請求項3記載の発明は、請求項1又は2記載の複合光学素子において、前記素子は、前記素子基板における前記面発光レーザに対向する面側に配置されていることを特徴とする。
【0017】
したがって、素子基板に素子を設けた場合、その素子を素子基板における面発光レーザに対向する面側に配置することにより、素子と面発光レーザとの距離に関して、素子基板の厚み公差の影響をなくして素子と面発光レーザとの距離の公差を小さくすることができ、面発光レーザに対する素子の実装精度が高くなる。
【0018】
請求項4記載の発明は、請求項1ないし3のいずれか一記載の複合光学素子において、前記面発光レーザと前記素子とがアレイ状に配列されていることを特徴とする。
【0019】
したがって、この複合光学素子では、面発光レーザの基板への素子の実装を簡便に精度良く行うことができ、これらの面発光レーザと素子とをアレイ状に配列した場合でも各面発光レーザから発せられる光が平行光となり、これにより、隣接する面発光レーザから発せられる光のクロストークの発生が防止される。
【0021】
したがって、面発光レーザを有する基板と素子を設けた素子基板とを接着固定した後にダイシングを行うことにより電極用溝が露出され、この電極用溝でワイヤボンディング等を行うことができる。このダイシングに際して、基板と素子基板との端面がずれたようにダイシングする場合には、このダイシングの停止位置を電極用溝の高さ寸法内とすればよく、高精度のダイシング停止位置が要求されず、ダイシング作業の作業性が向上する。
【0022】
請求項記載の発明は、請求項1ないしのいずれか一記載の複合光学素子において、前記素子は、電気配線であることを特徴とする。
【0023】
したがって、面発光レーザの基板への電気配線の実装精度が高くなり、面発光レーザへの通電を高精度に行える。
【0024】
請求項記載の発明は、請求項1ないしのいずれか一記載の複合光学素子において、前記素子は、マイクロレンズであることを特徴とする。
【0025】
したがって、面発光レーザの基板へのマイクロレンズの実装精度が高くなり、面発光レーザから発せられた拡散光を高精度に平行光にすることができる。さらに、素子としてマイクロレンズを用いて面発光レーザから発せられる拡散光を平行光にすることにより、面発光レーザの光軸方向の実装公差を大きくとることができる。
【0026】
このマイクロレンズとしては、グレースケールマスクを用いたフォトリソグラフィープロセスで形成したものが、任意の非球面形状に形成できる点で好適である。
【0027】
請求項記載の発明は、請求項記載の複合光学素子において、前記マイクロレンズが、前記素子基板に形成された凹面部とこの凹面部内に凸レンズを構成するように充填された前記素子基板よりも屈折率の大きいレンズ相当部材とよりなることを特徴とする。
【0028】
ここで、面発光レーザから発せられる光は拡散しており、その拡散光に対向して位置するレンズ面形状が凸形状であると、入射角が浅くなり、反射率が高くなる。このため、面発光レーザに対向するレンズ面形状は凹面形状が好ましい。しかし、凹面ではパワーが負のため、拡散光を平行光にすることができない。そこで、素子基板に凹面部を形成し、この凹面部内に素子基板よりも屈折率の大きいレンズ相当部材、例えば、樹脂を充填することにより機能的に凸レンズとなるマイクロレンズを形成することができる。レンズ相当部材における面発光レーザに対向する面は平坦であることが好適である。
【0029】
したがって、面発光レーザから発せられた光がマイクロレンズに当ったときの反射率を低く抑えることができ、光利用効率のよい複合光学素子を得ることができる。
【0030】
請求項記載の発明は、請求項1ないしのいずれか一記載の複合光学素子において、前記素子は、回折格子であることを特徴とする。
【0031】
ここで、通信用に面発光レーザを用いる場合、その波長を選択的にコントロールし、多重波長の通信を行う必要がある。その時に波長の相違に対する色収差をマイクロレンズ単体で補正するのには限界がある。
【0032】
したがって、面発光レーザの基板への回折格子の実装精度が高くなり、面発光レーザから発せられた光を光軸以外の任意の方向に精度良く飛ばすことが可能となる。また、素子として回折格子を設けることにより、色収差に強い設計を行える。
【0033】
さらに、この回折格子の形成をフォトリソグラフィープロセスで行うことができ、素子基板への接着剤溝の形成時に同時に形成することができ、製造コストの上昇を抑えられる。
【0034】
請求項記載の発明は、請求項1ないしのいずれか一記載の複合光学素子において、前記素子基板に、光伝達部品が直接接合されていることを特徴とする。
【0035】
ここで、“直接接合されている”とは、素子基板と光伝達部品とを接合する際の位置決めを、素子基板や光伝達部品を保持部材で保持することにより行うのではなく、当該部品を接合することによって当該部品の位置決めを行える状態を意味する。
【0036】
したがって、光伝達部品と素子基板とを直接接合することによって、光伝達部品を固定部材などで固定する場合に比べてその固定部材などに含まれる製造誤差の影響を受けることなく精度良く実装できる。特に、光軸方向においては、光伝達部品と素子基板とを押し当てて実装できることから、低いコストで高い実装精度を実現できる。
【0037】
請求項10記載の発明は、請求項記載の複合光学素子において、前記光伝達部品と前記素子基板との間に樹脂が介装されていることを特徴とする。
【0038】
したがって、光伝達部品と素子基板との間に空気の層が存在すると光伝達部品の端面で反射が生じるが、光伝達部品と素子基板との間に樹脂が介装されることにより素子基板と光伝達部品との間の屈折率差が小さくなるとともに反射率が低くなり、素子基板と光伝達部品との間の光結合効率が高くなる。
【0039】
請求項11記載の発明は、請求項又は記載の複合光学素子において、前記光伝達部品は光ファイバーであり、前記素子基板に前記光ファイバーの先端が挿入される固定溝が形成されていることを特徴とする。
【0040】
したがって、光ファイバーの先端を固定溝に挿入することにより、光ファイバーのずれが防止され、低コストで高い実装精度を得ることができる。
【0041】
請求項12記載の発明は、請求項11記載の複合光学素子において、前記固定溝の中心部に集光用レンズが設けられていることを特徴とする。
【0042】
したがって、光ファイバー内に入射される光が集光用レンズで集光されるので、素子基板の厚み寸法などにバラツキが生じても、確実に光ファイバーの端面でスポットを結ぶことができ、光結合効率が高くなる。
【0043】
請求項13記載の発明は、請求項11又は12記載の複合光学素子において、前記固定溝の縁部に、外方に向けて拡径するテーパー部が形成されていることを特徴とする。
【0044】
したがって、固定溝と光ファイバーとの間に遊びを設けることなく光ファイバーを固定溝に確実に挿入することができ、しかも、テーパー部は固定溝に挿入された光ファイバーを固定溝の中心に導くように機能するため、光ファイバーの実装精度が高くなる。
【0045】
請求項14記載の発明は、請求項11ないし13のいずれか一記載の複合光学素子において、前記光ファイバーの先端部に、先端側に向けて縮径するテーパー部が形成されていることを特徴とする。
【0046】
したがって、固定溝と光ファイバーとの間に遊びを設けることなく光ファイバーを固定溝に確実に挿入することができ、しかも、テーパー部は固定溝に挿入された光ファイバーを固定溝の中心に導くように機能するため、光ファイバーの実装精度が高くなる。
【0047】
なお、請求項13記載のテーパー部と請求項14記載のテーパー部とを設け、このテーパー角をほぼ同じにすることにより、固定溝のテーパー部と光ファイバーのテーパー部とが面接触し、より安定した実装状態が得られる。
【0048】
請求項15記載の発明の光トランシーバーは、請求項10ないし14のいずれか一記載の光ファイバーが直接接合された複合光学素子と、前記複合光学素子に接続されたLSIと、前記LSIに接続された電気コネクタと、を有する。
【0049】
したがって、請求項10ないし14のいずれか一記載の光ファイバーが直接接合された複合光学素子を利用することで、低コストの光トランシーバーを提供することができる。
【0056】
【発明の実施の形態】
本発明の第1の実施の形態を図1に基づいて説明する。本実施の形態の複合光学素子1は、面発光レーザ2が設けられた基板である半導体レーザ基板5に、素子である電気配線3を設けた素子基板4を接着固定したものである。
【0057】
面発光レーザ2の形成に際しては、半導体レーザ基板5上にクラッド層や活性層等をエピタキシャル成長させて形成し(クラッド層や活性層の詳細については図示を省略)、形成されたクラッド層等をドライエッチングすることによりメサ6を形成する。その後、電極狭窄工程を経てメサ6やドライエッチングにより露出されたエピタキシャル面(一つのクラッド層の面)を覆うように絶縁樹脂層(ポリイミド)7を塗布する。塗布した絶縁樹脂層7に対してマスクを通して感光硬化する処理を行い、このとき、メサ6の上面部の発光領域と、素子基板4が当接される領域については感光硬化させず、有機溶剤で洗浄することにより絶縁樹脂層7を除去する。これにより、素子基板4が当接される領域ではエピタキシャル面が第1当接面10として露出する。その後、絶縁樹脂層7の上にp側電極8を形成し、半導体レーザ基板5の裏面にn側電極9を形成する。
【0058】
素子基板4は、石英により形成された基板であり、この素子基板4における面発光レーザ2の第1当接面10に当接される基板面である第2当接面11は研磨面とされている。
【0059】
素子基板4には、素子基板4を半導体レーザ基板5に接着固定するために第2当接面11を半導体レーザ基板5の第1当接面10に当接させたとき、凸形状のメサ6に対向してメサ6との衝突を避けるための凹部12と、接着剤溝13とが形成されている。これらの凹部12と接着剤溝13とは、フォトリソグラフィープロセスにより形成されている。接着剤溝13は、第2当接面11の領域内に形成され、かつ、凹部12を囲むようにリング状に形成され、少なくとも1箇所は素子基板4の端面まで伸びており、その部分が接着剤注入口とされている。
【0060】
これらの凹部12と接着剤溝13とが形成された後、素子基板4における凹部12や接着剤溝13が形成された面にアルミニウム膜が蒸着され、このアルミニウム膜をフォトリソグラフィープロセスによってパターニングすることにより素子である電気配線3が設けられている。
【0061】
面発光レーザ2への素子基板4の接着固定は、以下の手順で行われる。まず、面発光レーザ2の第1当接面10と素子基板4の第2当接面11とを当接させる。このときの当接位置の位置決めは、面発光レーザ2と素子基板4とにおけるそれぞれのフォトリソグラフィープロセスにおいてアライメントマーク(図示せず)を付けておき、そのアライメントマークを顕微鏡で観察しながら行う。これにより、数μmオーダーの位置決め精度を得ることができる。この位置合わせ終了後、接着剤14を接着剤注入口から注入する。注入された接着剤14は毛細管現象により接着剤溝13内を進行し、この接着剤14により面発光レーザ2と素子基板4とが接着固定される。接着剤14としては、紫外線照射により硬化するタイプのものが好適である。
【0062】
なお、面発光レーザ2と素子基板4とを位置合わせする際に、p側電極8と電気配線3とを結線するバンプ15を介装する。バンプ15は圧力付与により容易に変形可能な材質であり、バンプ15を介装しても第1当接面10と第2当接面11との当接状態は維持される。
【0063】
面発光レーザ2と素子基板4とを接着固定することにより、メサ6の上面部の発光領域は石英の素子基板4により覆われるが、面発光レーザ2の出射光の波長が1.3μm帯であり、石英の素子基板4はこの波長に対して透明であるので、何ら支障は生じない。
【0064】
面発光レーザ2が設けられた半導体レーザ基板5と素子基板4とを接着固定して形成された複合光学素子1は、サブマウント基板16に取付けて使用される。複合光学素子1のサブマウント基板16への取付けに際しては、n側電極9とサブマウント基板16上の電気配線(図示せず)との結線がバンプ17により行われ、電気配線3とサブマウント基板16上の他の電気配線(図示せず)との結線がバンプ18により行われている。
【0065】
このような構成において、面発光レーザ2が設けられた半導体レーザ基板5への素子である電気配線3の実装に際しては、絶縁樹脂層7を除去して露出されたエピタキシャル面である第1当接面10と、素子基板4の研磨面である第2当接面11とを当接させ、接着剤溝13に注入した接着剤14によって面発光レーザ2と素子基板4とを接着固定している。このため、半導体レーザ基板5と素子基板4とを、半導体レーザ基板5の第1当接面10と素子基板4の第2当接面11とを当接させた状態を維持したまま固定することができ、半導体レーザ基板5への電気配線3の実装を、絶縁樹脂層7やバンプ15や接着剤14の厚みなどの誤差要因を除去して精度良く、しかも、簡単な構造で行うことができる。
【0066】
なお、本実施の形態では、一つの面発光レーザ2が設けられた半導体レーザ基板5とそれに対応する一つの電気配線3が設けられた素子基板4とを接着固定して一つの複合光学素子1を形成する場合を例に挙げて説明したが、複数の面発光レーザ2がアレイ状に設けられたウェハー状レーザ基板を形成し、さらに、複数の電気配線がアレイ状に設けられたウェハー状素子基板を形成し、これらのウェハー状レーザ基板とウェハー状素子基板とを接着剤により接着固定し、これをダイシングで切り離すことにより図1に示したような複合光学素子1を複数形成してもよい。
【0067】
この場合において、ウェハー状レーザ基板とウェハー状素子基板とを接着固定する工程は、ウェハー状レーザ基板の基板面を被覆した絶縁樹脂層を除去して露出された基板面(図1の第1当接面10に相当)とウェハー状素子基板の基板面(図1の第2当接面11に相当)とを当接させ、それらの基板面の当接した面内の少なくとも一方に形成した接着剤溝(図1の接着剤溝13に相当)に接着剤を注入することにより行う。なお、接着剤溝の形成位置は、ダイシングによる切り離しを行った後にも、各複合光学素子(図1の複合光学素子1に相当)において面発光レーザ基板と素子基板との接着固定状態を維持できる位置に形成する。
【0068】
これにより、個々の面発光レーザの基板に対して素子基板を接着固定する場合に比べると、複数の複合光学素子1を作成するにあたって行うウェハー状レーザ基板とウェハー状素子基板とを接着固定する作業が1回ですむので、製造コストが低減される。
【0069】
接着固定したウェハー状レーザ基板とウェハー状素子基板とをダイシングで切り離す場合に、その一端側のダイシング位置を図1に示すように半導体レーザ基板5側と素子基板4側とでずらすことにより、そのずらした部分をバンプ18を用いた結線に好適な構造として利用することができる。
【0070】
また、半導体レーザ基板5と素子基板4とを接着剤14で接着固定する工程に関して、真空チャンバー(図示せず)を使用することが有効である。この場合には、半導体レーザ基板5の基板面(第1当接面10)と素子基板4の基板面(第2当接面11)とを当接させ、接着剤溝13を接着剤注入口を除いた部分を閉止する。このようにして基板面を当接させた半導体レーザ基板5と素子基板4とを真空チャンバー内に入れ、真空引きを行って真空チャンバー内を真空にする。このとき、半導体レーザ基板5と素子基板4との基板端部には接着剤を塗布し、仮止め状態としておく。真空引きされた真空チャンバー内で接着剤注入口を皿に満たされた接着剤に浸し、その後、真空チャンバー内の真空引きを解除する。これにより、接着剤注入口が浸されている接着剤が負圧状態となっている接着剤溝13内に吸入され、半導体レーザ基板5と素子基板4との接着固定に際して行われる接着剤溝13への接着剤14の注入を短時間で確実に行うことができ、複合光学素子1の製造の作業性が向上する。
【0071】
半導体レーザ基板5と素子基板4との接合位置の位置合わせは、半導体レーザ基板5と素子基板4とに付けられているアライメントマークを顕微鏡で観察品が行うが、真空チャンバー内に入れる前にはラフが位置合わせをし、真空チャンバーから取り出した後に高精度の位置合わせをすることができる。高精度の位置合わせを行った後、紫外線を照射して接着剤14を硬化させる。
【0072】
本発明の第2の実施の形態を図2に基づいて説明する。なお、第1の実施の形態において説明した部分と同じ部分は同じ符号で示し、説明も省略する(以下の実施の形態でも同じ)。
【0073】
本実施の形態の複合光学素子21は、面発光レーザ2が設けられた半導体レーザ基板5に、素子であるマイクロレンズ22を設けた素子基板4を接着固定したものである。
【0074】
マイクロレンズ22は、素子基板4における面発光レーザ2に対向する面の反対側の面に形成されている。素子基板4におけるマイクロレンズ22が形成された面も第2当接面11と同じように研磨され、その研磨された面の上にマイクロレンズ22が形成されている。
【0075】
マイクロレンズ22は、面発光レーザ2から発せられる光の前方側に配置され、面発光レーザ2から発せられた拡散光を平行光にできるように設計されている。さらに、このマイクロレンズ22はグレースケールマスクを用いたフォトリソグラフィープロセスにより非球面に形成され、光の波面収差を低減することができる。
【0076】
接着固定された半導体レーザ基板5と素子基板4とは、半導体レーザ基板5の第1当接面(エピタキシャル面)10と素子基板4の第2当接面(研磨面)11とが当接されており、その公差は非常に高い精度で制御されている。
【0077】
半導体レーザ基板5と素子基板4との接着固定は第1の実施の形態と同様に行われており、半導体レーザ基板5の第1当接面10と素子基板4の第2当接面11とが当接され、第2当接面11に形成した接着剤溝13に接着剤14が注入されている。
【0078】
なお、本実施の形態では図示を省略しているが、面発光レーザ2の電気的な結線は第1の実施の形態と同じように行われている。
【0079】
このような構成において、面発光レーザ2が設けられた半導体レーザ基板5への素子基板4の接着固定を、半導体レーザ基板5の第1当接面10と素子基板4の第2当接面11とを当接させた状態を維持したまま行うことができる。第1当接面10と第2当接面11とがともに高精度に平滑に形成された面であるので、半導体レーザ基板5への素子であるマイクロレンズ22の実装を、絶縁樹脂層7やバンプや接着剤の厚みなどの誤差要因を除去して精度良く、しかも、簡単な構造で行うことができる。
【0080】
なお、本実施の形態においても、上述した第1の実施の形態において説明したように、複数の面発光レーザ2がアレイ状に設けられたウェハー状レーザ基板を形成し、さらに、複数のマイクロレンズ22がアレイ状に設けられたウェハー状素子基板を形成し、これらのウェハー状レーザ基板とウェハー状素子基板とを接着剤により接着固定し、これをダイシングで切り離すことにより図2に示したような複合光学素子21を複数形成してもよい。これにより、個々の面発光レーザに対して素子基板を接着固定する場合に比べると、複数の複合光学素子21を作成するにあたって行うウェハー状レーザ基板とウェハー状素子基板とを接着固定する作業が1回ですむので、製造コストが低減される。
【0081】
本発明の第3の実施の形態を図3に基づいて説明する。本実施の形態の複合光学素子31は、面発光レーザ2が設けられた半導体レーザ基板5に、素子であるマイクロレンズ32を設けた素子基板4を接着固定したものであり、基本的な構造は第2の実施の形態と同じである。
【0082】
本実施の形態と第2の実施の形態との異なる点は、マイクロレンズ32が形成されている位置であり、本実施の形態では、素子基板4における面発光レーザ2に対向する面に形成されている。
【0083】
マイクロレンズ32は、面発光レーザ2から発せられる光の前方側に配置され、面発光レーザ2から発せられた拡散光を平行光にできるように設計されている。このマイクロレンズ32は、凹部12や接着剤溝13と共にフォトリソグラフィープロセスにより形成されている。
【0084】
このような構成において、半導体レーザ基板5への素子基板4の接着固定を、半導体レーザ基板5の第1当接面10と素子基板4の第2当接面11とを当接させた状態を維持したまま行うことができる。第1当接面10と第2当接面11とがともに高精度に平滑に形成された面であるので、半導体レーザ基板5への素子であるマイクロレンズ22の実装を、絶縁樹脂層7やバンプや接着剤の厚みなどの誤差要因を除去して精度良く、しかも、簡単な構造で行うことができる。
【0085】
さらに、マイクロレンズ32が素子基板4における面発光レーザ2に対向する面に形成されているので、マイクロレンズ32の実装に際して素子基板4の厚み公差の影響を受けなくなり、マイクロレンズ32と面発光レーザ2との距離の公差をより小さくすることができ、半導体レーザ基板5に対するマイクロレンズ32の実装精度をより高めることができる。
【0086】
なお、本実施の形態においても、上述した第1の実施の形態において説明したように、複数の面発光レーザ2がアレイ状に設けられたウェハー状レーザ基板を形成し、さらに、複数のマイクロレンズ32がアレイ状に設けられたウェハー状素子基板を形成し、これらのウェハー状レーザ基板とウェハー状素子基板とを接着剤により接着固定し、これをダイシングで切り離すことにより図3に示したような複合光学素子31を複数形成してもよい。これにより、個々の面発光レーザの基板に対して素子基板を接着固定する場合に比べると、複数の複合光学素子31を作成するにあたって行うウェハー状レーザ基板とウェハー状素子基板とを接着固定する作業が1回ですむので、製造コストが低減される。
【0087】
本発明の第4の実施の形態を図4に基づいて説明する。本実施の形態の複合光学素子41は、面発光レーザ2が設けられた半導体レーザ基板5に、素子である回折格子42を設けた素子基板4を接着固定したものである。素子基板4と面発光レーザ2との接着固定構造は上述した各実施の形態と同じであり、回折格子42は第3の実施の形態のマイクロレンズ32と同じように、素子基板4における面発光レーザ2に対向する面に形成されている。
【0088】
回折格子42は、面発光レーザ2から発せられる光の前方側に配置され、面発光レーザ2から発せられた拡散光を光軸以外の任意の方向に向けて飛ばすことができるように設計されている。回折格子42は、凹部12や接着剤溝13と共にフォトリソグラフィープロセスにより形成されている。
【0089】
このような構成において、半導体レーザ基板5への素子基板4の接着固定を、半導体レーザ基板5の第1当接面10と素子基板4の第2当接面11とを当接させた状態を維持したまま行うことができる。第1当接面10と第2当接面11とがともに高精度に平滑に形成された面であるので、半導体レーザ基板5への素子である回折格子42の実装を、絶縁樹脂層7やバンプや接着剤の厚みなどの誤差要因を除去して精度良く、しかも、簡単な構造で行うことができる。
【0090】
さらに、回折格子42が素子基板4における面発光レーザ2に対向する面に形成されているので、回折格子42の実装に際して素子基板4の厚み公差の影響を受けなくなり、回折格子42と面発光レーザ2との距離の公差をより小さくすることができ、面発光レーザ2に対する回折格子42の実装精度をより高めることができる。
【0091】
なお、本実施の形態においても、上述した第1の実施の形態において説明したように、複数の面発光レーザ2がアレイ状に設けられたウェハー状レーザ基板を形成し、さらに、複数の回折格子42がアレイ状に設けられたウェハー状素子基板を形成し、これらのウェハー状レーザ基板とウェハー状素子基板とを接着剤により接着固定し、これをダイシングで切り離すことにより図4に示したような複合光学素子41を複数形成してもよい。これにより、個々の面発光レーザの基板に対して素子基板を接着固定する場合に比べると、複数の複合光学素子41を作成するにあたって行うウェハー状レーザ基板とウェハー状素子基板とを接着固定する作業が1回ですむので、製造コストが低減される。
【0092】
本発明の第5の実施の形態を図5及び図6に基づいて説明する。本実施の形態の複合光学素子51は、面発光レーザ2が設けられた半導体レーザ基板5に、素子であるマイクロレンズ52を設けた素子基板4を接着固定したものである。このマイクロレンズ52は、石英の素子基板4に凹面部53を形成し、この凹面部53にレンズ相当部材である樹脂54を充填することにより形成されている。樹脂54は、石英より屈折率の大きなものが使用されている。凹面部53に樹脂54を充填して構成されたマイクロレンズ52は、凸レンズとして機能する。
【0093】
マイクロレンズ52は、面発光レーザ2から発せられる光の前方側に配置され、面発光レーザ2から発せられた拡散光を平行光にできるように設計されている。この凹面部53は、凹部12や接着剤溝13と共にフォトリソグラフィープロセスにより形成されている。
【0094】
このような構成において、面発光レーザ2が設けられた半導体レーザ基板5への素子基板4の接着固定を、半導体レーザ基板5の第1当接面10と素子基板4の第2当接面11とを当接させた状態を維持したまま行うことができる。第1当接面10と第2当接面11とがともに高精度に平滑に形成された面であるので、半導体レーザ基板5への素子であるマイクロレンズ52の実装を、絶縁樹脂層7やバンプや接着剤の厚みなどの誤差要因を除去して精度良く、しかも、簡単な構造で行うことができる。
【0095】
図6は、マイクロレンズの入射面が凸形状の場合(a)と平坦な場合(b)とにおける入射角の違いを説明する説明図である。面発光レーザ2から発せられる拡散光に対向して位置するレンズの形状が(a)に示すように凸形状であると、レンズ接線に対する光の入射角(θ1)が浅くなり、反射率が高くなる。このため、面発光レーザ2に対向するレンズ形状は凹面形状が好ましい。しかし、凹面ではパワーが負のため、拡散光を平行光にすることができない。そこで、素子基板4に凹面部53を形成し、この凹面部53内に素子基板4よりも屈折率の大きいレンズ相当部材、例えば、樹脂54を充填して機能的に凸レンズとなるマイクロレンズ52を形成することにより、このマイクロレンズ52のレンズ接線に対する光の入射角(θ2)が深くなって反射率が低くなり、反射が少なく光利用効率のよい複合光学素子51を得ることができる。
【0096】
なお、本実施の形態においても、上述した第1の実施の形態において説明したように、複数の面発光レーザ2がアレイ状に設けられたウェハー状レーザ基板を形成し、さらに、複数のマイクロレンズ52がアレイ状に設けられたウェハー状素子基板を形成し、これらのウェハー状レーザ基板とウェハー状素子基板とを接着剤により接着固定し、これをダイシングで切り離すことにより図5に示したような複合光学素子51を複数形成してもよい。これにより、個々の面発光レーザに対して素子基板を接着固定する場合に比べると、複数の複合光学素子51を作成するにあたって行うウェハー状レーザ基板とウェハー状素子基板とを接着固定する作業が1回ですむので、製造コストが低減される。
【0097】
本発明の第6の実施の形態を図7に基づいて説明する。本実施の形態の複合光学素子61は、上述した第3の実施の形態(図3参照)で説明した面発光レーザ2とマイクロレンズ32との組み合わせをアレイ状にしたものである。この複合光学素子61は、複数の面発光レーザ2がアレイ状に配列された基板であるウェハー状レーザ基板62と、複数のマイクロレンズ32がアレイ状に配列された素子基板であるウェハー状素子基板63とを接着固定することにより形成されている。
【0098】
ウェハー状レーザ基板62とウェハー状素子基板63との接着固定は、ウェハー状レーザ基板62のエピタキシャル面を第1当接面10として露出させ、この第1当接面10とウェハー状素子基板63の研磨面である第2当接面11とを当接させ、第1当接面10に形成した接着剤溝13に接着剤14を注入することにより行われている。
【0099】
このような構成において、この複合光学素子61では、隣り合う面発光レーザ2、及び、隣り合うマイクロレンズ32を精度良く位置決めできるので、複数の面発光レーザ2とマイクロレンズ32とをアレイ状に配列した場合でも隣接する面発光レーザ2間でのクロストークの発生を防止できる。
【0100】
本発明の第7の実施の形態を図8に基づいて説明する。本実施の形態では、上述した第6の実施の形態(図7参照)で説明したように、複数の面発光レーザ2をアレイ状に配列した基板であるウェハー状レーザ基板62と、複数のマイクロレンズ32をアレイ状に配列した素子基板であるウェハー状素子基板63とが接着剤溝13に注入された接着剤14によって接着固定されている。その後、ウェハー状レーザ基板62とウェハー状素子基板63とを所定のダイシング位置でダイシングすることにより、マイクロレンズ32と面発光レーザ2とが1つずつ組となった複数の複合光学素子が形成される。
【0101】
ウェハー状素子基板63におけるウェハー状レーザ基板62に対向する基板面には電極用溝64が形成されている。この電極用溝64は、接着固定したウェハー状レーザ基板62とウェハー状素子基板63とをダイシングしてそれぞれ1つの面発光レーザ2と1つのマイクロレンズ32とを備えた複合光学素子を作製する際に、そのダイシングを行う位置を含む位置に形成されている。
【0102】
このような構成において、接着固定したウェハー状素子基板63とウェハー状レーザ基板62とのダイシングを、ウェハー状素子基板63から一度に行うことができる。Aはこのときのダイシング位置であり、このダイシングによって電極用溝64が露出される。
【0103】
Aのダイシング位置でダイシングすることによりそれぞれ1つの面発光レーザ2とマイクロレンズ32とを含む複数の複合光学素子1を作成した後、素子基板側をBの位置でダイシングすることにより、面発光レーザ2側の基板端面とマイクロレンズ32側の基板端面とにずれを生じさせることができ、このずれを生じた部分でワイヤボンディング等を行うことにより面発光レーザ2の電極との結線を行える。このBの位置でダイシングする場合、そのダイシング停止位置を電極用溝64の高さ寸法内とすればよく、ダイシング停止位置を高精度に制御しなくともダイシング時にウェハー状レーザ基板62を傷付けることがなく、ダイシング作業の作業性が向上する。
【0104】
本発明の第8の実施の形態を図9及び図10に基づいて説明する。本実施の形態の複合光学素子71は、上述した第3の実施の形態(図3参照)で説明した複合光学素子の素子基板4に対して、光伝達部品である光ファイバー72が直接接合されている。
【0105】
素子基板4に対する光ファイバー72の接合は、素子基板4に固定溝73を形成し、固定溝73に光ファイバー72の先端を挿入することにより行われている。固定溝73の内径寸法は、光ファイバー72の外径寸法と略同じに設定されている。固定溝73は、フォトリソグラフィープロセスにより形成されている。
【0106】
光ファイバー72の先端部と固定溝73の底面との間には、樹脂74が注入されている。
【0107】
図10は、光ファイバー72が直接接合された複合光学素子71を用いた光トランシーバー75の概略を示したものである。この光トランシーバー75は、光ファイバー72が直接接合された複合光学素子71、この複合光学素子71に電気配線用ワイヤ76を介して接続されたLSI77、LSI77に電気配線用ワイヤ76で接続された電気コネクタ78、光ファイバー72を保持するV溝が形成されたサブマウント79、LSI77等が実装されたステム80等により構成されている。なお、本実施の形態では4本の光ファイバー72が用いられており、各光ファイバー72が接合された4つの複複合光学素子71はサブマウント基板16に取付けられている。
【0108】
このような構成において、光ファイバー72が素子基板4に直接接合されているので、素子基板4に対する光ファイバー72の実装精度が高くなる。特に、光軸方向においては、光ファイバー72と素子基板4とを押し当てるだけでよく、低いコストで高い実装精度を実現できる。
【0109】
さらに、光ファイバー72の先端を固定溝73に挿入しているため、光ファイバー72の光軸と直交する方向の位置ずれが防止され、光軸と直交する方向についても低コストで高い実装精度を得ることができる。
【0110】
光ファイバー72と素子基板4との間に空気の層が存在した場合には、光ファイバー72の端面で反射が生じる。しかし、本実施の形態では、光ファイバー72の先端部と固定溝73の底面との間に樹脂74が注入されているため、光ファイバー72と素子基板4との間に空気の層が存在しなくなり、素子基板4と光ファイバー72との間の屈折率差が小さくなるとともに反射率が低くなり、素子基板4と光ファイバー72との間の光結合効率が高くなる。
【0111】
本発明の第9の実施の形態を図11に基づいて説明する。本実施の形態の光複合素子81の基本的構造は第8の実施の形態(図9参照)と同じであり、素子基板4に固定溝73が形成され、この固定溝73に光ファイバー72の先端が挿入されている。
【0112】
さらに、固定溝73の中心部に集光用レンズ82が設けられている。この集光用レンズ82は、面発光レーザ2側のマイクロレンズ32で平行光にされた光を光ファイバー72に集光する機能を有している。また、この集光用レンズ82もマイクロレンズ32と同様に、グレースケールマスクを用いる半導体プロセスによって非球面形状に形成されている。
【0113】
固定溝73の縁部には、外方に向けて拡径するテーパー部83が形成されている。さらに、光ファイバー72の先端部に、先端側に向けて縮径するテーパー部84が形成されている。テーパー部83とテーパー部84とのテーパー角は略同じ角度に設定されている。
【0114】
このような構成において、光ファイバー72内に入射される光が集光用レンズ82で集光されるので、素子基板4の厚み寸法などにバラツキが生じても、確実に光ファイバー72の端面でスポットを結ぶことができ、光結合効率が高くなる。
【0115】
また、固定溝73の縁部にテーパー部83を形成し、及び、光ファイバー72の先端部にテーパー部84を形成し、これらテーパー部83,84のテーパー角を略同じ角度にすることにより、固定溝73に光ファイバー72の先端部を挿入したとき、テーパー部83とテーパー部84とが面接触し、光ファイバー72の実装状態がより安定する。
【0116】
【発明の効果】
請求項1記載の発明の複合光学素子によれば、これにより、面発光レーザの第1当接面と素子基板の第2当接面とを当接させた状態を維持したまま面発光レーザの基板と素子基板とを固定することができ、これにより、面発光レーザの基板への素子の実装を、面発光レーザの基板の基板面を被覆した絶縁樹脂層の厚みや接着剤の厚みなどの誤差要因を除去して精度良く、しかも、簡単な構造で行うことができる。特に、面発光レーザを有する基板と素子を設けた素子基板とを接着固定した後にダイシングを行うことにより電極用溝が露出され、この電極用溝でワイヤボンディング等を行うことができる。このダイシングに際して、基板と素子基板との端面がずれたようにダイシングする場合には、このダイシングの停止位置を電極用溝の高さ寸法内とすればよく、高精度のダイシング停止位置が要求されず、ダイシング作業の作業性が向上する。
【0117】
請求項2記載の発明によれば、請求項1記載の複合光学素子において、前記第1当接面はエピタキシャル面であり、前記第2当接面は研磨面であるので、これらの第1当接面と第2当接面とがともに高精度に平滑に形成されており、固定された面発光レーザの基板と素子基板とは高い平行度を維持され、面発光レーザの基板への素子の実装精度をより高くすることができる。
【0118】
請求項3記載の発明によれば、請求項1又は2記載の複合光学素子において、前記素子は、前記素子基板における前記面発光レーザに対向する面側に配置されているので、素子と面発光レーザとの距離に関して、素子基板の厚み公差の影響をなくして素子と面発光レーザとの距離の公差を小さくすることができ、面発光レーザに対する素子の実装精度を高めることができる。
【0119】
請求項4記載の発明によれば、請求項1ないし3のいずれか一記載の複合光学素子において、前記面発光レーザと前記素子とがアレイ状に配列されているので、この複合光学素子では、面発光レーザの基板への素子の実装を簡便に精度良く行うことができ、これらの面発光レーザと素子とをアレイ状に配列した場合でも各面発光レーザから発せられる光を平行光とすることができ、これにより、隣接する面発光レーザから発せられる光のクロストークの発生を防止できる。
【0121】
請求項記載の発明によれば、請求項1ないしのいずれか一記載の複合光学素子において、前記素子は、電気配線であるので、面発光レーザの基板への電気配線の実装精度が高くなり、面発光レーザへの通電を高精度に行える。
【0122】
請求項記載の発明は、請求項1ないしのいずれか一記載の複合光学素子において、前記素子は、マイクロレンズであるので、面発光レーザの基板へのマイクロレンズの実装精度が高くなり、面発光レーザから発せられた拡散光を高精度に平行光にすることができる。
【0123】
請求項記載の発明によれば、請求項記載の複合光学素子において、前記マイクロレンズが、前記素子基板に形成された凹面部とこの凹面部内に凸レンズを構成するように充填された前記素子基板よりも屈折率の大きいレンズ相当部材とよりなるので、面発光レーザから発せられた光がマイクロレンズに当ったときの反射率を低く抑えることができ、光利用効率のよい複合光学素子を得ることができる。
【0124】
請求項記載の発明によれば、請求項1ないしのいずれか一記載の複合光学素子において、前記素子は、回折格子であるので、面発光レーザの基板への回折格子の実装精度が高くなり、面発光レーザから発せられた光を光軸以外の任意の方向に精度良く飛ばすことが可能となる。
【0125】
請求項記載の発明によれば、請求項1ないしのいずれか一記載の複合光学素子において、前記素子基板に、光伝達部品が直接接合されているので、光伝達部品を固定部材などで固定する場合に比べてその固定部材などに含まれる製造誤差の影響を受けることなく精度良く実装することができ、特に、光軸方向においては、光伝達部品と素子基板とを押し当てて実装できることから、低いコストで高い実装精度を実現できる。
【0126】
請求項10記載の発明によれば、請求項記載の複合光学素子において、前記光伝達部品と前記素子基板との間に樹脂が介装されているので、光伝達部品と素子基板との間に樹脂が介装されることにより素子基板と光伝達部品との間の屈折率差が小さくなるとともに反射率が低くなり、素子基板と光伝達部品との間の光結合効率を高めることができる。
【0127】
請求項11記載の発明によれば、請求項又は記載の複合光学素子において、前記光伝達部品は光ファイバーであり、前記素子基板に前記光ファイバーの先端が挿入される固定溝が形成されているので、光ファイバーの先端を固定溝に挿入することにより光ファイバーのずれを防止でき、低コストで高い実装精度を得ることができる。
【0128】
請求項12記載の発明によれば、請求項11記載の複合光学素子において、前記固定溝の中心部に集光用レンズが設けられているので、光ファイバー内に入射される光が集光用レンズで集光されるので、素子基板の厚み寸法などにバラツキが生じても、確実に光ファイバーの端面でスポットを結ぶことができ、光結合効率を高めることができる。
【0129】
請求項13記載の発明によれば、請求項11又は12記載の複合光学素子において、前記固定溝の縁部に、外方に向けて拡径するテーパー部が形成されているので、固定溝と光ファイバーとの間に遊びを設けることなく光ファイバーを固定溝に確実に挿入することができ、しかも、テーパー部は固定溝に挿入された光ファイバーを固定溝の中心に導くように機能するため、光ファイバーの実装精度を高めることができる。
【0130】
請求項14記載の発明によれば、請求項11ないし13のいずれか一記載の複合光学素子において、前記光ファイバーの先端部に、先端側に向けて縮径するテーパー部が形成されているので、固定溝と光ファイバーとの間に遊びを設けることなく光ファイバーを固定溝に確実に挿入することができ、しかも、テーパー部は固定溝に挿入された光ファイバーを固定溝の中心に導くように機能するため、光ファイバーの実装精度を高めることができる。
【0131】
請求項15記載の発明の光トランシーバーによれば、請求項10ないし14のいずれか一記載の光ファイバーが直接接合された複合光学素子を利用することで、低コストの光トランシーバーを提供することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の第1の実施の形態の複合光学素子の概略構造を示す縦断正面図である。
【図2】本発明の第2の実施の形態の複合光学素子の概略構造を示す縦断正面図である。
【図3】本発明の第3の実施の形態の複合光学素子の概略構造を示す縦断正面図である。
【図4】本発明の第4の実施の形態の複合光学素子の概略構造を示す縦断正面図である。
【図5】本発明の第5の実施の形態の複合光学素子の概略構造を示す縦断正面図である。
【図6】マイクロレンズの入射面が凸形状の場合(a)と平坦な場合(b)とにおける入射角の違いを説明する説明図である
【図7】本発明の第6の実施の形態の複合光学素子の概略構造を示す縦断正面図である。
【図8】本発明の第7の実施の形態の複合光学素子の製造工程におけるダイシング前の状態を示す縦断正面図である。
【図9】本発明の第8の実施の形態の複合光学素子を概略構造を示す縦断正面図である。
【図10】その複合光学素子を用いた光トランシーバーの概略を示す斜視図である。
【図11】本発明の第9の実施の形態の複合光学素子の概略構造を示す縦断正面図である。
【符号の説明】
1 複合光学素子
2 面発光レーザ
3 素子、電気配線
4 素子基板
5 基板
7 絶縁樹脂層
10 基板面、第1当接面、エピタキシャル面
11 基板面、第2当接面、研磨面
13 接着剤溝
14 接着剤
21 複合光学素子
22 素子、マイクロレンズ
31 複合光学素子
32 素子、マイクロレンズ
41 複合光学素子
42 素子、回折格子
51 複合光学素子
52 素子、マイクロレンズ
53 凹面部
54 レンズ相当部材
61 複合光学素子
62 基板、ウェハー状レーザ基板
63 素子基板、ウェハー状素子基板
64 電極用溝
71 複合光学素子
72 光伝達部品、光ファイバー
73 固定溝
74 樹脂
77 LSI
78 電気コネクタ
81 複合光学素子
82 集光用レンズ
83 テーパー部
84 テーパー部

Claims (15)

  1. 面発光レーザの基板に素子を実装した複合光学素子において、
    前記基板の第1当接面と、
    前記素子が設けられた素子基板の基板面であって前記第1当接面に当接された第2当接面と、
    前記第1当接面と前記第2当接面との当接した面内の少なくとも一方に形成された接着剤溝と、
    前記接着剤溝に注入されて前記第1当接面と前記第2当接面とを当接位置に位置づけして前記基板と前記素子基板とを接着固定した接着剤と、
    を有し、
    前記素子基板における前記基板に対向する面に電極用溝が形成され、この電極溝の位置でダイシングされたことを特徴とする複合光学素子。
  2. 前記第1当接面はエピタキシャル面であり、前記第2当接面は研磨面であることを特徴とする請求項1記載の複合光学素子。
  3. 前記素子は、前記素子基板における前記面発光レーザに対向する面側に配置されていることを特徴とする請求項1又は2記載の複合光学素子。
  4. 前記面発光レーザと前記素子とがアレイ状に配列されていることを特徴とする請求項1ないし3のいずれか一記載の複合光学素子。
  5. 前記素子は、電気配線であることを特徴とする請求項1ないしのいずれか一記載の複合光学素子。
  6. 前記素子は、マイクロレンズであることを特徴とする請求項1ないしのいずれか一記載の複合光学素子。
  7. 前記マイクロレンズが、前記素子基板に形成された凹面部とこの凹面部内に凸レンズを構成するように充填された前記素子基板よりも屈折率の大きいレンズ相当部材とよりなることを特徴とする請求項記載の複合光学素子。
  8. 前記素子は、回折格子であることを特徴とする請求項1ないしのいずれか一記載の複合光学素子。
  9. 前記素子基板に、光伝達部品が直接接合されていることを特徴とする請求項1ないしのいずれか一記載の複合光学素子。
  10. 前記光伝達部品と前記素子基板との間に樹脂が介装されていることを特徴とする請求項記載の複合光学素子。
  11. 前記光伝達部品は光ファイバーであり、前記素子基板に前記光ファイバーの先端が挿入される固定溝が形成されていることを特徴とする請求項又は記載の複合光学素子。
  12. 前記固定溝の中心部に集光用レンズが設けられていることを特徴とする請求項11記載の複合光学素子。
  13. 前記固定溝の縁部に、外方に向けて拡径するテーパー部が形成されていることを特徴とする請求項11又は12記載の複合光学素子。
  14. 前記光ファイバーの先端部に、先端側に向けて縮径するテーパー部が形成されていることを特徴とする請求項11ないし13のいずれか一記載の複合光学素子。
  15. 請求項10ないし14のいずれか一記載の光ファイバーが直接接合された複合光学素子と、
    前記複合光学素子に接続されたLSIと、
    前記LSIに接続された電気コネクタと、
    を有する光トランシーバー。
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