JP4504051B2 - Cvd装置 - Google Patents

Cvd装置 Download PDF

Info

Publication number
JP4504051B2
JP4504051B2 JP2004070479A JP2004070479A JP4504051B2 JP 4504051 B2 JP4504051 B2 JP 4504051B2 JP 2004070479 A JP2004070479 A JP 2004070479A JP 2004070479 A JP2004070479 A JP 2004070479A JP 4504051 B2 JP4504051 B2 JP 4504051B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
vaporization
inclined surface
organometallic compound
raw material
cvd apparatus
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP2004070479A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2005256105A (ja
Inventor
進 秋山
俊秋 佐々木
敦 関口
和孝 山田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Canon Anelva Corp
Original Assignee
Canon Anelva Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Canon Anelva Corp filed Critical Canon Anelva Corp
Priority to JP2004070479A priority Critical patent/JP4504051B2/ja
Publication of JP2005256105A publication Critical patent/JP2005256105A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP4504051B2 publication Critical patent/JP4504051B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Images

Landscapes

  • Feeding, Discharge, Calcimining, Fusing, And Gas-Generation Devices (AREA)
  • Chemical Vapour Deposition (AREA)
  • Electrodes Of Semiconductors (AREA)

Description

本発明は、液体を原料とする化学気相成長(CVD)装置に関する。
近年、半導体デバイスの高性能化に伴い、配線材料としてCu(銅)が使用されている。けだし、Cuは、Al(アルミニウム)に比較して低抵抗であり、配線を構成する金属原子の拡散挙動によるストレスマイグレイションやエレクトロマイグレイションに対して高い耐性を有している。
Cuを用いた配線の形成については、絶縁膜に配線および接続孔(ビアホール、または、コンタクトホール)のパターンを形成し、その後バリア膜を成膜し、バリア膜のパターン凹部にCu膜を埋め込んだ後、CMP(化学的機械研磨法)により余分なCu膜等を除去して行う方法が用いられている。
半導体デバイスの集積化が進むにつれて、配線材料としてのCuは、微細で深い接続孔の穴や配線の溝への被覆性の良好さが強く要求されるところ、被覆性の優れた成膜方法として、CVD法(化学気相成長法)が広く知られている。
前記のような配線材料としてのCu膜をCVD法で成膜する場合、常温常圧では液体であって蒸気圧が低く熱分解しやすい有機金属化合物を原料とし、これを気化したものを原料ガスとして、成膜を行う基板を配置したCVD装置の反応容器内に導入する必要がある。
CVD法でCu膜を成膜する場合に使用する原料としての有機金属化合物は、トリメチルビニルシルヘキサフルオロアセチルアセトナト酸塩銅(Cu(hfac)(tmvs))等が知られており、Cu(hfac)(tmvs)の飽和蒸気圧は、液体温度が100℃のとき約372Paである。
通常、前記Cu(hfac)(tmvs)のようなCVD法を利用した金属材料の成膜に使用される原料としての有機金属化合物は高価であるため、生産コストの面から有効な利用が求められている。このため、通常、CVD装置における気化装置は、反応容器における成膜以外の時間は、上記の理由から原料としての有機金属化合物の気化を停止させて原料ガスの供給を停止する。
ここで成膜以外の時間には、基板の交換や成膜開始が可能となる反応容器内の調圧(排気や圧力の安定化)の時間、成膜条件の温度に安定するまでの時間、交換用基板を出し入れされる反応容器のゲートバルブが開閉できる状態になってから、ゲートバルブを開閉して成膜後の基板をロボットアームで出し入れするまでの基板交換の時間等が含まれ、通常、数分を要する。
つまり、反応容器では、成膜を行うための基板(例えば、シリコンウェハ)が搬送され反応容器内を所定の圧力に調圧した後、気化動作に入った気化装置からの原料ガスの導入が開始し、成膜が完了したところで原料ガスの導入を停止し反応容器内を排気して、反応容器から成膜された基板を搬出するという成膜工程をとる。
一方、気化装置では、気化量が気化装置内の真空度にも依存することから、成膜に必要な量の原料ガスを気化させた後に気化を停止して、速やかに気化装置内に残る原料としての有機金属化合物を除去および排気を行い、次の基板の成膜準備のため再び気化装置内を所定の真空度に維持させる必要がある。
これらの動作は、上述のような調圧や基板交換等の成膜に要する時間外に行われることが生産効率上、重要なことであり、反応容器へ搬入される基板毎に所定の時間内で再現性よく安定して行われる必要がある。
前記配線材料のCuと同様に、半導体製造装置で使用されるチタン酸バリウム、ストロンチウム等の高誘電体あるいは強誘電体薄膜材料を気化させるのに好適な液体原料気化装置の一例が特許文献1に開示されている。特許文献1に開示されている液体原料気化装置は、液体原料を傾斜した加熱面に接触させて気化させる気化装置であり、気化流路を圧力条件が異なる2つの流路に分け、下方に向う傾斜した第1の流路では溶媒の沸騰を適度に行わせて充分な均熱加熱を行い、コイル状の細管からなる減圧流路とその下流からなる第2の流路で溶質を含めて一気に気化させるものである。
特開平11−335845
CVD装置に使用される気化装置は、反応容器における成膜工程に同期して液体原料としての有機金属化合物の気化開始および気化停止の繰り返し動作を行うため、有機金属化合物の原料ガスへの気化の開始が早く、また、有機金属化合物の供給を停止し原料ガスの生成を反応容器側で行われている調圧や基板交換等の限られた時間内で再現性よく安定して行われることが要求されている。
ここで、特許文献1に開示された液体原料気化装置によると、原料の供給を停止して気化動作を停止する際に、液面積を拡大しながら流れる斜面上の原料が、気化室に残留しているため、原料の気化動作がしばらく継続される。従って、原料の供給を停止しても気化の停止動作が遅れてしまう可能性がある。そこで、本発明は、従来の原料を傾斜した加熱面に接触させて気化させる気化装置を使用するCVD装置の問題点に鑑みてなされたものであり、原料の供給停止時における気化室内に残留した原料を気化室から重力に任せた自然の流動に比べ時間を短縮して除去して気化動作を停止し、次の原料の供給から原料ガスへの気化の開始動作を再現性よく行うことが可能な気化装置を使用するCVD装置を提供することを目的とする。
本発明によるCVD装置は、常温常圧で液体である有機金属化合物を原料として使用し、前記有機金属化合物を気化装置により気化した原料ガスを、下流側に位置する反応容器内に導入して反応容器に配置された基板に成膜するCVD装置において、前記気化装置は、少なくとも、傾斜面と、前記傾斜面を加熱する加熱機構と、移動機構により移動可能な構造体を有する気化室を備え、前記構造体は、前記傾斜面上の有機金属化合物の流れに沿って前記傾斜面に接離可能な構成としたことを特徴とする。また、本発明によるCVD装置の前記気化室は、排気機構を有することを特徴とする。また、本発明によるCVD装置の前記気化室は、有機金属化合物の加熱を行う気化準備部と、前記気化準備部で加熱された有機金属化合物の気化を行う気化部とを有することを特徴とする。また、本発明によるCVD装置の前記傾斜面は、傾斜角度が5°乃至15°であることを特徴とする。また、本発明によるCVD装置の前記構造体は、有機金属化合物の供給停止時に前記移動機構により傾斜面に構造体の接触部が有機金属化合物の流れに沿って直線的に当接可能な構成としたことを特徴とする。また、本発明によるCVD装置の前記加熱機構は、気化準備部における傾斜面の表面温度と気化部における傾斜面の表面温度とが個別に設定可能な構成であることを特徴とする。また、本発明によるCVD装置が原料として使用する前記有機金属化合物は、トリメチルビニルシルヘキサフルオロアセチルアセトナト酸塩銅(Cu(bfac)(tmvs))であることを特徴とする。
本発明によるCVD装置によれば、気化室として気化準備部と気化部とを備えた気化装置により、気化準備部内に位置する傾斜面上に滴下等供給された原料としての有機金属化合物に充分な広がりを保たせて液面積を増大させ、気化部内に位置する傾斜面で液面積の広い有機金属化合物を気化して原料ガスを生成することにより、原料としての有機金属化合物が例えばCu(bfac)(tmvs)であれば、約2.5g/min以上の充分な気化量を得ることが可能である。
さらに、有機金属化合物の傾斜面への供給を停止したときに、有機金属化合物が流れる気化準備部内に位置する傾斜面に構造体を当接させ、有機金属化合物を構造体の接触部近傍に凝集させることにより、気化準備部内の傾斜面上に有機金属化合物を残留させることなく確実に気化部へ流動させることができ、しかも、気化部に流動するのに要する時間を、重力に任せた自然の流動に比べて1/3乃至1/2の割合で短縮することができる。
これにより、気化室内の傾斜面上の有機金属化合物を確実にかつ流速を早めて除去し気化室を排気することにより、次に反応容器に搬入される基板の成膜準備のため、反応容器に搬入される基板毎にその基板交換等の限られた所要時間内で、気化室内を所定の真空度に維持することを再現性よく安定して行うことができる。
以下、本発明によるCVD装置の実施の形態について図1を参照して説明する。図1は、本発明に係るCVD装置1の構成を示す一部断面を含む図である。
図1に示すように、CVD装置1は、少なくとも、原料としての有機金属化合物の気化を行う気化装置2と、気化装置2で有機金属化合物を気化した原料ガスを導入して基板に成膜を行う反応容器3とを具備している。気化装置2は、有機金属化合物の加熱を行う気化準備部4aおよび気化準備部4aで加熱された有機金属化合物の気化を行う気化部4bとからなる気化室4を有し、気化室4は、有機金属化合物の加熱および気化を行う傾斜面5と、傾斜面5を背面より加熱するヒーター7、8と、有機金属化合物を気化室4の気化準備部4a内に位置する傾斜面5に供給する原料供給管24と、原料ガスを搬送するためのキャリアガス導入管22と、基板に成膜を行う反応容器3に原料ガスを供給する原料ガス供給配管20と、末端に真空ポンプ19bを備えた排気配管19と、傾斜面5と接離して有機金属化合物を凝集する構造体12とで構成されている。
気化室4は、図1に示す気化室4の底面に垂直な破線を境にして気化準備部4aと気化部4bとの2つの領域に分けられる。図1において、気化室4のうち破線よりも左側の領域が気化準備部4aであり、右側の領域が気化部4bである。なお、図1および図4に示す気化室4内の破線は説明のためのものであり、気化部4bと気化準備部4aとは同一空間を共有している。また、図1および図4に示す各ユニット間を接続する破線は、制御用の信号線である。
気化室4は、気化準備部4aから気化部4bに向って下降するように傾斜した傾斜面5を設けている。傾斜面5は、熱伝導率の高い銅、アルミニウム、アルミニウム合金等の金属で構成されており、傾斜面5の表面は所定の表面粗さ(例えば、ハフ研磨)で研磨されている。図1に示すように、傾斜面5は、気化室4の底面と水平な面との間で角度θをなすように傾斜しており、原料供給管24から供給される原料としての有機金属化合物が、気化準備部4a内に位置する傾斜面5上の点Pから気化部4b内に位置する傾斜面5上の点Rに向かって流動可能になっている。
ヒーター7、8および温度センサー9、10が埋め込まれた傾斜面5の表面温度は、ヒーター7、8と温度センサー9、10と温度コントローラ11とにより制御されている。気化準備部4a内に位置する傾斜面5は、ヒーター7と温度センサー9を備えており、また、気化部4b内に位置するの傾斜面5は、ヒーター8と温度センサー10を備えている。ヒーター7、8および温度センサー9、10は、図1に示すように温度コントローラ11に接続されており、温度コントローラ11は、ヒーター7、8で傾斜面5を加熱して、温度センサー9、10で傾斜面5の温度を測定し、傾斜面5が設定温度を維持するようにヒーター7、8を制御する。なお、温度コントローラ11は、気化部4b内に位置する傾斜面5の表面温度および気化準備部4a内に位置する傾斜面5の表面温度をそれぞれ独立に設定することができ、気化部4b内に位置する傾斜面5の表面温度および気化準備部4a内に位置する傾斜面5の表面温度を、設定温度に維持するように制御を行う。
原料供給管24は流量制御器24aとバルブ24bとから構成されており、原料供給管24のバルブ24bは、構造体制御部14により開閉の制御が行われるようになっている。原料供給管24は、流量制御器24aで設定した所定の流量の有機金属化合物を滴下等して供給し、図1に示す点Pの気化準備部4a内に位置する傾斜面5上に供給するものである。なお、原料としての有機金属化合物は、図示しない原料タンク等から原料供給管24に供給されるようになっている。
流量制御器22aとバルブ22bとを備えたキャリアガス導入管22は、水素などのキャリアガスを気化室4内に供給することにより、気化部4bで気化した原料ガスを原料ガス供給配管20を介して気化室4から反応容器3内に導入するためのものである。なお、キャリアガスは、図示せぬガスボンベ等からキャリアガス導入管22に供給されるようになっている。
原料ガス供給配管20は、反応容器3に接続されており、気化部4bで気化した原料ガスをキャリアガスとともに反応容器3に供給するためのものである。
圧力制御バルブ19aを備え、真空ポンプ19bを配置した排気機構としての排気配管19は、気化室4内の真空度を制御するものである。気化室4は、真空計16で真空度が測定され、これにより得られた真空データが排気配管19の圧力制御バルブ19aへ送られ、気化室4を所定の真空度を維持するようにしている。気化室4内を所定の真空度で維持するのは、気化室4内の真空度は原料としての有機金属化合物の飽和蒸気圧との関係で、反応容器3内の真空度と独立に調整する必要があるためである。
図1に示すように、構造体12は、移動機構を備えた構造体駆動部13により上下に移動することが可能であり、構造体駆動部13は、構造体制御部14により駆動信号が発せられて構造体12の上下移動、停止を行うようになっている。有機金属化合物の気化中は、図1に示すように上限の位置で停止しており、気化動作を停止する場合には、構造体駆動部13の上下移動機構により下降して傾斜面5の表面に当接して停止するようになっている。
図2は、構造体12の形状の一例を示す斜視図である。図2に示すように、構造体12は、傾斜面5との接離部分近傍を断面視においてV字型の形状とした接触部12aを有している。図1に示すように、構造体12の接触部12aは、気化室4の底面と水平な面との間で傾斜角θを成すように構成されている。このため、構造体12の接触部12aは、傾斜面5と平行に接離可能になっており、傾斜面5と直線的に当接可能である。なお、図1及び図2には、構造体12の接触部12aの全体が傾斜面5と当接する構成としているが、これに限定されるものではなく、構造体12の接触部12aのうち一部が傾斜面5と当接可能な構成としてもよい。また、構造体12の材質は特定されるものではないが、通常の反応容器内で使用される材質のもの、例えばステンレス、鋼やアルミニウムまたはそれらの合金等が使用されている。
構造体12の接触部12aの断面はV字型の形状に限られるものではなく、図6に示すような形状としても良い。図6は、構造体12の接触部12aが、傾斜面5と当接している時の有機金属化合物の液面の状態を示した断面図であり、(a)は、図2に示す構造体12の断面がV字型の形状でなる接触部12aを示す図、(b)は、断面が球面の形状でなる接触部12aを示す図、(c)は、断面が一方のみを切り欠いた略V字形の形状でなる接触部12aを示す図である。図6(a)、(b)、(c)は、いずれも構造体12の接触部12aが、傾斜面5上の有機金属化合物の流れに沿って、傾斜面5と直線的に当接するようになっている。
ドレイン配管17は、傾斜面5の点Rに位置するドレイン(図5に示す)に集められた有機金属化合物を外部に排出するためのものである。
次に、上記構成から成るCVD装置1における気化装置2による、有機金属化合物の気化動作および気化停止動作について説明する。
最初に、有機金属化合物の気化動作について説明する。気化装置2は、気化室4内部の傾斜面5上に供給された原料としての有機金属化合物を傾斜面5上で流動させて気化面積(液面積)を広げながら加熱することにより気化させ、原料ガス供給配管20を通して反応容器3に原料ガスを供給するものである。
原料としての有機金属化合物は、傾斜面5の点P上に位置する原料供給管24の出口より例えば滴下して供給される。図1に示すように、気化準備部4a内に位置する傾斜面5の点P上に供給された有機金属化合物は、傾斜角θを有する傾斜面5上をその液面積を広げながら下方の気化部4b内に位置する傾斜面5へ流動する。
ここで、気化準備部4a内に位置する傾斜面5の温度を有機金属化合物の気化点よりも低い温度に設定し、気化部4b内に位置する傾斜面5の温度を有機金属化合物の気化点以上で分解点以下の温度に設定して温度勾配をもたせることにより、気化準備部4aでは、有機金属化合物に均一な加熱がなされるように充分な液面積が確保し、また、気化部4bでは、有機金属化合物の気化を一気に行うことができる。
また、有機金属化合物が原料ガスに気化する速度(気化速度)は、気化部4b内に位置する傾斜面5の温度が一定の場合には、有機金属化合物が流れる傾斜角度θと真空度の大きさによって変化する。
図3は、気化装置2の気化室4内の各真空度における傾斜面5の傾斜角θに対する気化速度との関係を示すグラフである。有機金属化合物としてはCu(hfac)(tmvs)を使用する。図3は、真空度が330Pa(図3に示す●印)、500Pa(図3に示す■印)、1000Pa(図3に示す△印)における傾斜角0°から35°に対する気化速度の大きさを示す。図3に示すように、真空度が上昇するにつれて気化速度の大きさが小さくなっている。また、真空度を一定にした場合には、傾斜角5°乃至15°では傾斜角の大きさに比例して気化速度の大きさが増加するが、傾斜角15°を超えると気化速度が飽和してしまう。このため、気化室4の傾斜面5の角度θを5°乃至15°の範囲で選定し、真空度を可変することにより気化速度が変化し、原料ガスの流量を可変することができる。
これにより、例えばCVD装置で基板上にCuの薄膜の形成を行うために、有機金属化合物としてCu(hfac)(tmvs)を使用した場合、傾斜面5の傾斜角θは5°乃至15°が好ましい。傾斜角θが5乃至15°であれば、一気に有機金属化合物が傾斜面5を流れ落ちてしまうことがなく、気化準備部4a内に位置する傾斜面5上で気化に必要な液面積を有機金属化合物に与えることができ、傾斜面5上に広がった有機金属化合物を均一に加熱することができる。また、気化準備部4a内に位置する傾斜面5の温度は70°C、気化部4b内に位置する傾斜面5の温度は、気化準備部4aの傾斜面5の温度より高く設定し、70℃から100℃の範囲に設定するようにする。
また、構造体12は、原料ガス供給配管20を介して気化装置2と接続されている反応容器3内で成膜工程が行われている場合、傾斜面5上の有機金属化合物に広がりを持たせて原料ガスに気化して反応容器3内へ供給する必要があるため、図1のように傾斜面5から離れた位置で待機している。
次に、本発明による気化装置の気化停止の動作について説明する。反応容器3内の基板の成膜処理が完了して気化室4内の気化を停止したい場合、原料供給管24のバルブ24bを閉めて傾斜面5上の点Pへの有機金属化合物の供給を停止し、原料ガス供給配管20に備えられた原料ガスバルブ20aを閉める。しかしながら、原料としての有機金属化合物の供給を停止しても気化準備部4a内に位置する傾斜面5を流れている有機金属化合物が残留している。
従って、有機金属化合物の供給を停止しても、気化準備部4a内に位置する傾斜面5上に残った有機金属化合物が気化部4b内に位置する傾斜面5へ流れ込み、流れ込んだ有機金属化合物の気化が、重力による流動に任せたまま、進行し続けている。
このため、反応容器3内が次の基板を配置して成膜を開始するまでに、傾斜面5上に残っている有機金属化合物を確実に取り除いて完全に気化を停止させ、再び所定の真空度に気化室4内を排気して、再現性のよい気化ができる状態にしておくことが必要となる。そこで、傾斜面5上の残留した有機金属化合物を取り除くために、原料供給管24のバルブ24bおよび原料ガス供給配管20の原料ガスバルブ20aの閉状態の動作を開始すると共に、構造体制御部14は構造体駆動部13へ駆動信号を送り、上下移動機構により構造体12を下降させて傾斜面5へ当接するように動作させる。
図4は、構造体12が下降して傾斜面5に当接している状態を示す図、図5は、傾斜面5上の有機金属化合物(斜線で示す)の流れの形態を示す図であり、(a)は、傾斜面5に構造体12が当接していない状態における傾斜面5上の有機金属化合物の流れの形態を示す図、(b)は、傾斜面5に構造体12が当接した状態における傾斜面5上の有機金属化合物の流れの形態を示す図である。図5(a)に示すように、構造体12が傾斜面5に当接していない状態では、有機金属化合物は気化準備部4a内の傾斜面5で液面積を広げながら、気化部4bの傾斜面5に向って流れている。一方、図5(b)に示すように、構造体12が傾斜面5に当接した状態では、傾斜面5と構造体12の接触部12aとの当接部近傍に有機金属化合物が凝集されて、構造体12に沿って流れるため、気化準備部4a内に位置する傾斜面5での液面積が減少して、液面積を狭めた状態で有機金属化合物が流動速度を加速させて気化部4bに流れ込む。
図5および図6に示すように、気化準備部4a内の傾斜面5上を広い流域を確保しながら流動していた有機金属化合物は、構造体12が傾斜面5に当接することによりその液面は構造体12を中心にして構造体12の接触部12a近傍に凝集されて盛り上がる。構造体12の接触部12a近傍に凝集された有機金属化合物は、構造体12の接触部12aの両側面が流路となって傾斜面5を流れる。傾斜面5を流れる有機金属化合物の流速は、重力に任せた自然の流動に比べ2倍乃至3倍早めることができ、気化部4b内に送り込まれた有機金属化合物は気化し、または、ドレイン17aヘ流してしまう。これにより、傾斜面5上に残る有機金属化合物を素早く除去することができ、気化室4内を再び所定の真空度に早く戻すことができる。
なお、構造体12のうち接触部12a近傍には、有機金属化合物との濡れ性を考慮して有機金属化合物をはじく性質をもつ物質を塗布するようにしてもよい。
なお、図2および図6に示す構造体12は、1個のみが傾斜面に接触する実施例を示しているが、傾斜面上を流れる有機金属化合物の流れに沿って2個以上の構造体12を間隔を設けて傾斜面5上に接触させるようにしてもよい。複数の構造体12を傾斜面5に当接するようにすることにより、気化準備部4aでの構造体12による有機金属化合物の凝集量が増加して、構造体12が1個の場合と比較して、より短時間に有機金属化合物を気化部4bに流すことができる。
また、図1の実施例では構造体12は気化準備部4a内の傾斜面5上に当接する構造となっているが、これに限られるものではなく、構造体12の接触部12aが気化部4b内の傾斜面5にも当接可能に延伸した構成としてもよい。
そして、構造体12が傾斜面5に当接中に、反応容器3内の基板の入れ替えや調圧等を行い、再度、成膜工程を開始する場合は、構造体制御部14は構造体駆動部13へ構造体12を傾斜面5より離す動作をさせて、原料供給管24のバルブ24bを閉状態から開状態にすることにより傾斜面5上への有機金属化合物の供給が再開され、有機金属化合物の気化による原料ガスの生成、供給が再び始まる。
以上述べたように、有機金属化合物がCu(hfac)(tmvs)である場合、気化準備部4a内に位置する傾斜面5の温度を70℃、気化部4b内に位置する傾斜面5の温度を90℃、気化室4内の真空度を550Paとした状態で、構造体12を気化準備部4a内に位置する傾斜面5上に置くことで、有機金属化合物の流動を確実にするため、残留を完全に除去し、しかも液体原料を気化部4bに送る時間を1/3乃至1/2に短縮することができる。また、約2.5g/min以上の気化量の原料ガスを反応容器3内へ導入することが可能となる。
以上述べたCVD装置1における気化装置2の気化開始、停止動作のサイクルを図7のフローチャートで示す。
最初に、気化装置2の図示せぬ制御部は反応容器3と通信を行って、反応容器3内に成膜を行う基板が配置済みかを確認する(ステップS1)。反応容器3が基板を配置していない場合には、基板未配置の警告表示を行って基板が配置されるまで待機する(ステップS4)。基板が配置済みの場合には、構造体12が上限位置にあるかをチェックする(ステップS2)。構造体12が上限位置にない場合には、構造体12の位置の警告表示を行って、構造体12が上限位置に移動するようにする(ステップS5)。構造体12が上限位置にある場合には、温度コントローラ11から気化準備部4a内に位置する傾斜面5、気化部4b内に位置する傾斜面5の温度データおよび真空計16の真空データを読み出して、設定温度および設定真空度に達しているかをチェックする(ステップS3)。温度データまたは真空データが設定値に達していない場合には、警告表示を行って再度温度データ、真空データのチェックを行う(ステップS6)。温度データおよび真空データが設定値に達している場合には、反応容器3および気化装置2の準備が完了しているので、原料供給管24のバルブ24bを開状態にして原料としての有機金属化合物を気化準備部4a内に位置する傾斜面5に供給し、また、キャリアガス導入管22のバルブ22bおよび原料ガス供給配管20の原料ガスバルブ20aを開状態にしてキャリアガスを気化室4に供給する(ステップS7)。気化装置1は、有機金属化合物を気化して原料ガスを生成して反応容器3に供給する。次に、反応容器3からの成膜終了信号により、成膜工程が終了したかをチェックする(ステップS8)。反応容器3での成膜工程が終了したときには、原料供給管24および原料ガス供給配管20のバルブ24b、20aを閉じて、有機金属化合物および原料ガスの供給を停止する(ステップS9)。また、構造体12を下降して傾斜面5に当接させる(ステップS10)。構造体12を傾斜面5に当接させることにより、傾斜面5に残留した有機金属化合物を時間を短縮して除去することができ、有機金属化合物の一部は気化部4bで気化され、残りの有機金属化合物はドレイン17aから排出される。
また、原料供給管24および原料ガス供給配管20のバルブ24b、20aを閉じた後に、図示せぬ制御部より気化停止信号が反応容器3に出力されて、反応容器3は、気化停止信号により反応容器3内の調圧、基板の交換処理等を行う(ステップS11)。原料供給管24および原料ガス供給配管20のバルブ24b、20aを閉じて所定の時間が経過した後に、構造体12を上限位置に上昇するように構造体制御部14に上昇指示を行う(ステップS12)。構造体12の上昇指示後に、ステップS1に移行して、気化動作を継続するようにする。
また、CVD装置1で使用される有機金属化合物は、銅配線用のCu(bfac)(tmvs)に限られず、半導体デバイスにおいてCuの拡散防止膜(バリア膜)のTiN膜の液体原料として利用されるTDEAT(テトラキスジエチルアミノチタン。100℃のとき飽和蒸気圧は約23.9Pa)等も気化室内の傾斜面の設定温度および真空度を適切に設定することで使用することができる。
本発明に係るCVD装置の構成を示す一部断面を含む図である。 構造体の形状の一例を示す斜視図である。 各真空度における気化室の傾斜角に対する気化速度との関係を示すグラフである。 構造体が下降して傾斜面に接している状態を示す図である。 気化準備部の傾斜面上で有機金属化合物の流れの形態を示す図であり、(a)は、傾斜面に構造体が当接していない状態における有機金属化合物の傾斜面上での流れの形態を示す図、(b)は、傾斜面に構造体が当接した状態における有機金属化合物の傾斜面上の流れの形態を示す図である。 構造体の接触部が、傾斜面と当接している時の液体原料の液面の状態を示した断面図であり、(a)は、断面がV字型の形状でなる接触部を示す図、(b)は、断面が球面の形状でなる接触部を示す図、(c)は、断面が一方のみを切り欠いた略V字形の形状でなる接触部を示す図である。 気化装置の気化開始、停止動作のサイクルをフローチャートで示した図である。
符号の説明
1 CVD装置
2 気化装置
3 反応容器
4 気化室
4a 気化準備部
4b 気化部
5 傾斜面
7、8 ヒーター
9、10 温度センサー
11 温度コントローラ
12 構造体
12a 接触部
13 構造体駆動部
14 構造体制御部
16 真空計
17 ドレイン配管
17a ドレイン
19 排気配管
19a 圧力制御バルブ
19b 真空ポンプ
20 原料ガス供給配管
20a 原料ガスバルブ
22 キャリアガス導入管
22a 流量制御器(キャリアガス用)
22b バルブ(キャリアガス用)
24 原料供給管
24a 流量制御器
24b バルブ


Claims (7)

  1. 常温常圧で液体である有機金属化合物を原料として使用し、前記有機金属化合物を気化装置により気化した原料ガスを、下流側に位置する反応容器内に導入して反応容器に配置された基板に成膜するCVD装置において、前記気化装置は、少なくとも、傾斜面と、前記傾斜面を加熱する加熱機構と、移動機構により移動可能な構造体を有する気化室を備え、前記構造体は、前記傾斜面上の有機金属化合物の流れに沿って前記傾斜面に接離可能な構成としたことを特徴とするCVD装置。
  2. 前記気化室は、排気機構を有することを特徴とする請求項1記載のCVD装置。
  3. 前記気化室は、有機金属化合物の加熱を行う気化準備部と、前記気化準備部で加熱された有機金属化合物の気化を行う気化部とを有することを特徴とする請求項1又は請求項2記載のCVD装置。
  4. 前記傾斜面は、傾斜角度が5°乃至15°であることを特徴とする請求項1乃至請求項3のうち、いずれか1に記載のCVD装置。
  5. 前記構造体は、有機金属化合物の供給停止時に前記移動機構により傾斜面に構造体の接触部が有機金属化合物の流れに沿って直線的に当接可能な構成としたことを特徴とする請求項1記載乃至請求項4のうち、いずれか1に記載のCVD装置。
  6. 前記加熱機構は、気化準備部における傾斜面の表面温度と気化部における傾斜面の表面温度とが個別に設定可能な構成であることを特徴とする請求項1記載乃至請求項5のうち、いずれか1に記載のCVD装置。
  7. 前記有機金属化合物は、トリメチルビニルシルヘキサフルオロアセチルアセトナト酸塩銅(Cu(bfac)(tmvs))であることを特徴とする請求項1乃至請求項6のうち、いずれか1に記載のCVD装置。
JP2004070479A 2004-03-12 2004-03-12 Cvd装置 Expired - Fee Related JP4504051B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2004070479A JP4504051B2 (ja) 2004-03-12 2004-03-12 Cvd装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2004070479A JP4504051B2 (ja) 2004-03-12 2004-03-12 Cvd装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2005256105A JP2005256105A (ja) 2005-09-22
JP4504051B2 true JP4504051B2 (ja) 2010-07-14

Family

ID=35082134

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2004070479A Expired - Fee Related JP4504051B2 (ja) 2004-03-12 2004-03-12 Cvd装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP4504051B2 (ja)

Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2016199193A1 (ja) * 2015-06-08 2016-12-15 株式会社日立国際電気 気化装置、基板処理装置及び半導体装置の製造方法
JP6418555B2 (ja) * 2015-06-18 2018-11-07 株式会社Screenホールディングス 基板処理装置および基板処理方法

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2001011634A (ja) * 1999-07-01 2001-01-16 Lintec:Kk 気化装置
JP2003213422A (ja) * 2002-01-24 2003-07-30 Nec Corp 薄膜の形成装置及びその形成方法

Family Cites Families (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH11335845A (ja) * 1998-05-20 1999-12-07 Ebara Corp 液体原料気化装置

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2001011634A (ja) * 1999-07-01 2001-01-16 Lintec:Kk 気化装置
JP2003213422A (ja) * 2002-01-24 2003-07-30 Nec Corp 薄膜の形成装置及びその形成方法

Also Published As

Publication number Publication date
JP2005256105A (ja) 2005-09-22

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP6700459B2 (ja) タングステン膜の成膜方法および成膜装置
JP5225957B2 (ja) 成膜方法および記憶媒体
KR101178984B1 (ko) Ru 금속 층을 기판에 증착하는 방법 및 전구체 이송 방법
TWI666338B (zh) 氣體供給機構及氣體供給方法以及使用其之成膜裝置及成膜方法
US10629433B2 (en) Method of manufacturing ruthenium wiring
US9777377B2 (en) Film forming method and film forming device
JP6336866B2 (ja) 半導体デバイスの製造方法、基板処理装置およびプログラム
JP2009084625A (ja) 原料ガスの供給システム及び成膜装置
KR20120053032A (ko) 성막 장치, 성막 방법 및 기억 매체
KR100989028B1 (ko) 반도체 장치의 제조 방법 및 기판 처리 장치
JP4504051B2 (ja) Cvd装置
JP6253214B2 (ja) 半導体装置の製造方法、基板処理装置および記録媒体
JP2002222805A (ja) 基板処理装置
KR101349423B1 (ko) Cu막의 성막 방법
US20120040085A1 (en) METHOD FOR FORMING Cu FILM AND STORAGE MEDIUM
US8697572B2 (en) Method for forming Cu film and storage medium
JP2008140880A (ja) 薄膜の形成方法、成膜装置及び記憶媒体
JP4252142B2 (ja) ガス処理装置およびそれに用いられる原料供給系のパージ機構
KR20240140973A (ko) 오목부에 루테늄을 매립하는 방법 및 장치
JP5656683B2 (ja) 成膜方法および記憶媒体
JP4787073B2 (ja) 処理方法および処理装置
JP2014101564A (ja) コバルト膜の形成方法
JPWO2007111127A1 (ja) 基板処理方法、半導体装置の製造方法、基板処理装置、および記録媒体
JP5659041B2 (ja) 成膜方法および記憶媒体
JP2010192600A (ja) Cu膜の成膜方法および記憶媒体

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20070123

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20090528

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20100416

A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20100422

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 4504051

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130430

Year of fee payment: 3

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130430

Year of fee payment: 3

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140430

Year of fee payment: 4

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees