JP4502255B2 - 電極体の製造方法 - Google Patents

電極体の製造方法 Download PDF

Info

Publication number
JP4502255B2
JP4502255B2 JP2004244981A JP2004244981A JP4502255B2 JP 4502255 B2 JP4502255 B2 JP 4502255B2 JP 2004244981 A JP2004244981 A JP 2004244981A JP 2004244981 A JP2004244981 A JP 2004244981A JP 4502255 B2 JP4502255 B2 JP 4502255B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
layer
resist
electrodeposition
electrodeposition layer
zero
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP2004244981A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2006063362A (ja
Inventor
貴士 中島
博士 嶋津
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Kyushu Hitachi Maxell Ltd
Original Assignee
Kyushu Hitachi Maxell Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Kyushu Hitachi Maxell Ltd filed Critical Kyushu Hitachi Maxell Ltd
Priority to JP2004244981A priority Critical patent/JP4502255B2/ja
Publication of JP2006063362A publication Critical patent/JP2006063362A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP4502255B2 publication Critical patent/JP4502255B2/ja
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Landscapes

  • ing And Chemical Polishing (AREA)

Description

本発明は電極体の製造方法に関する。当該製造方法によって作製される電極体は、例えば感圧式指紋センサの検出部などに好適に使用できる。
本発明においては、縞状の走査電極2を有する上下二枚のフレキシブルな電極体1・1を、両電極体1・1に係る走査電極2・2が互いに交差するように重ね合わせることによって、マトリクス状の走査電極群を構成するが(本発明に係る図3参照)、感圧式指紋センサの分野において、この種のマトリクス状の走査電極群を適用すること自体は、例えば特許文献1や特許文献2などに記載されていて公知である。
特公平5−14310号公報(第1図) 特公平7−60455号公報(第2図、第7図)
本発明者等は、先の各電極体1を電鋳法によって作成することを考え、その開発に試みた。図6は、その開発段階においてなされた、本発明の従来形態に係る電極体の製造手順を示しており、そこではまず、母型5上に零次電着層6を電鋳形成したうえで、該零次電着層6上に縞状にレジスト体12を形成し、次いでレジスト体12の無い零次電着層6上に一次電着層15を電鋳形成した(図6(a))。次に、一次電着層15上に二次電着層17を形成してから(図6(b))、これら二次電着層17およびレジスト体12を覆うように支持レジスト体19を形成した(図6(c))。最後に、零次電着層6から母型5を剥離したうえで、零次および一次電着層6・15をエッチングにより除去することにより、図6(d)に示すように、支持レジスト体19上に、二次電着層17とレジスト体12とが一方向に交互に並設されたフレキシブルな電極体1を得た。
上記の製造方法の問題は、エッチング工程において、零次および一次電着層6・15だけをクリアに除去することが難しく、走査用電極2となる二次電着層17に至るまで腐食が進んで、図6(d)に示すように二次電着層17の表面が不均一な凸凹状となりやすいことにある。このように二次電着層17の表面が不均一な凸凹状になっていると、走査電極2から得られる走査信号にばらつきが生じてセンサ感度の低下を招く。このことは、指紋センサの信頼性が低下することを意味する。尤も、エッチングではなく、零次および一次電着層6・15を強制的に剥離することも考えられるが、その場合にはレジスト体12にストレスが加わって、該レジスト体12の形状が歪に変形しやすい。
本発明の目的は、電極体1の製造方法において、走査電極2となる二次電着層17の表面が凸凹状となることを確実に防ぐことができるようにすることにある。このことは、当該電極体を例えば感圧式指紋センサの検出部として適用した場合には、該指紋センサのセンサ感度の向上と、指紋識別結果の信頼性の向上に資することを意味する。
本発明は、図3に示すような電極体1の製造方法であって、図1(a)に示すごとく、母型5の表面に零次電着層6を形成する零次電鋳工程と、図1(b)に示すごとく、零次電着層6上に、所定の等間隔を置いて並設された複数本のレジスト体12からなる縞状のパターンレジスト13を設けるパターニング工程と、図1(c)に示すごとく、零次電着層6のレジスト体12で覆われていない表面に、一次電着層15を形成する一次電鋳工程と、図1(d)に示すごとく、一次電着層15上にバリア層16を形成する工程と、図1(e)に示すごとく、バリア層16上に、二次電着層17を形成する二次電鋳工程と、図2(a)に示すごとく、二次電着層17およびレジスト体12を覆うように、支持体21を形成する工程と、図2(b)に示すごとく、これら電着層6・15およびバリア層16等で構成される積層体20を母型5から剥離する工程と、図2(c)に示すごとく、零次および一次の電着層6・15をエッチングにより除去するエッチング工程とを含み、前記エッチング工程(図2(c))によって、支持体21上に、バリア層16を備える二次電着層17とレジスト体12とが交互に並設された電極体1が形成されるようにしてあることを特徴とする。なお、ここで言う「支持体21」とは、図2(a)〜(c)に示すような支持レジスト19だけでなく、図4に示すような支持レジスト層19、接着層22、カバーコート層23からなる三層構造体や、図5に示すような接着層22とカバーコート層23からなる二層構造体をも含む概念である。カバーコート層23の形成素材としては、ポリイミドが最適である。
図1(e)に示すように、二次電鋳工程においては、レジスト体12の高さ位置を越えないように、二次電着層17を形成するようにしてあり、図2(a)に係る支持体21の形成に先立って、レジスト体12と二次電着層17との高さ寸法を揃えるための研磨処理を施すようにすることが好ましい。
本発明に係る電極体1の製造方法においては、バリア層16で二次電着層17の表面を覆った状態で、零次および一次の電着層6・15に対するエッチング除去作業を行うようにしたので、該バリア層16の存在によりエッチング液と二次電着層17との接触を確実に阻止でき、したがって走査電極となる二次電着層17の表面の腐食を効果的に防ぐことができる。これにて、図6に示す従来製法においては不可避であった、二次電着層17の表面が不均一な凸凹状(図6(d)参照)になることに起因する走査信号のばらつきを良好に抑えることができるので、例えば当該電極体1を感圧式指紋センサの検出部として適用した場合には、該感圧式指紋センサのセンサ感度の向上を図り、以て指紋センサの信頼性向上に大いに貢献できる。
図6に示す従来製法では、過剰なエッチングにより二次電着層17の表面が侵食されて凸凹状となったり、逆にエッチングが不十分であるために、一次電着層15が残留したりすることが避けられず、したがって一次電極17の上端面とレジスト体12の上端面とで規定される走査電極の段差寸法を、所望の寸法に厳密に設定することが極めて困難であった。これに対して本実施形態に係る製法を採れば、エッチング条件に左右されることなく、バリア層16の上端面とレジスト体12の上端面とで規定される走査電極の段差寸法(t:図2(c)参照)を所望の寸法に確実に設定することができるので、この点でも走査信号のばらつきを抑えて、センサの信頼性向上に貢献できる。何よりも、エッチング条件に厳密性が要求されず、簡単且つ確実に、所望の段差寸法(t)を確実に得ることができる点で優れている。なお、本発明に係る電極体1を感圧式指紋センサの検出部として使用する場合には、上記段差寸法(t)は4〜6μmの範囲に設定することが、センサ感度の観点等から好適であり、特に5μmが最適であることを本発明者は確認している。
本発明における電着層6・15・17の形成素材(電着金属)の具体例としては、ニッケルコバルト合金やニッケルなどを挙げることができる。バリア層16の形成素材には、二次電着層17とエッチング液との接触を確実に阻止できるバリア性と、電極としての導電性を有することが求められる。これら二つの条件を良好に満たし得るものとしては、金、白金、ロジウムなどを挙げることができ、材料コスト等を勘案すると金が最適である。バリア層16は、メッキ法のほか、スパッタ法、蒸着法、イオンコーティング法などで形成することができ、下記の実施形態においてはメッキ法により形成した。
本発明者等の知見によれば、バリア層16の厚み寸法は0.4μm以上、0.6μm以下であることが望ましい。これは、バリア層16の厚み寸法が0.4μmを下回ると、バリア性が不良となって二次電着層17の表面が腐食されやすくなること、および0.6μmを超えるとコスト高となることに拠る。
図2(a)に係る支持体21の形成に先立って、レジスト体12と二次電着層17との高さ寸法を揃えるための研磨処理を施すようにしてあると、レジスト体12と支持体21との密着性、一体性を良好に確保できる。これにて電極体1の全体強度の増強を図ることができるので、長期使用時に電極体1が分解するような不都合の発生を良好に防止できる。
さらに、図2(c)および図3に示すごとく、支持体21上にレジスト体12を下拡がりのテーパー状に形成してあると、該レジスト体12を上拡がりのテーパー状とする場合に比べて、支持体21に対するレジスト体12の接着面積を格段に大きくとることができ、したがって、支持体21とレジスト体12との密着性、一体性を確保できる。このことも上述と同様に、電極体1の全体強度の増強を図ることができることを意味する。
(第1実施形態)
本発明に係る電極体の製造方法の第1実施形態を説明する。ここでは、当該電極体を感圧式指紋センサの検出部を構成する電極体に適用した例について説明する。この電極体1は、図3および図2(c)に示すように、複数本の走査電極2とレジスト体12とが交互に並設された縞状を呈しており、図3に示すように、上下二枚の電極体1・1を、両電極体1・1の走査電極2が交差するように重ね合わせた状態で、他の部品とともにセンサ筐体内に組み付けられて使用に供される。
図1および図2は、上記電極体1の電鋳法による製造方法を示しており、そこではまず、図1(a)に示すように、導通性を有する母型5の表面を覆うように電着金属を電鋳して、零次電着層6を形成する。本実施形態においては、ステンレス(SUS 304 2B)製の母型5の表面に、ニッケルコバルトを30μmの厚み寸法で電鋳して、零次電着層6を形成した。
次に、零次電着層6上にフォトレジスト層7を形成したうえで、該フォトレジスト層7上に、一方向に長い透過孔10を有するパターンフィルム9を密着させ、紫外光ランプ11で紫外線光を照射して露光を行い、焼き付け、現像、乾燥の各処理を行って、未露光部分を溶解除去することにより、図1(b)に示すごとく、所定の等間隔を置いて並設された複数本のレジスト体12からなる縞状のパターンレジスト13を零次電着層6上に形成する。フォトレジスト層7は、ネガタイプの感光性ドライフィルムレジストを所定の高さに合わせて一枚ないし数枚ラミネートして熱圧着により形成した。各レジスト体12は、縦断正面視で、上拡がりの台形状を呈している。
図1(c)に示すごとく、零次電着層6のレジスト体12で覆われていない表面に、ニッケルコバルトを5μmの厚み寸法で電鋳して、一次電着層15を形成する。
図1(d)に示すごとく、一次電着層15の表面に、バリア層16を形成する。ここでは金めっき処理を施すことにより、Au製の0.5μm厚のバリア層16を形成する。さらに、図1(e)に示すごとく、バリア層16の表面にニッケルコバルトを20μmの厚み寸法で電鋳して、二次電着層17を形成する。このときの二次電着層17の上端面の高さ位置は、レジスト体12の上端面よりも下方位置にある。
図2(a)に示すように、二次電着層17の上端面と面一となるように、レジスト体12の上端面に対して研磨処理(ペーパー)を施したうえで、二次電着層17およびレジスト体12を覆うように支持体21を形成する。ここでは、25μmの厚み寸法を有するフォトレジストを紫外線照射で焼き付けて支持レジスト体19を密着形成し、これ(支持レジスト体19)を支持体21とした。なお、支持レジスト体19を、レジスト体12と同じ材料からなるフォトレジストからなるものとしてあると、両レジスト12・19を一体的に形成できて有利である。かくして、零〜二次の電着層6・15・17、バリア層16、およびレジスト体12、支持体21で構成される積層体20を母型5に形成することができた。
次いで、図2(b)に示すように、積層体20を母型5から剥離する。このときベーキング条件下(すなわち加熱条件下)で剥離作業を行うと、母型5の形成素材であるステンレスと、零次電着層6の形成素材であるニッケルコバルトとの熱膨張率差により、積層体20の寸法安定性や形状を損なうことなく、軽い力で母型5から積層体20を剥離できて有利である。
このように母型5から剥離された積層体20は、次のエッチング工程に移される。このエッチング工程では、零次および一次の電着層6・15に対してのみ腐食能を有するエッチング液、より詳しく言うと、零次および一次の電着層6・15の形成素材であるニッケル材に対してのみ腐食能を有し、バリア層16の形成素材である金に対しては腐食能を有しないエッチング液を用いてエッチングを行う。これにて、零次および一次の電着層6・15のみを腐食・除去して、図2(c)に示すように、支持体21上に、バリア層16を備える二次電着層17と、レジスト体12とが交互に並設された電極体1を得ることができた。
以上のように本実施形態に係る電極体1の製造方法においては、バリア層16で二次電着層17の表面を覆った状態で、零次および一次の電着層6・15に対するエッチング除去作業を行うようにしたので、該バリア層16の存在によりエッチング液と二次電着層17との接触を確実に阻止でき、したがって走査電極となる二次電着層17の表面の腐食を効果的に防ぐことができる。これにて、図6に示す従来製法においては不可避であった、二次電着層17の表面が不均一な凸凹状になることに起因する走査信号のばらつきをよく抑えることができるので、指紋センサのセンサ感度の向上を図り、以て指紋センサの信頼性向上に大いに貢献できる。
図6に示す従来製法では、過剰なエッチングにより二次電着層17の表面が侵食されて凸凹状となったり、逆にエッチングが不十分であるために、一次電着層15が残留したりすることが避けられず、したがって一次電極17の上端面とレジスト体12の上端面とで規定される走査電極の段差寸法を、所望の寸法に厳密に設定することが極めて困難であった。これに対して本実施形態に係る製法を採れば、エッチング条件に左右されることなく、バリア層16の上端面とレジスト体12の上端面とで規定される走査電極の段差寸法(t:図2(c)参照)を所望の寸法に確実に設定することができるので、この点でも走査信号のばらつきを抑えて、指紋センサの信頼性向上に貢献できて有利である。何よりも、エッチング条件に厳密性が要求されず、簡単且つ確実に、所望の段差寸法(t)を得ることができる点で優れている。
(第2実施形態)
図4は本発明の第2実施形態を示しており、そこでは、支持体21を、支持レジスト体19と、接着層22と、ポリイミド製のカバーコート23の三層構造体としてある点が、先の第1実施形態と相違する。本実施形態においては、各層(支持レジスト体19、接着層22、カバーコート23)のそれぞれの厚み寸法は25μmとした。このように接着層22を介して支持レジスト体19にカバーコート23を貼着してあると、第1実施形態の電極体1に比べて、柔軟性の向上を図ることができる。
(第3実施形態)
図5は本発明の第3実施形態を示しており、そこでは、支持体21を、接着層22と、ポリイミド製のカバーコート23の二層構造体としてある。本実施形態では、各層(接着層22、カバーコート23)のそれぞれの厚み寸法は25μmとした。当該形態によっても、先の第2実施形態と同様に、電極体1の柔軟性を良好に確保できる。
本発明に係る電極体1は、上記実施形態に示したような感圧式指紋センサの検出部を構成する電極体に限られず、指紋の検出を目的としない圧力分布センサや更には電極のリードとしてなどの他の用途にも好適に使用できる。
本発明の第1実施形態に係る電極体の製造工程図 本発明に係る電極体の製造工程図 電極体の使用形態の一例を示す図 本発明の第2実施形態に係る電極体の縦断側面図 本発明の第3実施形態に係る電極体の縦断側面図 従来に係る電極体の製造工程図
符号の説明
1 電極体
5 母型
6 零次電着層
12 レジスト体
13 パターンレジスト
15 一次電着層
16 バリア層
17 二次電着層
20 積層体
21 支持体

Claims (2)

  1. 電極体(1)の製造方法であって、
    母型(5)の表面に、零次電着層(6)を形成する零次電鋳工程と、
    零次電着層(6)上に、所定の等間隔を置いて並設された複数本のレジスト体(12)からなる縞状のパターンレジスト(13)を設けるパターニング工程と、
    零次電着層(6)のレジスト体(12)で覆われていない表面に、一次電着層(15)を形成する一次電鋳工程と、
    一次電着層(15)上にバリア層(16)を形成する工程と、
    バリア層(16)上に、二次電着層(17)を形成する二次電鋳工程と、
    二次電着層(17)およびレジスト体(12)を覆うように、支持体(21)を形成する工程と、
    これら電着層(6・15)、およびバリア層(16)等で構成される積層体(20)を母型(5)から剥離する工程と、
    零次および一次の電着層(6・15)をエッチングにより除去するエッチング工程とを含み、
    前記エッチング工程によって、支持体(21)上に、バリア層(16)を備える二次電着層(17)とレジスト体(12)とが交互に並設された電極体(1)が形成されるようにしてあることを特徴とする電極体の製造方法。
  2. 二次電鋳工程においては、レジスト体(12)の高さ位置を越えないように、二次電着層(17)を形成するようにしてあり、
    支持体(21)の形成に先立って、レジスト体(12)と二次電着層(17)との高さ寸法を揃えるための研磨処理を施すようにしてある請求項1記載の電極体の製造方法。
JP2004244981A 2004-08-25 2004-08-25 電極体の製造方法 Expired - Fee Related JP4502255B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2004244981A JP4502255B2 (ja) 2004-08-25 2004-08-25 電極体の製造方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2004244981A JP4502255B2 (ja) 2004-08-25 2004-08-25 電極体の製造方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2006063362A JP2006063362A (ja) 2006-03-09
JP4502255B2 true JP4502255B2 (ja) 2010-07-14

Family

ID=36110107

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2004244981A Expired - Fee Related JP4502255B2 (ja) 2004-08-25 2004-08-25 電極体の製造方法

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP4502255B2 (ja)

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP6284144B2 (ja) * 2014-02-14 2018-02-28 マクセルホールディングス株式会社 電鋳品及びその製造方法

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH09279365A (ja) * 1996-04-11 1997-10-28 Mitsubishi Materials Corp 微細構造部品を製造する方法
JPH09279366A (ja) * 1996-04-16 1997-10-28 Mitsubishi Materials Corp 微細構造部品の製造方法
JPH1034870A (ja) * 1996-07-24 1998-02-10 Kyushu Hitachi Maxell Ltd 電鋳製品の製造方法
JP2004091909A (ja) * 2002-09-04 2004-03-25 Kenseidou Kagaku Kogyo Kk レーザ加工機用マスク等に用いる精密な貫通部パターンを含む銅製プレートの電鋳方法

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH09279365A (ja) * 1996-04-11 1997-10-28 Mitsubishi Materials Corp 微細構造部品を製造する方法
JPH09279366A (ja) * 1996-04-16 1997-10-28 Mitsubishi Materials Corp 微細構造部品の製造方法
JPH1034870A (ja) * 1996-07-24 1998-02-10 Kyushu Hitachi Maxell Ltd 電鋳製品の製造方法
JP2004091909A (ja) * 2002-09-04 2004-03-25 Kenseidou Kagaku Kogyo Kk レーザ加工機用マスク等に用いる精密な貫通部パターンを含む銅製プレートの電鋳方法

Also Published As

Publication number Publication date
JP2006063362A (ja) 2006-03-09

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP4356215B2 (ja) フレクシャ及びその製造方法ならびにそれに用いるフレクシャ用基板
JP6010580B2 (ja) 隣接する層が完全には重なり合わない多層金属構造のliga−uvによる製造方法及びそれにより得られる構造
JP4640802B2 (ja) 回路付サスペンション基板
JP2008060263A (ja) 配線回路基板およびその製造方法
JP4548071B2 (ja) ガイドピン挿通孔付き部品とその製法
JP5861652B2 (ja) 金めっき層を有するステンレス基板
JP5333353B2 (ja) 半導体素子搭載用基板及びその製造方法
JP4502255B2 (ja) 電極体の製造方法
TWI791549B (zh) 蒸鍍罩
KR101367292B1 (ko) 배선 패턴의 제조 방법
JP3206246B2 (ja) 微小穴を有する金属部材の製造方法
JP4650113B2 (ja) 積層構造体、ドナー基板、および積層構造体の製造方法
JP4599132B2 (ja) プリント基板の製造方法およびプリント基板
JP4720002B2 (ja) スクリーン印刷版及びその製造方法
JPH09279366A (ja) 微細構造部品の製造方法
JP4671255B2 (ja) 電鋳製メタルマスクの製造方法
JPH09279365A (ja) 微細構造部品を製造する方法
JP4077666B2 (ja) コンタクトプローブの製造方法
GB2457096A (en) Strain gauge having support structure formed integrally with flexible substrate and method of manufacture thereof
JP2006202819A (ja) 多層配線板の製造方法
JP2006159579A (ja) 印刷用メタルマスク版の製造方法と印刷用メタルマスク版
JP2009128269A (ja) 加速度センサの製造方法および加速度センサ
JP2010042569A (ja) サスペンドメタルマスクの製造方法及びサスペンドメタルマスク
JP5485617B2 (ja) プローブの製造方法
JP4252431B2 (ja) 疲労センサおよびその製造方法並びに疲労センサの破断片およびその製造方法

Legal Events

Date Code Title Description
RD02 Notification of acceptance of power of attorney

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7422

Effective date: 20061125

A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20070810

RD02 Notification of acceptance of power of attorney

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7422

Effective date: 20070910

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20080204

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20100414

A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20100415

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 4502255

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130430

Year of fee payment: 3

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130430

Year of fee payment: 3

S111 Request for change of ownership or part of ownership

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313111

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130430

Year of fee payment: 3

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130430

Year of fee payment: 3

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140430

Year of fee payment: 4

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140430

Year of fee payment: 4

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

S531 Written request for registration of change of domicile

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313531

S533 Written request for registration of change of name

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313533

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees