JP4496157B2 - テープリール規格の調整定位装置及び方法 - Google Patents
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Description
本発明は一種のテープリール規格の調整定位装置及び方法に関し、特に一種のスピーデ ィーなテープリール規格の調整定位装置及び方法に係る。
ICは製造、封入、テストを経た後、テストを通過したICは通常、運搬と使用の利便性を図るため、テープリールの形式により包装される。しかし、業界で使用されるテープリールの規格は様々であり、テープリール規格を設定し定位を行うため、テープリール包装を行う前には必ずプレ作業を必要とする。そして定位完成後に初めて後続のオートメーション作業を行うことができるのである。
図１に示す公知のテープリール規格調整定位装置のテープリール１２上方は画像検査測定器１１(CCD画像検査測定器など) で、主に設置されたICにピンの欠陥がないかどうか、或いは反対に設置されていないかどうかを検査するものである。該テープリール１２の反対端には中孔検査測定器１４及びチェイン孔検査測定器１５を具える。
図１に示す公知のテープリール規格調整定位装置のテープリール１２上方は画像検査測定器１１(CCD画像検査測定器など) で、主に設置されたICにピンの欠陥がないかどうか、或いは反対に設置されていないかどうかを検査するものである。該テープリール１２の反対端には中孔検査測定器１４及びチェイン孔検査測定器１５を具える。
図２はテープリール中の２個の空ケースを示す。該各１個の空ケース中には中孔１３を具え、隣り合った中孔の距離A はテープリールのピッチ規格である。業界で最も広く使用されているピッチ規格は８、１２、１６、２０mm規格である。隣り合ったチェイン孔１６間の距離B は通常は４mmに固定されており、該中孔１３と最も近いチェイン孔１６との間の水平距離C は２mmである。
図１に示すように、公知のテープリール包装設備においては、テープリール包装を行う前の調整定位作業は通常、２段階により完成される。
先ず、該中孔１３を該画像検査測定器１１に合わせ、該中孔検査測定器１４は別の中孔１３を探知する。
次に、該テープリール１２を微調整し、該チェイン孔検査測定器１５に該チェイン孔１６を探知させる。この微調整により画像検査測定器と中孔検査測定器をいずれも中孔の中心に照準し、すなわち、それが中孔１３内のチェイン孔１６の中心から横向き距離（Ｃ）が２ｍｍの位置になるようにする。こうしてテープリールの規格に応じた調整と定位作業を完成することができる。
しかしこの種の公知の２段階定位調整は非常に多くの時間と人力を必要とし、生産拡大を阻む要因となっている。しかも、公知のテープリール包装設備は非常に多くの検査測定器を使用するため、いたずらに設備とメンテナンスコストを増大させている。
先ず、該中孔１３を該画像検査測定器１１に合わせ、該中孔検査測定器１４は別の中孔１３を探知する。
次に、該テープリール１２を微調整し、該チェイン孔検査測定器１５に該チェイン孔１６を探知させる。この微調整により画像検査測定器と中孔検査測定器をいずれも中孔の中心に照準し、すなわち、それが中孔１３内のチェイン孔１６の中心から横向き距離（Ｃ）が２ｍｍの位置になるようにする。こうしてテープリールの規格に応じた調整と定位作業を完成することができる。
しかしこの種の公知の２段階定位調整は非常に多くの時間と人力を必要とし、生産拡大を阻む要因となっている。しかも、公知のテープリール包装設備は非常に多くの検査測定器を使用するため、いたずらに設備とメンテナンスコストを増大させている。
本発明は上記構造の問題点を解決し、作業速度を高速化し、コストを低廉化し、生産能力を拡大する全く新しくかつスピーディーなテープリール規格の調整定位装置及び方法を提供するものである。
本発明は下記のテープリール規格の調整定位装置及び方法を提供する。
それは主に画像検査測定器、中孔検査測定器を含み、
該画像検査測定器はテープリールの上方に位置し、該中孔検査測定器はテープリールの中孔を検査測定し、該画像検査測定器と該中孔検査測定器間には距離があり、該距離は数種類のテープリール規格のピッチの公倍数であり、且つ該数種類のテープリール規格は二種類以上のテープリール規格を包含する。
それは主に画像検査測定器、中孔検査測定器を含み、
該画像検査測定器はテープリールの上方に位置し、該中孔検査測定器はテープリールの中孔を検査測定し、該画像検査測定器と該中孔検査測定器間には距離があり、該距離は数種類のテープリール規格のピッチの公倍数であり、且つ該数種類のテープリール規格は二種類以上のテープリール規格を包含する。
該画像検査測定器の中心は該テープリールの中心に対応し、該画像検査測定器と該中孔検査測定器をある距離に固定し、かつ該距離と該各テープリール規格間には倍数関係を具え、該中孔検査測定器は別の中孔を検査測定し、テープリール包装のプレ包装定位作業を完成することを特徴とするテープリール規格の調整定位装置及び方法である。
請求項１の発明は、テープリール規格の調整定位装置であり、画像検査測定器及び中孔検査測定器を包含し、該テープリールには並列の空ケースを具え、該各空ケースの底部には中孔を具え、該テープリール規格とは相互に隣り合った中孔間のピッチを指し、かつ該ピッチは各種規格が可能で、該画像検査測定器は該テープリールの上方に位置し、該画像検査測定器の中心は該テープリールの各中孔の延長線上に対応し、該中孔検査測定器は発射器とセンサーを具え、それぞれ該テープリールの上、下方に位置し、該中孔を検査測定し、該画像検査測定器と該中孔検査測定器間には距離があり、該距離は数種類のテープリール規格の孔ピッチの公倍数であり、且つ該数種類のテープリール規格は二種類以上のテープリール規格の孔ピッチを包含することを特徴とする、テープリール規格の調整定位装置としている。
請求項２の発明は、請求項１記載のテープリール規格の調整定位装置において、使用するテープリール規格の孔ピッチが前述の数種類のテープリール規格の孔ピッチのいずれでもない時、該中孔検査測定器の位置を移動させて、該画像検査測定器と該中孔検査測定器との間の距離を、該数種類のテープリール規格の孔ピッチと該使用するテープリール規格の孔ピッチとの公倍数に変更することを特徴とする、テープリール規格の調整定位装置としている。
請求項３の発明は、請求項２記載のテープリール規格の調整定位装置において、前記切換えユニットはプラットフォーム、定位ボール、バネを包含し、
該プラットフォーム上には２個の凹槽を具え、該２個の凹槽間の距離は該画像検査測定器と該中孔検査測定器間の距離値から該使用するテープリール規格の孔ピッチの倍数値を引いたもので、該使用するテープリール規格の孔ピッチは前述の数種類のテープリール規格の孔ピッチのいずれでもなく、
該定位ボールは該凹槽の内の１個に位置し、
該バネの一端は該定位ボールに接続し、反対端は該中孔検査測定器に接続することを特徴とする、テープリール規格の調整定位装置としている。
請求項４の発明は、テープリール規格の調整定位方法であり、該テープリールは並列した空ケースを具え、
該各空ケースの底部に中孔を具え、画像検査測定器の中心は該テープリールの中孔に対応し、該画像検査測定器との間に距離を有する中孔検査測定器が設けられ、該距離は数種類のテープリール規格の孔ピッチの公倍数であり、且つ該数種類のテープリール規格は二種類以上のテープリール規格の孔ピッチを包含し、
該画像検査測定器が中孔の中心に照準されると、該中孔検査測定器は必ず該画像検査測定器に照準された中孔とは別の中孔の中心に照準して該別の中孔を探知することでテープリールの調整定位を完成したことを代表し、
該中孔検査測定器は自身の発射した光線を受け取るか否かにより該中孔検査測定器が別の中孔を探知したかの判定を行うことを特徴とする、テープリール規格の調整定位方法としている。
請求項５の発明は、請求項４記載のテープリール規格の調整定位方法において、前記中孔検査測定器は発射器とセンサーを包含し、それぞれ該テープリールの上、下方に位置し、該発射器は光線を発射し、該センサーは該発射器が発射し中孔を通過した光線を受け取ることを特徴とする、テープリール規格の調整定位方法としている。
請求項６の発明は、請求項４記載のテープリール規格の調整定位方法において、使用するテープリール規格の孔ピッチが前述の数種類のテープリール規格の孔ピッチのいずれでもない時、前記中孔検査測定器の位置を移動させることで、該画像検査測定器と該中孔検査測定器との間の距離を、該数種類のテープリール規格の孔ピッチと該使用するテープリール規格の孔ピッチとの公倍数に変更することを特徴とする、テープリール規格の調整定位方法としている。
請求項２の発明は、請求項１記載のテープリール規格の調整定位装置において、使用するテープリール規格の孔ピッチが前述の数種類のテープリール規格の孔ピッチのいずれでもない時、該中孔検査測定器の位置を移動させて、該画像検査測定器と該中孔検査測定器との間の距離を、該数種類のテープリール規格の孔ピッチと該使用するテープリール規格の孔ピッチとの公倍数に変更することを特徴とする、テープリール規格の調整定位装置としている。
請求項３の発明は、請求項２記載のテープリール規格の調整定位装置において、前記切換えユニットはプラットフォーム、定位ボール、バネを包含し、
該プラットフォーム上には２個の凹槽を具え、該２個の凹槽間の距離は該画像検査測定器と該中孔検査測定器間の距離値から該使用するテープリール規格の孔ピッチの倍数値を引いたもので、該使用するテープリール規格の孔ピッチは前述の数種類のテープリール規格の孔ピッチのいずれでもなく、
該定位ボールは該凹槽の内の１個に位置し、
該バネの一端は該定位ボールに接続し、反対端は該中孔検査測定器に接続することを特徴とする、テープリール規格の調整定位装置としている。
請求項４の発明は、テープリール規格の調整定位方法であり、該テープリールは並列した空ケースを具え、
該各空ケースの底部に中孔を具え、画像検査測定器の中心は該テープリールの中孔に対応し、該画像検査測定器との間に距離を有する中孔検査測定器が設けられ、該距離は数種類のテープリール規格の孔ピッチの公倍数であり、且つ該数種類のテープリール規格は二種類以上のテープリール規格の孔ピッチを包含し、
該画像検査測定器が中孔の中心に照準されると、該中孔検査測定器は必ず該画像検査測定器に照準された中孔とは別の中孔の中心に照準して該別の中孔を探知することでテープリールの調整定位を完成したことを代表し、
該中孔検査測定器は自身の発射した光線を受け取るか否かにより該中孔検査測定器が別の中孔を探知したかの判定を行うことを特徴とする、テープリール規格の調整定位方法としている。
請求項５の発明は、請求項４記載のテープリール規格の調整定位方法において、前記中孔検査測定器は発射器とセンサーを包含し、それぞれ該テープリールの上、下方に位置し、該発射器は光線を発射し、該センサーは該発射器が発射し中孔を通過した光線を受け取ることを特徴とする、テープリール規格の調整定位方法としている。
請求項６の発明は、請求項４記載のテープリール規格の調整定位方法において、使用するテープリール規格の孔ピッチが前述の数種類のテープリール規格の孔ピッチのいずれでもない時、前記中孔検査測定器の位置を移動させることで、該画像検査測定器と該中孔検査測定器との間の距離を、該数種類のテープリール規格の孔ピッチと該使用するテープリール規格の孔ピッチとの公倍数に変更することを特徴とする、テープリール規格の調整定位方法としている。
本発明はテープリール規格の調整定位を迅速化することにより、生産を拡大し、設備コストを低減することができる。
図３に示すように、本発明実施例において画像検査測定器３１はテープリール３２の出料端の上方に設置し、かつその中心は該テープリール３２の各中孔３３の延長線上に対応する。該画像検査測定器３１はCCD 画像検査測定器で、またCMOS画像検査測定器など他の画像検査測定器を使用することができる。本発明実施例においては、該画像検査測定器３１は定位に用いる他、設置されたICのピンに欠陥がないかどうか、或いは反対に置かれている状況がないかどうかを検知する。
該テープリール３２の反対端には該画像検査測定器３１とは一定の距離を隔て中孔検査測定器３４を設置する。該中孔検査測定器３４もまた該テープリール３２の上方にあり、かつＳの中心は該テープリール３２の各中孔３３の延長線上に対応する。該中孔検査測定器３４は通常は発射器( 赤外線発射器など) 及びセンサーにより構成される。発射される光線は赤外線に限定されず、センサーは各種形式のセンサーとすることができる。該中孔検査測定器３４は該テープリール３２の真上及び真下に設置され、これにより発射器が発射する( 可視或いは非可視) 光線はちょうど該中孔３３を通過し、該センサーに感知される。
発射された光線が該中孔３３を通過すると、センサー内の回路をオンにし、他の状況ではセンサーはオフである。本発明実施例の発射器及びセンサーはそれぞれ該テープリール３２の上、下方( 或いは下、上方) にあるが、他の実施例では発射器及びセンサーは同一面に設置することができ、該中孔３３に出会うと発射された光線は該中孔３３を通過するため、センサーは光線をキャッチできない。他の時には、発射された光線は反射され戻って来て、センサーにキャッチされる。
発射された光線が該中孔３３を通過すると、センサー内の回路をオンにし、他の状況ではセンサーはオフである。本発明実施例の発射器及びセンサーはそれぞれ該テープリール３２の上、下方( 或いは下、上方) にあるが、他の実施例では発射器及びセンサーは同一面に設置することができ、該中孔３３に出会うと発射された光線は該中孔３３を通過するため、センサーは光線をキャッチできない。他の時には、発射された光線は反射され戻って来て、センサーにキャッチされる。
業界で使用されているテープリールには様々な規格があるが、中孔と中孔間のピッチによって区分するなら、最も広く使用されているピッチ規格は８、１２、１６、２０mm規格である。本発明では特別に該画像検査測定器３１と該中孔検査測定器３４間の距離を固定値とする。本発明実施例中では、規格が８、１２、２０mmの３種のテープリールに対して公倍数を求める。
また一般の作業空間を考慮し、求めた公倍数３６０mmを該画像検査測定器３１と該中孔検査測定器３４の距離とする。他の特定の作業空間に対応する必要がある場合には、該画像検査測定器３１と該中孔検査測定器３４の距離は他の公倍数とすることができる。さらに、将来のテープリール規格が８、１２、２０mmの３種でなくなれば、同様の原理で別に公倍数を求めることができる。
また一般の作業空間を考慮し、求めた公倍数３６０mmを該画像検査測定器３１と該中孔検査測定器３４の距離とする。他の特定の作業空間に対応する必要がある場合には、該画像検査測定器３１と該中孔検査測定器３４の距離は他の公倍数とすることができる。さらに、将来のテープリール規格が８、１２、２０mmの３種でなくなれば、同様の原理で別に公倍数を求めることができる。
該画像検査測定器３１と該中孔検査測定器３４間の距離を固定し、かつ該距離は８、１２、２０mmの３種のテープリール規格の公倍数であるため、該画像検査測定器３１と該中孔検査測定器３４は共に迅速に該中孔３３に対して定位を行うことができるようになる。
こうして、公知の２段階定位調整に比較し高速化を達成し、これにより、画像検査測定器が一つの中孔の中心に照準される時、中孔検査測定器が必ず画像検査測定器に照準された中孔とは別の中孔の中心に照準し、すなわち、それが中孔内のチェイン孔の中心から横向き距離が２ｍｍの位置になり、完全にチェイン孔の定位作業により微調整して画像検査測定器と中孔検査測定器をいずれも中孔の中心に照準させる必要がなくなり、さらには公知のチェイン孔検査測定器を省くことができるようになり、作業空間を節減可能であるばかりか、テープリール包装設備コストを低減化可能である。
本発明の該画像検査測定器３１と該中孔検査測定器３４の特殊設置により、あらゆるテープリール規格において簡単にテープリール規格の調整が可能となる。
例えば、テープリールを伝動するコントローラー( 通常は伝動モーター及び他の制御ベルト/ ソフトにより構成される) を現在のテープリール規格に設定し、該画像検査測定器３１の中心を該中孔３３に合わせ、かつ該中孔検査測定器３４も別の該中孔３３を検知すれば即、テープリール規格の調整が完成し、テープリール包装のプレ作業を完成することができる。
こうして、公知の２段階定位調整に比較し高速化を達成し、これにより、画像検査測定器が一つの中孔の中心に照準される時、中孔検査測定器が必ず画像検査測定器に照準された中孔とは別の中孔の中心に照準し、すなわち、それが中孔内のチェイン孔の中心から横向き距離が２ｍｍの位置になり、完全にチェイン孔の定位作業により微調整して画像検査測定器と中孔検査測定器をいずれも中孔の中心に照準させる必要がなくなり、さらには公知のチェイン孔検査測定器を省くことができるようになり、作業空間を節減可能であるばかりか、テープリール包装設備コストを低減化可能である。
本発明の該画像検査測定器３１と該中孔検査測定器３４の特殊設置により、あらゆるテープリール規格において簡単にテープリール規格の調整が可能となる。
例えば、テープリールを伝動するコントローラー( 通常は伝動モーター及び他の制御ベルト/ ソフトにより構成される) を現在のテープリール規格に設定し、該画像検査測定器３１の中心を該中孔３３に合わせ、かつ該中孔検査測定器３４も別の該中孔３３を検知すれば即、テープリール規格の調整が完成し、テープリール包装のプレ作業を完成することができる。
上記実施例において、該画像検査測定器３１と該中孔検査測定器３４間の固定距離は８、１２、２０mmの３種のテープリール規格の公倍数を採用するが、さらにもう１種の１６mmのテープリール規格に対しては、本発明実施例では触れていない。３６０mmは１６mmの公倍数ではないが、簡単な微調整ユニット( 切換えユニットとも言う) を増設することにより１６mm規格のテープリールに対応することができる。
すなわち図４に示すように、本発明実施例の微調整( 切換え) ユニット４０は２個の凹槽４１を具え、該凹槽４１間の距離は８mmに設定される。この距離の設定は３６０mmと１６mmの最も近い倍数は３５２mm( １６×２２＝３５２) で、両者の差が８mm( ３６０−３５２＝８) であるためである。
該中孔検査測定器３４と該微調整( 切換え) ユニット４０のプラットフォーム間にはバネ４２と定位ボール４３がしようされる。該テープリール規格が１６mmである時、該中孔検査測定器３４を別の凹槽４１の方向に切換え、該定位ボール４３は別の凹槽４１に入る。
この時、該画像検査測定器３１と該中孔検査測定器３４間の距離は３５２mm( ３６０−８＝３５２) に変化する。
続いて、該テープリール３２を伝動するコントローラーを１６mmのテープリール規格に設定すると、該画像検査測定器３１の中心は該中孔３３に対応し、かつ該中孔検査測定器３４も別の中孔３３を検知する時、即テープリール規格の調整は達成され、テープリール包装のプレ作業は完成される。
すなわち図４に示すように、本発明実施例の微調整( 切換え) ユニット４０は２個の凹槽４１を具え、該凹槽４１間の距離は８mmに設定される。この距離の設定は３６０mmと１６mmの最も近い倍数は３５２mm( １６×２２＝３５２) で、両者の差が８mm( ３６０−３５２＝８) であるためである。
該中孔検査測定器３４と該微調整( 切換え) ユニット４０のプラットフォーム間にはバネ４２と定位ボール４３がしようされる。該テープリール規格が１６mmである時、該中孔検査測定器３４を別の凹槽４１の方向に切換え、該定位ボール４３は別の凹槽４１に入る。
この時、該画像検査測定器３１と該中孔検査測定器３４間の距離は３５２mm( ３６０−８＝３５２) に変化する。
続いて、該テープリール３２を伝動するコントローラーを１６mmのテープリール規格に設定すると、該画像検査測定器３１の中心は該中孔３３に対応し、かつ該中孔検査測定器３４も別の中孔３３を検知する時、即テープリール規格の調整は達成され、テープリール包装のプレ作業は完成される。
本発明実施例では凹槽４１、バネ４２、定位ボール４３を使用する微調整( 切換え) ユニット４０を使用するが、他の構造の切換えユニットを使用することもできる。２個の切換え位置間に上記の固定位置を具えれば、本発明のテープリール規格調整定位に適用することができる。
別に本発明実施例は該中孔検査測定器３４の位置を移動可能であるが、他の実施例中では該中孔検査測定器３４を固定し該画像検査測定器３１の位置を移動可能である。
別に本発明実施例は該中孔検査測定器３４の位置を移動可能であるが、他の実施例中では該中孔検査測定器３４を固定し該画像検査測定器３１の位置を移動可能である。
A 隣り合った中孔の距離
B 隣り合ったチェイン孔の距離
C 中孔と最も近いチェイン孔間の水平距離
１１ 画像検査測定器
１２ テープリール
１３ 中孔
１４ 中孔検査測定器
１５ チェイン孔検査測定器
１６ チェイン孔
３１ 画像検査測定器
３２ テープリール
３３ 中孔
３４ 中孔検査測定器
４０ 微調整( 切換え) ユニット
４１ 凹槽
４２ バネ
４３ 定位ボール
B 隣り合ったチェイン孔の距離
C 中孔と最も近いチェイン孔間の水平距離
１１ 画像検査測定器
１２ テープリール
１３ 中孔
１４ 中孔検査測定器
１５ チェイン孔検査測定器
１６ チェイン孔
３１ 画像検査測定器
３２ テープリール
３３ 中孔
３４ 中孔検査測定器
４０ 微調整( 切換え) ユニット
４１ 凹槽
４２ バネ
４３ 定位ボール
Claims (6)
- テープリール規格の調整定位装置であり、画像検査測定器及び中孔検査測定器を包含し、該テープリールには並列の空ケースを具え、該各空ケースの底部には中孔を具え、該テープリール規格とは相互に隣り合った中孔間のピッチを指し、かつ該ピッチは各種規格が可能で、該画像検査測定器は該テープリールの上方に位置し、該画像検査測定器の中心は該テープリールの各中孔の延長線上に対応し、該中孔検査測定器は発射器とセンサーを具え、それぞれ該テープリールの上、下方に位置し、該中孔を検査測定し、該画像検査測定器と該中孔検査測定器間には距離があり、該距離は数種類のテープリール規格の孔ピッチの公倍数であり、且つ該数種類のテープリール規格は二種類以上のテープリール規格の孔ピッチを包含することを特徴とする、テープリール規格の調整定位装置。
- 請求項１記載のテープリール規格の調整定位装置において、使用するテープリール規格の孔ピッチが前述の数種類のテープリール規格の孔ピッチのいずれでもない時、該中孔検査測定器の位置を移動させて、該画像検査測定器と該中孔検査測定器との間の距離を、該数種類のテープリール規格の孔ピッチと該使用するテープリール規格の孔ピッチとの公倍数に変更することを特徴とする、テープリール規格の調整定位装置。
- 請求項２記載のテープリール規格の調整定位装置において、前記切換えユニットはプラットフォーム、定位ボール、バネを包含し、
該プラットフォーム上には２個の凹槽を具え、該２個の凹槽間の距離は該画像検査測定器と該中孔検査測定器間の距離値から該使用するテープリール規格の孔ピッチの倍数値を引いたもので、該使用するテープリール規格の孔ピッチは前述の数種類のテープリール規格の孔ピッチのいずれでもなく、
該定位ボールは該凹槽の内の１個に位置し、
該バネの一端は該定位ボールに接続し、反対端は該中孔検査測定器に接続することを特徴とする、テープリール規格の調整定位装置。 - テープリール規格の調整定位方法であり、該テープリールは並列した空ケースを具え、 該各空ケースの底部に中孔を具え、画像検査測定器の中心は該テープリールの中孔に対応し、該画像検査測定器との間に距離を有する中孔検査測定器が設けられ、該距離は数種類のテープリール規格の孔ピッチの公倍数であり、且つ該数種類のテープリール規格は二種類以上のテープリール規格の孔ピッチを包含し、
該画像検査測定器が中孔の中心に照準されると、該中孔検査測定器は必ず該画像検査測定器に照準された中孔とは別の中孔の中心に照準して該別の中孔を探知することでテープリールの調整定位を完成したことを代表し、
該中孔検査測定器は自身の発射した光線を受け取るか否かにより該中孔検査測定器が別の中孔を探知したかの判定を行うことを特徴とする、テープリール規格の調整定位方法。 - 請求項４記載のテープリール規格の調整定位方法において、前記中孔検査測定器は発射器とセンサーを包含し、それぞれ該テープリールの上、下方に位置し、該発射器は光線を発射し、該センサーは該発射器が発射し中孔を通過した光線を受け取ることを特徴とする、テープリール規格の調整定位方法。
- 請求項４記載のテープリール規格の調整定位方法において、使用するテープリール規格の孔ピッチが前述の数種類のテープリール規格の孔ピッチのいずれでもない時、前記中孔検査測定器の位置を移動させることで、該画像検査測定器と該中孔検査測定器との間の距離を、該数種類のテープリール規格の孔ピッチと該使用するテープリール規格の孔ピッチとの公倍数に変更することを特徴とする、テープリール規格の調整定位方法。
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| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2007081356A JP2007081356A (ja) | 2007-03-29 |
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|---|---|
| JP (1) | JP4496157B2 (ja) |
| TW (1) | TWI299443B (ja) |
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| JPH0752909A (ja) * | 1993-08-13 | 1995-02-28 | Nitto Kogyo Co Ltd | チップテープのチップ装填装置 |
| JPH11157504A (ja) * | 1997-11-28 | 1999-06-15 | Shin Etsu Polymer Co Ltd | キャリアテープの検査方法 |
| JPH11334705A (ja) * | 1998-05-25 | 1999-12-07 | Rohm Co Ltd | 電子部品包装用テープ送出装置のテープ長計測構造 |
| JP2005035569A (ja) * | 2003-07-16 | 2005-02-10 | Ricoh Co Ltd | 小型部品のテーピング装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| TWI299443B (en) | 2008-08-01 |
| TW200710620A (en) | 2007-03-16 |
| JP2007081356A (ja) | 2007-03-29 |
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|
| A521 | Written amendment |
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|
| A131 | Notification of reasons for refusal |
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| A521 | Written amendment |
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| TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
| A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
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| A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
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| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
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