JP4469156B2 - テスタ装置、検査装置及びそれに用いる中継基板収容ユニット - Google Patents
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Description
図1〜図3は、正立状態での使用し、かつ光源30を退避位置Bに設定したテスタ装置1の正面図、平面図及び右側面図である。図4は光源30を検査位置Aに設定した状態を、図5は光源を退避位置Bに設定した状態をそれぞれ示す概略斜視図である。
次に、中継基板収容ユニット20の詳細について、図7及び図8を参照して説明する。図7は中継基板収容ユニット20の概略斜視図であり、図8はその部分断面図である。この中継基板収容ユニット20は、テスタ本体10内のテスタに接続される中継基板を収容する外殻フレーム60を有する。本実施形態では、中継基板として、第1の中継基板例えばDIB(Device Interface Board)基板62と、第2の中継基板例えばDUT(Device Under Testboard)基板64とを有する。第1の中継基板62は、テスタ本体10の下面16と対向する位置に配置され、テスタ本体10内の図示しないテスタに接続される。この第1の中継基板62は、テスタの中にあるクロック、電源の発生源からの信号等を交通整理するためなどに用いられる。第2の中継基板64は、光路用切欠部64Aを備えている。光源30が検査位置Aにセットされると、光源30の光路が第2の中継基板64の光路用切欠部64Aと対向する。
図1〜図8に示すテスタ装置1は、正立状態での使用時には、図8に示すように、プローブ装置本体100と組み合わせて使用される。プローブ装置本体100は、図8に示すように、カセット内より取り出した半導体ウエハ110を、プローブピン102Bに圧接させる。これにより、半導体ウエハ110上の少なくとも1チップは、プローブカード102、コンタクト部90、第1,第2の中継基板62,64及びコネクタ66を介して、テスタ本体10内のテスタと接続される。
次に、中継基板収容ユニット20にさらに付加された機能について説明する。図9は、中継基板収容ユニット20の内殻フレーム68の斜視図である。図10は、中継基板収容ユニット20の外殻フレーム60の斜視図である。図11は、内殻フレーム68の押動機構を示す断面図である。
図6に示すように、テスタ装置1を倒立状態で使用する場合について説明する。この場合、テスタ装置1はハンドラー装置本体(図示せず)と組み合わされて使用される。すなわち、ハンドラー装置本体内に配置される被検査体と対向する下方位置に、図6に示すテスタ装置1のコネクタ部90が位置する。ハンドラー装置本体は、図8に示すプローブ装置本体100の被検査体が半導体ウエハ110などの製造時点での基板状態であったのに対して、例えばチップ毎にパッケージされた完成品を検査対象としている点が異なる。
上述した実施形態において、光源30を省略してテスタ装置を構成することができる。光源30の除去に伴い、光源30のための遮光構造32,78,80〜86、光源30の移動機構40〜50も除去することができる。蓋部70の光路用孔部76、第2の中継基板64の光路用切欠部64Aなどは、探触子の位置決め用観察窓として利用することができる。
Claims (20)
- テスタを内蔵するテスタ本体と、
前記テスタ本体に固定された中継基板収容ユニットと、
光源と、
を有し、
前記中継基板収容ユニットは、
前記テスタ本体内の前記テスタに電気的に接続される中継基板と、
外部探触子に前記中継基板を電気的に接続させるコンタクト部と、
を含み、
前記中継基板には光路用切欠部が設けられ、
前記中継基板収容ユニットは、前記中継基板の前記光路用切欠部が前記テスタ本体の側方より突出する位置にて、前記中継基板を支持し、
前記光源は、前記中継基板の前記光路用切欠部と対向する検査位置と、前記中継基板と非対向となる退避位置とに移動することを特徴とするテスタ装置。 - 請求項1において、
前記中継基板収容ユニットは、前記テスタ本体の上下方向の一端より前記テスタ本体の側方に向けて延びる外殻フレームを有し、
前記中継基板は、
前記テスタと電気的に接続されて、前記テスタ本体の前記一端と対向する位置にて前記外殻フレーム内に配置された第1の中継基板と、
前記第1の中継基板及び前記コンタクト部と電気的に接続されて、前記テスタ本体の側方より突出した位置にて前記外殻フレーム内に配置された第2の中継基板と、
を含み、
前記第2の中継基板に前記光路用切欠部が形成されていることを特徴とするテスタ装置。 - 請求項2において、
前記光路用切欠部の中心位置は、前記第2の中継基板の中心位置よりも前記第1の中継基板側に偏った位置に配置されていることを特徴とするテスタ装置。 - 請求項2または3において、
前記中継基板収容ユニットは、前記第2の中継基板の前記光路用切欠部と対向する位置に光路用孔部を有する開閉可能な蓋部を有することを特徴とするテスタ装置。 - 請求項4において、
前記光源の出射部には第1の遮光部が設けられ、前記蓋部の表面には第2の遮光部が設けられ、前記光源が前記検査位置に設定された時に前記第1,第2の遮光部が重なりあって前記光源の光路周囲を遮光することを特徴とするテスタ装置。 - 請求項5において、
前記中継基板収容ユニット内に、前記光源の光路周囲を遮光する第3の遮光部が設けられていることを特徴とするテスタ装置。 - 請求項6において、
前記第3の遮光部は、前記中継基板上に配置された第1の遮光リングを含むことを特徴とするテスタ装置。 - 請求項7において、
前記コンタクト部は、前記中継基板と前記外部探触子とを弾性的に接続する機構を内蔵し、
前記第3の遮光部は、前記第1の遮光部と当接して、前記中継基板のたわみを防止する補強リングを含むことを特徴とするテスタ装置。 - 請求項8において、
前記補強リングは前記外殻フレームに固定されるアームを有することを特徴とするテスタ装置。 - 請求項8または9において、
前記第3の遮光部は、前記蓋部の裏面に取り付けられ、前記補強リングと当接する第2の遮光リングを含むことを特徴とするテスタ装置。 - 請求項1乃至10のいずれかにおいて、
前記光源は、前記テスタ本体の側方にて直線移動することを特徴とするテスタ装置。 - 請求項11において、
前記テスタ本体の側面には、前記光源を移動案内するガイドレールが設けられていることを特徴とするテスタ装置。 - 請求項11または12において、
前記光源を直線駆動する駆動部をさらに有することを特徴とするテスタ装置。 - 請求項11乃至13のいずれかにおいて、
前記中継基板収容ユニットは、前記テスタ本体の側方にて前記テスタ装置の前面側に偏った位置に配置され、前記光源の退避位置が前記テスタ装置の側方にて前記テスタ装置の後面側に配置されることを特徴とするテスタ装置。 - 請求項2乃至14のいずれかにおいて、
前記テスタ本体の上下方向の一面には、前記コンタクト部が下向きとなる倒立状態で前記テスタ装置を設置するための脚部が配置されていることを特徴とするテスタ装置。 - テスタを内蔵するテスタ本体と、
前記テスタ本体の上下方向の一端より前記テスタ本体の側方に向けて延びる中継基板収容ユニットと、
を有し、
前記中継基板収容ユニットは、
前記テスタ本体内の前記テスタに電気的に接続される中継基板と、
外部探触子に前記中継基板を電気的に接続させるコンタクト部と、
前記中継基板及び前記コンタクト部を保持する外殻フレームと、
を含み、
前記中継基板は、
前記テスタと電気的に接続されて、前記テスタ本体の前記一端と対向する位置にて前記外殻フレーム内に配置された第1の中継基板と、
前記第1の中継基板及び前記コンタクト部と電気的に接続されて、前記テスタ本体の側方より突出した位置にて前記外殻フレーム内に配置された第2の中継基板と、
を含むことを特徴とするテスタ装置。 - 請求項2乃至16のいずれかにおいて、
前記中継基板収容ユニットは、
前記第1,第2の中継基板同士を接続するコネクタと、
前記第2の中継基板を搭載する内殻フレームと、
前記内殻フレームの押動機構と、
をさらに有し、
前記外殻フレームは、前記第1の中継基板、前記コネクタ及び前記コンタクト部を保持し、かつ、前記内殻フレームを前記コネクタと接離する方向に水平移動可能に支持し、
前記内殻フレームの押動機構は、
前記内殻フレームの両側面の外壁に設けられたガイドピン及び係合孔と、
前記外殻フレームの両側面の内壁に設けられ、前記ガイドピンを垂直及び水平方向に案内するガイド溝と、
前記外殻フレームの前記両側面に回転可能に支持されたシャフトと、
前記シャフトに突出形成され、前記内殻フレームの前記係合孔に係合される突出ピンと、を有することを特徴とするテスタ装置。 - 請求項1乃至17のいずれかのテスタ装置と、
プローブ装置本体と、
を有し、
前記プローブ装置本体内に配置される被検査体と対向する上方位置に前記テスタ装置の前記コンタクト部が位置するように、前記テスタ装置を正立状態で配置することを特徴とする検査装置。 - 請求項1乃至17のいずれかのテスタ装置と、
ハンドラー装置本体と、
を有し、
前記ハンドラー装置本体内に配置される被検査体と対向する下方位置に前記テスタ装置の前記コンタクト部が位置するように、前記テスタ装置を倒立状態で配置することを特徴とする検査装置。 - 外部テスタと電気的に接続される第1の中継基板と、
前記第1の中継基板と横並びで配置され、前記第1の中継基板と電気的に接続される第2の中継基板と、
前記第1,第2の中継基板同士を接続するコネクタと、
前記第2の中継基板を搭載する内殻フレームと、
外部探触子に前記第2の中継基板を電気的に接続させるコンタクト部と、
前記第1の中継基板、前記コネクタ及び前記コンタクト部を保持し、かつ、前記内殻フレームを前記コネクタと接離する方向に水平移動可能に支持する外殻フレームと、
前記内殻フレームの押動機構と、
を有し、
前記内殻フレームの押動機構は、
前記内殻フレームの両側面の外壁に設けられたガイドピン及び係合孔と、
前記外殻フレームの両側面の内壁に設けられ、前記ガイドピンを垂直及び水平方向に案内するガイド溝と、
前記外殻フレームの前記両側面に回転可能に支持されたシャフトと、
前記シャフトに突出形成され、前記内殻フレームの前記係合孔に係合される突出ピンと、を有することを特徴とする中継基板収容ユニット。
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