JP4445717B2 - 画像データ処理装置、画像データ補正方法、画像測定機、画像データ処理プログラムおよびこのプログラムを記録した記録媒体 - Google Patents

画像データ処理装置、画像データ補正方法、画像測定機、画像データ処理プログラムおよびこのプログラムを記録した記録媒体 Download PDF

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Description

【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、画像データ処理装置、画像データ補正方法、画像測定機、画像データ処理プログラムおよびこのプログラムを記録した記録媒体に関する。例えば、撮像手段で撮像された画像データに含まれる誤差を補正する画像データ処理装置等に関する。
【0002】
【背景技術】
被測定物の形状等を測定する装置として画像測定機が知られている。画像測定機は、被測定物に向けて光を照明する光源と、被測定物からの反射光を集光する対物レンズと、対物レンズで集光された像を撮像するCCDカメラと、CCDカメラからの画像データに基づいて被測定物の輪郭形状やエッジ検出等の画像処理を施す画像処理部と、を備えている(例えば、特許文献1、2)。
このような画像測定機では、レンズの収差や傾きなどに起因して、CCDカメラで撮像される画像データに歪みなどの誤差が含まれる。そこで、画像データに含まれる誤差を補正することが必要となる。
【0003】
ところで、被測定物の形状等を測定する装置としてはプローブを被測定物表面上で倣い移動させる三次元測定機が知られている。この三次元測定機は、プローブと、プローブを三次元的に駆動させる駆動機構と、プローブの位置を検出するセンサとを備え、駆動機構およびセンサは、X方向、Y方向およびZ方向に各駆動軸およびセンサスケールを有する。そして、三次元測定機の測定誤差を補正する方法としては、XYZ方向それぞれのセンサスケールごとに測定誤差を補正する補正定数を設定しておいて、センサスケールごとに計測値に補正定数を乗算して測定誤差を補正する方法が一例として挙げられる。
【0004】
【特許文献1】
特開2000−205822号公報
【特許文献2】
特開2001−66112号公報
【0005】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、上記の三次元測定機に適用される補正方法は各方向ごとに一次補正するのみであるため、被測定物を一画像として撮像する画像測定機には単純に適用することはできない。
画像測定機では、レンズ収差やカメラの傾きからくる誤差要因が一画面内に不均質に含まれるので、画像データ内で設定した各軸ごとで単純に一次補正しても高精度の補正は望むことができない。
【0006】
本発明の目的は、高精度に画像データを補正することができる画像データ処理装置、画像データ補正方法、画像測定機、画像データ処理プログラムおよびこのプログラムを記録した記録媒体を提供することにある。
【0007】
【課題を解決するための手段】
本発明の画像データ処理装置は、対物レンズおよび撮像素子を有する撮像手段にて撮像された画像データ内の所定の複数点について真値に補正する補正パラメータを格納した複数点補正テーブルと、前記複数点補正テーブルに格納された前記補正パラメータによって前記画像データ内の前記所定の複数点について補正処理する補正処理実行部と、前記画像データ内の前記所定の複数点以外の着目点についてこの着目点から所定距離以内に位置する前記所定の複数点についての前記補正パラメータに基づいてこの着目点を真値に補正する補正パラメータを補間法により算出する補間演算部とを備え、前記補正処理実行部は、前記所定の複数点以外の前記着目点について前記補間演算部にて算出された前記補正パラメータに基づいて補正処理することを特徴とする。
【0008】
このような構成において、撮像手段で撮像対象を撮像することにより画像データを取得する。ここで、対物レンズの収差や傾きなどに起因して画像データには誤差が含まれるが、補正処理実行部は、複数の点を真値にするために点ごとに用意された補正パラメータを用いて画像データ内の点ごとに補正処理を行う。すると、各点ごとに補正されるので、このように補正処理される所定の複数点については精密な補正が確実に行われる。
対物レンズの収差や傾きなどに起因する歪み量は画像データ内の場所によって異なる場合が考えられるが、所定の複数点について点ごとに補正パラメータを用意しているので、場所による歪み量の違いに関わらず所定の複数点について精密に補正を行うことができる。
【0009】
ここで、本発明では、前記撮像手段で撮像された画像データを処理する画像処理部を備え、前記画像処理部は、前記画像データにフィルタリングを行うフィルタ処理手段、前記画像データから撮像対象の輪郭形状や特徴抽出を行うエッジ検出手段、対象とする点の座標を抽出する対象点抽出手段、対象とする領域の長さを検出する対象長さ検出手段を備えることが好ましい。
また、画像データ内の所定の複数点は少なくとも2以上の点であればよい。所定の複数点は、互いに離隔していることが好ましく、さらには、複数点の数はできる限り多い方が好ましい。
補正パラメータは、二次元的に補正する場合にはx方向およびy方向について補正量の情報を有していればよく、また、画像データを三次元的に補正する場合には、x方向、y方向およびz方向について補正量の情報を有している。
【0011】
また、補間演算部によって所定の複数点以外の着目点についても補正パラメータが算出される。すると、画像データ内の総ての点について補正処理を行うことができる。所定の複数点以外の着目点について、この着目点の近傍に位置する点から補正パラメータが算出される。よって、画像データ内の場所によって歪み量が異なっている場合であっても、場所に応じた補正パラメータが算出される。その結果、画像データ全体について精密に補正処理が行われる。
ここで、補間法は、一次補間、二次補間、三次補間など適宜選択でき、本明細書中において補間法には補外法も含まれるとして説明する。
【0012】
本発明の画像データ処理装置は、対物レンズおよび撮像素子を有する撮像手段にて撮像された画像データ内の所定の複数点について、前記対物レンズの収差により生じた座標の真値までのずれを補正する補正パラメータを格納した複数点補正テーブルと、前記複数点補正テーブルに格納された前記補正パラメータによって前記画像データ内の前記所定の複数点について、前記座標のずれを補正処理する補正処理実行部と、前記撮像手段から撮像対象までの撮像距離を補正する撮像距離補正部とを備え、前記撮像距離補正部は、長さ既知の基準スケールの平行光による投影像を異なる撮像距離で撮像した場合の長さ情報を前記撮像距離ごとに記憶した基準スケール情報設定部と、前記撮像対象への前記基準スケールの平行光による投影像を撮像した画像データ上における前記基準スケールの長さを前記基準スケール情報設定部に記憶された前記長さ情報に対比して前記撮像距離を推定する撮像距離推定部と、を備えていることを特徴とする。
このような構成において、まず、長さ既知の基準スケールを撮像距離が異なる焦点面に投影する。このとき、基準スケールは平行光によって投影される。そして、基準スケールの投影像を異なる撮像距離で撮像したときの長さ情報を撮像距離ごとに基準スケール情報設定部に記憶させる。
実際に撮像対象を撮像する際には、撮像対象自体を撮像することに加えて、撮像対象に基準スケールを投影してこのときの投影像を撮像する。そして、撮像距離推定部は、撮像した投影像の長さを基準スケール情報設定部に記憶された長さ情報に対比する。ここで、投影像の長さは二次元的に撮像された画像データから算出される。すると、両者が一致する長さ情報があれば、一致した長さ情報に対応する撮像距離が特定される。そして、この撮像距離に応じて複数点補正テーブルが選択され、撮像距離に応じた画像データの補正処理が行われる。
両者が一致しない場合は、投影像の長さを挟む前後の長さ情報から補間して撮像距離を求めることが例示される。
【0013】
本発明では、座標点が既知である所定の複数点を有する校正用スケールの前記所定の複数点について座標値を記憶した校正データ記憶部と、前記校正用スケールを撮像した画像データ内の前記所定の複数点に対応する座標値を前記校正データ記憶部に記憶された前記所定の複数点の座標値に対比して前記所定の複数点についての前記補正パラメータを算出する補正パラメータ算出部と、を備えていることが好ましい
【0014】
このような構成によれば、校正用スケールを実際に撮像したときの各点の座標値が校正データ記憶部に記憶された座標値に対比される。そして、各点ごとに補正パラメータが算出される。
例えば、校正データ記憶部に校正用スケールを設計したときの設計データなどを入力しておいて、あとは校正用スケールを実際に撮像すればよいだけであるので、簡便に補正パラメータを校正することができる。そして、補正パラメータは複数の点について設定されるが、校正にあっては校正用スケールを一回撮像するだけで総ての所定複数点について校正することができるので簡便である。
【0015】
ここで、校正用スケールは縦縞と横縞とを有し、縦縞と横縞との交点(格子点)の座標値が既知であることが例示される。縦縞を既知の間隔で引いて、さらに横縞を既知の間隔で引くと座標値が既知の格子点を多数設けることができる。
【0016】
本発明では、前記複数点補正テーブルは、前記撮像手段から撮像対象までの撮像距離ごとに蓄積されていることが好ましい
【0017】
このような構成によれば、撮像距離の違いに応じた複数点補正テーブルを用いることによって、撮像距離の違いに起因する誤差を補正することができる。
撮像手段で撮像対象を撮像するときに、焦点深度内であっても撮像距離が違うと撮像される範囲が違ってくる。例えば、撮像距離が短い場合に比べて撮像距離が長い場合には撮像範囲が大きくなる。そこで、撮像距離に応じて複数点補正テーブルを備えていることによって、撮像距離の違いに応じて画像データを補正することができる。
撮像距離の違いによる誤差を補正できるので、対物レンズとして通常の球面レンズを用いることができる。そして、この通常のレンズであっても、撮像距離の違いに関係なく撮像範囲が一定となるテレセントリックレンズと同じように使用することができる。
【0020】
本発明では、前記複数点補正テーブルは、前記対物レンズごとに蓄積されていることが好ましい
【0021】
このような構成によれば、対物レンズによって収差などが異なるが、対物レンズに応じた複数点補正テーブルにより対物レンズに応じて画像データの補正処理を行うことができる。
【0022】
ここで、前記基準スケール情報設定部は、前記基準スケールの長さ情報を前記対物レンズごとに蓄積していることが好ましい。
このような構成によれば、対物レンズによって画角が異なることから撮像距離が違えば撮像範囲も違ってくるが、基準スケールの長さ情報を対物レンズごとに有していれば、対物レンズに応じて撮像距離を推定することができる。そして、この推定された撮像距離に応じた複数点補正テーブルを用いることによって、撮像距離の違いに起因する誤差を補正することができる。
【0023】
本発明では、測定時温度Tcで線膨張係数αの被測定物を前記撮像手段で撮像した前記画像データ内において指定された基準点から注目点までの距離を補正する補正量dを、前記測定時温度Tcと前記被測定物の長さを規定する標準温度との温度差に前記線膨張係数αを乗算して算出する温度補正量算出部と、前記温度補正量算出部にて算出されたこの補正量dに基づいて前記基準点から前記注目点までの前記画像データ内の距離を補正処理する温度補正処理実行部と、を備えていることが好ましい
このような構成によれば、測定時の温度による影響を排して、被測定物Wが規定値に対して誤差を有するか否か評価することができる。
【0024】
本発明の画像測定機は、被測定物に向けて光を照射する照明装置と、対物レンズおよび撮像素子を有し前記被測定物を撮像する撮像手段と、前述した画像データ処理装置と、を備えることを特徴とする。
【0025】
このような構成によれば、前述した発明同様の作用効果を奏することができる。すなわち、撮像手段で撮像した撮像データを画像データ処理装置で補正することができる。このとき、画像データ内の所定の複数点について複数点補正テーブルに格納された補正パラメータによって各点ごとに補正処理される。すると、画像データ全体に含まれた歪みに関わらず正確に補正処理を行う画像測定機とすることができる。
そして、画像データ処理装置によって対物レンズの収差や取り付け誤差等を補正できるので、対物レンズ自体の精度はそれほど高くなくてもよく、また、組み立て精度もそれほど高くなくてよい。すると、対物レンズのコストを低減し、組み立て効率を向上させることができるので、結果として、製造コストを削減した比較的安価な画像測定機を提供することができる。
【0026】
本発明の画像データ補正方法は、対物レンズおよび撮像素子を有する撮像手段にて撮像された画像データ内の所定の複数点について、前記対物レンズの収差により生じた座標の真値までのずれを補正する補正パラメータを格納した複数点補正テーブルが設定され、前記撮像手段にて撮像対象を撮像して画像データを取得する撮像工程と、前記補正テーブルに格納された補正パラメータによって前記画像データ内の前記所定の複数点について、前記座標のずれを補正処理する補正処理実行工程と、前記画像データ内の前記所定の複数点以外の着目点についてこの着目点から所定距離以内に位置する前記所定の複数点についての前記補正パラメータに基づいてこの着目点を真値に補正する補正パラメータを補間法により算出する補間演算工程とを備え、前記補正処理実行工程は、前記所定の複数点以外の前記着目点について前記補間演算工程にて算出された前記補正パラメータに基づいて補正処理することを特徴とする。
【0027】
このような構成によれば、前述した発明同様の作用効果を奏することができる。
すなわち、補正処理実行工程において、複数の点を真値にするために点ごとに用意された補正パラメータを用いて画像データ内の点ごとに補正処理を行うことにより、場所による歪み量の違いには関係なく所定の複数点について精密に補正することができる。
【0028】
本発明の画像データ処理プログラムは、対物レンズおよび撮像素子を有する撮像手段にて撮像された画像データを処理する画像データ処理装置にコンピュータを組み込んで、このコンピュータに前記画像データ内の所定の複数点について、前記対物レンズの収差により生じた座標の真値までのずれを補正する補正パラメータを格納した複数点補正テーブルと、前記複数点補正テーブルに格納された補正パラメータによって前記画像データ内の前記所定の複数点について、前記座標のずれを補正処理する補正処理実行部と、前記画像データ内の前記所定の複数点以外の着目点についてこの着目点から所定距離以内に位置する前記所定の複数点についての前記補正パラメータに基づいてこの着目点を真値に補正する補正パラメータを補間法により算出する補間演算部とを備え、前記補正処理実行部は、前記所定の複数点以外の前記着目点について前記補間演算部にて算出された前記補正パラメータに基づいて補正処理する各機能を実現させることを特徴とする。
【0029】
本発明の記録媒体は、対物レンズおよび撮像素子を有する撮像手段にて撮像された画像データを処理する画像データ処理装置にコンピュータを組み込んで、このコンピュータに前記画像データ内の所定の複数点について、前記対物レンズの収差により生じた座標の真値までのずれを補正する補正パラメータを格納した複数点補正テーブルと、前記複数点補正テーブルに格納された補正パラメータによって前記画像データ内の前記所定の複数点について、前記座標のずれを補正処理する補正処理実行部と、前記画像データ内の前記所定の複数点以外の着目点についてこの着目点から所定距離以内に位置する前記所定の複数点についての前記補正パラメータに基づいてこの着目点を真値に補正する補正パラメータを補間法により算出する補間演算部とを備え、前記補正処理実行部は、前記所定の複数点以外の前記着目点について前記補間演算部にて算出された前記補正パラメータに基づいて補正処理する各機能を実現させるコンピュータ読取可能な画像データ処理プログラムを記録したことを特徴とする。
【0030】
このような構成によれば、前述した発明と同様の作用効果を奏することができる。さらに、CPU(中央処理装置)やメモリ(記憶装置)を有するコンピュータを組み込んでこのコンピュータに各機能を実現させるようにプログラムを構成すれば、各機能におけるパラメータを容易に変更することができる。例えば、複数点補正テーブルの補正パラメータを校正したり、基準スケール情報設定部や校正データ記憶部に記憶させるデータを変更したりするなどが容易である。そして、このプログラムを記録した記録媒体をコンピュータに直接差し込んでプログラムをコンピュータにインストールしてもよく、記録媒体の情報を読み取る読取装置をコンピュータに外付けし、この読取装置からコンピュータにプログラムをインストールしてもよい。なお、プログラムは、インターネット、LANケーブル、電話回線等の通信回線や無線によってコンピュータに供給されてインストールされてもよい。
【0031】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の実施の形態を図示するとともに図中の各要素に付した符号を参照して説明する。
[画像測定機の構成]
図1に、本発明の画像測定機の全体構成を示す。
画像測定機100は、被測定物Wを撮像する測定機本体部1と、測定機本体部1にて撮像された撮像データを処理するとともに画像測定機100全体の動作を制御するホストコンピュータ(画像データ処理装置)2と、測定結果を表示する表示部3と、測定条件等を設定入力する入力部4と、を備えて構成され、測定機本体部1とホストコンピュータ2とはケーブル5で接続されている。
【0032】
図2に、測定機本体部1の内部構成を示す。測定機本体部1は、本体フレーム11と、ステージ111上に載置された被測定物Wに照明光を照射する照明装置12と、被測定物Wからの反射光を集光する対物レンズ16と、対物レンズ16からの像を撮像するCCDカメラ(撮像素子)17と、被測定物Wに向けて長さ既知の基準スケール18を投影する基準照明光学系19と、を備えて構成されている。
照明装置12は、光源13と、光源13から発射された光を被測定物Wに向けて反射する光学素子としてのミラー14およびハーフミラー15と、を備え、光源13からの光は対物レンズ16を通して被測定物Wに照射される。
【0033】
CCDカメラ17は、被測定物Wの像を所定のフレームレートで撮像して、撮像した撮像データをケーブル5でホストコンピュータ2に伝送する。
対物レンズ16は、通常の球面レンズであり、撮像距離hによって像の倍率等に差が生じる(図2参照)。さらに、対物レンズ16の収差や傾き、CCDカメラ17の傾き等の要因により撮像データには誤差が含まれるが、これら誤差の補正については後述する。
ここで、対物レンズ16とCCDカメラ17とで撮像手段が構成されている。
【0034】
基準照明光学系19は、対物レンズ16を間にして照明装置12およびCCDカメラ17とは反対側に配設されている。つまり、基準照明光学系19は、対物レンズに対して被測定物Wと同じ側に配設されている。
基準照明光学系19は、光源191と、光源191の位置を一方の焦点として光源191からの光を平行光とする投影レンズ192と、投影レンズ192からの光を被測定物Wに向けて反射するハーフミラー193と、投影レンズ192とハーフミラー193との間に配設され既知の長さのスケール目盛181が刻まれた光透過性の基準スケール18と、を備えて構成されている。
光源191からの光は投影レンズ192によって平行光とされ、基準スケール18は既知の長さで被測定物W上に投影される。また、基準スケール18は、温度係数(線膨張係数)が小さい材質で形成することが好ましい。
【0035】
なお、照明装置12としては、被測定物Wに向けてリング状に照明するリング照明や、被測定物をCCDカメラとは反対側から照明する透過照明などをさらに備えていてもよい。
【0036】
図3に、ホストコンピュータ2の機能を実現する機能ブロック図を示す。なお、動作例については、図6〜図14を参照して後述する。
ホストコンピュータ2は、CCDカメラ17で撮像された撮像データを処理する画像処理部21と、画像処理部21で処理された画像データに含まれる誤差を補正する補正処理部22と、処理された画像データおよび入力部4により入力された測定条件などを記憶する記憶装置28と、中央処理装置であるCPU29と、を備えて構成されている。画像処理部21、補正処理部22および記憶装置28はバス291を介してCPU29に接続されている。
【0037】
画像処理部21は、CCDカメラ17で撮像された撮像データに対して画像処理を行う各手段を有し、撮像データにフィルタリングを行うフィルタ処理手段211、撮像データから被測定物の輪郭形状や特徴抽出等を行うエッジ検出手段212、対象とする点の座標を抽出する対象点抽出手段213、対象とする領域の長さを検出する対象長さ検出手段214を備えている。なお、設計仕様に応じて各種の機能を実現する処理手段をさらに備えてもよいことはもちろんである。
【0038】
補正処理部22は、画像処理部21で処理された画像データに補正処理を行う補正部23と、補正部23での補正処理に用いるパラメータ等を校正する校正部27と、を備えている。
補正部23は、被測定物Wを撮像する焦点面と対物レンズ16との距離(撮像距離h)を推定する撮像距離補正部24と、誤差補正に用いる補正パラメータを格納した補正テーブル25と、撮像距離補正部24により推定された撮像距離hおよび補正テーブル25に格納された補正パラメータを用いて画像データに補正演算処理を実行する補正演算部26と、を備えている。
【0039】
撮像距離補正部24は、基準スケール18の投影像を異なる対物レンズ16および異なる撮像距離hで撮像した場合の基準スケール18の長さ情報iが記憶された基準スケール情報設定部241と、被測定物W上に投影された基準スケール18を撮像した撮像データに基準スケール18の長さ情報iを対比して被測定物Wを撮像した撮像距離hを推定する撮像距離推定部242と、を備えて構成されている。
基準スケール情報設定部241には、図4に示されるように、対物レンズの階層の下に異なる長さ情報iの階層が設定され、長さ情報iに対してそれぞれ撮像距離hが設定されている。このような長さ情報iと撮像距離hとの関係は、対物レンズ16の画角から撮像距離hと像の倍率とを計算して求めることが例示される。
図2に示されるように、焦点深度内においても、対物レンズ16からの撮像距離hが異なる焦点面で撮像された像はそれぞれの大きさ(倍率)が異なってくる。一方、投影レンズ192による平行光で投影した基準スケール18の長さは被測定物上では一定である。そこで、撮像データ上における基準スケール18の長さの違いから撮像距離hを推定する。そして、推定された撮像距離hに応じて以後の画像補正が行われるところであるが、詳細は後述する。
【0040】
補正テーブル25は、図5に示されるように、測定時温度の階層251の下に対物レンズ16の階層252が置かれ、対物レンズ16の階層の下に撮像距離hの階層253が置かれている。そして、撮像距離hごとに画像データの補正に用いる多点補正テーブル254が蓄積されている。つまり、異なる温度でそれぞれの対物レンズ16ごとに異なる撮像距離hでの多点補正テーブル(複数点補正テーブル)254が用意されている。
多点補正テーブル254は、画像データ内の所定の複数点について点ごとに補正パラメータを格納している。なお、多点補正テーブル254の作成および校正やこの多点補正テーブル254に格納された補正パラメータを用いて画像データを補正する方法については図6、図7、図11のフローチャート等を参照して後述する。
補正演算部26は、多点補正テーブル254に格納された所定の複数点以外の点について補正パラメータを補間法によって算出するとともに撮像距離hに応じて多点補正テーブル254を補間法により算出する補間演算部261と、補正パラメータによって画像データに補正処理を施す補正処理実行部262と、を備えている。
【0041】
校正部27は、既知の長さや座標点を有する校正用スケール(図8参照)の座標点等で構成される校正データが記憶される校正データ記憶部271と、校正用スケール6を撮像した画像データと校正データ記憶部271に記憶された校正データとを対比して補正処理に用いるパラメータを算出する補正パラメータ算出部272と、を備えて構成されている。なお、校正データから補正パラメータを算出する手順については図6のフローチャートを用いて後述する。
【0042】
記憶装置28は、補正された画像データや被測定物Wの輪郭等の計測値など測定データを記憶する測定データ記憶部281と、測定時の温度や対物レンズ16の番号、倍率等を設定する測定条件設定部282と、を備えて構成されている。
【0043】
[画像データ補正方法]
次に、画像データに含まれる誤差を補正する画像データ補正方法について説明する。
(画像測定機の校正方法)
はじめに、補正処理に係るパラメータを格納した補正テーブル25を作成または校正する画像測定機100の校正方法について図6のフローチャートを用いて説明する。
まずST101において、図8に示されるように、座標既知の格子点を有する校正用スケール6を用意する。校正用スケール6は、縦縞と横縞とで形成された網目格子を有する平面状のスケールで、CCDカメラ17で撮像できるフレーム領域に略対応した面積を有する。なお、校正用スケール6の縦縞、横縞の間隔は任意に設定してもよく、精密な画像補正を行う場合には格子点の数を多くすればよく、補正は粗くても処理速度を速くしたい場合には格子点の数を少なくしてもよい。また、校正用スケール6は、温度係数(線膨張係数)が小さい材質で形成することが例示される。
【0044】
ST102において、校正用スケール6の各格子点座標を校正データとして入力する。入力された校正データは、校正データ記憶部271に記憶される。ST103において、校正の対象となる対物レンズ16の識別番号を入力し、ST104において、校正用スケール6を撮像する撮像距離hを調整する。対物レンズ16の識別番号の入力が必要とされるのは、対物レンズ16ごとに収差などが異なるので補正テーブル25が対物レンズ16ごとに作成されなければならないからであり、撮像距離hを調整するのは、撮像距離hによって像の倍率が異なってくるため補正テーブル25が撮像距離hごとに作成されなければならないからである。さらに、温度変化によって生じる測定機本体部1の線膨張(熱膨張)などに起因する誤差も補正する場合には、ST103において校正時の温度を入力する。すると、補正テーブル25に温度の階層251が作成され、温度の階層251の下にレンズ種別の階層252が作成される。
【0045】
ST105において、校正用スケール6をステージ111上において撮像する。すると、撮像された撮像データは画像処理部21で画像処理されて撮像データから格子点の座標が抽出される(ST106)。このとき、対物レンズ16の収差や傾き等の要因により、図9に示されるように、撮像された画像には歪み等が含まれるので、抽出された格子点の座標と校正データとの間にはずれが生じる。また、平面状の校正用スケール6を撮像した場合でも、図10に示されるように、本来はすべてのz座標が同一平面上で等しくなるはずが傾いた面として撮像されるなど高さ検出のずれが生じる。
【0046】
ST107において、補正パラメータ算出部272により、画像処理部21で抽出された格子点の座標と校正データ記憶部271に設定された校正用スケール6の格子点座標とを対比して、互いに対応する格子点ごとに座標値の差を算出する。つまり、画像処理部21で抽出されたそれぞれの座標点について真値までのずれをx座標、y座標、z座標についてそれぞれ(Δx、Δy、Δz)として算出し、その格子点についての補正パラメータとする。画像フレーム内の総ての格子点について補正パラメータを算出して、多点補正テーブル254とする(ST108)。
【0047】
ST109において、校正用スケール6を撮像した撮像距離hを求める。撮像距離hの推定について、図7のフローチャートを参照して説明する。
まずST201において、基準スケール18を校正用スケール6の上に投影する(図2参照)。このとき、基準スケール18の投影像の長さは投影レンズ192からの光が平行光なので一定である。一方、撮像距離hによって対物レンズ16の撮像領域(倍率)が異なってくることから、撮像されたデータ上では基準スケール18の投影像の長さに違いが生じる。例えば、図2中で、焦点面(B)で基準スケール18を撮像する場合に比べて、撮像距離hが短い焦点面(A)では基準スケール18の投影像が大きく撮像され、逆に撮像距離hが長い焦点面(C)では基準スケール18の投影像が小さく撮像される。
ST202において、投影された基準スケール18をCCDカメラ17で撮像すると、画像処理部21において撮像データから投影された基準スケール18の長さが検出される(ST203)。このときの長さの検出にあっては、二次元データで長さを求める。すなわち、x座標とy座標とで長さを算出し、z座標は考慮しない。
【0048】
ST204において、検出された基準スケール18の長さは、撮像距離推定部242において基準スケール情報設定部241に設定された長さ情報iに対比される。撮像距離推定部242は、基準スケール情報設定部241(図4)のレンズ識別番号から現在校正対象となっている対物レンズ16を呼び出して、検出された基準スケール長さに一致する長さ情報iを探索する。そして、一致する長さ情報iがあれば、この長さ情報iに対応する撮像距離hを読み出して現在撮像されている焦点面の撮像距離hを推定する(ST205)。また、検出された基準スケールの長さに一致する長さ情報iが無い場合には、検出された基準スケール長さを挟む長さ情報iを探索する(ST204)。そして、検出された基準スケール長さを挟む前後いくつかの長さ情報iから補間法によって現在撮像されている焦点面の撮像距離hを推定する(ST205)。
【0049】
ST110において、現在セットされている対物レンズ16に関し、総ての撮像距離hにおいて多点補正テーブル254が作成され(ST110:YES)、さらに、ST111において校正対象となる総ての対物レンズ16について多点補正テーブル254が撮像距離hごとに作成されていれば(ST111:YES)、ST112において多点補正テーブル254が対物レンズ16ごと、撮像距離hごとに補正テーブル25に格納される。
【0050】
なお、ST110において、多点補正テーブル254を作成する撮像距離hの数は、ユーザーが任意に設定でき、例えば、撮像距離hに関する補正を高精度に行う必要があれば、細かいピッチで撮像距離hを刻んで、それぞれの撮像距離hに関する多点補正テーブル254を作成しておけばよい。
ST110において、総ての撮像距離hで多点補正テーブル254が作成されていない場合には、ST104において撮像距離hを調整して、多点補正テーブル254を作成する(ST104〜ST109)。ST111において、すべての対物レンズ16に関して多点補正テーブル254を作成していない場合には、対物レンズ16を交換して改めて対物レンズ16の識別番号を入力し(ST103)、多点補正テーブル254を作成する(ST104〜ST110)。
【0051】
(画像データ補正方法)
次に、被測定物Wを撮像した画像データに含まれる誤差を補正する画像データ補正方法について図11のフローチャートを参照して説明する。
まず、ST301において、測定条件として例えば撮像に用いる対物レンズ16の識別番号や測定時の温度等を入力する(測定条件入力工程)。入力した測定条件は、測定条件設定部282に設定される。そして、ST302において被測定物WをCCDカメラ17で撮像する(撮像工程)。すると、撮像データは画像処理部21で画像処理され、フィルタリング等の処理が行われる(画像処理工程)。この状態では、対物レンズ16の収差や傾きなどにより処理前の撮像データが歪んでいるため、例えば、図9、図10に示されるように歪を含んだ画像データとなる。
続いて、ST304において、被測定物Wを撮像した焦点面の撮像距離hが推定される(撮像距離推定工程)。これは、図7のフローチャートにおいて説明したのと同様であり、被測定物W上に投影された基準スケール18の画像データと設定された基準スケール18の長さ情報iとの対比から撮像距離hが推定される。推定された撮像距離hは補正演算部26に出力される。
【0052】
ST305において、補正演算部26は、補正テーブル25中(図5)に用意された撮像距離hを探索して焦点面の撮像距離hに対応するデータを探す。このとき、測定条件設定部282に設定入力された温度から対応する温度のファイルを特定し、続いて、対物レンズ16の識別番号から対応する対物レンズのファイルを特定したのち、この対物レンズ16のファイル内で撮像距離hのデータを探索する。
ST306において、撮像した焦点面に対応する撮像距離hのデータがあった場合には(ST306:YES)、この撮像距離hに対応する多点補正テーブル254を読み出す(ST307)。ST308において、補正処理実行部262は、読み出された多点補正テーブル254の補正パラメータ(Δx、Δy、Δz)を用いて、対応する座標点について補正処理を行う(補正処理実行工程)。すなわち、図8に示される校正用スケール6の格子点に対応する点については、画像データ上の対応する点に補正パラメータを加算(または減算)することにより補正処理が行われる。すると、例えば、図12に示されるように、格子点については歪みが補正された画像データが得られる。さらに、ST309において、多点補正テーブル254に対応しない点については、補間演算部261によって、図13に示されるように、所定の距離内に位置する近傍のいくつかの格子点から補間法によって補正パラメータが算出され(補間演算工程)、算出された補正パラメータによって補正処理が実行される(補正処理実行工程)。すると、画像データ内の総ての点について補正処理が行われて、画像データ全体の歪みが補正される。
補正処理された画像データは、表示部3に表示される(ST310)。
【0053】
ST306において、対応する撮像距離hのデータがない場合には、補間演算部261によって、焦点面の撮像距離hを挟むデータから補間法により多点補正テーブル254が作成される。そして、校正用スケール6の格子点に対応する座標点については補正パラメータで補正処理がなされ(ST308)、格子点に対応しない座標点については補間法によって算出された補正パラメータによって補正処理が実行される。
【0054】
以上、このような構成を備える本実施形態によれば、次の効果を奏することができる。
(1)多点補正テーブル254を備え、画像データ内の複数の点について点ごとに補正パラメータを用意している。対物レンズ16の収差等による画像データの歪みは画像データの場所によって異なるが、画像データ内の点ごとに補正処理を行うので、場所による歪み量の違いに関わらず正確な補正処理を行うことができる。
【0055】
(2)多点補正テーブル254に用意された格子点に対応しない点に関しては、近傍に位置する格子点から補間法によって補正パラメータを算出する。すると、近傍の位置に存在する歪み量に応じた補正パラメータで補正処理が行われるので、補正処理の精度を向上させることができる。例えば、画面全体を場所に関係なく一つの近似式で補正する場合に比べて、それぞれの点に応じた補正パラメータによる精密な補正処理を行うことができる。そして、このように補間法で補正パラメータを算出できるので、多点補正テーブル254に格納するデータ量を少なくすることもできる。
【0056】
(3)補正処理部22によって画像データを精密に補正することができるので、対物レンズ16の精度自体はそれほど高くなくてもよい。また、対物レンズ16を鏡筒に組み付ける精度や対物レンズ16を本体フレーム11に組み付ける精度もそれほど高い精度でなくてもよい。すると、対物レンズ16のコストを低減でき、組み立て効率を向上させることにより、画像測定機100の製造コストを低減させることができる。
【0057】
(4)多点補正テーブル254を備えることにより記憶すべき補正パラメータの数は多くなるが、校正用スケール6自体に格子パターンが設けられているので、多くの補正パラメータを校正する場合でも校正用スケール6を撮像するのは一回でよい。例えば、x方向、y方向、z方向のそれぞれについて補正用の定数を設定した場合には各軸方向を校正するのに三回の撮像作業が必要になるケースも考えられるところ、本実施形態によれば、補正に用いる点は多くできる一方で校正作業は簡便になるという効果を奏する。
【0058】
(5)撮像距離補正部24を備えるとともに、多点補正テーブル254が撮像距離hごとに設けられている。従って、焦点深度内でも焦点面の違いで像の大きさが異なる場合であっても補正処理することができる。よって、対物レンズ16を通常のレンズで構成した場合でも図14に示されるように撮像距離hに関わらず像の大きさを同じにするテレセントリックレンズと同様に使用することができる。
【0059】
(変形例1)
次に、本発明の画像データ補正方法の変形例1について説明する。変形例1の基本的な構成は上記実施形態に同様であるが、図8の格子状の校正用スケール6に代えて図15に示される種々の校正用スケールを用いて補正パラメータを校正する点に特徴を有する。
変形例1では、図15に示される校正用スケールを使用する。
図15(A)に示される校正用スケール6Aは、中心点が同じで半径が異なる複数の同心円のパターンを有する。ここで、同心円の中心座標および各同心円の半径は既知であり、従って、各円上の点が満たす円の式は既知である。そこで、校正用スケール6Aの各円上の点が満たす円の式を校正データとして校正データ記憶部271に記憶させておく。
【0060】
次に、校正用スケール6Aを撮像した画像データから各円の座標値を所定のサンプリングピッチで抽出する。例えば、円の中心を通ってy軸に平行な直線に沿って座標点を対象点抽出手段213によってサンプリングする。すると、x座標が同じでy座標が半径r分ずつ異なる座標点が抽出される。また、円の中心を通ってx軸に平行な直線に沿って座標点をサンプリングすると、y座標が同じでx座標が半径r分ずつ異なる座標点が抽出される。そして、抽出した各座標点を校正データ記憶部271に記憶した各円の式に乗せるための補正パラメータを補正パラメータ算出部272により算出する。このとき、パラメータmyとnyとを用いた次の式に円の式から求められる真値と画像データから抽出された座標点とを順次代入して、この式を満たすパラメータmyおよびnyのそれぞれの平均値を補正パラメータとして算出する。
例えば、y軸に沿って抽出した点のy座標に関して次の式を適用する。
【0061】
(真値)=(y座標値)×my+ny………(式1)
【0062】
この式から補正パラメータ(my、ny)を算出する。同様にx座標値について、次の式を適用する。
【0063】
(真値)=(x座標値)×mx+nx………(式2)
【0064】
このように算出した補正パラメータ(my、ny)あるいは(mx、nx)は、補正テーブル25に記憶される。
実際の被測定物Wを測定した際の画像データを補正するにあたっては、画像データ上のy座標値については補正パラメータ(my、ny)を用いて補正処理し、x座標値については補正パラメータ(mx、nx)を用いて補正処理すればよい。
【0065】
なお、校正用スケール6Aを撮像した画像データから各円の座標値を所定のサンプリングピッチで抽出する場合、上記したようにy軸またはx軸に平行に座標値を抽出するのみならず、例えば、円の中心から45°の傾きを有する直線に沿って座標値を抽出してもよく、さらには、全方位にわたって座標値を抽出してもよい。
【0066】
また、図15(B)に示されるようにy方向に長さを有する縦線によって構成されるパターンでは、各縦線のx座標値を既知とし、各縦線のx座標値を校正データとして校正データ記憶部271に記憶させる。そして、この校正用スケール6Bを撮像した画像データから各縦線のx座標値を抽出して、その座標値を校正データに対比する。このとき、画像データ内で各縦線の幅の中心をその縦線のx座標とすることが例示される。校正データ記憶部271に記憶した校正データと画像データから抽出した座標点(x座標値)とを(式2)に順次代入して補正パラメータ(mx、nx)の平均値を算出すればよい。
図15(C)に示される校正用スケール6Cでは、x方向に長さを有する縦線のy座標値が既知であるとすれば、上記した図15(B)に関する校正手順についてx座標値とy座標値とを交代すれば同様に適用できる。
【0067】
(変形例2)
次に、本発明の画像データ補正方法の変形例2について説明する。変形例2の基本的構成は第1実施形態に同様であるが、変形例2の特徴とするところは、温度による影響を補正するところにある。
図5に示されるように、多点補正テーブル254が異なる温度ごと、異なる対物レンズ16ごと、異なる撮像距離hごとに用意されているので、被測定物Wを測定する際に測定条件として測定時の温度を入力すると、測定機本体部1の温度特性に起因して画像データ中に含まれる誤差は補正される。
しかしながら、被測定物Wの温度特性については考慮していないので、被測定物Wの長さを規定する標準温度が決められていた場合、例えば、20℃において規定値が設定されている場合、20℃以外の温度環境下でこの被測定物Wを測定すると温度の影響分だけ規定値からずれた測定値が得られる。すなわち、多点補正テーブル254によって補正された画像データ中には被測定物Wの温度特性に起因する影響分が含まれる。ここで、被測定物Wが規定値通りに製造されているかを評価するには、測定値から温度の影響分のずれを補正する必要がある。そこで、この温度の影響による誤差を補正する補正量を算出する。
図16に示される画像データ内において、画面内で指定された基準点Aから注目点Bまでの距離Lを補正する補正量dは、測定時の温度Tcと被測定物の線膨張係数αとを用いて次の式で求められる。
【0068】
d=α×(Tc−20) (式3)
【0069】
補正量dは、基準点Aから注目点Bまでの画面内の距離lに加算される。すると、標準温度20℃に補正された被測定物Wの長さLを求めることができる。
このような処理を実現する構成として、(式3)による演算を実行して補正量dを算出する温度補正量算出部と、この補正量dに基づいて基準点Aから注目点Bまでの画面データ内の距離lを補正処理する温度補正処理実行部とを備えた構成が例示される。
なお、線膨張係数αは、補正テーブル25に格納され、被測定物Wに応じて蓄積されていてもよい。
また、被測定物Wの長さを規定する標準温度によって(式3)が変更されるのはもちろんである。
このような構成によれば、測定時の温度による影響を排して、被測定物Wが規定値に対して誤差を有するか否か評価することができる。
【0070】
尚、本発明は、上述の実施例にのみ限定されるものではなく、本発明の要旨を逸脱しない範囲内において種々変更を加え得ることは勿論である。
上記実施形態では、画像測定機100を例にして説明したが、画像データ処理装置は、測定機に限らず、撮像手段から電気的なディジタル信号として出力された画像データを処理する場合に広く適用できる。
【0071】
撮像距離hを推定する場合に、基準スケール18を投影するとして説明したが、例えば、対物レンズ16と被測定物Wとの距離をレーザー測距法によって測定してもよい。例えば、対物レンズ16と同じ高さに設けられレーザーを発射するレーザー光源と、レーザー光源から発射されたレーザーが被測定物Wに反射して帰還するまでの時間を計測する時間計測手段と、を備えて、レーザーが被測定物Wまでを往復する時間から撮像距離を求めてもよい。
あるいは、対物レンズ16と同じ高さに設けられ被測定物Wに向けて所定の発射角でレーザーを発射するレーザー光源と、レーザー光源から発射され被測定物Wにて反射された反射光が前記レーザー光源から離隔する距離を測定する距離センサと、を備え、発射されたレーザーが被測定物Wに反射されて返ってきたときの発射方向に対するずれ量から撮像距離を求めてもよい。
【0072】
校正用スケール6は縦縞と横縞とで形成される格子点のパターンであるとして説明したが、校正用スケール6のパターン自体は特に限定されず、座標点が既知である複数の点があればよい。
【0073】
測定機本体部1の構成は、上記実施形態に限られず、被測定物Wを撮像できる構成であればよい。光源13からの光は対物レンズ16を通して被測定物Wに向けて照射されているが、照明装置12の配置は特に限定されない。被測定物Wに向けて照明する照明装置12自体は対物レンズ16を通す必要はなく、被測定物Wを照明できる限度において照明装置12はどのような構成であってもよい。
【0074】
ST311(図11)では、対応する撮像距離hのデータが存在しない場合に補間演算部261によって新たに多点補正テーブル254が作成されるが、この作成された多点補正テーブル254は新たに補正テーブル25に記憶されてもよい。すると、次回の測定では単に記憶した多点補正テーブル254を読み出すだけでよいので処理が迅速となる。また、この補間法で作成した多点補正テーブル254には計算で算出されたことを標すフラグを立てて、新たに校正用スケール6によって多点補正テーブル254が校正された場合には更新されてもよい。
【0075】
【発明の効果】
以上、説明したように本発明の画像データ処理装置、画像データ補正方法、画像測定機、画像データ処理プログラムおよびこのプログラムを記録した記録媒体によれば、高精度に画像データを補正することができるという優れた効果を奏し得る。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明に係る画像測定機の一実施形態を示す図である。
【図2】前記実施形態において、測定機本体部の内部構造を示す図である。
【図3】前記実施形態において、ホストコンピュータの機能ブロック図である。
【図4】前記実施形態において、基準スケール情報設定部におけるデータ構造を示す図である。
【図5】前記実施形態において、補正テーブルにおけるデータ構造を示す図である。
【図6】前記実施形態において、補正パラメータを校正する手順を示すフローチャートである。
【図7】前記実施形態において、撮像距離を推定する手順を示すフローチャートである。
【図8】前記実施形態において、校正用スケールを示す図である。
【図9】前記実施形態において、校正用スケールを撮像した画像データの歪みを示す図である。
【図10】前記実施形態において、校正用スケールを撮像した画像データにおいて三次元的に含まれる歪みを示す図である。
【図11】前記実施形態において、画像データを補正する手順を示すフローチャートである。
【図12】前記実施形態において、補正された画像データの例を示す図である。
【図13】前記実施形態において、格子点以外の点を補間法で補正する様子を示す図である。
【図14】撮像距離に関わらず像の大きさが同一になるテレセントリックレンズを示す図である。
【図15】本発明の変形例1において、校正用スケールの例を示す図である。
【図16】本発明の変形例2において、温度補正する様子を示す図である。
【符号の説明】
1…測定機本体部
2…ホストコンピュータ(画像データ処理装置)
6、6A、6B、6C…校正用スケール
12…照明装置
16…対物レンズ(撮像手段)
17…CCDカメラ(撮像素子、撮像手段)
21…画像処理部
22…補正処理部
23…補正部
24…撮像距離補正部
25…補正テーブル
26…補正演算部
27…校正部
100…画像測定機
241…基準スケール情報設定部
242…撮像距離推定部
254…多点補正テーブル
261…補間演算部
262…補正処理実行部
271…校正データ記憶部
272…補正パラメータ算出部

Claims (10)

  1. 対物レンズおよび撮像素子を有する撮像手段にて撮像された画像データ内の所定の複数点について、前記対物レンズの収差により生じた座標の真値までのずれを補正する補正パラメータを格納した複数点補正テーブルと、
    前記複数点補正テーブルに格納された前記補正パラメータによって前記画像データ内の前記所定の複数点について、前記座標のずれを補正処理する補正処理実行部と、
    前記画像データ内の前記所定の複数点以外の着目点についてこの着目点から所定距離以内に位置する前記所定の複数点についての前記補正パラメータに基づいてこの着目点を真値に補正する補正パラメータを補間法により算出する補間演算部とを備え、
    前記補正処理実行部は、前記所定の複数点以外の前記着目点について前記補間演算部にて算出された前記補正パラメータに基づいて補正処理する
    ことを特徴とする画像データ処理装置。
  2. 対物レンズおよび撮像素子を有する撮像手段にて撮像された画像データ内の所定の複数点について、前記対物レンズの収差により生じた座標の真値までのずれを補正する補正パラメータを格納した複数点補正テーブルと、
    前記複数点補正テーブルに格納された前記補正パラメータによって前記画像データ内の前記所定の複数点について、前記座標のずれを補正処理する補正処理実行部と、
    前記撮像手段から撮像対象までの撮像距離を補正する撮像距離補正部とを備え、
    前記撮像距離補正部は、長さ既知の基準スケールの平行光による投影像を異なる撮像距離で撮像した場合の長さ情報を前記撮像距離ごとに記憶した基準スケール情報設定部と、
    前記撮像対象への前記基準スケールの平行光による投影像を撮像した画像データ上における前記基準スケールの長さを前記基準スケール情報設定部に記憶された前記長さ情報に対比して前記撮像距離を推定する撮像距離推定部と、を備えている
    ことを特徴とする画像データ処理装置。
  3. 請求項1または請求項2に記載の画像データ処理装置において、
    座標点が既知である所定の複数点を有する校正用スケールの前記所定の複数点について座標値を記憶した校正データ記憶部と、
    前記校正用スケールを撮像した画像データ内の前記所定の複数点に対応する座標値を前記校正データ記憶部に記憶された前記所定の複数点の座標値に対比して前記所定の複数点についての前記補正パラメータを算出する補正パラメータ算出部と、を備えている
    ことを特徴とする画像データ処理装置。
  4. 請求項1ないし請求項3のいずれかに記載の画像データ処理装置において、
    前記複数点補正テーブルは、前記撮像手段から撮像対象までの撮像距離ごとに蓄積されている
    ことを特徴とする画像データ処理装置。
  5. 請求項1ないし請求項4のいずれかに記載の画像データ処理装置において、
    前記複数点補正テーブルは、前記対物レンズごとに蓄積されている
    ことを特徴とする画像データ処理装置。
  6. 請求項1ないし請求項5のいずれかに記載の画像データ処理装置において、
    測定時温度Tcで線膨張係数αの被測定物を前記撮像手段で撮像した前記画像データ内において指定された基準点から注目点までの距離を補正する補正量dを、前記測定時温度Tcと前記被測定物の長さを規定する標準温度との温度差に前記線膨張係数αを乗算して算出する温度補正量算出部と、
    前記温度補正量算出部にて算出されたこの補正量dに基づいて前記基準点から前記注目点までの前記画像データ内の距離を補正処理する温度補正処理実行部と、を備えている
    ことを特徴とする画像データ処理装置。
  7. 被測定物に向けて光を照射する照明装置と、
    対物レンズおよび撮像素子を有し前記被測定物を撮像する撮像手段と、
    請求項1ないし請求項6のいずれかに記載の画像データ処理装置と、を備える
    ことを特徴とする画像測定機。
  8. 対物レンズおよび撮像素子を有する撮像手段にて撮像された画像データ内の所定の複数点について、前記対物レンズの収差により生じた座標の真値までのずれを補正する補正パラメータを格納した複数点補正テーブルが設定され、
    前記撮像手段にて撮像対象を撮像して画像データを取得する撮像工程と、
    前記補正テーブルに格納された補正パラメータによって前記画像データ内の前記所定の複数点について、前記座標のずれを補正処理する補正処理実行工程と、
    前記画像データ内の前記所定の複数点以外の着目点についてこの着目点から所定距離以内に位置する前記所定の複数点についての前記補正パラメータに基づいてこの着目点を真値に補正する補正パラメータを補間法により算出する補間演算工程とを備え、
    前記補正処理実行工程は、前記所定の複数点以外の前記着目点について前記補間演算工程にて算出された前記補正パラメータに基づいて補正処理する
    ことを特徴とする画像データ補正方法。
  9. 対物レンズおよび撮像素子を有する撮像手段にて撮像された画像データを処理する画像データ処理装置にコンピュータを組み込んで、このコンピュータに
    前記画像データ内の所定の複数点について、前記対物レンズの収差により生じた座標の真値までのずれを補正する補正パラメータを格納した複数点補正テーブルと、
    前記複数点補正テーブルに格納された補正パラメータによって前記画像データ内の前記所定の複数点について、前記座標のずれを補正処理する補正処理実行部と、
    前記画像データ内の前記所定の複数点以外の着目点についてこの着目点から所定距離以内に位置する前記所定の複数点についての前記補正パラメータに基づいてこの着目点を真値に補正する補正パラメータを補間法により算出する補間演算部とを備え、
    前記補正処理実行部は、前記所定の複数点以外の前記着目点について前記補間演算部にて算出された前記補正パラメータに基づいて補正処理する各機能を実現させるコンピュータ読取可能な画像データ処理プログラム。
  10. 対物レンズおよび撮像素子を有する撮像手段にて撮像された画像データを処理する画像データ処理装置にコンピュータを組み込んで、このコンピュータに
    前記画像データ内の所定の複数点について、前記対物レンズの収差により生じた座標の真値までのずれを補正する補正パラメータを格納した複数点補正テーブルと、
    前記複数点補正テーブルに格納された補正パラメータによって前記画像データ内の前記所定の複数点について、前記座標のずれを補正処理する補正処理実行部と、
    前記画像データ内の前記所定の複数点以外の着目点についてこの着目点から所定距離以内に位置する前記所定の複数点についての前記補正パラメータに基づいてこの着目点を真値に補正する補正パラメータを補間法により算出する補間演算部とを備え、
    前記補正処理実行部は、前記所定の複数点以外の前記着目点について前記補間演算部にて算出された前記補正パラメータに基づいて補正処理する各機能を実現させるコンピュータ読取可能な画像データ処理プログラムを記録したコンピュータ読取可能な記録媒体。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP4904744B2 (ja) * 2005-08-30 2012-03-28 富士通セミコンダクター株式会社 歪曲補正方法、歪曲補正プログラム、該プログラムを記録した記録媒体、および画像処理装置
JP4752524B2 (ja) * 2006-01-31 2011-08-17 コニカミノルタホールディングス株式会社 歪曲収差補正方法及び歪曲収差補正装置
JP4980648B2 (ja) * 2006-05-23 2012-07-18 パナソニック株式会社 カメラスケールの計測方法
JP4825598B2 (ja) * 2006-06-23 2011-11-30 株式会社ミツトヨ 画像測定装置の校正方法
JP4829701B2 (ja) * 2006-07-04 2011-12-07 Juki株式会社 部品実装機のカメラスケーリング取得方法
JP5468726B2 (ja) 2007-05-23 2014-04-09 株式会社ミツトヨ 二次元格子校正装置、二次元格子校正プログラム、記録媒体
GB2473248A (en) * 2009-09-04 2011-03-09 Sony Corp Determining image misalignment by comparing image characteristics at points along a line
JP2012057996A (ja) * 2010-09-07 2012-03-22 Mitsutoyo Corp 画像測定装置及び画像測定方法
US9207070B2 (en) * 2012-05-24 2015-12-08 Qualcomm Incorporated Transmission of affine-invariant spatial mask for active depth sensing
JP6576664B2 (ja) 2015-03-31 2019-09-18 株式会社ミツトヨ エッジ検出偏り補正値計算方法、エッジ検出偏り補正方法、及びプログラム
CN106374224B (zh) 2015-07-23 2019-09-27 同方威视技术股份有限公司 电磁波成像系统及天线阵列信号校正方法
JPWO2018168757A1 (ja) * 2017-03-13 2020-01-09 キヤノン株式会社 画像処理装置、システム、画像処理方法、物品の製造方法、プログラム
JP6693981B2 (ja) * 2018-02-19 2020-05-13 ファナック株式会社 ロボットの動作をシミュレーションするシミュレーション装置
CN115004274A (zh) * 2020-01-14 2022-09-02 京瓷株式会社 图像处理装置、拍摄装置、信息处理装置、检测装置、路侧机、图像处理方法及校正方法

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US10952827B2 (en) 2014-08-15 2021-03-23 Align Technology, Inc. Calibration of an intraoral scanner

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