JP4425888B2 - コンポジット構造を有するナノ球状粒子、粉末、及び、その製造方法 - Google Patents
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Description
図1は、本発明に係る第1生成物を製造する際に用いられる遠心式粒状化装置の構成を概略的に示す図である。この遠心式粒状化装置では、アルゴン不活性ガス雰囲気中で、原料金属の溶融物を高速回転する皿ディスク上に供給し、遠心力を作用させて小滴として飛散させ、ガス雰囲気との接触により急冷して球状粒子とする第1の工程が実行される。図を参照し、更に具体的に説明すると、粒状化室5は上部が円筒状、下部がコーン状になっており、上部に蓋6を有する。蓋6の中心部には垂直にノズル4が挿入され、ノズル4の直下には皿形回転ディスク7が設けられている。符号8は皿形回転ディスク7を上下に移動可能に支持する機構である。また、粒状化室5のコーン部分の下端には生成した粒子の排出管9が接続されている。ノズル4は、粒状化する金属を溶融する電気炉(高周波炉)2と、高周波加熱機3を接続し、更に、高周波加熱機3と、粒状化室5を接続する。
図2は、本発明に係る第2生成物を製造する際に用いられる装置の構造例を示す。図2において、図1に示した遠心式粒状化装置の大部分がそのまま用いられ、ただ、電気炉(高周波炉)2の部分が、プラズマ反応装置20に置き換わっている。なお、第2生成物は、本発明に係るナノ球状粒子と同義である。
a.第1生成物の製造
第1生成物の製造には、図1に示された遠心式粒状化装置(米国特許6808568号に記載されたものと同じ)を用いた。また、出発物質として、4元素から構成される下記の合金(出発物質)を使用した。
第2生成物の製造に当たっては、上述のようにして得られた第1生成物を、図2に記載した装置により処理した。
実施例1のナノ球状粒子は電気機器の微細配線、貫通電極等に用いるのに好適である。
a.第1生成物の製造
第1生成物は、出発物質としてSi(純度11ナイン)を使用した以外は、実施例1と同様にして製造した。
得られたコンポジット構造を有するSi粒子(第1生成物)は、平均粒径が15μmであった。
第2生成物の製造に当たっては、上述の第1生成物を、図2に記載した装置により処理した。
図11は、実施例2の第2生成物の断面のTEM像である。このTEM像から第2生成物が、ナノコンポジット構造を有していることが確認できる。
を基にして倍率補正を行った。これらの値に印画紙引き伸ばし倍率の3、8、10(120,000倍)及び10(290,000倍)をそれぞれ掛けることによって印画紙上の倍率を求めた。このときSi(111)面の格子面間隔はJCPDSカードに記載された値を用いた。なお、標準Siサンプルを用いた結晶構造確認方法は、以下の他の実施例においても適用される。
図14は実施例2の粒度分布表である。目的粒径100nm以下のものを100%捕集することができた。
a.第1生成物の製造
第1生成物は、出発物質としてSi(純度11ナイン)を使用した以外は、実施例1と同様にして製造した。得られたコンポジット構造を有するSi粒子(第1生成物)は、粒径が15μmであった。
第2生成物の製造には、得られた第1生成物と図2に記載した装置を使用した。反応ガスは、酸素ガスを使用した。得られた酸化ケイ素(SiO2)粒子は、その多くが粒径100nm以下の球状の粒子であり、真球度1%以内であった。第1生成物組成は、Si粒子であり、第2生成物組成はSiO2粒子であった。
a.第1生成物の製造
第1生成物は、出発物質としてSi(純度11ナイン)を使用した以外は、実施例1と同様にして製造した。得られたコンポジット構造を有するSi粒子(第1生成物)は、平均粒径が15μmであった。
第2生成物の製造には、第1生成物と図2に記載した装置を使用した。反応ガスは、メタンガスを使用した。得られたSiC粒子は、粒径100nm以下の球状の粒子であり、真球度が1%以内であった。第1生成物組成として用いられたSi金属粒子が、第2生成物組成では、SiC粒子に変化する。
a.第1生成物の製造
第1生成物は、原料としてボロンを使用した以外は、実施例1と同様にして製造をした。得られたコンポジット構造を有するボロン粒子(第1生成物)は、粒径が15μmであった。
第2生成物の製造には、第1生成物と図2に記載した装置を使用した。反応ガスは、窒素ガスを使用した。得られたBN粒子は、その多くが粒径100nm以下の球状粒子であり、真球度が1%以内であった。第1生成物組成はB金属粒子であり、第2生成物組成はBN粒子であった。
a.第1生成物の製造
第1生成物は、原料として6元素から構成される合金B(出発物質)を使用した以外は、実施例1と同様にして製造したが反応ガスにアルゴンガスの酸素混合ガスを使用した。得られたコンポジット構造を有する合金酸化物粒子(第1生成物)は、粒径が、15μmであった。
第2生成物の製造には、第1生成物と図3に記載した装置を使用した。反応ガスは、硫黄ガス及びアルゴン中3%酸素ガスを使用した。得られた第2生成物は粒径が、粒径100nm以下の球状粒子であり、真球度が1%以内であった。
O(21.62wt%)、Mg(4.59wt%)、Al(42.48)、Ba(21.04wt%)、Eu(2.14wt%)、Zn(8.12wt%)
であった。
O(16.09wt%)、Mg(3.68wt%)、Al(29.98)、S(6.93wt%)Ba(11.57wt%)、Eu(1.08wt%)、Zn(30.68wt%)
であり、第1生成物が硫化されたことが確認できた。
原料として、Si(純度11ナイン)の破砕品(粒径15μm)を用い、図2に記載した装置を使用して製造した。得られた最終生成物は、Si粒子であり、歪状の粒子であった。100nm未満の粒子の捕集率は50%であった。
原料として、Si(純度11ナイン)の破砕品(粒径30μm)を使用し特開2005−320195の方法を採用して、粒子の製造を行った。得られた最終生成物は、Si粒子であり、歪状の粒子であった。
原料として、Si(純度11ナイン)の破砕品(粒径30μm)を使用し、特開2005−320195の方法を採用して、粒子の製造を行った。
原料として、Si(純度11ナイン)の破砕品(粒径30μm)を使用し、気相法を採用して、粒子の製造を行った。得られた最終生成物は、Si粒子であり、歪状の粒子であった。
原料として、Si(純度11ナイン)の破砕品(粒径30μm)を使用し、レーザーアブレーション法を採用して、粒子の製造を行った。
原料として、Si(純度11ナイン)の破砕品(粒径30μm)を使用し、陽極酸化法を採用して、粒子を製造した。得られた最終生成物は、Si粒子であり、歪状の粒子であった。歪状粒子であるため、真球度を測定することができなかった。
1.実施例と比較例の形状、目的粒径達成度、及び、捕集率についての補足
表1は、実施例1〜6と比較例1〜6の対比表である。
L2)/L1を、百分率で示したものである。
実施例1、2、比較例1〜6の粒度分布において、図9、14、29、32、35、38、41、44の粒度分布表のデータは、左から、低部チャネル径(μm)、頻度体積%、累積体積%、低部チャネル径(μm)、頻度体積%、累積体積%、低部チャネル径(μm)、頻度体積%、累積体積%を示している。
2 電気炉(高周波炉)
5 粒状化室
12〜14 混合ガスタンク
20 プラズマ反応装置
30 主トーチ
33 副トーチ
34、35 反応ガス供給手段
PL プラズマガス
Claims (1)
- 単一金属、合金、酸化物、珪化物、窒化物、炭化物又は硫化物の群から選択された成分の結晶の集合体、又は、前記結晶とアモルファスの集合体を含み、粒子径が1μm未満のナノ粒子を製造する方法であって、
単一金属、合金、酸化物、珪化物、窒化物、炭化物又は硫化物の群から選択された原料の溶融物を粒状化装置に投入し、前記粒状化装置において、前記溶融物を、不活性ガス雰囲気中で高速回転する皿ディスク上に供給し、遠心力を作用させて小滴として飛散させ、前記不活性ガス雰囲気との接触により急冷して一次粒子を得る工程と、
前記一次粒子を、プラズマ反応装置に投入し、前記プラズマ反応装置において、前記一次粒子を、アルゴンのプラズマ旋回流内でナノサイズに分解すると同時に反応性のあるガス成分又は蒸気成分と接触させる工程と、
更に、その生成物を、粒状化装置に投入し、前記粒状化装置において、前記生成物を、不活性ガス雰囲気中で高速回転する皿ディスク上に供給し、遠心力を作用させて小滴として飛散させ、前記不活性ガス雰囲気との接触により急冷して、ナノ粒子を得る工程と、
を含むナノ粒子の製造方法。
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