JP4420650B2 - 欠陥画素検出装置、欠陥画素検出方法、及び欠陥画素検出プログラム - Google Patents
欠陥画素検出装置、欠陥画素検出方法、及び欠陥画素検出プログラム Download PDFInfo
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Description
100 プロセッサ
130 CPU
140 DSP
200 電子内視鏡
220 対物レンズ
230 CCD
Claims (13)
- 固体撮像素子の受光面上に整列された各画素の欠陥を検出する欠陥画素検出装置において、
各該画素の信号の出力値に関する閾値を設定する閾値設定手段と、
設定された該閾値と、該閾値に対する各画素信号の出力値とを比較して、該閾値より高い出力値を出力している画素を判別する画素判別手段と、
該受光面上における該欠陥検出の範囲を変化させていき、該画素判別手段により判別された該画素の数が所定の数以下となったとき、該判別された画素を欠陥画素と判定する欠陥判定手段と、
を備え、
前記欠陥判定手段は、該欠陥検出の範囲の境界近傍で該閾値より高い出力値を出力している画素を欠陥画素と判定しないこと、を特徴とする欠陥画素検出装置。 - 固体撮像素子の受光面上に整列された各画素の欠陥を検出する欠陥画素検出装置において、
各該画素の信号の出力値に関する閾値を設定する閾値設定手段と、
設定された該閾値と、該閾値に対する各画素信号の出力値とを比較して、該閾値より低い出力値を出力している画素を判別する画素判別手段と、
該受光面上における該欠陥検出の範囲を変化させていき、該画素判別手段により判別された該画素の数が所定の数以下となったとき、該判別された画素を欠陥画素と判定する欠陥判定手段と、
を備え、
前記欠陥判定手段は、該欠陥検出の範囲の境界近傍で該閾値より低い出力値を出力している画素を欠陥画素と判定しないこと、を特徴とする欠陥画素検出装置。 - 前記画素判別手段により判別された該画素の位置情報を格納する記憶手段をさらに備えたこと、を特徴とする請求項1または請求項2のいずれかに記載の欠陥画素検出装置。
- 前記欠陥判定手段は、該欠陥検出の範囲を、該受光面全体から中心部に向かって徐々に絞っていくこと、を特徴とする請求項1から請求項3のいずれかに記載の欠陥画素検出装置。
- 前記欠陥判定手段は、該欠陥検出の範囲を、該受光面中心部を含む範囲から該受光面周辺部を含む範囲に向かって徐々に広げていくこと、を特徴とする請求項1から請求項3のいずれかに記載の欠陥画素検出装置。
- 被写体からの反射光を該受光面上に集光する対物レンズをさらに備え、
該欠陥検出の範囲は、該対物レンズを透過した光の、該受光面に対する輝度分布に応じて、設定されること、を特徴とする請求項1から請求項5のいずれかに記載の欠陥画素検出装置。 - 前記欠陥判定手段は、該欠陥検出の範囲の境界近傍における画素の出力値に応じて該閾値を設定すること、を特徴とする請求項1から請求項6のいずれかに記載の欠陥画素検出装置。
- 前記欠陥判定手段はさらに、前記画素判別手段により判別された該画素の数に応じて該閾値を変化させていくこと、を特徴とする請求項1から請求項7のいずれかに記載の欠陥画素検出装置。
- 前記画素判別手段は、該受光面中心に近い画素から優先的に判別処理を実行すること、を特徴とする請求項1から請求項8のいずれかに記載の欠陥画素検出装置。
- 固体撮像素子の受光面上に整列された各画素の欠陥を検出する欠陥画素検出方法において、
各該画素の信号の出力値に関する閾値を設定する第一のステップと、
設定された該閾値と、該閾値に対する各画素信号の出力値とを比較して、該閾値より高い出力値を出力している画素を判別する第二のステップと、
該受光面上における該欠陥検出の範囲を変化させていき、該第二のステップにより判別された該画素の数が所定の数以下となったとき、該判別された画素を欠陥画素と判定する第三のステップと、
を有し、
前記第三のステップにおいて、該欠陥検出の範囲の境界近傍で該閾値より高い出力値を出力している画素を欠陥画素と判定しないこと、を特徴とする欠陥画素検出方法。 - 固体撮像素子の受光面上に整列された各画素の欠陥を検出する欠陥画素検出方法において、
各該画素の信号の出力値に関する閾値を設定する第一のステップと、
設定された該閾値と、該閾値に対する各画素信号の出力値とを比較して、該閾値より低い出力値を出力している画素を判別する第二のステップと、
該受光面上における該欠陥検出の範囲を変化させていき、該第二のステップにより判別された該画素の数が所定の数以下となったとき、該判別された画素を欠陥画素と判定する第三のステップと、
を有し、
前記第三のステップにおいて、該欠陥検出の範囲の境界近傍で該閾値より低い出力値を出力している画素を欠陥画素と判定しないこと、を特徴とする欠陥画素検出方法。 - 前記第三のステップではさらに、前記第二のステップにより判別された該画素の数に応じて該閾値を変化させていくこと、を特徴とする請求項10または請求項11のいずれかに記載の欠陥画素検出方法。
- 請求項10から請求項12のいずれかに記載の欠陥画素検出方法をコンピュータに実行させるための欠陥画素検出プログラム。
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