JP4272975B2 - 欠陥画素検出装置、欠陥画素検出方法、及び欠陥画素検出プログラム - Google Patents
欠陥画素検出装置、欠陥画素検出方法、及び欠陥画素検出プログラム Download PDFInfo
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Description
100 プロセッサ
130 CPU
140 DSP
200 電子内視鏡
220 対物レンズ
230 CCD
Claims (8)
- 固体撮像素子の受光面上に整列された各画素の欠陥を検出する欠陥画素検出装置において、
各該画素の信号の出力値に関する閾値を設定する閾値設定手段と、
設定された該閾値と、該閾値に対する各画素信号の出力値とを比較して、該閾値より高い出力値または低い出力値のいずれかを出力している画素を判別する画素判別手段と、
欠陥画素か否かを判定される注目画素の判別結果と、該注目画素に近接し且つ連続して整列された複数の画素全ての判別結果とを比較し、該注目画素の判別結果のみが他の判別結果と異なっていた場合、該注目画素を欠陥画素と判定する欠陥判定手段と、を備えたこと、を特徴とする欠陥画素検出装置。 - 前記欠陥判定手段が所定の領域に含まれた全ての画素に対する判定処理を繰り返し実行する場合、前記閾値設定手段は、該判定処理が実行される度に徐々に前記閾値を変化させていくこと、を特徴とする請求項1に記載の欠陥画素検出装置。
- 前記閾値設定手段は、第1の閾値から該第1の閾値より低い第2の閾値までの間で徐々に該閾値を変化させていくこと、を特徴とする請求項1または請求項2のいずれかに記載の欠陥画素検出装置。
- 前記閾値を比較的高い値から低い値へ徐々に変化させていき、前記画素判別手段によって該閾値より出力値が高いと判別された画素の数が第1の数以上となったとき、前記閾値設定手段は、その閾値を前記第1の閾値に設定すること、を特徴とする請求項3に記載の欠陥画素検出装置。
- 前記閾値を比較的低い値から高い値へ徐々に変化させていき、前記画素判別手段によって該閾値より出力値が低いと判別された画素の数が第2の数以上となったとき、前記閾値設定手段は、その閾値を前記第2の閾値に設定すること、を特徴とする請求項3または請求項4のいずれかに記載の欠陥画素検出装置。
- 前記画素判別手段により判別された該画素の位置情報を格納する記憶手段をさらに備えたこと、を特徴とする請求項1から請求項5のいずれかに記載の欠陥画素検出装置。
- 固体撮像素子の受光面上に整列された各画素の欠陥を検出する欠陥画素検出方法において、
各該画素の信号の出力値に関する閾値を設定する第一のステップと、
設定された該閾値と、該閾値に対する各画素信号の出力値とを比較して、該閾値より高い出力値または低い出力値のいずれかを出力している画素を判別する第二のステップと、
欠陥画素か否かを判定される注目画素の判別結果と、該注目画素に近接し且つ連続して整列された複数の画素全ての判別結果とを比較し、該注目画素の判別結果のみが他の判別結果と異なっていた場合、該注目画素を欠陥画素と判定する第三のステップと、を有したこと、を特徴とする欠陥画素検出方法。 - 固体撮像素子の受光面上に整列された各画素の欠陥を検出する欠陥画素検出プログラムにおいて、コンピュータを
各該画素の信号の出力値に関する閾値を設定する手段と、
設定された該閾値と、該閾値に対する各画素信号の出力値とを比較して、該閾値より高い出力値または低い出力値のいずれかを出力している画素を判別する手段と、
欠陥画素か否かを判定される注目画素の判別結果と、該注目画素に近接し且つ連続して整列された複数の画素全ての判別結果とを比較し、該注目画素の判別結果のみが他の判別結果と異なっていた場合、該注目画素を欠陥画素と判定する手段、として機能させるための欠陥画素検出プログラム。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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JP2003407097A JP4272975B2 (ja) | 2003-12-05 | 2003-12-05 | 欠陥画素検出装置、欠陥画素検出方法、及び欠陥画素検出プログラム |
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JP2007201530A (ja) * | 2006-01-23 | 2007-08-09 | Pentax Corp | 画素欠陥補正装置 |
WO2020070832A1 (ja) * | 2018-10-03 | 2020-04-09 | オリンパス株式会社 | 内視鏡及び内視鏡システム |
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