JP4361838B2 - Lsi設計方法 - Google Patents

Lsi設計方法 Download PDF

Info

Publication number
JP4361838B2
JP4361838B2 JP2004174722A JP2004174722A JP4361838B2 JP 4361838 B2 JP4361838 B2 JP 4361838B2 JP 2004174722 A JP2004174722 A JP 2004174722A JP 2004174722 A JP2004174722 A JP 2004174722A JP 4361838 B2 JP4361838 B2 JP 4361838B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
timing
value
uncertainty
lsi
amount
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP2004174722A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2005352916A (ja
Inventor
敏克 細野
高志 米田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Fujitsu Semiconductor Ltd
Original Assignee
Fujitsu Semiconductor Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Fujitsu Semiconductor Ltd filed Critical Fujitsu Semiconductor Ltd
Priority to JP2004174722A priority Critical patent/JP4361838B2/ja
Priority to US11/014,814 priority patent/US7257789B2/en
Publication of JP2005352916A publication Critical patent/JP2005352916A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP4361838B2 publication Critical patent/JP4361838B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F30/00Computer-aided design [CAD]
    • G06F30/30Circuit design
    • G06F30/32Circuit design at the digital level
    • G06F30/327Logic synthesis; Behaviour synthesis, e.g. mapping logic, HDL to netlist, high-level language to RTL or netlist

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Evolutionary Computation (AREA)
  • Geometry (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Design And Manufacture Of Integrated Circuits (AREA)
  • Logic Circuits (AREA)

Description

本発明は半導体集積回路の設計方法に係り、さらに詳しくは設計の工程において確定したタイミングに対する要因を除外しながら、タイミングの不確定量を変化させて設計を行う LSI設計方法に関する。
近年の半導体集積回路の設計においては、高速に動作するLSIが求められる一方で、オンチップばらつきやクロストークの影響などを考慮する必要があり、タイミングの収束性が困難になってきている。そのため、タイミングの不確定量をタイミングマージンとして設定することが重要になっている。しかしながら従来の一般的な設計法においては、論理合成にあたって固定のタイミングマージンが設定され、設計が行われていた。
図12はそのような従来のLSI設計方式のフローチャートである。同図においてまず品種条件によらない共通条件としてのタイミングマージン値が、例えば周波数に対するマージンとして決定され、またセルの特性が格納されたLibraryの内容を用いて論理合成が行われ、その後レイアウト設計と結果の検証が結果がOKになるまで繰り返され、検証結果がOKとなった時点でsign offとして設計工程が終了し、次の工程への移行が行われていた。
このような従来のLSI設計方法においては、論理合成にあたって全品種に対して固定されたタイミングマージンが設定され、設計が行われていた。このタイミングマージンの設定においては、Clock Treeの構造やレイアウト工程、およびsign off条件との間の関係が考慮されていなかったため、最後のsign off検証においてはタイミングの収束に問題があり、レイアウト設計と検証とが何回も繰り返されるという問題点があった。また従来のタイミングマージンの設定方法では品種条件が考慮されていないために、品種に対応してマージンを最適化することができず、また各工程でタイミングの収束に問題があったとしてもマージンの値を見直すことができないという問題点があった。
このような半導体集積回路の設計方法に関する従来技術として次の文献がある。
特開2001−196459(P2001−196459A)号 「半導体集積回路の設計方法と設計装置」
この文献では、所望の仕様を有する論理回路を仮に決定する第1のステップと、この論理回路の動作周波数に対するタイミングマージンを算出する第2のステップと、算出されたタイミングマージンに応じて仮に決定された論理回路の設計値を変更する第3のステップとを有し、所望の半導体集積回路を迅速かつ的確に設計できる半導体集積回路設計方法が開示されている。
しかしながらこの文献の技術では、タイミングマージンは動作周波数のみに対して定義されており、顧客から提示された動作周波数を変更できない場合にはこの手法を採用することができず、このタイミングマージンをすべての設計工程に共通に使用することができないという問題点があった。
本発明の課題は、上述の問題点に鑑み、半導体集積回路の設計の初期段階で各種の項目に対応してタイミングマージンの不確定量を見積り、設計の各工程でタイミングに与える影響が確定しない項目に対応してタイミングマージンの不確定量を設定して設計を行うことによって、設計工程の最後のsign off検証における検証合格までの期間を短くすることである。
図1は本発明のLSI設計方法の原理的な機能ブロック図である。同図において、まず1でLSI設計の初期段階においてタイミングマージンの設定に関連して考慮すべき各項目に対応して、該各項目がタイミングに与える影響が確定しないことよるタイミングの不確定量が見積もられる。そして2でLSI設計の各段階において、前述の各項目がタイミングマージンに与える影響が確定したか否かに対応して、前述の不確定量の見積り結果に基づいて、タイミングマージンが設定され、各段階の設計が行われる。
発明の実施の形態においては、タイミングの不確定量の見積り1においてLSIの品種条件、動作条件、およびsign off条件に基づいて不確定量の見積りを行うこともできる。
また前述のタイミングマージンの設定に関連して考慮すべき項目の1つとしてのClock Skewの影響によるタイミングの不確定量の見積りにおいて、Clock Treeの構造が予想できるか否かを判定し、予想できないときには動作周波数に対応して不確定量を見積り、予想できるときには動作周波数とClock TreeにおけるLeafの数とに対応して不確定量を見積ることもできる。
次にその項目の1つとしてのOn chip ばらつきの影響による不確定量の見積りにおいて、Clock Treeの構造が予想できない時には動作周波数に対応して不確定量を見積り、予想できるときにはOn chip ばらつき係数とClock pathの分岐点からタイミングチェックの対象セルまでのpathの遅延量とに対応して不確定量を見積もることもできる。On chip ばらつき係数はchip内で発生する可能性のあるばらつき量を考慮し、例えば、chip内のプロセスバラツキ量や温度ばらつき量や電圧ばらつき量によって算出され、動作保証範囲、例えば温度や電圧の範囲と、LSIチップの消費電流量と電源ネットの抵抗との積としてのIR Drop量とに基づいて算出することもできる。
次に項目の1つとしてのCrosstalk Delayの影響による不確定量の見積りにおいて、動作周波数に対応する係数の値を仮定し、その値によってCrosstalk対策条件が満足されるか否かを判定し、満足される時にその仮定された値に対応してその係数の値を決定して不確定量を見積ることもできる。
また項目の1つとしてのPLL Jitterの影響による不確定量の見積りにおいて、PLLの特性値と回路構成に応じ、例えば分周回路の有無に対応して不確定量を見積ることもできる。
さらに項目の1つとしての仮配線と実配線とのgapの影響による不確定量の見積りにおいて、エリア見積りを行うか否かを判定し、行わないときには使用するライブラリのWire Load Modelに対応して動作周波数に対応する係数の値を設定して不確定量を見積り、エリア見積りを行う場合には、エリア見積り結果に基づき対象LSI専用のWire Load Modelを作成するか否かを判定し、作成しないときには使用するライブラリのWire Load Modelとエリア見積りの結果に対応してその係数の値を決定して不確定量を見積り、専用のWire Load Modelを作成するときにはその専用Wire Load Modelに対応して動作周波数に対応する係数の値を決定して不確定量を見積もることもできる。
さらに本発明においてLSIの設計に用いられる計算機によって使用されるプログラムとして、タイミングマージンの設定に関連して考慮すべき各項目に対応して、該各項目がタイミングに与える影響が確定しないことによるタイミングの不確定量を見積る手順と、LSI設計の各段階において前記各項目がタイミングに与える影響が確定したか否かに対応して、前記不確定量の見積り結果に基づいてタイミングマージンの値を設定し、各段階の設計を行う手順とを計算機に実行させるためのプログラムが用いられる。また発明の実施の形態においては、このようなプログラムを格納した計算機読出し可能可搬型記憶媒体が用いられる。
以上のように本発明によれば、例えば論理合成の前の段階でLSIの品種条件や動作条件、sign off条件を考慮して、タイミングマージンの設定に関連して考慮すべき各項目に対応してタイミングの不確定量の見積りが行われ、その後の設計の各段階ではタイミングに与える影響が確定した項目に対してはその確定値が使用され、確定していない項目についてはすでに見積もられた不確定量を用いて設計が行われる。
本発明によれば、LSIの品種条件や動作条件、およびsign off条件に対応してタイミングの不確定量の見積りがLSI設計工程の初期に行われ、以後必要に応じてその不確定量の値を用いて設計が行われるために、最後のsign off条件の検証における合格までの設計と検証との繰返しを少なくすることができ、LSI設計、および開発期間の短縮に寄与するところが大きい。
図2は、本発明のLSI設計方法の基本処理フローチャートである。同図において、LSI仕様11から回路見積り結果12とsign off条件13とが得られ、さらに素子(セル)の特性や動作条件などが格納されたLibrary14を基にして設計処理が行われる。
まずステップS1で、回路見積り結果12とsign off条件13を用いて、セルの品種やその動作条件に基づいてタイミングの不確定量の値が見積もられ、ステップS2でその不確定量の見積り値とLibrary14に格納されているデータを用いて論理合成が行われる。ステップS3で論理合成結果とタイミングの不確定量の見積り値に基づいてレイアウト設計が行われ、ステップS4でレイアウト設計の結果に対する検証が行われ、検証結果がNGであれば、再びステップS3のレイアウト設計に戻り、OKであればsign off15に到達することになる。
図3は、本発明のLSI設計方法の全体処理フローチャートである。同図は図2の基本処理フローチャートをさらに詳細化したものである。同図において、図2におけると同様にLSI仕様11から回路見積り結果12とsign off条件13が得られ、これらを用いてステップS1でタイミング(不確定量)の値の見積りが行われる。一方、LSI仕様11に基づくsign off条件13からステップS11でLibrary条件が決定され、ステップS12でLibraryが生成されてLibrary14の内容が設定される。この時、Signoff条件には、その品種の動作範囲(PTV条件)、IRdrop量やOn Chip ばらつき量が含まれる。ステップS11では、これらの条件に基づき、ライブラリ生成が実施される。
その後、タイミング(不確定量)の見積り値とLibrary14の内容を用いて、ステップS15からステップS20において図2のステップS2からS4に対応する処理が実行される。
まずステップS15でLogic Synthesis、ステップS16でPre Layout STA(スタティック・タイミング・アナリシス)、ステップS17でPrototyping Place&Routeが行われ、ステップS18でPlace&Routeが行われ、ステップS19でsign off検証が行われ、ステップS20でsign off検証の結果が判定され、NGであればステップS18に戻り、OKであればsign off15に到達する。
なお、ステップS17では、クロックは理想的な時間で扱われ、ステップS18では、実際のクロックネットに基づき伝播させた時間で扱われる。
図4は、図3のステップS1におけるタイミングの不確定量見積り処理の詳細フローチャートである。この不確定量見積りは、基本的には図3で説明したように各工程における設計処理の前に行われ、タイミングマージンの設定において考慮すべき各項目に対応する不確定量の見積りが行われる。その後の各工程においてタイミングの確定値が得られる場合には、その項目に対応する不確定量の考慮は不必要となり、その項目以外の項目に対する不確定量の合算が行われて、全体としての不確定量が決定されることになる。
すなわち図4のステップS21からS25においてタイミングマージンの設定において考慮すべき各項目に対する不確定量の見積りが行われる。ステップS21ではClock Skewに対して、ステップS22ではOn chip Variationに対して、ステップS23ではCrosstalk Delayに対して、ステップS24ではPLL Jitterに対して、ステップS25ではWire Load Model gap、すなわち仮配線の実配線に対する誤差に対するタイミングの不確定量が見積もられる。
そしてステップS26からS30においてそれらの項目に対するタイミングが確定したか、否かが判定され、確定した場合にはその項目に対するタイミングの不確定量の考慮は不必要となり、ステップS34では確定した項目を除いて不確定量の合算が行われ、ステップS35ではその工程に対応する不確定量が決定される。
図5は、各工程におけるタイミングマージン確定経過の説明図である。同図において図3のステップS15におけるLogic SynthesisからステップS19におけるsign off検証までの各工程に対応して、図4のステップS21からS25における各項目に対応する不確定量の見積り結果が必要となるか否かが示されている。ただし、ステップS15におけるLogic SynthesisとステップS16におけるPre Layout STAに対しては、タイミングの不確定量に対する考え方は同一であるため、これらの2つのステップにおける必要性は最も上の1行に示されている。
図5において、各工程においてタイミングが確定する場合には●として確定値を用いるべきことが、また確定しない場合には○によって予想値、すなわち不確定量の見積り値を用いるべきことが示され、また後述するようにPLL Jitterに対しては、考慮すべき場合にはすべての工程において特性評価結果の値、例えばPLL 特性 sheetに記載されている値を用いるべきことが+で、また考慮する必要がない場合には−でそれが示されている。仮配線と実配線とのギャップ、すなわち図4のステップS25におけるWLM gapの見積り結果については、図3のステップS15におけるLogic SynthesisとステップS16におけるPre Layout STAの2つの工程において不確定量の見積り結果が用いられ、ステップS17以降の工程においては考慮する必要がないことが示されている。
さらにIR dropによる遅延変動は、ステップS11の工程でライブラリが生成される際に、Library14の電圧条件に考慮する。つまり、ライブラリの電圧条件から消費電流量と電源ネットの抵抗との積で決まる電源電圧降下量を差し引いた値でライブラリが生成される。
これにより、電源電圧降下量による遅延の劣化分はLibrary14の格納内容に基づいて図3のステップS15の工程で考慮され、図3のステップS15の結果に反映される。また、Library14は、ステップS16、ステップS17、ステップS18、ステップS19にも使用されるため、どのステップでも遅延劣化分は等価に扱うことができる。
図5において図3のステップS18とステップS19の工程ではセットアップをチェックする場合とホールドをチェックする場合とで、PLLのジッタの扱いが異なる。また図5では、ステップS18の工程に対しては、ウィズアウト クロストーク SDF、すなわちスタンダード・ディレイ・フォーマットにクロストーク遅延が考慮されていない場合について示され、またステップS19においてはウィズクロストーク、すなわちクロストーク遅延が考慮されている場合が示されている。
このように本実施形態においてPre Layout STAまでの工程ではすべての項目に対応してタイミングが予想値、すなわち不確定値として見積もられ、IR Drop量も同様に予想値が使用される。
これに対してプロトタイピング P&R(理想Clock)では、セルの配置が行われるために、配線容量が考慮され、仮配線とのgapの考慮は不必要となる。またP&R(伝播Clock)では、Clock Treeが構成されるためにClock Skewの影響が確定し、On chip Variation、Crosstalk Delay、およびPLL Jitterの各項目に対しては、不確定量の見積り値が用いられる。
最後のsign off検証の工程では、すべての項目がタイミングに与える影響が確定し、解析によって得られる確定値を用いて検証が行われる。なおIR Drop量はプロトタイピングによって電源の設計が確定するため、その時点で確定値を使用することが可能となる。
以上で本実施形態におけるLSI設計処理の全体的説明を終了し、以後図6から図10を用いて図4の各項目に対応するタイミングマージンの不確定値の見積り処理についてさらに説明する。
図6は、図4のステップS21におけるClock Skewに対応するタイミングの不確定値見積り処理の詳細フローチャートである。同図において処理が開始されると、まずステップS41でLSIの品種に対応する動作周波数が収集され、ステップS42でClock Treeの構造を予想できるか否かが判定される。例えばリメイク品種などの場合には、Clock Treeの構造を予想できることがある。そのような品種でない場合には、一般的には予想不可能であるが、予想できない場合に不確定値が大きくなってしまう傾向があるため、Clock Treeの構造を予想できる場合には、その予想に対応してできるだけ不確定値の見積り量を小さくすることが有効である。
Clock Treeの構造を予想できない場合には、ステップS43で動作周波数、すなわちサイクルタイムに応じたClock Skewの項目に対するタイミングの不確定量の目標値、例えばサイクルタイムの5〜10%の値が設定され、ステップS44でその値によって不確定量が決定される。
ステップS42でClock Treeの構造が予想できる場合には、ステップS45でClock TreeにおけるLeafの数が見積もられ、ステップS46でそのLeafの数と動作周波数とに応じてClock Skewに対応するタイミングマージンの目標値が設定される。この目標値は、例えば動作周波数とLeafの数に応じてあらかじめ定められたルールにしたがって決定され、ステップS44でその値が不確定量として決定されて処理を終了する。
図7は図4のステップS22、すなわちOn chip Variationの項目に対応するタイミングの不確定量の見積り処理の詳細フローチャートである。同図において処理が開始されると、まずステップS51で品種の動作条件としてサイクルタイムなどが収集され、ステップS52でClock Treeの構造が予想できるか否かが判定され、予想できない場合にはステップS53でサイクルタイム、すなわちTcycleに対する係数が決定される。この係数として、例えば不確定量をサイクルタイムの5%とする場合には、0.05が決定され、ステップS54で不確定量の計算が行われ、ステップS55でOCV、すなわちOn chip Variationによる不確定量が決定されて処理を終了する。
ステップS52でClock Treeの構造を予想できる場合には、ステップS56でsign off条件として、例えば動作保証範囲(温度範囲、電圧範囲)やIR Drop量の条件が収集され、ステップS57でそれらのsign off条件に基づいてOn chip ばらつき係数 Kocvが算出される。このばらつき係数 Kocvは、Clockの遅延時間Tclockに乗算することによって不確定量を計算するための係数であるが、その算出ではステップS56で収集されたsign off条件の値に基づき、ばらつき量が遅延の変動係数に換算される。そしてステップS58である程度のClock Tree構造の想定が行われ、ステップS59でClockの遅延時間Tclockの値が抽出可能か否かが判定され、抽出可能である場合にはステップS60で不確定量の算出式としてTclockとKocvとを乗算する式が得られる。ここでClockの遅延時間Tclockは、Clock pathの内で共通部分を除いて、共通部分からpathが分岐する分岐点からタイミングマージンの設定対象のセル、例えばフリップ フロップまでのpathの遅延時間を表す。そしてステップS54でこの算出式を用いて不確定量の計算が行われ、ステップS55で不確定量が決定される。
ステップS59でTclockの値が抽出不可能と判定された場合には、ステップS61でTclockの仮定が行われる。この仮定においてはその値としてサイクルタイムTcycle、Kinsert、およびKcrprの乗算結果が用いられる。ここでKinsertはInsertion delay、すなわちチップ全体のclockピンから対象となるフリップフロップまでの遅延時間のサイクルタイムに対する割合を示し、またKcrprはclock reconvergence pessimism removalによる影響を考慮、すなわちClock pathの共通部分以外の遅延の割合を示す。そしてこの仮定されたTclockの値を用いてステップS60で不確定量の算出式が決定され、ステップS54でその計算が、ステップS55で不確定量の決定が行われる。
図8は図4のステップS23におけるCrosstalk Delayに対応するタイミングの不確定値見積り処理の詳細フローチャートである。同図において処理が開始されると、まずステップS51で図7におけると同様に品種の動作周波数、すなわちサイクルタイムの収集が行われ、ステップS62でサイクルタイムに対するCrosstalk Delayの割合を表す係数Kxtalkの値が仮定される。この係数の値については、後述するようにステップS67でCrosstalk Delay分を決定するためにその値が、例えば0.03と決定されるが、ステップS62ではその値を、例えば同じ0.03としても良く、例えば0.02としても良い。
ここでステップS62〜ステップS66においては、ステップS67において係数Kxtalkの値を適切な範囲、すなわちCrosstalk対策条件の成立している範囲で決定するために、Crosstalk対策条件が成立しているか否かを判定する処理が実行される。
ステップS63でCrosstalk対策の条件としてslewrateのlimit値の収集が行われる。slewrateは、波形のなまりを表すものとして定義されるが、ここではslewrate limit値が、例えば400psとして収集される。そしてステップS64でCrosstalkが発生するネットの数nが想定される。ステップS65でslewrate対策の条件としてのlimit値とCrosstalk Delayとの間の相関の値からCrosstalk Delayの見積りが行われる。この見積りでは1ステージ当たり、例えばセルと配線とをペアとした1ステージ当たりのCrosstalk DelayとしてTxtalk1の値が見積もられる。一般にslewrateの値が大きいほど、ノイズの影響があるときに遅延時間の変動が大きくなるという相関がある。その相関に対応して1ステージ当たりのCrosstalk Delayの見積りが行われる。
続いてステップS66では1ステージ当たりのCrosstalk Delayの値Txtalk1と、想定されたネットの数nとの乗算値より、ステップS62で仮定された割合の値を用いたCrosstalkの値Txtalk0の値が大きいか否かが判定され、Txtalk1とnとの乗算値がTxtalk0の値を越えている場合には、Crosstalk対策条件が成立していないものとしてステップS62以降の処理が繰り返される。すなわちステップS62で係数Kxtalkの値を大きくして再びステップS63以降の処理が実行される。
ステップS66でCrosstalk対策条件が成立していると判定されると、ステップS67で実際にタイミングの不確定量を決定するためのKxtalkの値が決定される。ステップS68でマージン量が算出され、ステップS69で不確定量が決定されて処理を終了する。
図9は図4のステップS24におけるPLL Jitterに対応するタイミング不確定量見積り処理の詳細フローチャートである。PLL Jitterに対しては、図5で説明したように図3のステップS18、ステップS19の工程ではホールドのチェックの場合に対してはその考慮は不必要である。これはホールドのチェックにおいては、対象となるFFのデータのエッジとClockのエッジが同一サイクルとなるために考慮は不必要である。その他の工程でのPLL Jitterに対応するタイミングの不確定量としては、PLLのSpecの値に応じて全ての工程で同一の不確定量が使用される。
図9においてまずステップS71で品種の仕様としてClockの周波数、Clock回路の構成などが収集され、ステップS72でPLLの、例えばマクロが搭載されているか否かが判定され、搭載されていない場合にはステップS73でPLL Jitterの考慮は全く不必要なものとして処理を終了する。
PLLが搭載されている場合には、ステップS74でPLLのSpec sheetのデータが収集され、ステップS75でPLL分周回路の仕様が収集され、ステップS76で分周回路の有無が判定され、分周回路がない場合にはステップS77でPLLのSpecにおけるJitterの値が不確定量とされ、ステップ79で不確定量が決定される。分周回路がある場合にはステップS78でSpecの値と分周回路の仕様に応じて不確定量の算出が行われる。例えば2分周出力の場合には、Spec値としてのJitterの値が分周数倍されて不確定量が算出され、ステップS79でその値が決定される。
図10は図4のステップS25におけるWLM gap、すなわち仮配線と実配線とのgapに対応する不確定量見積り処理の詳細フローチャートである。この処理は図5で説明したように実際には図3のステップS15とステップS16との2つの工程に対応して用いられ、ステップS17以降の工程においてはこの項目に対応するタイミング不確定量の考慮は行われない。
図10においてまずステップS81で品種の回路仕様、例えば目標動作周波数、Netlist、配線層の数などのデータが収集され、ステップS82でエリア見積りを実施するか否かが判定され、実施する場合にはステップS83でエリア見積り、例えばセルや配線の面積、ゲートの数などに対応するエリア見積りが行われ、ステップS84でCustom Wire Load Modelを作成するか否かが判定される。Custom Wire Load Modelは、品種のLayout状況に応じて設定された、その品種専用のWire Load Modelである。
Custom Wire Load Modelを作成する場合にはステップS85でそのModelが使用され、ステップS86でそのModelに応じてタイミングの不確定量を設定するための係数Kwlmの値として、たとえば3%が設定され、ステップS87でマージン量が算出され、ステップS88で不確定量が決定される。
ステップS82でエリア見積りを実施しない場合には、ステップS89で使用するライブラリのWire Load Modelが使用され、ステップS90で使用するLibraryの精度に応じて係数Kwlmの値が例えば5%に設定され、ステップS87でマージン量が算出され、ステップS88でマージン量が決定される。
ステップS84でCustom Wire Load Modelを作成しない場合には、ステップS91で使用するライブラリのWire Load Modelが使用され、ステップS92でステップS83のエリア見積りの結果としてのrow使用率、すなわちセルの使用の面積がコア部row全体に対して占める割合に応じて係数Kwlmの設定が行われる。例えば使用率が70%以上の場合には係数は4%、60%から70%の間では5%、50%から60%の間では7%、40%から50%の間では8%の値に設定され、ステップS87でマージン量が算出され、ステップS88で対応するマージン量が決定される。
以上のように本実施形態においては、sign off検証における条件に対応して、タイミングの不確定量の見積りが設計の初期段階で行われるために、sign off検証におけるタイミング条件の満足に至るまでの設計と検証との繰返し回数が少なくなる。
またタイミングマージンの取り扱いについては、sign off検証まで各項目に対応して一貫して同じ扱いが行われ、タイミングマージンにおいて考慮すべき項目が明確となり、考慮のもれの防止ができる。さらにトライアルや改版、あるいは試作データなど過去の経験データなどの活用やフィードバックを行うことも可能となる。
以上において本発明のLSI設計方法についてその詳細を説明したが、このLSI設計方法は当然一般的なコンピュータシステムによって実行することが可能である。図11はそのようなコンピュータシステム、すなわちハードウェア環境の構成ブロック図である。
図11においてコンピュータシステムは中央処理装置(CPU)20、リードオンリメモリ(ROM)21、ランダムアクセスメモリ(RAM)22、通信インタフェース23、記憶装置24、入出力装置25、可搬型記憶媒体の読取り装置26、およびこれらの全てが接続されたバス27によって構成されている。
記憶装置24としてはハードディスク、磁気ディスクなど様々な形式の記憶装置を使用することができ、このような記憶装置24、またはROM21に図2〜図4、図6〜図10などのフローチャートに示されたプログラムや、本発明の特許請求の範囲の請求項9のプログラムなどが格納され、そのようなプログラムがCPU20によって実行されることにより、本実施形態におけるタイミング不確定値の見積りなどが可能となる。
このようなプログラムは、プログラム提供者28からネットワーク29、および通信インタフェース23を介して、例えば記憶装置24に格納されることも、また市販され、流通している可搬型記憶媒体30に格納され、読取り装置26にセットされて、CPU20によって実行されることも可能である。可搬型記憶媒体30としてはCD−ROM、フレキシブルディスク、光ディスク、光磁気ディスク、DVDなど様々な形式の記憶媒体を使用することができ、このような記憶媒体に格納されたプログラムが読取り装置26によって読取られることにより、本実施形態におけるLSI設計が可能となる。
本発明のLSI設計方法の原理的な機能ブロック図である。 本発明のLSI設計方法の基本的な処理フローチャートである。 本実施形態におけるLSI設計方法の全体処理フローチャートである。 図3におけるタイミング値(不確定量)見積り処理の詳細フローチャートである。 設計の各工程でタイミングの不確定量として考慮すべき項目を説明する図である。 Clock Skewに対応するタイミング不確定量決定処理のフローチャートである。 On chip ばらつきに対応するタイミング不確定量決定処理のフローチャートである。 Crosstalk Delayに対応するタイミング不確定量決定処理のフローチャートである。 PLL Jitterに対応するタイミング不確定量決定処理のフローチャートである。 仮配線と実配線のgapに対応するタイミング不確定量決定処理のフローチャートである。 本発明を実現するためのプログラムのコンピュータへのローディングを説明する図である。 従来のLSI設計方式の説明図である。
符号の説明
11 LSI仕様
12 回路見積り結果
13 sign off条件
14 Library
15 sign off
20 CPU
21 リード オンリー メモリ(ROM)
22 ランダム アクセス メモリ(RAM)
23 通信インタフェース
24 記憶装置
25 入出力装置
26 読み取り装置
27 バス
28 プログラム提供者
29 ネットワーク
30 可搬型記憶媒体

Claims (9)

  1. LSIの設計を行う計算機により実行されるLSI設計方法であって、
    LSI設計の初期段階において、タイミングの設定に関連して考慮すべき各項目に対応して、該各項目がタイミングに与える影響が確定しないことよるタイミングの設定に関連して考慮すべき各項目がタイミングに与える影響であるタイミングの不確定値を、品種の回路仕様、動作条件、および、サインオフ条件に従ったモデルを生成することにより見積り、
    LSI設計の各段階において、前記各項目がタイミングに与える影響が確定したか否かに対応して、前記不確定量の見積り結果を用いてタイミングマージンの値を設定して、各段階の設計を行い、設計工程内で、タイミングの設定に関連して考慮すべき各項目がタイミングに与える影響が確定されると、確定した情報を元に得られるタイミング確定値がタイミングマージンの値として設定されることを特徴とするLSI設計方法。
  2. 前記考慮すべき項目の1つとしてのクロック スキューの影響に対するタイミングの不確定量見積りにおいて、
    クロック トリーの構造が予想できるか否かを判定し、予想できないとき、動作周波数に対応して不確定量を見積り、
    予想できるとき、動作周波数とクロック トリーにおけるリーフの数とに対応して不確定量を見積ることを特徴とする請求項記載のLSI設計方法。
  3. 前記考慮すべき項目の1つとしてのオン チップ ばらつきの影響に対するタイミングの不確定量見積りにおいて、
    クロック トリーの構造を予想できるか否かを判定し、予想できないとき、動作周波数に対応して不確定量を見積り、
    予想できるとき、オン チップ ばらつき係数と、クロック パスの分岐点からタイミングチェック対象のセルまでのパスの遅延量とに対応して不確定量を見積ることを特徴とする請求項記載のLSI設計方法。
  4. 電源電圧降下量による遅延の劣化によるタイミングの不確定量を電圧降下量の予想値に基づき見積もることを特徴とする請求項記載のLSI設計方法。
  5. 前記考慮すべき項目の1つとしてのクロストーク ディレイの影響に対するタイミングの不確定量見積りにおいて、
    該不確定量を求めるための動作周波数に対応する、サイクルタイムに対するクロストークディレイの割合を表す係数の値を仮定し、該仮定値によってクロストーク対策条件が満足されるか否かを判定し、
    満足されるとき、該仮定された値に対応してクロストークディレイの値を決定して不確定量を見積ることを特徴とする請求項記載のLSI設計方法。
  6. 前記考慮すべき項目の1つとしてのフェーズ ロックド ループのジッタの影響に対するタイミングの不確定量見積りにおいて、
    該フェーズ ロックド ループの特性値と分周回路の仕様とに応じて不確定量を見積ることを特徴とする請求項記載のLSI設計方法。
  7. 前記考慮すべき項目の1つとしての仮配線と実配線とのギャップの影響に対するタイミングの不確定量見積りにおいて、
    エリア見積りを行うか否かを判定し、行わないときには、該不確定量を求めるための動作周波数に対する係数の値を、ワイヤー ロード モデルに対応して設定して不確定量を見積り、
    エリア見積りを行う場合には、該エリア見積り後に設計対象LSI専用のワイヤー ロード モデルを作成するか否かを判定し、作成しないときには、エリア見積もりの結果に基づいて汎用のワイヤー ロード モデルに対応して、該係数の値を設定して不確定量を見積り、
    エリア見積り結果に基づいてワイヤー ロード モデルを作成するときには該専用ワイヤー ロード モデルに対応して、該係数の値を設定して不確定量を見積もることを特徴とする請求項記載のLSI設計方法。
  8. LSIの設計を行う計算機によって使用されるプログラムであって、
    LSI設計の初期段階において、タイミングマージンの設定に関連して考慮すべき各項目に対応して、該各項目がタイミングに与える影響が確定しないことによるタイミングの設定に関連して考慮すべき各項目がタイミングに与える影響であるタイミングの不確定値を、品種の回路仕様、動作条件、および、サインオフ条件に従ったモデルを生成することにより見積もる手順と、
    LSI設計の各段階において、前記各項目がタイミングに与える影響が確定したか否かに対応して、前記不確定量の見積り結果を用いてタイミングマージンの値を設定して、各段階の設計を行い、設計工程内で、タイミングの設定に関連して考慮すべき各項目がタイミングに与える影響が確定されると、確定した情報を元に得られるタイミング確定値がタイミングマージンの値として設定する手順を計算機に実行させるためのプログラム。
  9. LSIの設計を行う計算機によって使用される記憶媒体であって、
    LSI設計の初期段階において、タイミングの設定に関連して考慮すべき各項目に対応して、該各項目がタイミングに与える影響が確定しないことによるタイミングの設定に関連して考慮すべき各項目がタイミングに与える影響であるタイミングの不確定値を、品種の回路仕様、動作条件、および、サインオフ条件に従ったモデルを生成することにより見積るステップと、
    LSI設計の各段階において、前記各項目がタイミングに与える影響が確定したか否かに対応して、前記不確定量の見積り結果を用いてタイミングマージンの値 を設定して、各段階の設計を行い、設計工程内で、タイミングの設定に関連して考慮すべき各項目がタイミングに与える影響が確定されると、確定した情報を元に得られるタイミング確定値がタイミングマージンの値として設定するステップとを計算機に実行させるプログラムを格納した計算機読出し可能可搬型記憶媒体。
JP2004174722A 2004-06-11 2004-06-11 Lsi設計方法 Expired - Fee Related JP4361838B2 (ja)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2004174722A JP4361838B2 (ja) 2004-06-11 2004-06-11 Lsi設計方法
US11/014,814 US7257789B2 (en) 2004-06-11 2004-12-20 LSI design method

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2004174722A JP4361838B2 (ja) 2004-06-11 2004-06-11 Lsi設計方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2005352916A JP2005352916A (ja) 2005-12-22
JP4361838B2 true JP4361838B2 (ja) 2009-11-11

Family

ID=35461985

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2004174722A Expired - Fee Related JP4361838B2 (ja) 2004-06-11 2004-06-11 Lsi設計方法

Country Status (2)

Country Link
US (1) US7257789B2 (ja)
JP (1) JP4361838B2 (ja)

Families Citing this family (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7546562B1 (en) * 2005-11-12 2009-06-09 Cadence Design Systems, Inc. Physical integrated circuit design with uncertain design conditions
US7480881B2 (en) * 2006-08-18 2009-01-20 Lsi Logic Corporation Method and computer program for static timing analysis with delay de-rating and clock conservatism reduction
JP4946573B2 (ja) * 2007-03-30 2012-06-06 富士通セミコンダクター株式会社 デカップリングセル配置方法及びデカップリングセル配置装置
WO2009066431A1 (ja) 2007-11-22 2009-05-28 Panasonic Corporation 半導体集積回路の製造システム、製造装置、製造方法、集積回路及び通信システム
JP5060991B2 (ja) * 2008-02-22 2012-10-31 株式会社日立製作所 集積回路の設計支援装置、集積回路の設計支援方法、集積回路の設計支援プログラム、及びこのプログラムが記録された記録媒体
US7926019B1 (en) * 2008-02-29 2011-04-12 Altera Corporation Common clock path pessimism analysis for circuit designs using clock tree networks
JP2012174111A (ja) * 2011-02-23 2012-09-10 Renesas Electronics Corp タイミング解析方法、タイミング解析装置、およびタイミング解析プログラム
CN102955869B (zh) 2011-08-30 2015-04-08 国际商业机器公司 评估时钟偏移的方法和装置
JP2014142253A (ja) * 2013-01-23 2014-08-07 Fujitsu Semiconductor Ltd 試験支援方法、試験支援プログラム、および試験支援装置

Family Cites Families (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5381524B2 (en) * 1991-11-12 1997-07-08 Chronology Corp Automated development of timing diagrams for electrical circuits
US5455931A (en) * 1993-11-19 1995-10-03 International Business Machines Corporation Programmable clock tuning system and method
US6005416A (en) * 1997-05-02 1999-12-21 International Business Machines Corporation Compiled self-resetting CMOS logic array macros
US6286128B1 (en) * 1998-02-11 2001-09-04 Monterey Design Systems, Inc. Method for design optimization using logical and physical information
JP2001196459A (ja) 2000-01-14 2001-07-19 Fujitsu Ltd 半導体集積回路の設計方法と設計装置
US6647540B2 (en) * 2001-11-08 2003-11-11 Telefonaktiebolaget Lm Ericsson(Publ) Method for reducing EMI and IR-drop in digital synchronous circuits
US6594805B1 (en) * 2001-11-13 2003-07-15 Lsi Logic Corporation Integrated design system and method for reducing and avoiding crosstalk
US7096442B2 (en) * 2003-07-10 2006-08-22 Lsi Logic Corporation Optimizing IC clock structures by minimizing clock uncertainty
JP2005122298A (ja) * 2003-10-14 2005-05-12 Fujitsu Ltd タイミング解析装置、タイミング解析方法及びプログラム
US7400555B2 (en) * 2003-11-13 2008-07-15 International Business Machines Corporation Built in self test circuit for measuring total timing uncertainty in a digital data path
US7117457B2 (en) * 2003-12-17 2006-10-03 Sequence Design, Inc. Current scheduling system and method for optimizing multi-threshold CMOS designs

Also Published As

Publication number Publication date
US7257789B2 (en) 2007-08-14
JP2005352916A (ja) 2005-12-22
US20050278672A1 (en) 2005-12-15

Similar Documents

Publication Publication Date Title
EP0677813B1 (en) Method of target generation for multilevel hierachical circuit designs
US6971076B2 (en) Method for estimating peak crosstalk noise based on separate crosstalk model
US9129078B1 (en) Static timing analysis of integrated circuit designs with flexible noise and delay models of circuit stages
JP4061295B2 (ja) デジタル回路の統計的タイミング解析のためのシステムおよび方法
US10222852B2 (en) Voltage and frequency balancing at nominal point
JP5104940B2 (ja) 回路のジッタを計算する方法、論理装置及びシステム並びに回路のクロックツリーを合成する方法、論理装置及びシステム
US20080034338A1 (en) Timing analysis method and device
JP2004252831A (ja) Lsiの統計的遅延シミュレーション装置及びそのシミュレーション方法
CN104981805B (zh) 自动时钟树布线规则生成
US8468478B2 (en) Methods for measurement and prediction of hold-time and exceeding hold time limits due to cells with tied input pins
Han et al. A global-local optimization framework for simultaneous multi-mode multi-corner clock skew variation reduction
US8255851B1 (en) Method and system for timing design
US9165105B2 (en) Rule checking for confining waveform induced constraint variation in static timing analysis
US8627263B2 (en) Gate configuration determination and selection from standard cell library
JP4361838B2 (ja) Lsi設計方法
KR20040032109A (ko) 해석 시스템 및 계층적 집적회로에서의 서브-모듈 디자인표현
JP5262411B2 (ja) 遅延時間解析装置,遅延時間解析方法および遅延時間解析プログラム
JP5119506B2 (ja) 半導体集積回路の設計装置、そのデータ処理方法、およびその制御プログラム
US7945882B2 (en) Asynchronous circuit logical verification method, logical verification apparatus, and computer readable storage medium
US8818784B1 (en) Hardware description language (HDL) incorporating statistically derived data and related methods
US7203918B2 (en) Delay and signal integrity check and characterization
CN113536726A (zh) 用于最大瞬时峰值功率的矢量生成
JP5338919B2 (ja) 集積回路の消費電力算出方法、消費電力算出プログラム及び消費電力算出装置
Agarwal et al. An Efficient Timing Model of Flip-Flops Based on Artificial Neural Network
Li et al. A variation-aware hold time fixing methodology for single flux quantum logic circuits

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20051222

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20080729

A711 Notification of change in applicant

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A712

Effective date: 20080730

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20080926

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20081216

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20090213

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20090512

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20090710

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20090811

A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20090813

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120821

Year of fee payment: 3

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120821

Year of fee payment: 3

S531 Written request for registration of change of domicile

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313531

S533 Written request for registration of change of name

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313533

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120821

Year of fee payment: 3

R371 Transfer withdrawn

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R371

S531 Written request for registration of change of domicile

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313531

S533 Written request for registration of change of name

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313533

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120821

Year of fee payment: 3

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130821

Year of fee payment: 4

S111 Request for change of ownership or part of ownership

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313111

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees