JP4353791B2 - パルス発生器 - Google Patents

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本発明は、周期的なパルスを発生するパルス発生器に関するものである。
パルスを周期的に発生することが可能なパルス発生器には、例えば特許文献1に記載されたパルス発生回路がある。
特開平5−243928号公報
特許文献1のパルス発生回路は、リセットセットフリップフロップ(以下、RS−FFという)と遅延回路とを備えている。RS−FFのセット端子に、例えばクロック信号が入力される。クロック信号の立上がりに同期してRS−FFの出力信号が高レベルに遷移する。クロック信号の立上がりから所定の遅延時間だけ遅れて立ち上がる信号を遅延回路で生成し、RS−FFのリセット端子に入力すると、RS−FFがリセットされ、RS−FFの出力信号が低レベルになる。これにより、パルスが形成される。
しかしながら、特許文献1のパルス発生回路のように、遅延回路を用いたパルス発生器では、遅延回路で設定する遅延時間が固定されているので、クロック信号の周波数を変化させると、出力信号の高レベルの期間は定まるが、低レベルの期間は期間は変化する。周波数が高くなれば、出力信号における低レベルの期間が短くなる。したがって、例えばパルス発生回路の出力信号を入力し、その出力信号の低レベルの期間を検出して動作する回路があれば、その回路の動作が不安定になることが想定された。
本発明は、このような現状を鑑みてなされた発明であり、パルスとパルスの間に所定の期間が存在するパルス信号を生成できるパルス発生器を提供することを目的とする。
上記目的を達成するために、本発明の観点に係るパルス発生器は、周波数が可変のクロック信号を発生する発振回路と、前記クロック信号の各1周期内で該クロック信号の立上がりから所定の時間が経過したタイミングを検出するタイミング検出回路と、前記発振回路及び前記タイミング検出回路に接続され、前記クロック信号の立上がったとき第1の論理レベルとなり、該第1の論理レベルになった後に前記タイミング検出回路が検出したタイミングで第2の論理レベルとなるパルス信号を形成するパルス形成回路と、前記クロック信号の周波数の変化に連動して基準値を変化させる基準値変更回路とを備え、前記タイミング検出回路は、前記基準値に応じた前記タイミングを検出し、前記クロック信号の周波数に応じて前記基準値が変化することにより、前記クロック信号の各1周期内で前記パルス信号の第2の論理レベルになっている期間が一定になることを特徴とする。
このような構成を採用したことにより、タイミング検出回路により、クロック信号の各周期内で該クロック信号の立上がりから所定の時間が経過したタイミングが検出される。パルス形成回路は、クロック信号が立上がったときにパルス信号を第1の論理レベルに設定し、タイミング検出回路が検出したタイミングでパルス信号を第2の論理レベルにする。即ち、クロック信号のある周期で、クロック信号が立上がると、パルス信号が第1の論理レベルになり、次の周期で再びクロック信号が立ち上がる前に、パルス信号が第2の論理レベルになる。クロック信号の周波数が高くなっても、タイミング検出回路によって前記タイミングが検出するまでの時間が短くなり、パルス信号が第2の論理レベルとなる期間が短くなることが防止される。
なお、前記タイミング検出回路は、コンデンサと、前記周波数の変化に伴って電流値が増減する充電電流を前記コンデンサに与えて充電する充電回路と、前記コンデンサの充電電圧と前記基準値とを比較し、該充電電圧が前記基準値に到達したときを前記タイミングとして検出する比較回路と、前記パルス形成回路の出力するパルス信号が前記第2の論理レベルの期間に前記コンデンサを放電させる放電回路と、を備えてもよい。
また、前記基準値変更回路は、定電流源に接続された抵抗と、前記抵抗と並列に接続され、前記周波数に応じて変化する電流を流す素子とを備え、前記抵抗から前記基準値を発生するようにしてもよい。
また、前記発振回路は、流入電流の電流値に応じて前記クロック信号の周波数が変化する構成としてもよい。この場合、前記充電回路は、前記発振回路の流入電流に比例する電流を前記コンデンサに与えてもよい。
また、前記コンデンサの容量により、前記パルス信号が第2の論理レベルになっている期間が定まるようにしてもよい。
また、前記定電流源の出力電流の電流値をI1、前記抵抗の抵抗値をR1、
前記素子に流れる電流の電流値をI、前記コンデンサの容量をC1とすると、
前記周期Tは、T=R1・C1・I1/I
であっても良い。
また、前記パルス信号が第2の論理レベルになっている期間Taが
Ta=R1・C1
になっていてもよい。
本発明のパルス発生器によれば、周波数が変化してもパルスとパルスの間が短くならないパルス信号を発生することができる。
図1は、本発明の実施形態に係るパルス発生器を示す構成図である。
このパルス発生器は、クロック信号を発生する発振回路(OSC)10と、パルス形成回路として機能するリセットセットフリップフロップ(以下、RS−FFという)20と、制御回路30とを備えている。
発振回路10は、流入電流の電流値に応じた周波数のクロック信号S10を出力する電流制御型であり、発振回路10の発振周波数fは、流入電流をI、定数をKとすると、
f=K*I
となる。
RS−FF20のセット端子(S)に、発振回路10の出力端子が接続されている。RS−FF20のリセット端子(R)に、制御回路30から、後述するタイミング検出信号S40が与えられる接続になっている。
制御回路30は、ソースが電源Vccに接続された4個のPチャネル型MOSトランジスタ(以下、PMOSという)31、32,33,34と、可変電流源35と、定電流源36と、タイミング検出回路40とを備えている。
可変電流源35は、PMOS31のドレインとグランドGNDとの間に接続されている。定電流源36は、電源Vccに接続されている。
PMOS31〜34のゲートは、PMOS31のドレインに共通に接続され、PMOS31〜34がカレントミラーを構成している。PMOS34のドレインが、発振回路10の入力端子に接続されている。つまり、PMOS34のドレイン電流が、発振回路10の流入電流Iになる。
タイミング検出回路40は、RS−FF20をリセットするタイミングを検出してタイミング検出信号S40で示す回路であり、Nチャネル型MOSトランジスタ(以下、NMOSという)41,42と、抵抗43と、コンデンサ44と、NMOS45と、比較回路46と、インバータ47とを備えている。
NMOS41のソースは、グランドGNDに接続され、NMOS41のドレインは、PMOS32のドレインに接続されている。NMOS42のソースは、グランドGNDに接続され、NMOS42のドレインが定電流源36と、抵抗43の一端とに、接続されている。
NMOS41,42のゲートは、NMOS41のドレインに接続され、NMOS41,42がカレントミラーを構成している。抵抗43の他端は、グランドGNDに接続されている。
コンデンサ44の一方の電極は、PMOS33のドレインに接続され、コンデンサ44の他方の電極は、グランドGNDに接続されている。PMOS33がコンデンサ44の充電回路を構成する。
このコンデンサ44の一方の電極は、さらに、比較回路46の一方の入力端子(+)に接続されると共に、NMOS45のドレインに接続されている。NMOS45のソースは、グランドGNDに接続されている。NMOS45は、コンデンサ44の放電回路となる。
比較回路46の他方の入力端子(−)は、抵抗43の一端と接続されている。比較回路46の出力端子が、RS−FF20のリセット端子(R)に接続されている。RS−FF20の出力端子(Q)は、インバータ47の入力端子に接続され、インバータ47の出力端子が、NMOS45のゲートに接続されている。
次に、このパルス発生器の動作を図2を参照しつつ、説明する。
図2は、図1のパルス発生器の動作を説明するための波形図である。
可変電流源35の出力電流に等しい電流が、PMOS34のドレインから出力されて発振回路10に流入する。発振回路10は、可変電流源35の出力電流に比例した周波数のクロック信号S10を発生する(図2(a))。
クロック信号S10の立上がりに同期して、RS−FF20はセットされ、RS−FF20の出力信号であるパルス信号S20は、第2の論理レベルの低レベル(以下、“L”という)から第1の論理レベルである高レベル(以下、“H”という)に遷移する(図2(d))。
パルス信号S20が“H”になると、インバータ47の出力信号S47が、“H”から“L”に遷移する(図2(e))。出力信号S47が“L”になることにより、NMOS45がオフし、コンデンサ44の充電が開始される。コンデンサ44の充電電流は、PMOS33のドレイン電流である。充電により、コンデンサ44の充電電圧は、上昇する(図2(c))。
一方、抵抗43は、定電流源36の出力電流の一部を流し、その電流に対応する電圧を発生する。この抵抗43で発生する電圧Vaは、比較回路46の基準値となる。比較回路46は、抵抗43で発生する電圧Vaとコンデンサ44の充電電圧とを比較し、その比較結果をタイミング検出信号S40で示す。タイミング検出信号S40は、コンデンサ44の充電電圧が抵抗43で発生する電圧Vaに到達したときに、“L”から“H”に変化する(図2(b))。
タイミング検出信号S40が、“H”になると、RS−FF20がリセットされ、RS−FF20の出力するパルス信号S20が“L”に遷移する。コンデンサ44の容量を適切に決定することにより、クロック信号S10が次に立上がるよりも時間Taだけ前に、タイミング検出信号S40が“H”にすることができる。即ち、クロック信号S10の1周期Tの期間内に1つのパルスが形成される。
パルス信号S20が“L”になると、インバータ47が“H”を出力し、NMOS45がオンし、コンデンサ44を放電させる。
以上の動作が、クロック信号S10の各周期Tごとに繰り返され、クロック信号S10の周期でパルスの形成されたパルス信号S20を出力することができる。
ここで、本実施形態のパルス発生器と従来のパルス発生器とを比較するために、図3の回路を考える。
図3は、従来例を示す回路図である。図4は、従来例の動作を説明するための波形図である。
図3の従来例では、発振回路51の発生するクロック信号S51がRS−FF52のリセット端子(R)に直接入力されるとともに、そのクロック信号S51が遅延回路53を介してRS−FF52のセット端子(S)に入力される。
この場合、図4のように、クロック信号S51が“L”から“H”に遷移したときに、RS−FF52の出力するパルス信号S52は“L”になる。遅延回路53の出力信号S53は、クロック信号S51を遅延時間Tdだけ遅延したものとなる。
信号S53が“L”から“H”に遷移したときに、RS−FF52がセットされるので、遅延回路53の遅延時間Tdだけ遅れてパルス信号S52が“H”に戻る。即ち、クロック信号S51の1つの周波T1の内で、パルス信号S52は、遅延時間Tdに相当する期間、“L”になっている。この遅延期間Tdは、固定である。クロック信号S51の周波数が高くなると、パルス信号S52の周波数も高くなるが、パルス信号S52の“L”期間は、変化せず、“H”の期間が減少する。
これに対し、本実施形態のパルス発生器では、可変電流源35の出力電流を増加させると、クロック信号S10はそれに比例して周波数が増加し、周期Tが短くなる。この場合には、PMOS33のドレイン電流が増加することになるので、コンデンサ44の充電速度が速くなる。そのため、タイミング検出信号が“L”から“H”に遷移するタイミングが速くなる。つまり、クロック信号S10の1周期Tの期間内で、パルス信号S20が“H”となっている期間が短くなる。
ここで、抵抗43の抵抗値をR1、可変電流源35の出力電流の電流値をI、定電流源36の出力電流の電流値をI1、コンデンサ44の容量値をC1とすると、PMOS33,34及びNMOS42に流れる電流の電流値のIとなり、抵抗43の一端の電位Vthは、(1)式で表される。
Vth=R1・(I1−I) (1)
また、コンデンサ44の充電電圧Vaを電位Vthを越えるときの、その充電電圧Vaは、次の(2)式で表される。
Figure 0004353791
また、コンデンサ44の充電電圧Vaが電位Vthを越えるときには、該充電電圧Vaと電位Vthとがほぼ等しくなるので、パルス信号S20が“L”になっている期間をTaとすると、
R1・(I1−I)=(T−Ta)・I/C1 (3)
の関係が成り立つ。
この(3)式により、パルス信号S20が“L”になっている期間Taは、
Ta=R1・C1+T−R1・C1・I1/I (4)
で与えられる。
また、発振回路10が出力するクロック信号の周波数fを、
f=K・I=(1/R1/C1/I1)・I (5)
を満たすように設定すれば、つまり、定数Kが(1/R1/C1/I1)と等しくなるように設定すれば、周期Tは、
T=R1・C1・I1/I (6)
で与えられる。(4)式に(6)式を代入すれば、期間Taは、
Ta=R1・C1 (7)
で与えられる。
(7)式からも分かるように、発振回路10の出力するクロック信号の周波数fを制御している電流値Iが変化した場合でも、期間Taは、常に一定に保たれる。
したがって、この実施形態のパルス発生回路では、クロック信号S10の1周期Tに、必ず1つパルスが形成され、パルス信号S20の“L”の期間Taが周波数にかかわらず一定になる。つまり、パルスとパルスの間が一定になる。
尚、本発明は、上記実施形態に限定されるものではなく、種々の変形が可能である。
例えば、発振回路10を電圧制御型の発振回路とし、発振回路10の印加電圧に応じて電流を生成してコンデンサ44を充電するようにしてもよい。
また、PMOS31〜34及びNMOS41,42,45を、バイポーラトランジスタで構成してもよい。
本発明の実施形態に係るパルス発生器の構成図である。 図1のパルス発生器の動作を説明するための波形図である。 従来例を示す図である。 図3の従来例の動作を説明するための波形図である。
符号の説明
10 発振回路
20 RS−FF
40 タイミング検出回路
44 コンデンサ
46 比較回路
S10 クロック信号
S20 パルス信号
S40 タイミング検出信号

Claims (8)

  1. 周波数が可変のクロック信号を発生する発振回路と、
    前記クロック信号の各1周期内で該クロック信号の立上がりから所定の時間が経過したタイミングを検出するタイミング検出回路と、
    前記発振回路及び前記タイミング検出回路に接続され、前記クロック信号の立上がったとき第1の論理レベルとなり、該第1の論理レベルになった後に前記タイミング検出回路が検出したタイミングで第2の論理レベルとなるパルス信号を形成するパルス形成回路と
    前記クロック信号の周波数の変化に連動して基準値を変化させる基準値変更回路とを備え、
    前記タイミング検出回路は、前記基準値に応じた前記タイミングを検出し、前記クロック信号の周波数に応じて前記基準値が変化することにより、前記クロック信号の各1周期内で前記パルス信号の第2の論理レベルになっている期間が一定になることを特徴とするパルス発生器。
  2. 前記タイミング検出回路は、
    コンデンサと、
    前記周波数の変化に伴って電流値が増減する充電電流を前記コンデンサに与えて充電する充電回路と、
    前記コンデンサの充電電圧と前記基準値とを比較し、該充電電圧が前記基準値に到達したときを前記タイミングとして検出する比較回路と、
    前記パルス形成回路の出力するパルス信号が前記第2の論理レベルの期間に前記コンデンサを放電させる放電回路と、
    を備えることを特徴とする請求項1に記載のパルス発生器。
  3. 前記基準値変更回路は、
    定電流源に接続された抵抗と、
    前記抵抗と並列に接続され、前記周波数に応じて変化する電流を流す素子とを備え、
    前記抵抗から前記基準値を発生する、
    ことを特徴とする請求項1または2に記載のパルス発生器。
  4. 前記発振回路は、流入電流の電流値に応じて前記クロック信号の周波数が変化する構成としたことを特徴とする請求項1乃至のいずれか1項に記載のパルス発生器。
  5. 前記充電回路は、前記発振回路の流入電流に比例する電流を前記コンデンサに与えることを特徴とする請求項に記載のパルス発生器。
  6. 前記コンデンサの容量により、前記パルス信号が第2の論理レベルになっている期間が定まることを特徴とする請求項2乃至のいずれか1項に記載のパルス発生器。
  7. 前記定電流源の出力電流の電流値をI1、
    前記抵抗の抵抗値をR1、
    前記素子に流れる電流の電流値をI、
    前記コンデンサの容量をC1とすると、
    前記周期Tは、
    T=R1・C1・I1/I
    であることを特徴とする請求項3乃至6のいずれか1項に記載のパルス発生器。
  8. 前記パルス信号が第2の論理レベルになっている期間Taが
    Ta=R1・C1
    になっていることを特徴とする請求項に記載のパルス発生器。
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